XRF元素测量的基本参数法介绍
X射线管出射谱（或测量得到）； X射线光与物质相互作用，即产生元素荧光射线的过程； 采用迭代求解算法对探测器采集谱和计算谱拟合计算，得到元素含量； 基本参数法是对X射线的产生入射、X射线与物质相互作用、探测器的采集谱，根据已经掌握的数据库和物理理论进行计算，将计算谱与实测谱进行对比，通过迭代过程不断逼近真实含量。以迭代的收敛的结果，作为定量结果。因此基本参数法大大降低了对标准样品的依赖，目标是对X射线荧光光谱进行无标定量分析。 显然，基本参数法充分计算了基体吸收效应、元素间吸收-增强效应等，解决了XRF仪器对大量标准物质的依赖，拓宽了适应性，提升了XRF元素定量精度。基本参数法发展到现阶段，其计算精度与其软件能力和完整性等相关。......阅读全文
使用奥林巴斯XRF分析仪测量涂层的厚度的操作说明
我们的客户使用Vanta手持式X射线荧光（XRF）分析仪可以确定合金、金属、土壤及其它材料的化学成分。但是，您可否知道我们奥林巴斯的分析仪还可以测量涂层的厚度？配备了涂层方式的Vanta分析仪可以测量金属、塑料、玻璃，甚至木材表面的涂层厚度，且可测量多层涂层的厚度。 涂层材料无处不在
人工气候室基本参数功能介绍
控制植物生长环境的设施和设备由简单的生长箱发展到控制复杂的人工气候室。 笔者开发的基于CAN(controller areanetwork,即控制器局域网)总线的人工气候室智能测试系统,主要用于对植物生长的温度、湿度、光照度和CO2含量等状态参数的自动检测,对 人工气候实验室的异常情况进行故障初发期
x荧光光谱仪的测试步骤介绍
X荧光光谱仪是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 x荧光光谱仪在阳光直射的高温，高日照量的情况下也能保持高性能的特点，这得益于仪器设计中充分考虑低功耗及X射
关于滴定分析法的测量依据介绍
滴定分析是建立在滴定反应基础上的定量分析法。若被测物A与滴定剂B的滴定反应式为: aA + bB = dD + eE 它表示A和B是按照摩尔比 a :b的关系进行定量反应的。这就是滴定反应的定量关系，它是滴定分析定量测定的依据。 依据滴定剂的滴定反应的定量关系，通过测量 所消耗的已知浓度(
激光法氧化膜厚度的测量方法介绍
为了监测原子能工业中安装在辐射防护屏内侧的钢设备的腐蚀，英国中央电力局Magnex发电站开打了该技术，它是利用一束脉冲激光穿过构件上的氧化膜钻出一个直径为亚毫米级的小孔洞直通到金属基体上。根据小孔洞底部反射能力的增加来确定氧化膜是否贯穿，并利用第二束低功率的激光进行测量。通过对已经贯穿的脉冲数量
关于电阻测量法的注意事项介绍
电阻测量法的注意事项： 1、测量前一定要切断控制线路电源，并验电，确认无电才能测量。 2、若所测量电路与其他电路有并联，须将该电路与其他电路先断开，否则测量电阻不准确。 3、测量高电阻电气元件时，要将万用表电阻档转换到合适档位。 4、实际测量时，两种方法可以结合应用，以便迅速查明故障点。
谷胱甘肽的高效液相色谱法测量相关介绍
原理：高效液相色谱法是由于溶质在同定相和流动相之间的分配系数、亲和力、分子大小、吸附能力等不同，而进行连续分离的过程。 操作步骤： ①色谱条件 色谱柱：Kromasil C18柱（4.6 mm × 250 mm，5 μm）。 流动相：磷酸二氢钠和辛烷磺酸钠混合溶液（磷酸二氢钠3.0 g、
电导法测量羧甲淀粉钠的相关介绍
⒈原理 样品溶解后，加入已知的过量标准NaOH溶液，NaOH与样品中游离羧基反应生成羧酸钠，然后用标准HCl溶液进行电导滴定，可得滴定曲线。1为滴定过量NaOH所消耗的HCl溶液体积，由 1可得出游离羧基含量。继续滴定，此时羧酸钠又反应生成羧酸，共用HCl溶液体积为 2。 ⒉结果计算 式中
TLC基本参数
基本参数1.比移值（Rf）=原点至组分点中心的距离/原点至流动前沿的距离。如图：组分A的Rf=a/l；组分B的Rf=b/l。2.相对比移值，即相对某一物质X的Rf值，用Rx表示。其定义为：Rx＝组分的Rf值／物质x的Rf值，组分A相对于物质B的“相对比移值” RB =a/b
电镀层测厚仪
荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外，也适用于无铅焊锡的应用。备有250种以
X射线荧光光谱仪的测试步骤
X射线荧光分析是一种物理分析方法， X射线荧光光谱仪分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 X射线荧光光谱仪是由物质中的组成元素产生的特征辐射，通过侧里和分析样品产生的的产生与特性当用高能电子束照射样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这
水体样品化学富集薄试样X射线荧光光谱现场分析
本工作的主要内容是研究适合便携式x射线荧光光谱分析环境水体中重金属元素的富集和制样技术。建立EDXRF现场分析方法,以期达到两个目标：(1)扩充车载EDXRF实验室的现场样品分析范围,实现资源环境调查综合支撑能力；(2)使手持式XRF分析仪能够应用于水体重金属元素分析,为支撑环境水体样品调查和监测提
XRF在矿物加工领域中的应用
5.1 XRF在矿物加工领域中的应用 X射线荧光（XRF)分析技术主要用于元素成份分析，具有现场快速、无损和多元素同时分析的特点。目前，该技术已广泛应用于地质、环境、工业产品、半成品及原料的质量检测，特别是在矿冶领域中，对矿石品位的检测有着良好的经济和社会效益。 近年来，随着新一代基于高分辨率电致冷
有机元素分析法的发展历程
1897年, 科学家 Max Dennstedt 报告了一个简单的有机元素分析的方法，发表为论文 ''Über Vereinfachung der organischen Elementaranalyse''，采用来自贺利氏铂金冶炼厂（Heraeus Platinum
交流压降内阻测量法测量锂电池内阻的介绍
因为电池实际上等效于一个有源电阻，因此我们给电池施加一个固定频率和固定电流（目前一般使用1kHz频率、50mA小电流），然后对其电压进行采样，经过整流、滤波等一系列处理后通过运放电路计算出该电池的内阻值。交流压降内阻测量法的电池测量时间极短，一般在100毫秒左右。 这种测量方法的精确度也不错，
