实验室光学仪器波长色散谱仪定量分析条件的选择
1)X光管的高压和电流选择对于不同的X射线管,所选用的电压和电流是不同的。如端窗靶X射线管,高压电源供给X射线管的电压和电流为60kV和125mA。设置的X射线管高压和电流的乘积不能超过谱仪给出的总功率。且谱仪推荐的电流和电压是根据元素而定的,而不是根据实际试样而定的。因此在选择高压时,设定值必须大于待测元素的激发电位。下表为推荐的高压: 2)角度的校正、背景的扣除和计数时间的确定角度的选择取决于待测元素所选的谱线和晶体。尽可能使所选谱线避免基体中其他元素的谱线的干扰。背景产生的原因有:有样品引起的,原级X射线谱在样品中产生散射线,其强度随样品成分变化而变化或是被测谱线附件存在谱线干扰;也有是由于样品产生的射线和仪器相互作用引起的,如晶体荧光和分光晶体引起的高次线等。背景对微量元素的检测限和准确度均有较大影响。背景校正方法有理论背景校正法、实测背景扣除法等。在X射线荧光光谱分析中,测定强度时的计数方法通常分为定时法和定......阅读全文
实验室光学仪器波长色散谱仪定量分析条件的选择
1)X光管的高压和电流选择对于不同的X射线管,所选用的电压和电流是不同的。如端窗靶X射线管,高压电源供给X射线管的电压和电流为60kV和125mA。设置的X射线管高压和电流的乘积不能超过谱仪给出的总功率。且谱仪推荐的电流和电压是根据元素而定的,而不是根据实际试样而定的。因此在选择高压时,设定值必须大
实验室光学仪器色散谱仪能量色散依定量条件的选择
能量色散谱仪定量分析条件的选择与波长色散谱仪定量分析条件的选择相比较,相对于所用仪器来说要简单一些,但能量色散谱仪种类繁多,如有用二次靶的,也有用偏振光的,它们各有特色,因此应在熟悉所用仪器性能的条件下,就其特性选择最佳分析条件,以满足分析要求。它的条件选择主要有:提供给X射线管的管压和管电流、谱线
定量分析中实验条件的选择
为了激发某元素的某一线系的特征X射线，入射电子的能量必须大于该元素此线系临界激发能。同时，为了能得到足够的X射线强度，入射电子束也要有足够的强度。一般应按如下几个基本考虑来选择实验条件。1)试样中产生X射线的区域应尽可能地小，以减小被分析区域内外部干扰，更好地发挥电子探针分析的微区化优势。2)为减小
能谱干扰波长色散X射线光谱分析仪的介绍
在各种探测器结合脉冲幅度分析器使用时，对一定波长的谱线，将产生具有平均脉冲幅度正比于光子能量的脉冲幅度分布。这种脉冲幅度分布的能谱干扰，不只是来自激发源、样品成光路中的干扰线，也可能来自计数器的逃逸峰在气体探测器中，决定于所充的情性气体种类（Ar、Kr或Xe等）及其能量分辨率；闪烁探测器则决定于
能量色散谱仪
能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器，高能锗探测器、Si-PIN光电二极管探测器（图1-10）等。早期的半导体探测器需要利用液氮制冷，随着技术的进步，新型的探测器利用半导体制冷技
XRF的两大类型，波长色散型和能谱色散型区别何在？
X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。 波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后
波长色散荧光光谱仪简介
此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多，特别是进口的都在百万元以上，所以没有外国公司建议用。仪器操作和能量色散一样，不需要专业人员。 波长型最大优点是用在原材料厂上，其测定的数据准确，给
能量色散和波长色散X荧光光谱仪的区别
扫描电镜束流小，电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱精确一个数量级，电子探针元素面扫描可以用能谱，也可以用波谱，一般对轻元素（C以下），波谱较准确，相对来说波谱扫描时间较长，一般定性及半定量基本用能谱。
概述波长色散X射线光谱分析仪干扰谱线的来源
XRF分为波长色散和能量色散两大分支，由于激发、色散和检测方法不同，他们对谱线干扰的处理办法有所不同。这里主要讨论应用普通X光管激发的波长色散X射线光谱分析仪法中的谱线干扰问题。对于利用各种激发源的能散法，只作简单比较。为区别两种方法的谱线干扰，分为称它们为波长干扰和能谱干扰。
概述波长色散X射线光谱分析仪谱线干扰的消除
在X射线光谱法中，如上所述，谱线干扰的来源基本上可分为两方面，即发生于仪器和样品本身。属于样品中固有的干扰线除采用化学分离方法去除干扰元素外，有的也可以利用仪器方法来克服，或者进行数学上的校正，现在，对以上两种来源的干扰线，如何从仪器上克服和进行数学上的校正，分别讨论如下： 1）激发源 对
波长干扰波长色散X射线光谱分析仪的介绍
①X射线管 由X射线管发射出来的干扰线，首先，可能来自靶材本身，包括靶元素及有关杂质（例如钨靶中的铜）的发射线，其次，在x射线管的长期使用中，可能由于灯丝及其它有关构件（包括银焊料）的升华喷溅或其它原因，造成靶面或管窗的玷污，也是产生干扰线的一种来源。再次，由于x射线管构件受激发或阴极电子束
波长色散荧光光谱仪的相关介绍
波长法是因其激发出的荧光足够强，进到仪器中用来分析的光谱是单一元素（“过滤”了不需测的元素），不含其它元素的光谱，所以测量数据很准确。这种仪器的灵敏度比能量色散型高一个数量级，也就是说，所测的数据并不存在“灰色地域”，不存在测定后还需拿到检测机构复检。缺点是，波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测
波长色散X射线荧光光谱仪
我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中，从20世纪80年代起，一些机械部件为电子线路所取代，
能量色散和波长色散X荧光光谱仪比较和说明
1、测量精度：波长色散类X荧光光谱仪有其固有的高分辨率和高精度，能提供极高的稳定性和优良的分析精度，但对样品的形状和制备方法有所要求；能量色散X荧光光谱仪如果经过精心的设计和方法优化，也可提供行业接受的测量结果，它的一个优点是可以在不对样品进行处理的情况下给出可供参考的数据。目前波长色散类仪器也已经
简介能量色散谱仪的原理
