X射线光电子能谱的起源和发展

1887年,海因里希·鲁道夫·赫兹发现了光电效应,1905年,爱因斯坦解释了该现象(并为此获得了1921年的诺贝尔物理学奖)。两年后的1907年,P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球(电子能量分析仪)和照像平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系,他的实验事实上记录了人类第一条X射线光电子能谱。其他研究者如亨利·莫塞莱、罗林逊和罗宾逊等人则分别独立进行了多项实验,试图研究这些宽带所包含的细节内容。XPS的研究由于战争而中止,第二次世界大战后瑞典物理学家凯·西格巴恩和他在乌普萨拉的研究小组在研发XPS设备中获得了多项重大进展,并于1954年获得了氯化钠的首条高能高分辨X射线光电子能谱,显示了XPS技术的强大潜力。1967年之后的几年间,西格巴恩就XPS技术发表了一系列学术成果,使XPS的应用被世人所公认。在与西格巴恩的合作下,美国惠普公司于1969年制造了世界上首台商业单色X射线光电子能谱仪。1981年西格巴恩......阅读全文

X射线显微镜的简介

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

X射线测角仪的原理

测角仪与德拜相机有许多相似之处。平板试样安装在试样台上,后者可围绕垂直于图4中的轴O旋转。S为X射线源,即X射线管靶面上的线状焦斑,它与图面相垂直。当一束发散X射线照射到试样上时,满足布拉格关系的某种晶面,其反射线便形成一根收敛光束。RS为接收狭缝,它与计数管D一起安装在围绕O旋转的支架上。当计数管

X射线的生物特性及应用

  生物特性  X射线照射到生物机体时,可使生物细胞受到抑制、破坏甚至坏死,致使机体发生不同程度的生理、病理和生化等方面的改变。不同的生物细胞,对X射线有不同的敏感度,可用于治疗人体的某些疾病,特别是肿瘤的治疗。在利用X射线的同时,人们发现了导致病人脱发、皮肤烧伤、工作人员视力障碍,白血病等射线伤害

x射线无损检测的实用领域

  x射线无损检测作为新兴的无损检测技术已经进入工业产品检测的实用领域。90年代以来,我国焊接气瓶、焊接钢管(直缝管和螺旋焊缝管)、汽车铝合金轮毂制造业中已越来越多地应用x射线实时成像检测技术;甚至一些钢管厂在项目投标时已经遇到因为不具备x射线实时成像检测设备条件而失去参加投标资格的局面,因而也都在

X射线衍射仪的基本构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、

特征X射线像的功能介绍

中文名称特征X射线像英文名称characteristic X-ray image定  义在扫描电子显微镜中,由电子探针激发样品而产生的特征X射线对样品所成的像。应用学科机械工程(一级学科),光学仪器(二级学科),电子光学仪器-电子光学仪器一般名词(三级学科)

特征X射线像的功能介绍

中文名称特征X射线像英文名称characteristic X-ray image定  义在扫描电子显微镜中,由电子探针激发样品而产生的特征X射线对样品所成的像。应用学科机械工程(一级学科),光学仪器(二级学科),电子光学仪器-电子光学仪器一般名词(三级学科)

X射线过滤器的简介

中文名称X射线过滤器英文名称X-ray filter定  义由吸收材料制成,用于减弱或改变X射线辐射光谱成分的装置。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)

x射线衍射仪的原理简介

  x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是1912年德

X射线衍射分析的原理简介

  X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定 波长的X 射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。衍射X 射线满足 布拉格(

X-射线衍射仪器的基本构成

(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。(3) 射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统

X射线衍射仪的基本构造

X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、

X射线荧光分析技术的应用

   X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段,开始于20世纪50年代初,经历了50多年的不断发展,现在已成为物质组成分析的必备方法之一。  在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中,X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其

X射线投射检测技术的原理

  在X-Ray检测的过程中, X-Ray穿过待检样品,然后在图像探测器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由分辨率及对比度决定。  成像系统的分辨率(清晰度) 决定于X射线源焦斑的大小、X光路的几何放大率和探测器像素大小。微焦点X光管的焦斑可小到几个微米。X

