实验室光学仪器X射线衍射仪晶粒大小计算
一、关于XRD图谱 1)衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化、试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变(微观应变)和堆积层错(在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴)。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。2)半高宽、样品宽化和仪器宽化样品的衍射峰加宽可以用半高宽来表示,样品的半高宽FWHM是仪器加宽FW(I)和样品性质(晶块尺寸细化和微观应力存在)加宽FW(S)的卷积。为了求得样品加宽FW(S),必须建立一个仪器加宽FW(I)与衍射角θ之间的关系,也称为FWHM曲线。 该曲线可以通过测量一个标样的衍射谱来获得。标样应当与被测试样的结晶状态相同,标样必须是无应力且无晶块尺寸细化的样品,晶粒度在25μm以上,如NISTA60Si和LaB6等。二、晶粒大小的计算衍射粉末晶粒大小的计算主要是以衍射图谱的半宽高为依据来进行相关计算。如果把衍射峰简单地看作是一个三角形,那......阅读全文
宁波海关将采购ICP－MS、SEM等一批设备
宁波海关技术中心2026年6至7月政府采购意向发布，将采购化学试剂和助剂、电感耦合等离子体质谱仪、高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪、扫描电镜、X射线衍射仪等。预计6月、7月采购，预算总金额690万元。本次公开的采购意向是采购单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。序
文－XD6系列衍射仪
产品介绍 X射线衍射仪是对晶体物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的分析仪器。 北京普析通用仪器有限责任公司新研制开发的XD-6 型X射线衍射仪有其更加突出的优点，该产品是在本公司成熟产品XD3基础上新研制、开发的产品。XD-6型X射线粉末衍射仪具有精度高、准确度高、机械稳定性
XD6系列衍射仪
产品介绍 X射线衍射仪是对晶体物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的分析仪器。 北京普析通用仪器有限责任公司新研制开发的XD-6 型X射线衍射仪有其更加突出的优点，该产品是在本公司成熟产品XD3基础上新研制、开发的产品。XD-6型X射线粉末衍射仪具有精度高、准确度高、机械稳定性
x射线单晶体衍射仪单晶体结构分析实验方法的发展
单晶体结构分析实验方法的发展 目前的实验室单晶体结构分析方法对于测定小分子的单晶体结构已经是相当完美了, 但对于巨大的生物大分子就显得软弱无力，主要是光源强度不够，光的平行性不良，波长又不好调。目前主要要依靠 同步辐射作为 X射线源。我国二个 同步辐射光源之一的位于合肥的国家同步辐射实验室（
中国科学院金属研究所多功能x射线衍射仪采购更正公告
一、项目基本情况 原公告的采购项目编号：OITC-G230311033 原公告的采购项目名称：中国科学院金属研究所多功能x射线衍射仪采购项目公开招标公告 首次公告日期：2023年07月06日 二、更正信息 更正事项：采购公告 更正内容： 根据采购人通知，本项目澄清如下： 1、交货
中国科学院大连化学物理研究所X射线衍射仪采购中标
中国科学院大连化学物理研究所X-射线衍射仪采购项目中标公告中国科学院大连化学物理研究所企业信息X-射线衍射仪采购项目中标公告一、项目编号：OITC-G230310458（招标文件编号：OITC-G230310458）二、项目名称：中国科学院大连化学物理研究所企业信息X-射线衍射仪采购项目三、中标（成
X射线管中X射线的产生原理
实验室中X射线由X射线管产生,X射线管是具有阴极和阳极的真空管,阴极用钨丝制成,通电后可发射热电子,阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨,用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）.用几万伏至几十万伏的高压加速电子,电子束轰击靶极,X射线从靶极发出.
