WIKI资讯
WIKI资讯
二次离子质谱法（ secondary ion mass spectrometry， SIMS）采用二次离子质谱仪进行质析的方法，该法依赖于所用不同二次离子质譜仪，可划分为四极杆二次离子质（quasSenary ion nmss spectrometr）、高分辩二次离子质谱仪（ high resolution two ion mass spectromete）、双聚焦二次离子质谱法 （double focusing secondary ion mass spectrometry）和时间飞行二次离子质谱法（TOF seoondary ion mass spectrometry）。根据分析对象和测量目的的不同，该法可进行表分分析、深度部析、成像和同位素精确测量，获取元素成分、同位素丰度、物质结构等多种信息。热电离质请法（ thermal ionization mass speetrometry，TIMS）原子或分子在高熔点、高功函数金......阅读全文
二次离子质谱法（ secondary ion mass spectrometry， SIMS）采用二次离子质谱仪进行质析的方法，该法依赖于所用不同二次离子质譜仪，可划分为四极杆二次离子质（quasSenary ion nmss spectrometr）、高分辩二次离子质谱仪（ high resolu
质谱法（ mass spectrometry，MS）亦称质谱学（ mass spectroscopy），采用不同离子化方式，将待测物电离形成带电离子，离子按质荷比m/z分离、检测的方法。质谱法是实现原子（分子）质量测定，同位素分离、分析，物质结构鉴定以及气相离子化学基础研究的谱学方法。作为一种检测手
无机质谱法（ inorganic mass spectrometry）用质谱仪器对无机元素或无机化合物进行定性定量分析的方法。早期以火花源质谱法、二次离子质谱法为主，随着电感耦合等离子体质谱法、辉光放电质谱法的成熟，拓宽了无机质谱法的应用领域。在高纯气体、高纯材料中痕量杂质分析，无机物元素分析，固体
表面电离质谱法（surface ionization mass spectrometry）热电离质谱法的一种，将预测量样品涂覆在高熔点、高功函数的金属带表面或金属丝表面，借助通过带或丝的电流产生的高温而电离，电离生成的离子进入质量分析器进行分离和测量。
火花源质谱法（spark source mass spectrometry，SSMS）采用火花源质谱仪对被测成分（元素、同位素）进行定性、半定量和定量分析的质谱方法。该法电离效率高，几乎能使所有被测成分电离，且对所有元素有大致相同的电离效率，实现多元素同时检测，曾经是高纯材料、痕量杂质测量的有效方法
静态真空质谱法（static vacuum mass spectrometry，SVMS）当进行样品分析时，质谱仪的分析系统处于静态真空，即在离子源、分析器和接收器恒定真空状态下测量，称之为静态真空质谱法。静态真空质谱法主要应用于惰性气体同位素分析，故也称为惰性气体质谱法（inert gas mas
辉光放电质谱法（glow discharge mass spectrometry，GDMS）利用辉光放电质谱仪进行质谱测量的一种分析方法。GDMS是无机固体材料，特别是高纯材料中痕量杂质检测的有效方法。
加速器质谱法（ accelerator mass spectrometry，AMS）使用加速器质谱仪进行高能量离子分篇析的质请方法。AMS测量的离子具有高能量，有效克服了传统质谢测量时的同量异位素和分子本感干找限制，提高了同位素测量的丰度灵度（可达10 -16），为地质、考古、海洋、环境等领域的科学
激光电离质谱法（ laser ionization mass spectrornetry， L IMS）是利用激光电离质谱仪进行质谱分析的一种方法，具有微区分析功能，可进行逐层剖析，剖析深度可达1um至几十微米，分析双敏度高，相对检测极限5μg/g，在高纯材料、生物、医学等领域获得成功应用。
激光共振电离质谱法（ laser resonance ionization mass spectrometry， LRIMS）是利用激光共振电离质仪进行质谱分析的方法。原则上 LRIMS可实现单原子探测，具有极高的元素、核素选择性和探测灵敏度，是复杂基质下超痕量中长寿命核素定量分析的有效方法，在材