X射线荧光光谱仪样品室的故障分析
光谱室和样品室的真空抽不到规定值，样品室最常见的漏气部位是样品自转装置上的密封圈，样品测量时通常以0.5转/秒的速度自转，仪器几年运行下来，样品自转处的密封圈磨损，密封效果变差。......阅读全文
X射线荧光光谱仪常见故障的诊断方法
X射线荧光光谱仪常见故障的诊断方法新型的X射线荧光光谱仪都装有故障诊断软件，分布于仪器各个部位的传感器将仪器的状态信号传输到计算机，供仪器操作者和维修工程师判断仪器是否正常，找到产生故障的部位。但是有些在测量过程中出现的问题靠诊断软件是发现不了的，而且诊断软件仅仅提示产生了故障，要找到产生故障的原因
X射线荧光光谱仪常见故障的诊断方法
新型的X射线荧光光谱仪都装有故障诊断软件，分布于仪器各个部位的传感器将仪器的状态信号传输到计算机，供仪器操作者和维修工程师判断仪器是否正常，找到产生故障的部位。但是有些在测量过程中出现的问题靠诊断软件是发现不了的，而且诊断软件仅仅提示产生了故障，要找到产生故障的原因，要求维修人员对仪器的结构比较熟
X射线荧光光谱仪X射线防护系统出现故障可以怎么样解决
X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱仪产品，可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分
X射线荧光光谱仪X射线发生器高压开不起故障剖析
故障分析：这是X射线荧光光谱仪较常见的故障，个别发生在开机时，偶然也发生在仪器运行中。 故障的发生起因能够从以下三个方面去剖析：1、X射线防护体系;2、内部水轮回冷却系统;3、高压产生器及X射线光管。 1、1X射线防护系统 为了避免X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才干启动。
X射线荧光光谱仪分析误差的来源
X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1． 采样误差：非均质材料样品的代表性2． 样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3． 不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4． 仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5． 不适当的
X射线荧光光谱仪的分析原理概括
X射线荧光光谱仪的分析原理概括X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
分析X射线荧光光谱仪的产品特点
X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要
X射线荧光光谱仪X射线光管结构
常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成，并利用高压电缆与高压发生器相接，同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。 当电流流经X射线光管灯丝线圈时，引起阴极灯丝发热发光，并向四周发射电子
质子激发X射线荧光分析的X－射线谱
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
X射线荧光光谱仪内部水循环冷却系统故障分析
高压发生器的输出功率一般为3kW或4kW，将高压加至X射线光管后，除小部分用于产生X射线外，大部分转化为热能，由内部水循环冷却系统带走。 内循环水用于冷却阳极靶附近的光管头部分，因此要求内循环水为电导率很低的去离子水，以防高压击穿。内循环水通过仪器内部的去离子树脂柱降低电导率，去离子树脂柱中的
X射线荧光光谱仪使用中故障以及排除方法
X射线荧光光谱仪常见的个故障 X射线荧光光谱仪都装有故障诊断软件，分布于仪器各个部位的传感器将仪器的状态信号传输到计算机，供仪器操作者和维修工程师判断仪器是否正常，找到产生故障的部位。但是有些在测量过程中出现的问题靠诊断软件是发现不了的，而且诊断软件仅仅提示产生了故障，要找到产生故障的原因
X射线荧光分析的介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
硫化矿样品的X射线荧光光谱分析
射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作为国家
进行X射线荧光光谱分析的样品制备
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成分不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片；对表面不平的样品要打磨抛光；对于粉末样品，要研磨至
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线荧光光谱仪中的X射线原理科普
X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应。X射线初用于医学成像诊断和X射线结晶学。X射线也是游离辐射等这一类对人体有危害的
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线荧光光谱仪的构成与分析原理
X射线荧光光谱仪 (XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生发射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将
偏振X射线荧光光谱仪的应用和分析
它分析专业、检出下限低，灵敏度高、稳定性好，还能应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。 SPECTRO XEPOS多功能偏振型X射线荧光光谱仪应用广泛，应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例，
偏振X射线荧光光谱仪的贵金属分析
近期全新推出SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器，采用高分辨、高计数检测器技术，缩短了样品的测量间隔，仪器软件直观、简捷，测试流程轻松流畅，大大减少了宕机时间。 贵金属分析 SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器作为新仪器的推出，为测试中心、纯度标识和分析实验室，以及珠宝制造