与x射线衍射相比，电子显微镜具有哪些优势
x射线是电磁波，波长约为1?，与晶体的原子间距相近，因此入射到晶体上会发生衍射。电子也有波动性，波长与其动量成反比，经过几十伏特加速电压加速的电子，波长与x光差不多，入射到晶体上也发生衍射，衍射图样与x光十分相似。电子的波动性最初就是这样得到实验证实的。电镜是利用电子的波动性，用电子代替光波设计的显
多晶体衍射为什么要用单色x射线做辐射源
从布拉格公式可以看出，2d sinθ=λ，波长值波动范围越小。测量的晶面间距d值就准确。多色x射线是由波长一定范围的多种波长的光波组成。
X射线衍射半峰宽与晶体质量有什么关系
半峰宽的大小受晶粒尺寸大小、内应力、结晶缺陷等的影响。晶粒尺寸越小，峰越宽。内应力也可导致峰变宽。
高分子领域常用的表征方法之X射线衍射分析（XRD）
当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子有规则排列成的晶胞所组成的，而这些有规则排列成的原子间距离与入射X射线波长具有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉叠加，可在某些特殊方向上产生强的X射线衍射。衍射方向与晶胞的形状及大小有关。衍射强度则与原子在晶胞中的排列方式有关。X射线衍射在高分
X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的本质
X射线的本质是电磁辐射，具有波粒二像性。 1）波动性 X射线的波长范围：0.01~100 用于元素分析的X射线光谱所使用的波长范围在0.01~11nm 2）粒子性 特征表现为以光子形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量。 表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如光电效应、荧光辐
X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的起源
1895年德国物理学家威廉·康拉德·伦琴研究阴极射线管时，发现阴极能放出一种有穿透力的、肉眼看不见的射线。由于它的本质在当时是一个“未知数”，故称之为X射线。 伦琴无条件地把X射线的发现奉献给人类,没有申请ZL。 X射线和可见光一样属于电磁辐射，但其波长比可见光短得多，在10-6～10nm。
X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的产生
高速运动的电子与物体碰撞时，发生能量转换，电子的运动受阻失去动能，其中一小部分（1％左右）能量转变为X射线，而绝大部分（99％左右）能量转变成热能使物体温度升高。 产生X射线源有同位素放射源、X射线管、激光等离子体、同步辐射和X射线激光等。
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
X射线荧光光谱仪中X射线的由来和性质分析
X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X射线衍射的方向与晶体结构之间的有什么对应关系
X射线衍射的方向体现在XRD谱的横坐标，X射线衍射强度记录在XRD谱的峰强，解析XRD谱可以获得晶体结构、晶相晶系等的信息。对无机材料测试研究、金属材料、纳米材料、超导材料、高分子材料等等应用领域都有很好的应用。X射线衍射对无机材料、金属的分析，常作的就是对材料的物相的定性分析，把对材料测得的点阵平
X射线应力仪的功能介绍
利用MSF/PSF-3M X射线应力仪可以无损地对金属材料及构件表面的残余应力进行测试。该仪器包括实验室测试部分及现场测试部分，也可以到现场对大型构件进行应力测试。测试对象中常见材料包括船体结构钢、不锈钢、有色金属等。具有无损、准确的特点。经常被用于检验各种构件处理工艺的有效性，，还可以测试应力
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
X射线探伤仪检验规程
X射线探伤简介 射线探伤是利用射线可以穿透物质和在物质中有衰减的特性来发现其中缺陷的一种无损探伤方法。它可以检查金属和非金属材料及其制品的内部缺陷，如焊缝中的气孔、夹渣、未焊透等体积性缺陷。这种无损探伤方法有独特的优越性，即检验缺陷的直观性、准确性和可靠性，而且，得到的射线底片可用于缺陷的分析和作
X射线测角仪的原理
测角仪与德拜相机有许多相似之处。平板试样安装在试样台上，后者可围绕垂直于图4中的轴O旋转。S为X射线源，即X射线管靶面上的线状焦斑，它与图面相垂直。当一束发散X射线照射到试样上时，满足布拉格关系的某种晶面，其反射线便形成一根收敛光束。RS为接收狭缝，它与计数管D一起安装在围绕O旋转的支架上。当计数管
多道X射线光谱仪简介
中文名称多道X射线光谱仪英文名称multichannel X-ray spectrometer定 义能对多种不同波长或能量同时进行测量的X射线光谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线异物检测仪简介
X射线(X-ray)检测机是在下使用低能量X 光，快速检测出被检物品的内部质量和其中的异物，并通过计算机显示被检物品图像的测试手段。 当待检品经X射线照射后，物质的密度和原子序数越大，物质吸收X射线的比率也会越大。而食品中的蛋白质、碳水化合物、脂肪、水分以及骨头（钙质）、玻璃（硅质）、金属和毛
自动X射线检测仪概述
X射线具有很强的穿透性，是最早用于各种检测场合的一种仪器。X射线透视图可显示焊点厚度、形状及质量的密度分布。这些指标能充分地反映出SMT贴片加工生产焊点的焊接质量，包括开路、短路、孔洞、内部气泡以及锡量不足，并能做到定量分析。 X射线由一个微焦点X射线管产生，穿过管壳内的一个铍窗，投射到试验样
X射线测角仪的简介
中文名称X射线测角仪英文名称X-ray goniometer定 义在X射线分析法中，用于测量入射X射线束与衍射X射线束之间夹角的仪器。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线光谱仪的简介
中文名称X射线光谱仪英文名称X-ray spectrometer定 义X射线波谱仪和X射线能谱仪的总称。用于获得试样X射线光谱，并测量谱线的位置和强度。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线能谱仪应用范围
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
X射线荧光仪的相关介绍
X射线荧光仪一般是采用，激发样品中的目标元素，使之产生特征X射线，通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。 仪器分为室内分析、野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器（正比计数管及闪烁计数器）能量分辨率不高，不能区
X射线应力仪的的特点
1、完整德拜环通过二维探测器一次性采集获取，单角度一次入射就能够使测量完成。 2、一次测量能够获得500个衍射点进行残余应力数据拟合，可以得到更为精确的结果。 3、测角仪不需要，单角度一次入射就行，测量狭窄空间以及复杂形状也变得相当容易。 4、不需要任何液体冷却装置，便携电池供电支持。
自动X射线晶体定向仪
X射线自动定向仪是根据市场对晶体角度测量越来越高的精度要求而推出的手动定向仪的升级产品，它是利用X射线衍射原理，设计制造的光，机，电三为一体精密仪器，能快速地测定天然和人造晶体（压电晶体、光学晶体、激光晶体、半导体晶体）的晶面，可与各种切割、研磨等加工设备配套使用。是精密加工制造晶体器件不可缺少