关于电子探针的定性分析方法介绍
1. 定点分析： 将电子束固定在要分析的微区上，用波谱仪分析时，改变分光晶体和探测器的位置，即可得到分析点的X射线谱线；用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部元素的谱线。 镁合金中的析出相CaMgSi的鉴别 Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元素 2. 线分析： 将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置 把电子束沿着指定的方向作直线轨迹扫描，便可得到这一元素沿直线的浓度分布情况。 改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。 3. 面分析： 电子束在样品表面作光栅扫描，将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置，此时，在荧光屏上得到该元素的面分布图像。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。也是用X射线调制图像的方法。 镁合金中的析出相Mg2Si的鉴别 Si的元素面分布图，可以清晰地看到Mg2Si所在......阅读全文
关于电子探针的定性分析方法介绍
1. 定点分析： 将电子束固定在要分析的微区上，用波谱仪分析时，改变分光晶体和探测器的位置，即可得到分析点的X射线谱线；用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部元素的谱线。 镁合金中的析出相CaMgSi的鉴别 Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元
关于光谱定性分析的介绍
光谱定性分析就是根据光谱图中是否有某元素的特征谱线(一般是最后线)出现来判断样品中是否含有某种元素。定性分析方法常有以下两种。 (1)标准试样光谱比较法 将要检出元素的纯物质或纯化合物与试样并列摄谱于同一感光板上，在映谱仪上检查试样光谱与纯物质光谱。若两者谱线出现在同一波长位置上，即可说明某
定性分析的分析方法介绍
分干法分析和湿法分析，前者所用的试样不须制成溶液，如熔珠分析、焰色分析、原子发射光谱法、X射线荧光光谱分析法等。湿法分析则要将试样配成溶液，常用的溶剂有水、酸、碱溶液。不溶于上述溶剂的试样可用碳酸钠、过氧化钠、硫酸钾等助熔剂使试样熔融分解，然后再溶于水或稀酸。干法分析只用少量试剂和仪器，便于在野
定性分析的鉴定方法介绍
在湿法分析中，一个理想的试验应该具有较好的分辨力、较高的选择性和灵敏度。分辨力指反应时出现的现象和生成的产物是否容易辨认。只有少数几种物质能起同样响应的试验称为选择性高的试验，所用的试剂被称为选择性高的试剂。如果只有一种物质能与某种试剂起作用,则该试剂称为特效试剂，该鉴定反应称为特效反应。但只有
光谱定性分析方法介绍
光谱定性分析就是根据光谱图中是否有某元素的特征谱线(一般是最后线)出现来判断样品中是否含有某种元素。定性分析方法常有以下两种。(1)标准试样光谱比较法将要检出元素的纯物质或纯化合物与试样并列摄谱于同一感光板上，在映谱仪上检查试样光谱与纯物质光谱。若两者谱线出现在同一波长位置上，即可说明某一元素的
电子探针显微分析的方法介绍
电子探针分析有两种基本分析方法：定性分析和定量分析。 （1）定性分析 定性分析是对试样某一选定点（区域） 进行定性成分分析，以确定点区域内存在的元素。 定性分析的原理：用光学显微镜或在荧光屏显示的图像上选定需要分析的点，使聚焦电子束照射在该点上，激发该点试样元素的特征X射线。用X射线谱仪探
关于定性分析的分析要求介绍
①试样必须要有代表性，必须注意试样来源和要求分析的项目。例如在分析金属材料的表面镀层时，不应取基体部分作为试样。毫克量和微克量试样要用微量分析方法或微损分析方法。 ②一个理想的定性分析方法要求操作简单、迅速，分析步骤越少越好，以免引入干扰物质。 ③所用仪器以普通仪器为主。 ④应根据具体要求
光谱定性分析的分析方法介绍
