质谱分析法术语离气体稳定同位素质谱法
气体稳定同位素质谱法（ gas stable isotope ratio mass spectrometry， GSIRMS）该法因测量气体稳定同位素比值而得名，如测量碳、氧、氮、硫等元素的稳定性同位素，测量结果的品位通常以δ表示，在同位素地球化学、同位素地质学、石油勘探与开采、同位素宇宙学、海洋学等领域广泛应用；气体同位素质谱法也是测量氢和放射性核素氘、氚组成的不可替代的方法，在核燃料生产、核反应研究中应用。......阅读全文
质谱分析法术语离气体稳定同位素质谱法
气体稳定同位素质谱法（ gas stable isotope ratio mass spectrometry， GSIRMS）该法因测量气体稳定同位素比值而得名，如测量碳、氧、氮、硫等元素的稳定性同位素，测量结果的品位通常以δ表示，在同位素地球化学、同位素地质学、石油勘探与开采、同位素宇宙学、海洋学
质谱分析法术语同位素质谱法
同位素质谱法（ （isotope mass spectrometry）用质谱仪器进行同位素组成的研究和原子质量测量的方法。主要用于核科学、同位素地质学、同位素地球化学和天体物质中同位素丰度的测定。随着同位素稀释法和稳定同位素标记技术的发展，同位素质谱法在生物学、临床医学、药学、农学和环境科学领域也得
质谱分析法术语稳定同位素
稳定同位素（stable isotope）称谓是相对放射性同位素而言的，一般指寿命极长的同位素，通常以半衰期109年为界，大于此数的同位素均可认为是稳定同位素。目前已经发现的稳定核素285种，其中的单核素元素21种，实际仅有264种稳定同位素。
质谱分析法术语质谱法
质谱法（ mass spectrometry，MS）亦称质谱学（ mass spectroscopy），采用不同离子化方式，将待测物电离形成带电离子，离子按质荷比m/z分离、检测的方法。质谱法是实现原子（分子）质量测定，同位素分离、分析，物质结构鉴定以及气相离子化学基础研究的谱学方法。作为一种检测手
质谱分析法术语同位素稀释法
同位素稀释法（isotope dilution method）采用同位素稀释进行定量分析的方法。如在含有自然丰度的某元素未知浓度溶液中，加入该元素已知丰度的定量浓缩同位素或贫化同位素溶液，等待两种溶液均匀混合，通过待测样品、混合溶液的同位素丰度质谱法测量，根据待测、浓缩和混合溶液中的同位素丰度和所加
质谱分析法术语无机质谱法
无机质谱法（ inorganic mass spectrometry）用质谱仪器对无机元素或无机化合物进行定性定量分析的方法。早期以火花源质谱法、二次离子质谱法为主，随着电感耦合等离子体质谱法、辉光放电质谱法的成熟，拓宽了无机质谱法的应用领域。在高纯气体、高纯材料中痕量杂质分析，无机物元素分析，固体
质谱分析法术语同位素示踪法
同位素示踪法（isotope tracer method）用同位素作为示踪剂来观察和研究生命体，或物体中某一物质行为的方法。
质谱分析法术语火花源质谱法
火花源质谱法（spark source mass spectrometry，SSMS）采用火花源质谱仪对被测成分（元素、同位素）进行定性、半定量和定量分析的质谱方法。该法电离效率高，几乎能使所有被测成分电离，且对所有元素有大致相同的电离效率，实现多元素同时检测，曾经是高纯材料、痕量杂质测量的有效方法
质谱分析法术语静态真空质谱法
静态真空质谱法（static vacuum mass spectrometry，SVMS）当进行样品分析时，质谱仪的分析系统处于静态真空，即在离子源、分析器和接收器恒定真空状态下测量，称之为静态真空质谱法。静态真空质谱法主要应用于惰性气体同位素分析，故也称为惰性气体质谱法（inert gas mas
质谱分析法术语表面电离质谱法
表面电离质谱法（surface ionization mass spectrometry）热电离质谱法的一种，将预测量样品涂覆在高熔点、高功函数的金属带表面或金属丝表面，借助通过带或丝的电流产生的高温而电离，电离生成的离子进入质量分析器进行分离和测量。
质谱分析法术语同位素
同位素（isotope）质子数Z相同，即原子序数相同，中子数N不同，在元素周期表中占有同一位置的核素称作同位素，同位素的化学性质相似，物理性质不同。
质谱分析法术语稳定离子
稳定离子（stable ion）指在离子源生成的，离开离子源后直至到达检测器不发生裂解的离子。通常指寿命比10-5s长的离子。
质谱分析法术语光共振电离质谱法
激光共振电离质谱法（ laser resonance ionization mass spectrometry， LRIMS）是利用激光共振电离质仪进行质谱分析的方法。原则上 LRIMS可实现单原子探测，具有极高的元素、核素选择性和探测灵敏度，是复杂基质下超痕量中长寿命核素定量分析的有效方法，在材
