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使用短炬管的 ICP 原子化器、离子化器进行原子/离子荧光信号观测时，观测区域一般也是在等离子体的尾焰部分，使用的入射功率也要比 ICP-AES 分析时的等离子体功率低，一般为800W 左右。对 HCMP-HCL 激发的短炬管 ICP-AFS/IFS 的研究表明，由于荧光信号观测区域的等离子体温度较高，大部分元素在观测区域中的电离程度也较高，容易观测到离子荧光信号而较难观测到原子荧光信号。下表列出易电离元素 Ca、Sr、Ba、Sc 和 Y 在短炬管 ICP 中观测到的荧光光谱实验结果。这些元素在短炬管 ICP 中主要以离子存在，观测到的均为离子荧光信号，难以观测到原子荧光信号。短炬管 ICP 中，难熔元素 Ba的离子荧光光谱的检出限比 CP- HCL 激发的加长炬管 ICP-AFS 的检出限改善50倍以上，而Sc、Y的检出限改善3〜47倍，Ca、Sr 离子荧光和原子荧光的检出限基本一致。短炬管 ICP 中离子荧光光谱检出限（3a......阅读全文
使用短炬管的 ICP 原子化器、离子化器进行原子/离子荧光信号观测时，观测区域一般也是在等离子体的尾焰部分，使用的入射功率也要比 ICP-AES 分析时的等离子体功率低，一般为800W 左右。对 HCMP-HCL 激发的短炬管 ICP-AFS/IFS 的研究表明，由于荧光信号观测区域的等离子体温度较
加长炬管ICP原子/离子荧光光谱利用 Plasa/AFS 2000系统中加长炬管 ICP 为原子化器/离子化器进行等离子体原子/离子荧光光谱研究，原因之一是充分利用已有的硬件设备，尤其是系统本身的等离子体光源以及元素组件，二 是建立的等离子体原子/离子荧光光谱检测系统可直接与 Plasa/ AFS
无论使用 HCL 或 Xe 弧灯、Ar 或 He， MIP 都可以用作原子荧光光谱的原子化器，开展对碱金属、碱土金属以及过渡金属元素的原子荧光光谱研究；普通 HCL 与 Xe 弧 灯作激发源的 Ar MIP-AFS 对所研究元素的原子荧光光谱的检出限基本相当，都表现为碱金属、碱土金属元素的检出限比其
对 ICP-AFS/IFS 研究工作的主要方向是追求被测元素，尤其是难熔金属元素的检出限，使该技术能满足痕量、超痕 量金属元素分析的要求。由于 ICP 优异的高温性能，增加 ICP 的入射功率，可增大待测元素原子的电离度，增加待测元素粒子数密度，因此，ICP-IFS 是解决难熔元素原子荧光光谱测定灵
1、 空心阴极灯的强短脉冲供电电源与 DC-HCL 或 CP-HCL 供电电源相比，HCMP-HCL 供电电源需要进行特殊设计，电源要提供微秒宽度的脉冲，峰值工作电流 一般为几安培，最大可到十几安培。下图所示为强短脉冲电源示意图。强短脉冲供电时，HCL 工作在大电流状态，电流一般为几安培，对个别元素
炬管和雾化室可以通过计算机x、y、z三维调控，调节精确度可达0.1mm；使用接头夹固定炬管和连接管，方便器件的维护、更换；通过化学工作站软件可以控制、移动整个炬管箱至后方，方便用户直接维护锥和提取透镜。
等离子炬管分为输入载气ar的内层管、输入辅助气ar的中层管和输入等离子气ar的外层管。用ar做工作气体的优点：ar为单原子惰性气体，不与试样组份形成难离解的稳定化合物，也不象分子那样因离解而消耗能量，有良好的激发性能，本身光谱简单。外层管：外层管通ar气作为冷却气，沿切线方向引入，并螺旋上升，其作用
痕量、超痕量金属元素的检测是实验室日常工作中经常遇到的问题。金属元素最常用的测定方法主要有 ICP-AES、石墨炉原子吸收光谱（GFAAS）、火焰原子吸收光谱（FAAS）和原子荧光光谱分析技术。ICP-MS 是最近一些年快速发展起来的一种痕量、超痕量元素分析技术，其优异的分析性能，如灵敏度高、动态线
Perkins 等采用 TM010 腔获得的低功率 MIP 为原子化 器，通过使用普通 HCL 或 Xe 弧灯为激发光源、Ar 或 He 为 工作气体研究了多种元素的原子荧光光谱，证明 MIP 也可用作原子荧光光谱的原子化器。在 Perkins 等此建立的研究系统中，样品经气动雾化后不 经去溶直接进
电感耦合等离子体原子发射光谱仪由样品引入系统、电感耦合等离子体（ICP）光源、色散系统、检测系统等构成，并配有计算机控制及数据处理系统，冷却系统、气体控制系统等。