进行光谱定性分析有以下三种方法： 标准试样光谱比较法 将要检出元素的纯物质或纯化合物与试样并列摄谱于同一感光板上，在映谱仪上检查试样光谱与纯物质光谱。若两者谱线出现在同一波长位置上，即可说明某一元素的某条谱线存在。本方法简单易行，但只适用于试样中指定组分的定性。 标准光谱图比较法即铁光谱比
关于光谱仪的定性分析方法
光谱仪是一种常用的光学仪器，可以将复杂的光分解为光谱线，具有性能稳定、使用安全可靠、维护简便等优点。光谱仪的定性分析方法用户都知道吗?下面小编就来具体介绍一下，希望可以帮助用户更好的应用产品。 光谱仪器的定性分析是指由于各种元素的原子结构不同，在光源的作用下都可以产生自己特征的光谱。如果
电子探针分析方法
利用电子探针分析方法可以探知材料样品的化学组成以及各元素的重量百分数。分析前要根据试验目的制备样品，样品表面要清洁。用波谱仪分析样品时要求样品平整，否则会降低测得的X射线强度。 1 点分析用于测定样品上某个指定点的化学成分。下图是用能谱仪得到的某钢定点分析结果。能谱仪中的多道分析器可使样品中所有元素
电子探针的功能介绍
电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线
关于色谱分析的定性分析介绍
在给定的条件下，表示组分在色谱柱内移动速度的调整保留时间是判断组分是什么物质的指标，即某组分在给定条件下的t恼值必定是某一数值（图 1）。为了尽量免除载气流速、柱长、固定液用量等操作条件的改变对使用t恼值作定性分析指标时产生的不方便，可进一步用组分相对保留值α或组分的保留指数来进行定性分析。计算
关于近红外光谱的定性分析介绍
在近红外光谱图谱上，依据不同种类物质所含化学成分的不同，含氢基团倍频与合频振动频率不同，则近红外图谱的峰位、峰数及峰强是不同的，样品的化学成分差异越大，图谱的特征性差异越强。采用简易的峰位鉴别可对不同品种的中药进行鉴别采用峰位鉴别法主要是分析组分相差较大的不同种物质，这种方法直观、简便，但对于性
稳定性分析仪的方法介绍
又分为两种方法：第一是利用重力环境测试分析稳定性法，一般会在重力环境下, 藉由其他仪器设备做分析：显微镜、光度计、电导率、声波设备以测量样品粒子的稳定性。特色：精确但非常费时。第二是采用预测方法来判断稳定性，如: 密度的方法(液体与固体之间的差异法)、粒径大小或分布法来判定、样品的粘性来区别、电泳或
关于XRF的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
定性分析方法的分类
根据对象的不同，可分无机定性分析和有机定性分析；根据分析手续的不同，可分系统分析和分部分析；根据操作方式的不同，可分干法分析和湿法分析。
定性分析方法的原理
定性分析必须通过一系列的试验去完成，如果试验结果与预期相符，称为得到一个“正试验”，或称试验阳性，也就是说某组分在试样中是存在的；反之，得到一个“负试验”或试验阴性表示某组分不存在。组分存在与否的根据是：①物质的物理特性,如颜色、臭味、比重、硬度、焰色、熔点、沸点、溶解度、光谱、折射率、旋光性、磁性
定性分析的鉴定方法
在湿法分析中，一个理想的试验应该具有较好的分辨力、较高的选择性和灵敏度。分辨力指反应时出现的现象和生成的产物是否容易辨认。只有少数几种物质能起同样响应的试验称为选择性高的试验，所用的试剂被称为选择性高的试剂。如果只有一种物质能与某种试剂起作用,则该试剂称为特效试剂，该鉴定反应称为特效反应。但只有在一
电子探针的分析特点介绍
第一、微区性、 微量性：几个立方μm范围能将微区化学成分与显微结构对应起来。而一般化学分析、 X射线荧光分析及光谱分析等， 是分析样品较大范围内的平均化学组成，也无法与显微结构相对应, 不能对材料显微结构与材料性能关系进行研究。 第二、方便快捷：制样简单，分析速度快。 第三、分析方式多样化：
电子探针仪的相关介绍
电子探针仪是一种用于物理学、材料科学领域的分析仪器，于2017年06月05日启用。 技术指标 1. 二次电子像分辨率：5nm，背散射电子像分辨率：20nm（拓扑像、成分像）； 2. 加速电压：0 ～ 30kV；束流范围：10-5～ 10-12A；图像放大倍数：×40～×300,000；
