实验室检测仪器x射线光电子能谱仪的定义和用途
X射线光电子能谱技术(XPS)是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术,而且是和俄歇电子能谱技术(AES)常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移,所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息,还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、化学键方面的信息。它在分析电子材料时,不但可提供总体方面的化学信息,还能给出表面、微小区域和深度分布方面的信息。另外,因为入射到样品表面的X射线束是一种光子束,所以对样品的破坏性非常小,这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。......阅读全文
X射线粉末衍射仪用途
1，判断物质是否为晶体。2，判断是何种晶体物质。3，判断物质的晶型。4，计算物质结构的应力。5，定量计算混合物质的比例。6，计算物质晶体结构数据。7，和其他专业相结合会有更广泛的用途。比如可以通过晶体结构来判断物质变形，变性，反应程度等
X射线粉末衍射仪用途
1，判断物质是否为晶体。2，判断是何种晶体物质。3，判断物质的晶型。4，计算物质结构的应力。5，定量计算混合物质的比例。6，计算物质晶体结构数据。7，和其他专业相结合会有更广泛的用途。比如可以通过晶体结构来判断物质变形，变性，反应程度等
实验室光学仪器X射线衍射仪应用
英国物理学家布拉格(Bragg)父子在1912年提出了著名的布拉格定律。该定律对X射线衍射的方向做出了精确的表述。布拉格方程:nλ=2dsinθ(λ为X射线波长,n为衍射级数,d为晶面间距,θ为衍射半角。)其推导过程为:当一束平行X射线射入晶体后,晶体内部的不同晶面将使散射线具有不同的光程。设一组晶
实验室光学仪器X射线衍射仪的仪器角度校正
选用标准硅样品,用与被测样品相同的实验条件测量标准样品的全谱。校正仪器角度误差。具有步骤为:① 对标准样品的衍射谱进行物相检索、扣背景和Kα2、平滑、全谱拟合后,选择菜单“Analyze-Theta Calibration F5”命令,在打开的对话框中单击Calibrate,显示出仪器的角度补正曲
X射线光电子能谱分析
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待
X射线光电子能谱（－XPS）
XPS：X射线光电子能谱分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)测试的是物体表面10纳米左右的物质的价态和元素含量，而EDS不能测价态，且测试的深度为几十纳米到几微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。 原理：用X射线去辐射样品，使原子或分子
你应该知道的X射线光电子能谱仪
X射线光电子能谱仪 X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如AlKa=1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而
X射线光电子能谱仪的技术参数
指标信息： 主真空室：1×10-10 Torr XPS：0.5eV, AES: 分辨率：0.4%, 电子枪束斑：75nm , 灵敏度：1Mcps信噪比：大于70:1 角分辨：5°～90°. A1/Mg双阳极靶 能量分辨率：0.5eV ,灵敏度：255KCPS, 使用多通道检测器（MCD）
x射线光电子能谱仪的主要研究领域
主要研究领域包括： （1）TiO2纳米光催化以及在空气和水净化方面的应用； （2）汽车尾气净化催化剂新型金属载体的研究； （3）纳米药物载体及靶向药物的研究； （4）纳米导电陶瓷薄膜材料的研究； （5）纳米杂化超硬薄膜材料及摩擦化学的研究； （6）纳米发光材料及纳米分析化学研究；
X射线光电子能谱仪的发展史
1887年，海因里希·鲁道夫·赫兹发现了光电效应，1905年，爱因斯坦解释了该现象（并为此获得了1921年的诺贝尔物理学奖）。两年后的1907年，P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球（电子能量分析仪）和照像平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系，他的实验事实上记录了人类第一条X
简述X射线荧光光谱仪的组成和用途
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 组成：X
简述X射线粉末衍射仪用途
1、判断物质是否为晶体。 2、判断是何种晶体物质。 3、判断物质的晶型。 4、计算物质结构的应力。 5、定量计算混合物质的比例。 6、计算物质晶体结构数据。 7、和其他专业相结合会有更广泛的用途。 比如可以通过晶体结构来判断物质变形，变性，反应程度等
X射线应力测定仪的用途概述
X-350A型X射线应力测定仪[1]依据中华人民共和国标准 GB7704--87《X射线应力测定方法》，能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力（用“ + ”、“ － ”号分别表示拉、压应力）, 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代
清华大学仪器共享平台UlvacPhi－X射线光电子能谱仪
仪器名称：X射线光电子能谱仪仪器编号：15031091产地：日本生产厂家：Ulvac-Phi Inc.型号：PHI Quantera II出厂日期：201512购置日期：201512所属单位：机械系>摩擦学国家重点实验室>AFM/XPS实验室放置地点：李兆基楼A509固定电话：固定手机：固定emai
