X射线荧光分析的介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台波长色散X射线荧光分析仪，至60年代本法在分析领域的地位得以确立。......阅读全文
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光分析仪的基本信息介绍
X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的
x射线荧光光谱的微区分析技术介绍
铜矿物在自然界存在形式多样，有原生带次生富集带和氧化带等，共生矿物和伴生矿物众多，各类矿物均存在类质同象或者镜下光学特征相似的现象，传统的岩矿鉴定方法利用偏光、反光显微镜或实体显微镜等设备难以鉴别，对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。 微区分析技术（电子探针、同步辐射、全反射
熔融法制备X射线荧光分析固体样品的介绍
熔融法也称为玻璃熔片法，相对于压片法来说，熔融法的制样过程比较复杂，必须预先进行条件试验才可以获得理想的熔片。对于某些物质的X射线荧光分析，只有通过熔融形成玻璃体，才能消除矿物效应和颗粒度效应。对于矿物而言，复杂的组成会影响分析结果，如碱性辉长岩矿。 选择合适的熔剂在熔融法中是非常重要的。熔剂
关于环境分析方法——X射线荧光分析法的介绍
X射线荧光分析的基本原理是以高能X射线（一次X射线）轰击样品，将待测元素原子内壳层的电子逐出，使原子处于受激状态，10-12～10-15秒后，原子内的原子重新配位，内层电子的空位由较外层的电子补充，同时放射出特征X射线（二次X射线）。特征X射线波长λ和原子序数Z有一定关系：λ ∝1/Z2。测定这
关于X射线荧光分析的定量分析
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比: Ii=IsWi (10.2) 式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据式(10.2)，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组
X射线荧光法的相关介绍
X射线荧光法是用，照射待测样品，使受激元素产生二次特征X射线（即荧光），使用X射线荧光仪测量并记录样品中待测元素的特征X射线照射量率，从而确定样品的成分和目标元素含量的方法。 方法的特点是操作简单，速度快，可以进行原位测量，在现场获得目标元素的含量；划分矿与非矿的界限，代替或部分代替刻槽取样。
X射线荧光的产生相关介绍
当一束粒子如X射线光子与一种物质的原子相互作用时，在其能量大于原子某一轨道电子的结合能时，就可从中逐出一个轨道电子而出现一个“空穴”，层中的这个“空穴”可称作空位。原子要恢复到原来的稳定状态，这时处于较高能级的电子将依据一定的规则跃迁而填补该“空穴”，这一过程将使整个原子的能量降低，因此可以自发
X射线荧光仪器的技术优点介绍
利用XRF，元素周期表中绝大部分元素均可测量。作为一种分析手段，XRF具有其优越的地方：分析速度快、非破坏分析、分析精密度高、制样简单等。波长色散和能量色散XRF光谱仪对元素的检测范围为10-5%~100%，对水样的分析可达10-9数量级；全反射XRF的检测限已达到10-9~10-12g。同时也
X－射线荧光仪检测晶体的介绍
分光晶体是具有把 X 射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的晶体。 晶体应该具备的条件：衍射强度大；应该适用于所测量的分析线；分辨率高；峰背比高；不产生附加发射和异常反射；热膨胀系数小、温度效应低；经受 X 射线长期照射，稳定性好；机械强度良好；容易加工等等。
关于X射线荧光光谱的介绍
X射线荧光光谱(XRF, X Ray Fluorescence)是通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，受激发的样品中的每一种元素会放射出X射线荧光，并且不同的元素所放射出的X射线荧光具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来
X射线荧光光谱仪中X射线的由来和性质分析
X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X－射线荧光光谱分析
本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。 更多还原
X射线荧光光谱分析
XRF的原理：X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光光谱仪X射线防护系统故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合上
X射线荧光分析试样的重要性
样品制备在X射线荧光分析中占有很重要的地位，因为样品制备的情况对测定误差影响很大，有时分析误差的主要是因样品制备操作不当所引起的。因此合适的制样方法是减少X射线荧光分析误差，同时也是改善分析精密度和降低测定下限的方法之一。 在试样制作过程中需注意，由于X射线对物质具有穿透能力，产生的荧光X射线
X射线荧光分析显微镜的用途
可以快速、无损地对样品（固体、粉末、液体、多层镀膜等）的元素组成进行定性、定量分析，还可以通过面扫描功能获得样品的元素面分布图（扫描区域最大可达10 cm×10 cm）。仪器配备的双真空式设计可以在高灵敏度模式或大气氛围模式分析从Na到U的所有元素。可应用于地质矿物、电子电器、生物医药、环境、考
X射线荧光分析的基本原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃
X射线荧光分析法的未来展望
X射线荧光分析法同其他分析技术一样，不是完美无缺的。在物质成分分析中，它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟，只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（例如选矿流程中的自动控
X射线荧光光谱法的分析
X射线荧光光谱法---能量色散 利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发
X射线荧光分析的基本原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃
X射线荧光分析仪的主要分类
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波
选择X射线荧光分析仪的误区
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。 源激发和管激发各有优缺点。
X射线荧光分析的基本原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自
高精度－X－射线荧光－(HDXRF)－的优势分析
XOS 将HDXRF技术应用于玩具和消费品中的管制元素的快速检测高清 X 射线荧光 (HDXRF) 是新一代管制元素检测技术，可帮助制造商和监管机构解决这一重要的公共健康问题。HDXRF 将快速检测和精确度的优势进行了前所未有的结合。 HDXRF 的优点 快速得出结果 更快的测量速度使其能
X射线荧光分析的基本原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自