XRF光谱仪的使用型态介绍
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。......阅读全文
XRF光谱仪的使用型态介绍
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析
X光谱计的使用型态
XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析
XRF光谱仪的主要部件介绍
1、X射线管：仪器的一部分，产生照射样品的X射线。2、光圈：光圈是引导X射线指向样品的装置的第一部分。XRF仪器中的光圈将决定光斑尺寸——正确的光圈选择对精密度和测量效率至关重要。3、探测器：与相关电子设备一并处理从样品中激发出的X射线：探测X射线的能量和强度。4、对焦系统：确保每次测量中X射线管、
关于XRF光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
手持XRF光谱仪操作使用的注意事项
1.一定不要把手持光谱仪长时间放在阳光下，那是由于这样会比较容易损坏它的液晶显示器，环境湿度在0-95％之间更好。不要将其放置在有液体或腐蚀性溶剂的环境中，这也会对手持光谱仪造成很大的损坏。2.在我们更换手持式光谱仪检测窗口的时候，一定要在无尘环境中清洁，避免灰尘侵入其中。还应覆盖检测器窗口，以避免
XRF光谱仪简介
X光谱计简称：XRF光谱仪，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，
X荧光光谱仪XRF的优势介绍
1、采用独特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限）； 2、具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化； 3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求； 4、大容量的样品腔和高清摄像头，样品测量更灵活方便； 5、配备功能齐全的
XRF光谱仪的选购要素
1.探测器的类别，不同型号的探测器比如正比计数盒，Si-pin, SDD和FSDD的表现差异非常大，价格也相差明现。2.光管的选型（功率，靶材，端窗或者侧窗，玻璃还是铍窗窗口，稳定性）3.设备的测试重复性和稳定性非常关键，X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术，各生产厂家根据不同的标定曲线
关于XRF光谱仪的化学分析介绍
主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪
便携式XRF荧光光谱仪的应用介绍
·土壤重金属普查，筛查·可对含铅涂料进行检测·可对过滤介质进行金属检测·可用于检测经过铬化处理的木材、其他建筑材料、以及它们的碎层·环境重金属污染分析·矿产矿石分析：铜矿，铬矿，钼矿，钨矿，钽矿，铁矿，铅锌矿，稀土，锰矿，镍矿，贵金属矿产等·食品，化妆品和药品重金属测试·催化剂中贵金属元素铂钯铑分析
XRFX射线荧光光谱仪的优点介绍
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。 探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。 然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种
X射线荧光光谱仪的使用原理
采用X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪）测量，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。 X射线荧光分析被广泛应用于元素和化学分析
XRF光谱仪的主要技术要点
1.探测器的类别，不同型号的探测器比如正比计数盒，Si-pin, SDD和FSDD的表现差异非常大，价格也相差明现。2.光管的选型（功率，靶材，端窗或者侧窗，玻璃还是铍窗窗口，稳定性）3.设备的测试重复性和稳定性非常关键，X荧光光谱仪是基于X射线的元素定性和定量分析技术，各生产厂家根据不同的标定曲线
X荧光光谱仪XRF的概述
是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
XRF能量色散光谱仪水泥样品制备方法介绍
一、样品（简称标样）的配制X射线荧光分析与化学分析不同，荧光分析仪是一种相对测量仪器，它是通过测量一定数量已知结果的标准样品，建立相应的正确的数学模型后，才能得到准确的测量。也就是说：要达到好的测量效果，一组好标样与一台好仪器同样重要。好仪器由我公司提供，好标样得由用户化验室提供。好标样的标准是：有
X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
XRF光谱仪在ROHS检测中的作用
采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势： 1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。 2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。 3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求； 4.对样品测试要
XRF光谱仪分析中的不确定度
在这里，数据处理过程是指从测量的谱线强度计算样品中元素浓度的过程，包括根据标准样品建立校正曲线和根据校正曲线计算未知样的浓度。在采用多重线性回归方法确定校正曲线的过程中，校正模型的选用、基体校正方法、谱线重叠的校正方法、标准数据的准确性至分析浓度的范围等都对分析结果的准确度产生影响。要对这些因素
XRF光谱仪在ROHS检测中的作用
采用XRF设备应用于有害元素测试的劣势： 1.只能测试元素，不能测试离子状态的物质。 2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对比分析方法，而对于不同材质的样品必须选择不同材质的工作曲线测试，有可能带入人为误差。 3.对于要求较高标准的测试普通XRF的检出限很难达到客户要求；
X荧光光谱仪XRF的性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。 超薄窗大面积的进口SDD探测器。 内置信噪比25倍。 抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析 针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程
XRF荧光光谱仪样品的制备方法
无论采用哪种方法，都只能用均质样品获得物理和化学分析方法（尤其是X射线荧光（XRF）分析）中的高精度。满足该要求的一种简单方法是将样品溶解在溶剂中，通用且快速的技术是将其与碱性硼酸盐融合。在XRF分析中，硼酸盐熔融特别有利，因为获得的结果是固体玻璃。在其他物理化学方法（AA和ICP分析）中，硼酸盐
如何选择X荧光光谱仪（XRF）
应选择历史悠久，技术过硬，故障率低，日常运行成本低，使用年限长，性价比高，品牌过硬的仪器。Niton公司成立超过20年，其便携式光谱仪在世界上处于ling先地位，在世界各地已安装超过12000台，可快捷测试元素周期表中从22号元素钛(Ti)至83号元素铋(Bi)中的23个标准合金成分元素，辅助氦
关于XRF的波长介绍
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z− s) −2 式中K和S是常数。
关于XRF的优点介绍
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。 非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。 分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 测试元素范围大，WDX可在p
XRF分析的基本介绍
XRF分析是一项成熟的技术，利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。用于在整个行业范围内验证成分，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。在测定电子电器产品中是否存在限用物质时，一般采用XRF进行初筛。其基本的无损性质，
天瑞仪器合金分析、重金属检测技术交流会召开
天瑞仪器参展第十四届北京分析测试学术报告会及展览会（BCEIA 2011） 2011年10月12日，天瑞仪器在北京展览馆2号会议室举办了合金分析、重金属检测技术交流会。来自科研院所、高等院校的30余名专家学者参加了本次交流会，共同探讨XRF仪器新技术，及其在合金行
使用XRF测试的重要性
食品、土壤、水质逐渐被工业废气、废水、废渣所污染，甚至有些人直接用工业废水浇灌庄稼，造成土壤耕作层内的镉、铜、砷、铬、汞等重金属大量富积、积累，特别是城市郊区现象更为严重；加上大量使用无机化学农药等致使蔬菜和鱼类体内的重金属含量严重超标的情况，不断在人体内积累，导致消费者重金属慢性中毒现象发生，
xrf使用时对样品的要求
被测面尽量平整，减少光线散射。被测样品要做到尽量的均匀单一均质。具体的还要看你要测试的是哪个方向。就是测rohs呢，还是分析元素含量呢，分析含量的话要求更高点，测rohs的话相应的要求低一些