岛津中标长安大学X射线光电子能谱仪
一、项目编号：CZB2022501H/RH采字［20221201］（招标文件编号：CZB2022501H/RH采字［20221201］号） 二、项目名称：长安大学企业信息X射线光电子能谱仪项目 三、中标（成交）信息 供应商名称：西安励德博特科学仪器有限公司企业信息 供应商地址：陕西省西安
实验室光学仪器X射线衍射仪应用介绍
一、物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度,确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。
实验室光学仪器X射线衍射仪发展历史
X射线是指波长为0.01~10nm的电磁波,1895年伦琴(W.C.Roentgen)在使用放电管工作时发现了X射线,因为这一个重大发现,伦琴于1901年获得了诺贝尔奖。1913年莫斯莱(H.G.Moseley)建立了X射线波长与原子序数的关系,奠定了X射线荧光光谱分析(X Ray Fluoresc
x射线光电子能谱仪的相关内容
主要用途： XPS： 1.固体样品的表面组成分析，化学 状态分析，取样深度为～3nm 2.元素成分的 深度分析（角分辨方式和氩离子刻蚀方式） 3.可进行样品的 原位处理 AES： 1.可进行样品表面的微区选点分析（包括点分析，线分析和面分析） 2.可进行深度分析适合： 纳米薄膜材料， 微电子材料
简介X射线光电子能谱仪的技术指标
可实现的功能：单色化双阳极XPS、微区XPS、离子散射谱ISS、反射电子能量损失谱REELS、紫外光电子能谱UPS、氩复合团簇离子枪刻蚀、角分辨ARXPS、平行成像XPS、原位X射线荧光光谱EDXRF分析，并能进行样品台加热冷却、超高真空环境下的测量。 能量扫描范围0～5000eV；通过能范围
实验室光学仪器X射线衍射仪的运用对象
X射线衍射技术可以分析研究金属固溶体、合金相结构、氧化物相合成、材料结晶状态、金属合金化、金属合金薄膜与取向焊接金属相、各种纤维结构与取相、结晶度、原料的晶型结构检验、金属的氧化、各种陶瓷与合金的相变、晶格参数测定、非晶态结构、纳米材料粒度、矿物原料结构、建筑材料相分析、水泥的物相分析等。非金属材料
X射线光电子能谱（XPS）的简介
XPS是重要的表面分析技术之一，是由瑞典Kai M. Siegbahn教授领导的研究小组创立的，并于1954年研制出世界上第一台光电子能谱仪，1981 年，研制出高分辨率电子能谱仪。他在1981年获得了诺贝尔物理学奖。
X射线光电子能谱法的简介
中文名称X射线光电子能谱法英文名称X-ray photoelectron spectroscopy，XPS定 义以单色X射线为光源，测量并研究光电离过程发射出的光电子能量及相关特征的方法。能够给出原子内壳层及价带中各占据轨道电子结合能和电离能的精确数值。应用学科材料科学技术（一级学科），材料科学技
关于x射线光电子能谱的简介
以X射线为激发光源的光电子能谱，简称XPS或ESCA。 处于原子内壳层的电子结合能较高，要把它打出来需要能量较高的光子，以镁或铝作为阳极材料的X射线源得到的光子能量分别为1253.6ev和1486.6ev，此范围内的光子能量足以把不太重的原子的1s电子打出来。周期表上第二周期中原子的1s电子的
Aeris，重新定义台式X射线衍射仪
Aeris，重新定义台式X射线衍射仪：（1）Aeris内置的触摸屏界面直观，可直接显示各种分析结果，所有人都可以无障碍地使用这款仪器。（2）Aeris 还具有拥有成本低的优点 - 它仅需要一个单相电源插口，既不需要冷却水，也不需要压缩空气。（3）Aeris还具备帕纳科设备所含的多种成熟技术，其性能超
实验室检测仪器密度仪的功能和用途
测量物体密度的仪器是密度计(Density Meter)。密度计测量的基本原理是,衡量感光材料曝光和显影后的变黑程度即黑度。在制版时,感光材料上的溴化银,受到光照作用,显影后还原成金属银,形成一定的阻光度。黑度大的,密度高;黑度小的,密度低。带有滤光片的测量计,还可以测量彩色原稿的彩色密度。其测量原
X射线荧光的简介和相关仪器介绍
通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫做X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，而把用来照射的X射线称为原级X射线，所以X射线荧光光谱仪仍然属于X射线范畴。一台典型的X射线荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管主要负责产生入射X射线(一次X射线)，随后该射线
X射线定义及特点介绍
X射线是一种具有较短波长的高能电子波，由于内层轨道电子跃迁或高能电子减速产生，X射线的波长范围为0.01-10nm。介于紫外线和γ射线之间，并具有部分重叠峰。 X射线与可见光相比，除了具有波粒二象性的共同性质之外，还因其波长短、能量大而显示其特性： 1、穿透能力强； 2、折射率几乎等于1；
X射线显微镜的定义
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出
X射线光电子能谱的的技术特点
(1)可以分析除H和He以外的所有元素,对所有元素的灵敏度具有相同的数量级。(2)相邻元素的同种能级的谱线相隔较远,相互干扰较少,元素定性的标识性强。(3)能够观测化学位移。化学位移同原子氧化态、原子电荷和官能团有关。化学位移信息是XPS用作结构分析和化学键研究的基础。(4)可作定量分析。既可测定元
关于X射线光电子能谱仪的基本信息介绍
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合