能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器，高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对，电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时
实验室光学仪器拉曼光谱的定量分析
一、激光拉曼光谱定量分析原理由 Placzek理论可知,当气体样品中含N个分子,并以90°方式收集散射光时,斯托克斯拉曼谱带的强度I由下列方程式表示: (1)式中,K是系数,其值仅和方程中其他量所取单位有关;I0和ν0是激发光的强度和频率;ν是分子的简正振动频率;K是 Boltzm
波长色散型和能量色散型XRF的相关介绍
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型: 波长色
波长色散X射线荧光光谱仪的特点
它的工作原理是：试样受X射线照射后，元素的原子内壳层电子被激发，并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线，通过探测器测量元素特征X射线的波长（能量）的强度与浓度的比例关系，便可进行定量分析 波长色散X射线荧光光谱仪的特点是什么呢？ 1.可用于固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析 2
波长色散X射线荧光光谱仪简介
波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。
波长色散X射线荧光光谱仪简介
波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），从而进行物质成分分析的仪器。 优点： 不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高,样品制备简单。
波长分散谱仪简介
在电子探针中，X射线是由样品表面以下 m数量级的作用体积中激发出来的,如果这个体积中的样品是由多种元素组成，则可激发出各个相应元素的特征X射线。 被激发的特征X射线照射到连续转动的分光晶体上实现分光（色散），即不同波长的X射线将在各自满足布拉格方程的2方向上被（与分光晶体以2：1的角速度同步转
生化仪双波长测定中辅助波长的选择
双波长的应用是为了消除样品中对测定有干扰的物质的影响,而实际应用中选择辅助波长主要用于消除脂血、溶血、黄疸的干扰。脂血样品中的脂质吸收光谱从300～600ｎｍ均有吸收,呈逐渐下降的趋势；溶血样品中的血红蛋白在350ｎｍ、400ｎｍ、540ｎｍ、580ｎｍ有4个吸收峰；黄疸样品中的胆红素在300
实验室分析方法红外光谱定量分析测量、操作条件的选择
（一）定量谱带的选择理想的定量谱带应是孤立的，吸收强度大，遵守吸收定律，不受溶剂和样品其他组分干批，尽量避免在水蒸气和CO2的吸收峰位置测量。当对应不同定量组分而选择两条以上定量带时，谱带强度应尽量保持在相同数量级，对于固体样品，由于散射强度和波长有关，所以选择的谱带最好在较窄的波数范围内。（二）溶
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的区别
多数人到现在还不清楚如何的区分波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的之间的区别到底有哪一些不一样的，本文中使用表格的形式简单的介绍两者之间的原理结构，一分钟快速掌握其中的奥秘。 日本理学大功率台式波长色散X射线荧光光谱仪 新型Supermini200拥有改良的软件功能和更
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的区别
多数人到现在还不清楚如何的区分波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的之间的区别到底有哪一些不一样的，本文中使用表格的形式简单的介绍两者之间的原理结构，一分钟快速掌握其中的奥秘。 日本理学大功率台式波长色散X射线荧光光谱仪 新型Supermini200拥有改良的软件功能和更
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的区别
多数人到现在还不清楚如何的区分波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的之间的区别到底有哪一些不一样的，本文中使用表格的形式简单的介绍两者之间的原理结构，一分钟快速掌握其中的奥秘。 日本理学大功率台式波长色散X射线荧光光谱仪 新型Supermini200拥有改良的软件功能和更
能量色散谱仪的概述和特点
能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器，高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对，电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时
能量色散谱仪的工作原理简介
能量色散谱仪(energy dispersive spectxrmleter: EDS)是x射线能谱分析的一种仪器。在电子与物质相互作用时，采用能聚焦的入射电子可以激发初级x射线，不同元素发射出来的特征x射线波长不同，能量也不同。利用x射线能量不同而展谱一般称为x射线能谱分析或能量色散x射线分析
如何确定质谱定量分析选择依据
使试样中各组分电离生成不同荷质比的离子，经加速电场的作用，形成离子束，进入质量分专析器，利用电场和磁场使属发生相反的速度色散——离子束中速度较慢的离子通过电场后偏转大，速度快的偏转小；在磁场中离子发生角速度矢量相反的偏转，即速度慢的离子依然偏转大，速度快的偏转小；当两个场的偏转作用彼此补偿时，它
波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述
波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述波长色散X射线荧光光谱仪，采用了新技术设计的固态发生器、新技术设计的高电流低温X射线光管、当前电子技术新设计的电路板、新开发的高强度晶体等，使X射线荧光光谱仪对元素的分析产生了突破，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、操作简便性、可靠性、分析速度、功能完备的分析软件等