简述X射线荧光分析仪的产品特点

1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出最具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。 2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰, 从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。 3、当某些元素的电子由高等级向低等级跃迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由 此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。 4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素 的含量较高或者能量较高,其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素......阅读全文

X射线荧光仪的相关介绍

  X射线荧光仪一般是采用,激发样品中的目标元素,使之产生特征X射线,通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。  仪器分为室内分析、野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器(正比计数管及闪烁计数器)能量分辨率不高,不能区

X射线荧光仪器的历史介绍

  X射线荧光仪器是指波长为0.01~10nm的电磁波,1895年伦琴(W. C. Roentgen)在使用放电管工作时发现了X射线,因为这一个重大发现,伦琴于1901年获得了诺贝尔奖。1913年莫斯莱(H. G. Moseley)建立了X射线波长与原子序数的关系,奠定了X射线荧光光谱分析的基础,第

X射线荧光分析技术的应用

   X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段,开始于20世纪50年代初,经历了50多年的不断发展,现在已成为物质组成分析的必备方法之一。  在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中,X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其

X射线荧光分析的基本介绍

  X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。  1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir

X射线荧光分析的相关介绍

  确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子,使原子发出标识X射线(荧光),通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同,可分成带电粒子激发X荧光分析,电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。

荧光X射线测厚仪的主要规格

  1、X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸  2、滤光片程控交换系统根据靶材,标准装备

X射线荧光分析方法的简介

  X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时,除发生散射现象和吸收现象外,还能产生次级X射线,即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此,根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分;再根据该荧光X射线的强度,还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展,6

X射线荧光分析技术的应用

X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段,开始于20世纪50年代初,经历了50多年的不断发展,现在已成为物质组成分析的必备方法之一。在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中,X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其他分析方法

X射线荧光分析的技术简介

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。  X射线是一种电磁辐射,按传统的说法,其波长介于紫外线和γ射线之间,但随着高能电子加速器的发展,电子轫致辐射所产生的X射线的

X射线荧光光谱的概念

X射线荧光光谱(XRF):X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型(WD-XRF)和 能 量 色 散 型(ED-XRF)两种。WD-XRF与ED-XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散,而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按

关于X射线荧光分析的简介

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。

X射线荧光仪器的分类介绍

  X射线荧光仪器根据能量分辨的原理不同,可分为波长色散型、能量色散X射线型和非色散型。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管作为激发源,产生入射X射线(一次X射线)用于激发被测样品,受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线。由于不同的元素所放射出的二次

X射线荧光的物理原理介绍

  X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,其特性通常用能量(单位:千电子伏特,keV)和波长(单位:nm)描述。  X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱

简述X射线的化学效应

  化学效应中有两个主要的标签:感光作用和着色作用。  感光作用:X线与可见光一样,当它照射到胶片的溴化银上时,由于电离作用,使溴化银药膜发生化学变化,出现银粒沉淀,这就是X线的感光作用。  着色作用:某些物质如铂氧化钡、铅玻璃、水晶等,经X线长期照射后,其结晶脱水而改变颜色,称作着色作用。

简述X射线的物理特性

  1、穿透作用。X射线因其波长短,能量大,照在物质上时,仅一部分被物质所吸收,大部分经由原子间隙而透过,表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关,X射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开来。

简述X射线的生物效应

  X射线照射到生物机体时,可使生物细胞受到抑制、破坏甚至坏死,致使机体发生不同程度的生理、病理和生化等方面的改变。不同的生物细胞,对X射线有不同的敏感度,可用于治疗人体的某些疾病,特别是肿瘤的治疗。在利用X射线的同时,人们发现了导致病人脱发、皮肤烧伤、工作人员视力障碍,白血病等射线伤害的问题,在应

简述X射线的化学特性

  1、感光作用,X射线同可见光一样能使胶片感光。胶片感光的强弱与X射线量成正比,当X射线通过人体时,因人体各组织的密度不同,对X射线量的吸收不同,胶片上所获得的感光度不同,从而获得X射线的影像。  2、着色作用,X射线长期照射某些物质如铂氰化钡、铅玻璃、水晶等,可使其结晶体脱水而改变颜色。

X荧光硫元素分析仪使用特点

环境污染已引起世界各国政府和公众的密切关注,要求保护生态环境和大气环境的呼声日渐涨。造成大气层破坏和污染的主要祸是CO2 和SO2的排放。CO2、SO2源自动力燃料的燃烧,车船飞机中使用汽油、柴油、重油等含硫量越低将会大大减少对大气的污染。欧洲和我国都制定了一系列含硫标准,对生产和排放加以限制。SO

X荧光钙铁元素分析仪特点

1 微机组成为一体的台式仪器、结构紧凑、外形美观。2 大屏幕液晶显示,全中文菜单提示操作,使用极为方便。3分析时间短:30秒钟给出CaO、Fe2O3百分含量。4X荧光钙铁元素分析仪分析时,不破环样品,样品可重复检测。5不用任何化学试剂,无三废排放,不含放射源,低耗电,符合、节能、辐射要求。6 数据存

X荧光分析仪的工作原理及特点

荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,处于激发态,这时,其他的外层电子便会填补这一空

X荧光分析仪的工作原理及特点

荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,处于激发态,这时,其他的外层电子便会填补这一空

X荧光硅铝分析仪的性能特点

1 、微机化集成为一体,结构紧凑,外形美观。2、大屏幕液晶显示,全中文菜单提示操作,使用极为方便。3、分析时间短,1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。4、仪器检测时不破坏样品,样品可重复使用。5、不用任何化学试剂、无三废排放,不含放射源、低耗电,符合节能要求。   6、数据存储量大,含量结果、仪器

X荧光分析仪的工作原理及特点

荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,处于激发态,这时,其他的外层电子便会填补这一空

X荧光分析仪的工作原理及特点

荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,处于激发态,这时,其他的外层电子便会填补这一空

X荧光硫元素分析仪的仪器特点

1.仪器机电一体微机化设计,8寸电容触摸屏(1027*768)显示,无需键盘,操作界面简洁美观;2.检测品种广,检测量程宽,分析速度快,标准样品耗量少;3.采用荧光强度比率分析方法, 温度、气压自动修正,碳氢比(C/H)亦可修正;4.仪器的自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数;5.采用一次性M

能量色散型与波长色散型X-射线荧光分析仪的特点与差异

  X 射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的,检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法(例如:发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等),XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显

XRF9能量色散X射线荧光分析仪

产品介绍 X射线荧光(XRF)分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体,液体样品中主,次多元素同时测定,检出限在mg/kg 量级范围内,制样方法简单,现已广泛应用于地质、材料、环境、冶

精工电子纳米科技X射线荧光分析仪全新上市

精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]于近期全新上市。 X射线荧光分析仪,因其便捷的操作性和分析的快速性,在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外,随着

X射线荧光光谱分析仪应用实践

介绍了X荧光分析仪在炼铁厂的应用情况,以大量的试验为基础,阐述了X荧光光谱分析仪粉末压片法的规范操作及烧结矿和混匀矿在X荧光光谱分析仪上的检测应用,保证仪器的稳定性和分析数据的准确性的前提下,为生产提供准确、可靠的数据。 更多还原

XRF9能量色散X射线荧光分析仪

  产品介绍   X射线荧光(XRF)分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体,液体样品中主,次多元素同时测定,检出限在mg/kg 量级范围内,制样方法简单,现已广泛应用于地质、材料