扩展X射线吸收精细结构的简介
扩展X射线吸收精细结构，是指元素的X射线吸收系数在吸收边高能侧30～1000电子伏之间的振荡；由吸收了X光的原子与邻近配位原子相互作用产生，并将傅立叶交换用到扩展X射线吸收技术数据处理中，吸收边高能侧的多个叠加正弦波在空间按其壳层分开，获得原子间距和配位数等结构信息。词条介绍了扩展X射线吸收精细结构的基本原理、技术原理、方法特点以及应用状况。......阅读全文
质子激发X射线荧光分析的简介
利用原子受质子激发后产生的特征 X射线的能量和强度来进行物质定性和定量分析的方法。简称质子 X射线荧光分析，英文缩写为PIXE。质子X 射线荧光分析是20 世纪70 年代发展起来的一种多元素微量分析技术，其分析灵敏度可达10-16 克，相对灵敏度可达10-6～10-7 克/克。原则上可分析原子序
扫描X射线光谱仪的简介
中文名称扫描X射线光谱仪英文名称sequential X-ray spectrometer定 义能对其中不同波长的X射线光谱进行连续研究的X射光谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
同步辐射X射线微探针的简介
是随着同步辐射光的应用而发展起来的一种新的微区痕量无损分析技术。它是利用同步加速器电子储存环中产生的具有奇异特性（频带宽且连续可调；通量大亮度高；准直性好；高度偏振；具有特定时间结构）的电磁波（通称为同步辐射或同步辐射光），再经准直、聚焦或单色化而形成高亮度的X射线微探针进行样品分析。
固态[X射线]检测器的简介
中文名称固态[X射线]检测器英文名称solid-state ［X-ray］ detector定 义利用X射线光子激发半导体形成的电流脉冲与X射线光子的能量成比例的原理制成的X射线半导体检测器。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级
X射线衍射分析法的简介
X射线衍射分析。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和
X射线晶体光谱仪的简介
中文名称X射线晶体光谱仪英文名称X-ray crystal spectrometer定 义利用晶体作分光器的X射线光谱仪。晶体具有适当的点阵间隔，对一定波长的X射线产生衍射作用，可起到类似于光学式分析仪器中衍射光栅的作用。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱
X射线荧光分析法的简介
中文名称X射线荧光分析法英文名称X-ray fluorescence analysis定 义对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依
X射线衍射分析法的简介
X射线衍射分析。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强
X射线探测器的发展简介
增大z轴的覆盖宽度 从发展的角度看，希望X射线管旋转一周就能获得更多的层面，即可完成一个脏器的扫描，实现所谓的容积扫描(Volume Scan)。为此势必要增大探测z轴的覆盖宽度，要想延长z轴的覆盖宽度，不仅取决于增加探测器的排数，建立更多的数据采集通道同样非常重要，这样才能既保证Z轴的覆盖宽
多道X射线光谱仪简介
中文名称多道X射线光谱仪英文名称multichannel X-ray spectrometer定 义能对多种不同波长或能量同时进行测量的X射线光谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线荧光分析法简介
X射线荧光分析法（X-ray fluorescence analysis），是对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依据。
X射线粉末衍射仪简介
CXRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称
气体X射线探测器简介
气体探测器均以气体作为探测介质，内部多充有以多种惰性气体为主混合气体，并在探测器两极加上电压小室。其小室的形状大小结构因气体探测器的不同会有加大差别。在探测器使用时我们多将内部气体大气压加至2到3个大气压，这样可以有效提高气体探测器的探测效率。气体探测器的工作原理是通过收集电离电荷获取核辐射信息
X射线异物检测仪简介
X射线(X-ray)检测机是在下使用低能量X 光，快速检测出被检物品的内部质量和其中的异物，并通过计算机显示被检物品图像的测试手段。 当待检品经X射线照射后，物质的密度和原子序数越大，物质吸收X射线的比率也会越大。而食品中的蛋白质、碳水化合物、脂肪、水分以及骨头（钙质）、玻璃（硅质）、金属和毛
双能X射线吸收测定法介绍
骨质疏松症被定义为“一种骨骼疾病，其特征是骨强度受损，使人易患骨折的风险增加”。对骨质量的研究提供了对骨质疏松症的发病机理的深入了解以及对用于治疗骨质疏松症的药物的作用机制的更好理解，但除了骨转换标志物之外，还不可能在临床实践中常规地测量它们。高分辨率外周定量计算机断层扫描（HR-pQCT）和微磁共
X射线管中X射线的产生原理
实验室中X射线由X射线管产生,X射线管是具有阴极和阳极的真空管,阴极用钨丝制成,通电后可发射热电子,阳极（就称靶极）用高熔点金属制成（一般用钨,用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料）.用几万伏至几十万伏的高压加速电子,电子束轰击靶极,X射线从靶极发出.