电子探针分析的基本介绍
以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线,对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理试验,又称电子探针X射线显微分析。电子探针分析的原理是：以动能为10～30千电子伏的细聚焦电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从而产生特征X
关于定性分析试验的干扰和消除干扰的方法
试验因共存物质而受到阻碍的现象。干扰物质与被检物质有相同的反应时，引起的干扰称“正干扰”，例如以铬酸盐沉淀Ba2+时，Pb2+也可以PbCrO4形式沉淀，两者的颜色也近似。如果干扰物质抢先与试剂起反应，会使被检物与试剂之间的反应受阻碍，则引起“负干扰”。例如在F-存在下Fe3+与SCN -反应，
验室电子探针介绍
电子探针是通过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中的某一微小区域，使其发出特征X射线，由仪器配备的四道波谱仪、一道能谱仪、一个阴极发光成像系统接收并测定该X射线的波长和强度，即可对该微区的元素作定量或定性分析。将其与电镜功能相结合，能有效的把显微组织和元素成分联系起来，成为目前研究亚微观结构和
气相色谱仪定性分析方法介绍
气相色谱仪定性分析方法：气相色谱的定性分析方法主要有保留值定性法、化学试剂定性法和检测器定性法。气相色谱的保留值有保留时间和保留体积两种，现在大多数情况下均用保留时间作为保留值。在相同的仪器操作条件和方法下，相同的有机物应有同样的保留时间，即在同一时间出峰。但必须注意：有同样保留时间的有机物并不
定性分析消除干扰的方法
消除干扰的方法有：①用各种分离方法将干扰物质除去；②用隐蔽法(见隐蔽和解蔽)将干扰物质隐蔽起来，例如 F-的干扰常用加硼酸根使其变为很稳定的BF嬄而起隐蔽作用；在用H2S检验Cd2+时,如果有Cu2+存在,在CdS沉淀时，也会产生CuS，如果加入KCN产生稳定的【Cu(CN)3】2-，使Cu2+隐蔽
定性分析的方法有哪些
定性分析法主要根据除企业财务报表以外有关企业所处环境、企业自身内在素质等方面情况对企业信用状况进行总体把握。 亦称“非数量分析法”。主要依靠预测人员的丰富实践经验以及主观的判断和分析能力，推断出事物的性质和发展趋势的分析方法，属于预测分析的一种基本方法。这类方法主要适用于一些没有或不具备完整的
表面增强拉曼光谱的定性分析——分类方法介绍
目前常用的光谱分类方法有K-近邻法(K-Nearest Neighbor Method, KNN)、PCA类中心最小距离法、光谱相似度匹配、簇类的独立软模式法(SIMCA)、支持向量机(Support Vector Machine, SVM).线性判别分析(LDA)、贝叶斯判别法、有监督人工神经
关于电子探针X射线微区分析面分析的相关介绍
使入射电子束在样品表面选定的微区内作光栅扫描，谱仪固定接收某一元素的特征X射线信号，并以此调制荧光屏的亮度，可获得样品微区内被测元素的分布状态。元素的面分布图像可以清晰地显示与基体成分存在差别的第二相和夹杂物，能够定性地显示微区内某元素的偏析情况。在显示元素特征X射线强度的面分布图像中，较亮的区
定性分析的干扰因素介绍
试验因共存物质而受到阻碍的现象。干扰物质与被检物质有相同的反应时，引起的干扰称“正干扰”，例如以铬酸盐沉淀Ba2+时，Pb2+也可以PbCrO4形式沉淀，两者的颜色也近似。如果干扰物质抢先与试剂起反应，会使被检物与试剂之间的反应受阻碍，则引起“负干扰”。例如在F-存在下Fe3+与SCN -反应，由于
定性分析的分类及介绍
分干法分析和湿法分析，前者所用的试样不须制成溶液，如熔珠分析、焰色分析、原子发射光谱法、X射线荧光光谱分析法等。湿法分析则要将试样配成溶液，常用的溶剂有水、酸、碱溶液。不溶于上述溶剂的试样可用碳酸钠、过氧化钠、硫酸钾等助熔剂使试样熔融分解，然后再溶于水或稀酸。干法分析只用少量试剂和仪器，便于在野外做