简述荧光光谱仪的指标信息
1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100% 4.分析软件是Philips公司（现为PANalytical）最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时， RSD=0.08% 稳定性计算率......阅读全文
简述荧光光谱仪的指标信息
1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度
X射线荧光光谱仪指标信息
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平
x射线荧光光谱仪的指标信息
1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度
关于荧光光谱仪的指标信息介绍
一、荧光光谱仪的指标信息： 1、发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW。 2、仪器在真空条件下工作，真空度
x射线荧光光谱仪的仪器类别和指标信息
仪器类别 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计 指标信息 1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度
荧光光谱仪的类别指标简介
仪器类别： 03030429 /仪器仪表 /成份分析仪器 /X荧光谱仪 指标信息： 激发光源 Xe 450W 激发单色仪：4nm/mm,200nm～700nm 发射单色仪：双色单仪，2nm/mm,300～1000nm 光谱测量范围：240nm～850nm 灵敏度：水喇曼信噪比4000
荧光光谱仪的技术指标介绍
仪器类别： 03030429 /仪器仪表 /成份分析仪器 /X荧光谱仪 指标信息： 激发光源 Xe 450W 激发单色仪：4nm/mm,200nm～700nm 发射单色仪：双色单仪，2nm/mm,300～1000nm 光谱测量范围：240nm～850nm 灵敏度：水喇曼信噪比4000
简述X荧光光谱仪的用途
X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，可以 测定元素含量。 近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。 大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等
简述分子荧光光谱仪劣势
在经典分析中，影响谱线强度的因素较多，尤其是试样组份带来的光谱重叠等，所以对标准参比的组份要求较高。 难于作绝对定量分析,需要精确的标样做比较。含量（浓度）较大时，准确度较差。 对样品化合物有共轭性要求,应用不广泛.
关于荧光谱仪的基本信息介绍
荧光谱仪是一种用于化学、生物学、环境科学技术及资源科学技术领域的分析仪器，于2012年12月1日启用。 一、荧光谱仪的技术指标： 光学 所有波长全反射聚焦，微样品精确成像 光源 无臭氧Xe灯 光谱计 平面光栅，Czery-Turner设计，所有波长保持聚 激发 200-950nm，最佳在紫外
购买X荧光光谱仪技术指标误区
评价一台X荧光光谱仪好坏的技术指标是多重、综合的。用户关心和看重的主要有分析元素范围，即我们通常所说的可分析元素有哪些，分析时间长短，度如何等。技术指标的重要性zui终还是取决于应用目的。 误区1：片面追求高指标。买一台仪器恨不得把元素周期表里的元素全测了，可实际应用的时候，只简单的测几种元
购买X荧光光谱仪技术指标误区
评价一台X荧光光谱仪好坏的技术指标是多重、综合的。用户关心和看重的主要有分析元素范围，即我们通常所说的可分析元素有哪些，分析时间长短，精确度如何等。技术指标的重要性最终还是取决于应用目的。 误区1：片面追求高指标。买一台仪器恨不得把元素周期表里的元素全测了，可实际应用的时候，只简单的测几种元素。 对
荧光光谱仪的分子荧光光谱关键技术指标介绍
荧光光谱仪的光谱分辨率。光谱分辨率是指把光谱特征、谱带分解成为分离成分的能力。高级的荧光光谱仪分辨率可达0.5～1nm。 荧光光谱仪的频谱范围。高级的荧光光谱仪可覆盖200nm～1500nm。 荧光光谱仪中的波长准确度和波长重复性。波长准确度，是指波长的实际测定值与理论值(真值)的差，高端仪
简述便携拉曼光谱仪的技术指标
仪器采用凹面平场光栅设计，光谱仪内仅包括1个反射镜和1个凹面光栅，无其他光学元件。 光谱仪技术参数 1、拉曼频移范围：150cm-1-3200cm-1（785nm激发）。 2、光栅：采用凹面平场光栅。3.3光谱仪平场校正，焦平面大于27mm，采用≥1英寸（26.7mm）CCD芯片，无边缘畸
简述X荧光光谱仪的工作原理