常用无机材料分析方法
Elemental Analysis 元素分析Atomic absorption spectroscopy 原子吸收光谱Auger electron spectroscopy (AES) 俄歇电子能谱Electron probe microanalysis (EPMA) 电子探针微分析Electro
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
非衍射X射线光谱仪的简介
中文名称非衍射X射线光谱仪英文名称nondiffraction X-ray spectrometer定 义一种不采用衍射原理的Ｘ射线光谱仪。它的检测器输出信号或与X射线光子能量有关或与试样对X射线的选择吸收有关。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析
简介X射线荧光分析的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
关于X射线粉末衍射仪的简介
XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之
X射线荧光光谱仪的简介
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特
掠射X射线望远镜的简介
一种使天体X辐射成像的仪器。X射线很易被介质吸收﹐且在介质中其折射率近于1。这表明﹐折射系统不可能用在X射线波段﹐而X射线在非常倾斜的掠射角下将产生全反射。掠射 X射线望远镜就是利用这种全反射原理设计而成的。1952年﹐沃尔特首先建议利用X射线掠射的全反射现象来进行光学聚焦﹐使用两个同轴共焦旋转
X射线荧光的简介和相关仪器介绍
通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫做X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，而把用来照射的X射线称为原级X射线，所以X射线荧光光谱仪仍然属于X射线范畴。一台典型的X射线荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管主要负责产生入射X射线(一次X射线)，随后该射线
X射线荧光光谱法的简介
X射线荧光光谱法正是基于以上物理学原理而产生的，从X射线管产生X射线，X射线经过滤或单色化处理入射样品，入射样品X射线与物质相互作用，产生的元素特征X射线荧光，进入探测器记录其强度，能量色散型探测器的各种效应。都有可以遵循的X射线荧光的物理学理论，而这些明确的物理学理论，有大量的规律可循，进而可
X射线荧光光谱仪简介
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
全反射X射线荧光(TXRF)应用简介
全反射X射线荧光(TXRF)具有优异的检出限（低至ppt或pg），与其它具有类似元素检出限的检测手段相比，具有基体效应小、样品需求量小、操作相对简单、运行成本低等优势。 TXRF一次可以对70多种元素进行同时分析，这是原子吸收ETAAS和FAAS方法难以完成的。与质谱仪中的ICP-MS和GDM
x射线荧光光谱仪简介
x射线荧光光谱仪提供了一种最简单，最准确，最经济的分析方法，可用于确定多种类型材料的化学成分。它是无损且可靠的，不需要或只需很少的样品制备，适用于固体，液体和粉末状样品。它可以用于从钠到铀的多种元素，并提供亚ppm级以下的检测限；它也可以轻松，同时地测量高达100％的浓度。
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能
Nature：研究团队开发高分辨率X射线发光扩展成像技术
具有主动读出机制的平板X射线探测器在医疗诊断，安全检查和工业检查中已发现了关键的应用。当前涉及平板探测器的X射线成像技术难以对三维物体成像，因为在高度弯曲的表面上制造大面积，柔性，基于硅的光电探测器仍然是一个挑战。 2021年2月17日，福州大学陈秋水，杨黄浩及天津大学-新加坡国立大学福州联合