实验室光学仪器X射线衍射仪晶粒大小计算
一、关于XRD图谱 1)衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化、试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变(微观应变)和堆积层错(在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴)。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。2)半高宽、样品宽化和仪器宽化样品的衍射峰加宽可以用半高宽来表示,样品的半高宽FWHM是仪器加宽FW(I)和样品性质(晶块尺寸细化和微观应力存在)加宽FW(S)的卷积。为了求得样品加宽FW(S),必须建立一个仪器加宽FW(I)与衍射角θ之间的关系,也称为FWHM曲线。 该曲线可以通过测量一个标样的衍射谱来获得。标样应当与被测试样的结晶状态相同,标样必须是无应力且无晶块尺寸细化的样品,晶粒度在25μm以上,如NISTA60Si和LaB6等。二、晶粒大小的计算衍射粉末晶粒大小的计算主要是以衍射图谱的半宽高为依据来进行相关计算。如果把衍射峰简单地看作是一个三角形,那......阅读全文
X射线衍射全谱拟合定量分析方法研究
利用X射线衍射仪对不同配比的Si和TiO2样品进行分析,通过三种定量分析方法(峰高法、积分强度法、全谱结构拟合法)进行计算,并进行误差分析。结果表明:三种定量分析方法中,全谱结构拟合法最优,相对误差为±2%(n=3),误差最小。X射线衍射全谱拟合法是一种精确,快速的定量方法。 更多还原
X射线衍射光学部件的制备及其光学性能表征（一）
陈宜方 摘要: 综述了国内外在纳米加工X射线衍射光学透镜方面的研究现状和最新进展。介绍了作者团队过去三年在这方面做的工作。针对衍射透镜关键技术，研发了具有大高宽比形貌的电子束光刻基础工艺；结合金电镀，提出了纳米尺度波带片的制造技术，并将该工艺成功扩展于分辨率板（Siemens s
岛津参加第十届全国X射线衍射学术大会
第十届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会于2009年10月12日在上海隆重召开。本届大会由中国物理学会、中国晶体学会、国家自然科学基金委员会工程与材料科学学部、International Centre for Diffraction Data, USA主办，上海交通大学
X射线衍射光学部件的制备及其光学性能表征（四）
3 X射线光学表征3.1 100 nm分辨率波带片的聚焦特性100 nm波带片的光学聚焦特性在上海光源同步辐射BL15U1线站进行了光学表征。图 22是光学测试系统(图 22(a))和光路示意图(图 22(b))。X射线的能量是10 keV，波带片的第一环直径为3.46 μm，总共有300个波带
超快动力学探测新工具超快X射线衍射
在超快时间尺度上获得物质的动力学演化过程一直是人们努力的重要方向。基于激光等离子体相互作用产生的飞秒硬X射线源由于具有脉宽短、亮度高和源尺寸小等突出的优点，可广泛应用于瞬态微成像/相衬成像、时间分辨吸收谱学和X射线衍射等实验研究中。其中，激光泵浦--超快X射线衍射的手段能为我们提供飞秒级时间尺度
X射线衍射光学部件的制备及其光学性能表征（三）
2.4 波带片透镜的极限高宽比研究为了实现硬X射线的高效率成像，波带片透镜的绝对厚度和大高宽比一直是X射线光学技术发展追求的目标。然而，采用电子束光刻的手段能够实现的最大高宽比及其影响因素等方面的研究在国内外一直没有专门报道。本文综述了我们运用蒙特卡罗模拟法和显影动力学理论，结合实际电子束光刻的形貌
化合物做x射线单晶衍射能够获得什么结构信息
