X荧光光谱仪XRF的概述
是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量进行色散，根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量；根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量，这就大大提高了仪器的信噪比，提高了能谱仪分析轻元素的能力。......阅读全文
X荧光光谱仪XRF的概述
是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
如何选择X荧光光谱仪（XRF）
应选择历史悠久，技术过硬，故障率低，日常运行成本低，使用年限长，性价比高，品牌过硬的仪器。Niton公司成立超过20年，其便携式光谱仪在世界上处于ling先地位，在世界各地已安装超过12000台，可快捷测试元素周期表中从22号元素钛(Ti)至83号元素铋(Bi)中的23个标准合金成分元素，辅助氦
X荧光光谱仪XRF的性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。 超薄窗大面积的进口SDD探测器。 内置信噪比25倍。 抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析 针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程
X荧光光谱仪XRF的优势介绍
1、采用独特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限）； 2、具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化； 3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求； 4、大容量的样品腔和高清摄像头，样品测量更灵活方便； 5、配备功能齐全的
X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成；X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。
X射线荧光光谱仪(XRF)－简介
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的
XRF(X射线荧光光谱仪)选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测仪检测，能通过的就算合
简述X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干； 2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm； 3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm 4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，请提前说明
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干；2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm；3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，需提前说明。
以色列X荧光光谱仪XRFCaliburSDD
仪器介绍： XRF-Calibur SDD非常适合于传统的实验室操作，它有完全整合的电脑控制系统。重型设计及制造使得该仪器成为移动实验室的理想选择。 主要特点： 1. 真正实现了快速，准确的检测，直接显示元素的ppm含量或者百分比。 2. 矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。
X荧光光谱仪（XRF）的基本原理
X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪，它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。 X射线荧光（XRF）能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和x射
X射线荧光光谱仪（XRF）的基本分类
作为一种比较分析技术，在一定的条件下，利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析的仪器。 按激发、色散和探测方法的不同，分为： X射线光谱法（波长色散） X射线能谱法（能量色散）
XRFX射线荧光光谱仪的优点介绍
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。 探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。 然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种
X射线荧光光谱仪概述
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
X射线荧光光谱仪的概述
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
X荧光光谱仪器XRF筛选方法若干问题
1．取样 1.1对于非破坏方式：操作者应该将样品放在仪器合适的位置上，即要保证待测试部分位置准确，又要保证其它非测试部分不会被检测。操作者必须保证待测试部分和仪器之间距离和几何位置的可重现性。操作者必须考虑待测试部分尽可能具有规则外形，如面积、表面粗糙度、已知的物理结构等。如果需要从大的物体中获
X射线荧光光谱仪（XRF）基本原理
X射线荧光光谱仪简称：XRF，适用于简单的元素识别和定量以及更加复杂的分析，X射线荧光光谱分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光，它是利用一定波长的X射线照射材料，元素处于激发状态，从而激发出光子，形成一种荧光射线，由于不同元素的激发态的能量大
X射线荧光光谱仪（XRF）基本原理
X射线荧光光谱仪简称：XRF，适用于简单的元素识别和定量以及更加复杂的分析，X射线荧光光谱分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光，它是利用一定波长的X射线照射材料，元素处于激发状态，从而激发出光子，形成一种荧光射线，由于不同元素的激发态的能量大小不一样
概述X射线荧光光谱仪X射线的产生
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。 1、连续谱线 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受
概述X荧光光谱仪的优缺点
1、优点 a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，10～300秒就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有
概述X荧光光谱仪的优缺点
优点: a)分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等
xrf分析仪（X荧光光谱仪）的优势和劣势
优势: a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变
X荧光光谱仪XRF的性能特点和技术优势
X荧光光谱仪XRF是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体
X荧光光度计（XRF）
原理：受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。3.主要特点：（1）快速，测试一个样品只需2min-3min；
概述x射线荧光光谱仪安全事项
在分析过程中，给管通电后，分析仪会发射定向辐射束。应尽合理的努力使放射线的暴露量保持在实际可行的剂量限度以下。这就是所谓的ALARA（最低合理可行）原则。三个因素将有助于最大程度地减少您的辐射暴露：时间，距离和屏蔽。 尽管便携式x射线荧光光谱仪或手持式x射线荧光光谱仪元素分析仪发出的辐射与普通