关于XRF的定量分析
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比： （10.2） 式中， 为 =100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据式(10.2)，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应或共存元素的影响，会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。例如，在测定不锈钢中 和 等元素时，由于一次X射线的激发会产生 荧光X射线， 在样品中可能被 吸收，使 激发产生 ，测定 i时，因为Fe的吸收效应使结果偏低，测定 时，由于荧光增强效应使结果偏高。但是，配置相同的基体又几乎是不可能的。为克服这个问题，目前 射荧光光谱定量方法一般采用基本参数法。该办法是在考虑各......阅读全文
关于定量分析的方法介绍
定量分析方法很多，但各种方法在应用时往往都有一定的程序化。如实验法、观察法、访谈法、社会测量法、问卷法、描述法、解释法、预测法等等。 具体使用到的分析方法，可以是以下几种方法的一种或几种结合使用： 湿法分析直读光谱（OES） 电感耦合等离子体放射光谱（ICP-AES） 电感耦合等离子体质
关于定量分析的分类介绍
一、定量分析根据分析方法性质分类 根据分析方法性质的不同，可分为化学分析法和仪器分析法。 化学分析法：是依赖于特定的化学反应及其计量关系来对物质进行分析的方法。 仪器分析法：仪器分析是分析化学中一个重要分支，该方法利用特定的仪器，可以对物质进行定性、定量分析。 二、定量分析根据取样量分类
关于XRF光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
XRF的分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。 c) 根据各元素的特征X射线的强
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
XRF的优点
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。测试元素范围大，WDX可在ppm-100%浓
XRF的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型： 波长色
XRF的优点
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
关于定量分析的特征的介绍
主要特征 实证性，明确性，客观性。 定性与定量 定性分析与定量分析应该是统一的，相互补充的；定性分析是定量分析的基本前提，没有定性的定量是一种盲目的、毫无价值的定量；定量分析使定性分析更加科学、准确，它可以促使定性分析得出广泛而深入的结论。 定量分析是依据统计数据，建立数学模型，并用数学
波散XRF与能散XRF的区别
一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶
关于用XRF测试溴超标的问题－－!
关于Br问题用荧光检测仪检测的目前没有办法精确到PBB、PBDE。如果要得到比较精确的数据，需要送权威的第三方检测机构检测才能获取。但是每次送第三方检测，费用太昂贵。这里介绍两种控制的方法：; F' m* X- F0 s: ]0 \+ y+ Y% s 第一种方法：& d6 C' c2
关于定量分析的定义基本介绍
形成 定量分析起源于分析化学的一个分支。测定物质中各成分的含量使用方法不同，可分重量分析、容量分析和仪器分析三类。因分析试样用量和被测成分不同，又可分为常量分析、半微量分析、微量分析、超微量分析和痕量分析等。 含义 定量分析 指分析一个被研究对象所包含成分的数量关系或所具备性质间的数量关系
WD－XRF与ED－XRF的优缺点
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
XRF测试
XRF测试若干问题： XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。目前市场上使用较多的是EDXRF。无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是
XRF的优缺点
优点 a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化
手持XRF的应用
手持XRF是一种使用X射线荧光(XRF)技术进行元素分析的设备,具有快速、无损、高精度等特点,被广泛应用于各个领域。下面将详细介绍手持XRF的应用。 一、合金材料检测 手持XRF仪器在合金材料检测领域应用广泛,主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域的金属材料中元素成分的现场测定。这
关于X射线荧光分析的定量分析
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比: Ii=IsWi (10.2) 式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据式(10.2)，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组
关于定量分析的形成和含义介绍
一、定量分析的形成： 定量分析起源于分析化学的一个分支。测定物质中各成分的含量使用方法不同，可分重量分析、容量分析和仪器分析三类。因分析试样用量和被测成分不同，又可分为常量分析、半微量分析、微量分析、超微量分析和痕量分析等。 二、定量分析的含义： 定量分析 指分析一个被研究对象所包含成分的
关于定量分析的基本信息介绍
定量分析是识别危险的一种方法。原是分析化学的一个分支，以测定物质中各成分的含量为主要目标。根据所用方法的不同，分为重量分析、容量分析和仪器分析三类。因分析试样用量和被测成分的不同，又可分为常量分析、半微量分析、微量分析、超微量分析等。后推广为在明确划分物质种类的前提下，即把物质定性以后，具体分析
关于XRF光谱仪的化学分析介绍
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪
XRF技术讲解
X射线荧光光谱（XRF）技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。 X射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧，使用千电子伏特表示能量高低，纳米表示波长。 XRF一般可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围最低至
什么是XRF？
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence），通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线
XRF是什么
XRF是什么??XRF测试及XRF原理,本内容深入探讨了XRF的相关内容，并做了整体的讲解分析。1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线
什么是XRF
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
关于近红外光谱的定量分析介绍
近红外光谱分析技术在近几十年内得到了快速的发展而且在多个应用领域得到了广泛的认可，它的魅力在于其可以在很短的时间内无需复杂的样品制备过程即可完成物质成份多组分的同步快速定量分析，并且可以给出很高的分析精度，不产生任何化学污染且分析成本很低，易于在实验室尤其是工业现场或在线分析领域得到推广使用。
关于现代定量分析的基本信息介绍
1963年,西蒙(H.Simon)首先提出将样品燃烧后的产物,应用气相色谱原理测定碳、氢、氮,使元素定量分析逐步走向仪器化和自动化。至70年代后期,开始出现自动分析仪。这不仅摆脱了繁琐的手工操作,更重要的是它取样少,只需1毫克就能得到碳、氢、氮三元素的分析结果,这对贵重难得的样品尤为重要。而且分
XRF镀层测厚仪的原理
1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。2、XRF镀层测厚仪：俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能：精密测量金属电镀层
XRF的选型误区（一）
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。 源激发和管激发各有优缺点。
XRF的发展过程
1895 年，德国物理学家伦琴 ( Roentgen WC) 发现了 X射线。1896 年，法国物理学家乔治( Georgs S) 发现了 X射线荧光。1948 年，弗利德曼( Friedman H． ) 和伯克斯( Birks L S)首先研制了第一台商品性的波长色散 X射线荧光( WDXRF)