晶体的晶格栏栅结构是X射线发生衍射现象的理想条件.无机晶体、混晶体、金属晶体、合金体、共熔体、有机化合物晶体、高分子晶体、生物大分子晶体等晶体类物质以及上述物质的部分晶体、粉末微晶体等都是X射线衍射研究的当然对象.有机化合物,已经有相当一部分被制备成晶体进行了X射线衍射研究,但还远不是全部.有些有机
X射线衍射光学部件的制备及其光学性能表征（二）
2.3 各种衍射光学部件的研制本文所研制的光学元器件包括X射线衍射金立柱及其列阵、菲涅尔波带片、分辨率板和光栅型均匀辐照的会聚镜。其工艺步骤如图 3所示。2.3.1 超高金立柱及其列阵作为无透镜成像的衍射元件，大高宽比金立柱是一个重要结构。运用图 3所示的工艺流程，本文在300 nm厚的SiNx上成
x射线粉末衍射分析无机材料的方法有哪几种
一、X射线粉末衍射分析无机材料的方法在使用的测试仪器、测试样品的制作形状以及在解析谱图计算衍射强度等方面存在着不同：劳厄法（平板照相法）、等倾魏森堡法 、粉末衍射法、四园衍射法等。它们的实验方法不尽相同，获得的谱图也有所差别。现在，X射线分析的新发展使得金属、无机材料的X射线分析由于设备和技术的普及
x射线粉末衍射分析无机材料的方法有哪几种
一、X射线粉末衍射分析无机材料的方法在使用的测试仪器、测试样品的制作形状以及在解析谱图计算衍射强度等方面存在着不同：劳厄法（平板照相法）、等倾魏森堡法 、粉末衍射法、四园衍射法等。它们的实验方法不尽相同，获得的谱图也有所差别。现在，X射线分析的新发展使得金属、无机材料的X射线分析由于设备和技术的普及
X射线应力仪的功能
利用MSF/PSF-3M X射线应力仪可以无损地对金属材料及构件表面的残余应力进行测试。该仪器包括实验室测试部分及现场测试部分，也可以到现场对大型构件进行应力测试。测试对象中常见材料包括船体结构钢、不锈钢、有色金属等。具有无损、准确的特点。经常被用于检验各种构件处理工艺的有效性，，还可以测试应力
X射线谱仪的发展
X射线谱仪是我国绕月探测工程实现月球资源探测、研究月球组成预演化等的重要手段和有效方法之一。“在我国探月工程分三步走的进程中，通过一期嫦娥一号卫星有效载荷绕月工程在轨观测，我们将获得月球表面元素的种类及其含量、分布。有了月表元素分布图，就能为探月二期工程利用月球车登月后进行资源探测和进一步的科考
小角X射线散射仪简介
小角X射线散射仪是一种用于物理学、化学领域的分析仪器，于2013年1月12日启用。 技术指标 最大功率：40kV、50mA；小角测量范围（q）：0.07°～5°；大角测量范围（q）：0.07°～40°。 主要功能 1)分散体系中粒子的形貌、尺寸、孔结构以及尺寸分布等； 2)高分子聚合物
X射线应力仪的参数
1、以及便携式状态PSF-3M实验室使用状态MSF-3M均包含其中。 2、奥斯体测量附件残留。2θ角度测量范围：120-150度。 3、Windows操作系统 4.X射线发生器zui大功率为300瓦，30千伏10毫安。 5.铬靶X光管 6.测角仪2θ测量角范围：140-170度。
X射线谱仪的应用
我国“嫦娥一号”探月卫星的一个有效载荷，它可探测月表元素受太阳X射线或宇宙射线激发产生的X射线荧光，并能对太阳X射线辐射进行监测，通过数据反演法可获得月表主要元素的含量和分布，以确定月表岩石类型和资源分布，并为月球探测和检验月球形成与演化模型提供重要信息。 一些天文卫星上都会应用X射线探测器。
X射线能谱仪简介
能谱仪是利用X射线能谱分析法来对材料微区成分元素种类与含量分析的仪器，常常配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
X射线谱仪的组成
X射线谱仪主要由X射线谱仪探测器，太阳监测器和电控箱组成。 1.太阳监测器：指向太阳，监测太阳X射线辐射，配合月表X 射线观测，获得元素的绝对丰度分布。由Si-PIN组成的半导体探测器阵列，包括4路1～10keV的低能探测器，探测面积为1cm2，16路10～60keV的高能探测器，探测面积为1
软X射线能谱仪