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具
简述X射线荧光光谱仪的应用
X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在
简述荧光光谱仪的应用领域
荧光光谱仪被广泛应用于化学、环境和生物化学领域。 是研究小分子与核酸相互作用的主要手段。通过药物与核酸相互作用，使DNA与探针键合的程度减小，反映在探针荧光光谱的改变，从而可以了解药物和核酸的作用机理。 荧光光谱仪是研究药物与蛋白质相互作用的常用仪器。药物与蛋白质相互作用后可能引起药物自身荧
简述X荧光光谱仪技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
关于荧光光谱仪的基本信息介绍
荧光光谱仪又称荧光分光光度计，是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测，可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性，以及荧光的淬灭方面的信息。
手持X射线荧光光谱仪的主要技术指标
1. 超高的检测精度精确度高。 2. 超高的稳定性，超高的重复性。 3. 优异的线性相关性。 4. 采用了完全重新设计的射线管、无高压电源线、无 RF 噪音、更好的X射线屏蔽。 5. 结构更精密，缩短了射线管、探测器与被测样品之间的距离，对于某些应用信号提高了~40%. 6. 新的滤波
原子荧光光谱仪的仪器构造简述
激发光源 可用连续光源或锐线光源。常用的连续光源是氙弧灯，常用的锐线光源是高强度空心阴极灯、无极放电灯、激光等。连续光源稳定，操作简便，寿命长，能用于多元素同时分析，但检出限较差。锐线光源辐射强度高，稳定，可得到更好的检出限。 原子化器 原子荧光分析仪对原子化器的要求与原子吸收光谱仪基本相
X射线荧光光谱仪的物理原理简述
X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属
简述X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
关于原子荧光光谱仪的类型信息介绍
根据荧光谱线的波长可以进行定性分析。在一定实验条件下，荧光强度与被测元素的浓度成正比。据此可以进行定量分析。 原子荧光光谱仪分为色散型和非色散型两类。两类仪器的结构基本相似，差别在于非色散仪器不用单色器。色散型仪器由辐射光源、单色器、原子化器、检测器、显示和记录装置组成。辐射光源用来激发原子使
波长色散台式X射线荧光光谱仪的技术指标
分析元素范围：从氟到铀（F→U）。分析：固体、液体、粉末、合金以及薄膜。大气：空气、氦气或真空。X射线管：50kV，200W Pd阳极。一次光束滤光片：Zr。探测器：SC。 晶体：三位转换器。 自动进样器：12位标准。真空：旋转泵标准。 电源：100–120V(50/60Hz)15A或200–2
单波长色散X射线荧光光谱仪技术指标
符合ASTM 7039，GB/T 11140和SH/T 0842标准要求，硫重复性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm)； 检测范围0.15ppm至3000ppm， 样品杯容积4mL,分析时间30至300秒；即插即用，样品准备快速，无
简述X射线荧光光谱仪的组成和用途
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 组成：X
简述X射线荧光光谱仪的重要意义
X射线荧光光谱仪术属于一种能够实现快速分析的无损检测技术，新型、成本更低的X射线光谱仪更容易在被检测材料或者组件的整个生命周期内进行多元测量和验证。利用摩擦效应产生X射线的低成本、移动型X射线荧光光谱仪将会和原位检测或者实验室检测实现互补。 对于质量管理部门、冶金实验室、机械工厂、金属加工厂、
全反射X射线荧光光谱仪的技术指标和功能
全反射X射线荧光光谱仪是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2016年11月28日启用。 一、技术指标 可分析元素范围：Al~U（靶元素和与靶元素干扰严重的元素除外） 浓度范围：10-9~100% 检出限：Ni≤2pg 激发源：最大功率≥30W；最大激发电压≥50kV，最大激发电流≥1mA 探
关于原子荧光光谱仪的基本信息介绍
原子荧光光谱仪利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性与定量分析的方法。原子蒸气吸收特征波长的辐射之后，原子激发到高能级，激发态原子接着以辐射方式去活化，由高能级跃迁到较低能级的过程中所发射的光称为原子荧光。当激发光源停止照射之后，发射荧光的过程随即停止。 原子荧光可分为 3类：即共振荧光、