X射线荧光光谱仪的表面效应
样品表面状态和荧光谱线强度的关系不可忽视。当样品是由磨料、锯料或锋料制成大小一定的块状物体时，其表面必须经过适当的磨平或抛光。 荧光谱线强度不仅与样品的表面构造和纹沟的性质有关，而且也受样品位置、纹沟和进出X射线方向影响。对于后者，可以通过测量过程中同时转动样品减少或消除，如不能转动则应使纹沟的方向与入射和出射线所成的平面平行。......阅读全文
x射线荧光光谱仪简介
x射线荧光光谱仪提供了一种最简单，最准确，最经济的分析方法，可用于确定多种类型材料的化学成分。它是无损且可靠的，不需要或只需很少的样品制备，适用于固体，液体和粉末状样品。它可以用于从钠到铀的多种元素，并提供亚ppm级以下的检测限；它也可以轻松，同时地测量高达100％的浓度。
X射线荧光光谱仪优点
X射线荧光光谱仪优点：1)可在一台仪器上可实现扫描式X射线波长色散分析、X射线能量色散分析、X-射线聚焦微小区域分析、游离氧化钙X射线衍射分析。2)波长色散通道（波谱核）和能量色散通道（能谱核）可同时分别得到Be- Am 和Na-Am 所有元素的光谱数据和定量分析结果。3)软件可以得到上述各种分析技
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
X射线荧光光谱仪原理
X射线荧光光谱仪原理 X射线荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
X射线荧光光谱仪的全反射荧光
如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1
X射线荧光光谱仪的原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
X射线荧光光谱仪的概述
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
X射线荧光光谱仪的简介
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特
X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的起源
1895年德国物理学家威廉·康拉德·伦琴研究阴极射线管时，发现阴极能放出一种有穿透力的、肉眼看不见的射线。由于它的本质在当时是一个“未知数”，故称之为X射线。 伦琴无条件地把X射线的发现奉献给人类,没有申请ZL。 X射线和可见光一样属于电磁辐射，但其波长比可见光短得多，在10-6～10nm。
X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的产生
高速运动的电子与物体碰撞时，发生能量转换，电子的运动受阻失去动能，其中一小部分（1％左右）能量转变为X射线，而绝大部分（99％左右）能量转变成热能使物体温度升高。 产生X射线源有同位素放射源、X射线管、激光等离子体、同步辐射和X射线激光等。
X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的本质
X射线的本质是电磁辐射，具有波粒二像性。 1）波动性 X射线的波长范围：0.01~100 用于元素分析的X射线光谱所使用的波长范围在0.01~11nm 2）粒子性 特征表现为以光子形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量。 表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如光电效应、荧光辐
X射线的物理效应
●穿透作用X射线因其波长短,能量大,照在物质上时,仅一部分被物质所吸收,大部分经由原子间隙而透过,表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关,X射线的波长越短,光子的能量越大,穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关,利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开来。●电离作
X射线荧光光谱仪X射线防护系统故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合上
X射线荧光光谱仪中X射线的由来和性质分析
X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X射线荧光光谱仪相关特点
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平
X射线荧光光谱仪原理分析
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集
波长色散X射线荧光光谱仪
我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中，从20世纪80年代起，一些机械部件为电子线路所取代，
什么是X射线荧光光谱仪
Ｘ射线是一种电磁辐射，其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限，一般来说是指波长为０．００１－５０ｎｍ的电磁辐射。对分析化学家来说，感兴趣的波段是０．０１－２４ｎｍ，０．０１ｎｍ左右是超铀元素的Ｋ系谱线，２４ｎｍ则是轻元素Ｌｉ的Ｋ系谱线。１９２３年赫维西（Ｈｅｖｅｓｙ，Ｇ．Ｖｏｎ）提
X射线荧光光谱仪－检测标准
JJG810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》检定周期为1年。
X射线荧光光谱仪制样要求
X射线荧光光谱仪制样要求： 样品的尺寸(直径x高)50x 40mm，重量400g。 1、定量分析 定量分析是对样品中元素进行准确定量测定。定量分析需要一组标准样品做参考。常规定量分析一般需要5个以上的标准样品才能建立较可靠的工作曲线。 常规X射线荧光光谱定量分析对标准样品的基本要求：
x射线荧光光谱仪安全事项
在分析过程中，给管通电后，分析仪会发射定向辐射束。应尽合理的努力使放射线的暴露量保持在实际可行的剂量限度以下。这就是所谓的ALARA（最低合理可行）原则。三个因素将有助于最大程度地减少您的辐射暴露：时间，距离和屏蔽。 尽管便携式x射线荧光光谱仪或手持式x射线荧光光谱仪元素分析仪发出的辐射与普通