本文描述了一个用于托卡马克杂质谱线精细测量的高分辨软X射线谱仪。谱仪采用Johann型弯晶衍射结构,以多丝正比室作探测器件。其测量范围为2—8keV(1—6),能量分辨为4.1eV(在6.4keV处)。多丝正比室采用阳极丝逐丝读出法,位置读出精度2mm。谱仪配有自动数据记录系统。
X射线谱仪的特点
X射线谱仪X射线探测器具有灵敏度高、分辨率好、重量轻及功耗低等特点，但易受到外界干扰，特别是温度的影响。由于我们探测器入射窗是暴露在卫星外，月球表面的昼夜周期极限温度变化非常大，温度环境对探测器性能有影响；另外探测器采用的硅半导体阵列，每片厚度仅微米数量级，承受外力的能力差和弱探测信号等不利因素
X射线谱仪的性能
X射线谱仪X射线谱仪和太阳监测器分别安装在卫星顶板和侧板上。其中，X射线谱仪用于探测月球表面元素受太阳X射线或宇宙射线激发产生的荧光X射线，如Mg、Al或Si元素等。其飞行方向与卫星轨道成45度角，正对月面。太阳监测器正对太阳，监测太阳活动，从而得到入射的太阳X射线能谱，结合X射线谱仪，获得到相
190万！山东石油学院联合研究院X射线衍射仪采购项目
项目概况碳中和联合研究院X射线衍射仪采购项目的潜在供应商应在东营市公共资源交易网（http://60.214.233.37:81/index.html）网站获取采购文件，并于2022年9月26日14点30分（北京时间）前递交响应文件。一、项目基本情况：项目编号：SYHGXY-H20220902-02
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
电子衍射和－XRD的区别
电子衍射是二维衍射和 XRD 是一维衍射，电子衍射和XRD的基本原理和衍射花样的几何特征相似，而且都遵循劳厄方程或布拉格方程。两者区别包括：(1) 电子波的波长短，则受物质散射强（原子对电子的散射能比 X 射线强一万倍）；(2) 电子衍射强度大，要考虑它们之间的相互作用，使电子衍射花样分析，特别是强
X射线能谱仪专用计算机硬件检修方法研究
Ｘ射线能谱仪是中国科学院从美国引进的，用于微区元素定性定量分析。能谱仪由计算机、Ｓｉ（Ｌｉ）探测器、电子系统、显示器、驱动器等几个部分组成，核心是ＡＬＰＨＡＬＳＩ－２／２０Ｇ专用计算机。Ｘ射线能谱仪主要故障有：①计算机不启动；②ＣＰＵ对存储器访问失效，调不出图谱。用准静态法对能谱仪专用计算机电路板检
X射线荧光光谱仪X射线防护系统故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合上
X射线荧光光谱仪中的X射线原理科普
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应。X射线初用于医学成像诊断和X射线结晶学。X射线也是游离辐射等这一类对人体有危害的
X射线荧光光谱仪X射线防护系统的故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合
多晶衍射法的照相法相关内容
照相法以光源发出的特征X 射线照射 多晶样品，并用底片记录衍射花样。根据 样品与底片的相对位置，照相法可以分为德拜法、聚焦法和针孔法，其中德拜法应用最为普遍。 德拜法以一束准直的特征X 射线照射到小块粉末样品上，用卷成圆柱状并与样品同轴安装的窄条底片记录衍射信息，获得的衍射花样是一些衍射弧。此
XD2/3系列衍射仪
产品介绍 X射线衍射仪是对晶体物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的分析仪器。 北京普析通用仪器有限责任公司生产的XD2/3型X射线粉末衍射仪具有精度高、准确度高、机械稳定性好、经久耐用、易升级、操作简便和智能化的特点，能灵活地适应各种行业的测试分析与研究。是目前国内生产制造先
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。