气体X射线探测器简介
气体探测器均以气体作为探测介质，内部多充有以多种惰性气体为主混合气体，并在探测器两极加上电压小室。其小室的形状大小结构因气体探测器的不同会有加大差别。在探测器使用时我们多将内部气体大气压加至2到3个大气压，这样可以有效提高气体探测器的探测效率。气体探测器的工作原理是通过收集电离电荷获取核辐射信息来实现的，因为射线粒子在灵敏体积内产生电子离子对，在电离室中电子离子对由于收集电场的作用分别向内壁和中心丝运动，从而通过探测器捕捉到所需信息。气体探测器不同类型的电离室在结构上基本相同.其典型结构分为平板型与圆柱型，如图2所示。在这些结构类型中均包括： 高压极(K)：正高压或负高压； 收集极(C)：与测量仪器相联的电极，处于与地接近的电位； 保护极(G)：又称保护环，处于与收集极相同的电位； 负载电阻(RL)：电流流过时形成电压信号。 气体探测器具有制备简单、性能可靠、成本低廉、使用方便等优点，有广泛的应用。20世纪70年代......阅读全文
X射线过滤器的简介
中文名称X射线过滤器英文名称X-ray filter定 义由吸收材料制成，用于减弱或改变X射线辐射光谱成分的装置。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线测角仪的简介
中文名称X射线测角仪英文名称X-ray goniometer定 义在X射线分析法中，用于测量入射X射线束与衍射X射线束之间夹角的仪器。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线光谱仪的简介
中文名称X射线光谱仪英文名称X-ray spectrometer定 义X射线波谱仪和X射线能谱仪的总称。用于获得试样X射线光谱，并测量谱线的位置和强度。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
发射X射线谱法的简介
中文名称发射X射线谱法英文名称emission X-ray spectrum定 义利用X射线或电子束激发试样产生的X射线，对试样所包含的某种元素进行定量定性分析的方法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
x射线衍射仪的相关简介
特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。 X射线衍射仪的英文名称是
关于小角X射线散射的简介
小角X射线散射是一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品，相应的散射角2θ小（5 ～7 ），即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体
多道X射线光谱仪简介
中文名称多道X射线光谱仪英文名称multichannel X-ray spectrometer定 义能对多种不同波长或能量同时进行测量的X射线光谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
吸收X射线谱法的简介
中文名称吸收X射线谱法英文名称absorption X-ray spectrum定 义利用试样对X射线的特征吸收进行试样元素定性定量分析的方法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
X射线荧光分析方法的简介
X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时，除发生散射现象和吸收现象外，还能产生次级X射线，即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此，根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分；再根据该荧光X射线的强度，还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展，6
X射线粉末衍射仪简介
CXRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称
X射线异物检测仪简介
X射线(X-ray)检测机是在下使用低能量X 光，快速检测出被检物品的内部质量和其中的异物，并通过计算机显示被检物品图像的测试手段。 当待检品经X射线照射后，物质的密度和原子序数越大，物质吸收X射线的比率也会越大。而食品中的蛋白质、碳水化合物、脂肪、水分以及骨头（钙质）、玻璃（硅质）、金属和毛
X射线荧光分析法简介
X射线荧光分析法（X-ray fluorescence analysis），是对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依据。
单晶X射线衍射的原理简介
利用晶体形成的 X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些 方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的 衍射现象。衍射X射线满足布拉格（W.L.Brag
X射线衍射分析的原理简介
X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定 波长的X 射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。衍射X 射线满足 布拉格（
X射线能谱Si(Li)探测器污染问题的研讨
通常X射线能谱Si(Li)探测器经使用后,不可避免地会受到污染,污染可分为两类:探测器外部——Be窗口污染;探测器内部——Si(Li)晶体和场效应管的污染。前者主要是探测器在有油真空中使用,探测器的低温使油蒸气不断凝结在Be窗口上,形成一层油膜,形成探测器外部的污染。后者主要是探测器真空容器密封不完
硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断
采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1～20keV)辐射的能谱,获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷却的特点,并采用高速ADC和海量缓
CdZnTe半导体探测器X射线能谱响应特性分析
CdZnTe是一种性能优异的高能射线探测材料,在空间科学、核安全以及核医学等众多领域有广泛的应用前景.本文选取了3枚不同等级的CdZnTe探测器,在详细阐述了CdZnTe探测器工作原理的基础上,对比分析了他们的能谱响应曲线和载流子输运特性的关系.重点分析了CdZnTe探测器能量分辨率、电荷收集效率和
二维X射线探测器的研制项目通过验收
6月7日，中国科学院计划财务局组织专家对高能物理研究所承担的院重大科研装备研制项目“二维X射线探测器的研制”进行了现场验收。 二维X射线探测设备采用200mm×200mm气体电子倍增器膜（GEM）为主要探测部件，项目组经过多年潜心研究，开发了相关探测器的制作工艺，解决
扫描X射线光谱仪的简介
中文名称扫描X射线光谱仪英文名称sequential X-ray spectrometer定 义能对其中不同波长的X射线光谱进行连续研究的X射光谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线荧光光谱仪简介
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
X射线晶体光谱仪的简介
中文名称X射线晶体光谱仪英文名称X-ray crystal spectrometer定 义利用晶体作分光器的X射线光谱仪。晶体具有适当的点阵间隔，对一定波长的X射线产生衍射作用，可起到类似于光学式分析仪器中衍射光栅的作用。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱
固态[X射线]检测器的简介
中文名称固态[X射线]检测器英文名称solid-state ［X-ray］ detector定 义利用X射线光子激发半导体形成的电流脉冲与X射线光子的能量成比例的原理制成的X射线半导体检测器。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级
X射线光束截捕器－的简介
中文名称X射线光束截捕器英文名称X-ray beam stop定 义X射线光谱分析器中吸收未被利用的入射X射线的装置。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线探伤机的特点简介
X射线探伤机的穿透能力取决于X射线探伤机的容量，既X射线探伤机的管电压，管电压愈高，X射线愈硬，能量愈大，穿透能力就愈强，穿透能力与管电压平方成正比。另外，在相同的管电压下，还与被检验工件的材质的密度等性质有关,也就是与被检验工件对X射线的衰减能力有关。对于钢铁等重金属以及较厚的工件，由于其对X
X射线衍射分析法的简介
X射线衍射分析。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和
X射线荧光分析法的简介
中文名称X射线荧光分析法英文名称X-ray fluorescence analysis定 义对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依
X射线光束截捕器的简介
中文名称X射线光束截捕器英文名称X-ray beam stop定 义X射线光谱分析器中吸收未被利用的入射X射线的装置。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线衍射分析法的简介
X射线衍射分析。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强
全反射X射线荧光(TXRF)应用简介
全反射X射线荧光(TXRF)具有优异的检出限（低至ppt或pg），与其它具有类似元素检出限的检测手段相比，具有基体效应小、样品需求量小、操作相对简单、运行成本低等优势。 TXRF一次可以对70多种元素进行同时分析，这是原子吸收ETAAS和FAAS方法难以完成的。与质谱仪中的ICP-MS和GDM
x射线荧光光谱仪简介
x射线荧光光谱仪提供了一种最简单，最准确，最经济的分析方法，可用于确定多种类型材料的化学成分。它是无损且可靠的，不需要或只需很少的样品制备，适用于固体，液体和粉末状样品。它可以用于从钠到铀的多种元素，并提供亚ppm级以下的检测限；它也可以轻松，同时地测量高达100％的浓度。