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能量色散谱仪定量分析条件的选择与波长色散谱仪定量分析条件的选择相比较,相对于所用仪器来说要简单一些,但能量色散谱仪种类繁多,如有用二次靶的,也有用偏振光的,它们各有特色,因此应在熟悉所用仪器性能的条件下,就其特性选择最佳分析条件,以满足分析要求。它的条件选择主要有:提供给X射线管的管压和管电流、谱线、滤光片的选择和测定时间。管压和管电流的选择原则与在波长色散谱仪中的不同,所用管压通常比待测元素的激发电位高3-5keV,而在波长色散谱仪中要比激发电位大4-10倍,同时管电流一般均较小,它受能量色散谱仪所允许的最大计数率(5-30kcps)的限制。基于此视待分析素对象不仅要设置不同的管压和管电流,还要与滤光片结合起来考虑,其原则是保证所测元素获得最大强度。如用SPN探测器的谱仪,以Rh靶作为激发光源,分析水泥中镁铝、硅、硫和钾时,选择4kV,0.6mA,其目的是使高含量钙不被激发,而测钙、钛和铁时,择13kV,0.1mA,并选用20......阅读全文
能量色散谱仪定量分析条件的选择与波长色散谱仪定量分析条件的选择相比较,相对于所用仪器来说要简单一些,但能量色散谱仪种类繁多,如有用二次靶的,也有用偏振光的,它们各有特色,因此应在熟悉所用仪器性能的条件下,就其特性选择最佳分析条件,以满足分析要求。它的条件选择主要有:提供给X射线管的管压和管电流、谱线
1)X光管的高压和电流选择对于不同的X射线管,所选用的电压和电流是不同的。如端窗靶X射线管,高压电源供给X射线管的电压和电流为60kV和125mA。设置的X射线管高压和电流的乘积不能超过谱仪给出的总功率。且谱仪推荐的电流和电压是根据元素而定的,而不是根据实际试样而定的。因此在选择高压时,设定值必须大
能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器，高能锗探测器、Si-PIN光电二极管探测器（图1-10）等。早期的半导体探测器需要利用液氮制冷，随着技术的进步，新型的探测器利用半导体制冷技
能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器，高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对，电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段
能量色散谱仪(energy dispersive spectxrmleter: EDS)是x射线能谱分析的一种仪器。在电子与物质相互作用时，采用能聚焦的入射电子可以激发初级x射线，不同元素发射出来的特征x射线波长不同，能量也不同。利用x射线能量不同而展谱一般称为x射线能谱分析或能量色散x射线分析
能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器，高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对，电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时
能量色散X-荧光能谱仪是一种用于化学、材料科学领域的分析仪器，于2011年11月10日启用。 技术指标 检测项目：适用于金属、化工、石油、土壤、矿石元素分析，满足固体、液体、粉末、 水质及油类等形态样品中的多种无机元素的定性、半定量和定量分析。满足镀层和薄膜厚度的测定。用于科研制标
能量色散荧光光谱仪是一种用于物理学、化学、能源科学技术领域的分析仪器，于2010年4月1日启用。 技术指标 1 X射线发生器： 管靶-Rh标配；电压范围4-50 kV；滤光片：七个滤光片+直接激发；2 基本性能：稳定性RSC0.3%,8h；灵敏度 Fe,Pb, 3pmm； 3 样品
能量色散荧光光谱仪是一种用于物理学、化学、能源科学技术领域的分析仪器，于2010年4月1日启用 技术指标 1、X射线发生器： 管靶-Rh标配；电压范围4-50 kV；滤光片：七个滤光片+直接激发； 2、基本性能：稳定性RSC0.3%,8h；灵敏度 Fe,Pb, 3pmm；
扫描电镜束流小，电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱精确一个数量级，电子探针元素面扫描可以用能谱，也可以用波谱，一般对轻元素（C以下），波谱较准确，相对来说波谱扫描时间较长，一般定性及半定量基本用能谱。