布鲁克推出手持式LIBS－EOS－500－用于分拣轻元素合金废料
分析测试百科网讯 近日，布鲁克公司推出EOS 500手持式激光诱导击穿光谱仪（HH-LIBS），可用于金属和合金的高速分析，提供等级鉴定和含锂、镁、铝或硅的轻元素合金的化学分析。布鲁克EOS 500手持式激光诱导击穿光谱仪（HH-LIBS） 布鲁克公司表示，该光谱仪提供了速
XRF测量物质高分子化合物的简介
高分子化合物，简称高分子，又称高分子聚合物，一般指相对分子质量高达几千到几百万的化合物，绝大多数高分子化合物是许多相对分子质量不同的同系物的混合物，因此高分子化合物的相对分子质量是平均相对分子量。高分子化合物是由千百个原子以共价键相互连接而成的，虽然它们的相对分子质量很大，但都是以简单的结构单元
XRF测量物质高分子化合物的特点
1、从相对分子质量和组成上看，高分子的相对分子质量很大，具有“多分散性”。大多数高分子都是由一种或几种单体聚合而成。 2、从分子结构上看，高分子的分子结构基本上只有两种，一种是线型结构，另一种是体型结构。线型结构的特征是分子中的原子以共价键互相连接成一条很长的卷曲状态的“链”（叫分子链）。体型
便携式XRF检测仪的测量方法及步骤
便携式XRF检测仪具有小巧便携、操作快捷,体积很小，便携、方便野外工作，随时随地，随心所欲的现场分析和原位分析，设备无需预热，可直接测试。 便携式XRF检测仪的原位测量不需样品制备，可直接测量，立即获得检测结果。为提高测量精度也可对样品进行简单处理，如去除杂物、疏松表层1.5~2.5cm土壤、干燥
XRF光谱仪在ROHS检测中的作用
采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势： 1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。 2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。 3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求； 4.对样品测试要
XRF光谱仪在ROHS检测中的作用
采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势： 1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。 2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。 3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求；
雷达液位计的基本参数
工作频率：6.8GHz 波 束 角： 24°SKD801, SKD802 18°SKD803 带DN150法兰 14°SKD803 带DN200法兰 12°SKD803 带DN250法兰 测量范围：0…35m 重复性 ：±3mm 分辨率 ：1mm 采样 ：回波采样55次/s 响
XRF
能量色散X荧光光谱仪，简称XRF，是一种物理的元素分析方法，具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势，在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。可应用于：1、欧盟RoHS指令限定有害元素检测： 铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬
矿石分析仪简介
指的是对矿石中含有的元素及其含量分析的仪器，即时利用X射线辐射产生荧光来分析的一种仪器，在X射线荧光分析矿石中的元素及含量中。 国外仪器主要适用FP法（基本参数法）。 国内仪器主要适用经验系数法结合基本参数法和单独经验系数法，针对不同的矿石种类，利用基本参数法结合经验系数法测试矿石成分中的
XRF中白云鄂博矿元素间基体效应及影响系数的研究
白云鄂博矿在我国稀土产业的发展过程中具有十分重要的地位。因此，以不破坏白云鄂博矿的形态为前提条件下，对其进行快速、准确的分析是非常重要的。X射线荧光光谱分析技术具有可直接对块状、粉末状样品进行分析的特点，同时其还具有分析准确度高、分析元素范围广（Na-U）、分析速度快、操作简便等优点，正好能满足快速
全反射XRF对武汉市大气颗粒物有害元素浓度的分析
大气颗粒污染物分析,特别是对人体健康危害最大、小于2.5μm的颗粒(PM2.5)的大气颗粒污染物进行有效分析,并非一般非核分析技术能够胜任,必须采用现代核分析技术,由于TXRF是一种快速多元素分析方法,可以进行ng量级的痕量分析,且分析样品时所需样品量很少,所以对于大气飘尘来说,TXRF为一理想的分
xrf测试的基本原理介绍
XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。但由于XRF是表面化学分析，故测得的样品必须满足很多条件才准，比
样品制备影响XRF定量精度的介绍
XRF样品制备简单，但并非无需样品处理，XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求，这些方面都会不同程度影响分析精度，使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响，譬如：研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法。
XRF光谱仪的使用型态介绍
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析
源激发类型XRF的优缺点介绍
源激发类型的仪器结构简单、紧凑，特别是放射性同位素源发出X射线是自然现象，其强度是非常稳定的。虽然有着自然衰减，但这种衰减是遵循可描述的物理规律的，也就是说是我们可以准确计算出来的，而且作为商品化仪器选用的同位素源半衰期都比较长，在短周期内这种衰减几乎反映不出来。放射源的最大弱点在于，它发出的X射线