质谱分析法术语火辉光放电质谱法
辉光放电质谱法（glow discharge mass spectrometry，GDMS）利用辉光放电质谱仪进行质谱测量的一种分析方法。GDMS是无机固体材料，特别是高纯材料中痕量杂质检测的有效方法。
质谱分析法术语激光电离质谱法
激光电离质谱法（ laser ionization mass spectrornetry， L IMS）是利用激光电离质谱仪进行质谱分析的一种方法，具有微区分析功能，可进行逐层剖析，剖析深度可达1um至几十微米，分析双敏度高，相对检测极限5μg/g，在高纯材料、生物、医学等领域获得成功应用。
质谱分析法术语加速器质谱法
加速器质谱法（ accelerator mass spectrometry，AMS）使用加速器质谱仪进行高能量离子分篇析的质请方法。AMS测量的离子具有高能量，有效克服了传统质谢测量时的同量异位素和分子本感干找限制，提高了同位素测量的丰度灵度（可达10 -16），为地质、考古、海洋、环境等领域的科学
质谱分析法术语同位素质谱
同位素质谱（isotope mass spectrum）按元素的同位素质量排序的质谱。
质谱分析法术语二次离子质谱法
二次离子质谱法（ secondary ion mass spectrometry， SIMS）采用二次离子质谱仪进行质析的方法，该法依赖于所用不同二次离子质譜仪，可划分为四极杆二次离子质（quasSenary ion nmss spectrometr）、高分辩二次离子质谱仪（ high resolu
质谱分析法术语同位素丰度
同位素丰度（isotope abundance）某元素的任一同位素占有该元素总核素的百分比，它是用检测器检测的该元素任一同位素离子束强度除以同一检测器检测到的该元素所有同位素离子束强度集合的百分数度量。
质谱分析法术语同位素示踪
同位素示踪（ isotopic tracing）利用同位素的特征标记，追踪其在化学反应、生态环境、生物体内动态变化规律的过程和结果，被标记的同位素称作同位素示踪剂（ isotopic tracer）。稳定同位素示踪剂以其质量数作为标记，放射性同位素示踪剂以其放出的特征射线作为标记。通过观测示踪剂的行
质谱分析法术语不稳定离子
不稳定离子（unstable ion）在离子源内生成，但在离开离子源之前就分解的离子。通常指寿命小于10-6s的离子。由于这种离子的裂解发生在离子源内，因此称为源内碎裂（in--source fragmentation）。
质谱分析法术语同位素丰度比
同位素丰度比（isotope abundance ratio）指某元素的任一同位素丰度与元素中的其他同位素丰度的比值。
质谱分析法术语峰匹配测量法
峰匹配测量法（peak matching measurement）一种测定离子精确质量的方法。精度可达（110）×10-6根据扇形磁质谱仪的基本公式:m/z＝KB21V，当B2不变时，质量分别为m1和m2的两个离子有如下关系:m1:m2＝V1:V2。在离子接收狭缝前装上一对偏转电极，并在电极上加一个
质谱分析法术语质谱
质谱（mass spectra mass spectrum）按照被测体质量大小排序的谱线。
质谱分析法术语质谱图
质谱图（mass spectrogram）质谱测定结果经计算机处理统计后，以棒状图（或数据列表形式）表示的谱图。它是二维图谱，横坐标表示离子的质荷比（m/z），对于单电荷的离子，电荷数z＝1，横坐标表示的数值即为离子的质量；纵坐标表示离子流的强度，通常用相对强度来表示，即把被记录的各个质量数的离子峰
质谱分析法术语质荷比
质荷比（mass charge ratio，m/z）离子质量（以相对原子质量为单位）与它所带电荷（以电子电量为单位）的比值。
质谱分析法术语元素
元素（element）不能用化学分解方法再分成更简单组分的基本物质，也可以把元素理解为组成分子的基本单元。
质谱分析法术语稀释
稀释（dilution）在较高浓度的溶液中，加入溶剂或试剂使溶液的浓度变小，称为稀释。所加的溶剂或试剂称为稀释剂（spike）
质谱分析法术语核素
核素（nuclide）泛指原子序数、原子质量和能态不同的原子形式，也可以定义为具有特定核特征的某种原子。核素分为稳定核素和放射核素，在已经发现的2000多种核素中，绝大多数是人造核素，天然核素仅有340种，其中稳定核素285种，其余为放射核素。
质谱分析法术语误差
误差（error）测量结果减去被测量的“真值”之差。由于真值不能确定，实际上用的是约定真值。误差是一个单个数值，原则上已知误差可以用来修正测量结果；通常认为误差含有两个分量，即随机分量和系统分量，分别称为随机误差和系统误差。