X射线吸收光谱的光源

  X光吸收光谱可借由调变X光光子能量,于目标原子束缚电子之激发能量范围内进行扫描而得。通常需使用同步辐射设施以提供高强度并可调变波长之X光光束。

X射线衍射仪的行业应用

油田录井Olympus便携式X 射线衍射仪BTX可能直接分析出岩石的矿物组成及相对含量,并形成了定性、定量的岩性识别方法,为录井随钻岩性快速识别、建立地质剖面提供了技术保障。每种矿物都具有其特定的X 射线衍射图谱,样品中某种矿物含量与其衍射峰和强度成正相关关系。在混合物中,一种物质成分的衍射图谱与其

关于X射线探伤的优缺点

  X射线实时成像直观、照相底片可以长时间的保存,对薄壁工件无损探伤灵敏度较高。 对体积状缺陷敏感,缺陷影象的平面分布真实、尺寸测量精确。对工件表面光洁度没有严格要求,材料晶粒度对检测结果影响不大,可以适用于各种材料内部缺陷检测。所以在压力容器的焊接质量检验中得到广泛应用。   X射线探伤缺点:

x射线衍射仪的基本构造

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

x射线衍射仪的基本构造

  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,为X射线衍射仪的基本构造原理图,主要部件包括4部分。  (1) 高稳定度X射线源  提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。  (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统  样品

简述X射线衍射仪的原理

  x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是1912年德

x射线衍射仪的相关简介

  特征X射线及其衍射X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。  X射线衍射仪的英文名称是

发射X射线谱法的简介

中文名称发射X射线谱法英文名称emission X-ray spectrum定  义利用X射线或电子束激发试样产生的X射线,对试样所包含的某种元素进行定量定性分析的方法。应用学科机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理(三级学科)

X射线的物理效应相关介绍

  (1)穿透作用。X射线因其波长短,能量大,照在物质上时,仅一部分被物质所吸收,大部分经由原子间隙而透过,表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关,X射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开来

X射线衍射仪的基本构成

(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。(3) 射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统

X射线荧光分析技术的应用

X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段,开始于20世纪50年代初,经历了50多年的不断发展,现在已成为物质组成分析的必备方法之一。在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中,X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其他分析方法

X射线显微镜的定义

  X 射线显微镜是X 射线成像术的一种,也是显微成像技术,即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等),但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出

X射线晶体衍射学的概述

  X射线望远镜光学系统一般采用沃尔特Ⅰ型──抛物面焦点与双曲面的后焦点重合的同轴光学系统。其焦平面通过双曲面的前焦点。按照制作工艺来划分,X射线望远镜的研制已经历三代。第一代镜面是铝制的,效率为1%,1963年用这种望远镜拍摄到分辨率为几角分的照片,可看出太阳上存在着X射线发射区。第二代镜面是在光

X射线投射检测技术的介绍

  X射线检测技术是无损检测技术的一种。  X射线透射检查法可提供铸件检测部位有无缺陷及缺陷尺寸的照片。X射线透照法主要应用在铸件和机器部件中出现的诸如裂纹、孔洞和夹杂等缺陷的辨识和评价。  X射线不能直接测量,在测量前必须把它转化为可测量的量,有照相法和电信号法两种X射线检测技术。照相法是把X射线

关于X射线的化学特性介绍

  1、感光作用。X射线同可见光一样能使胶片感光。胶片感光的强弱与X射线量成正比,当X射线通过人体时,因人体各组织的密度不同,对X射线量的吸收不同,胶片上所获得的感光度不同,从而获得X射线的影像。  2、着色作用。X射线长期照射某些物质如铂氰化钡、铅玻璃、水晶等,可使其结晶体脱水而改变颜色。

关于小角X射线散射的简介

  小角X射线散射是一种区别于X射线大角(2θ从5 ~165 )衍射的结构分析方法。一种区别于X射线大角(2θ从5 ~165 )衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品,相应的散射角2θ小(5 ~7 ),即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子(或固体