干涉对比的定义
中文名称干涉对比英文名称interference contrast定 义干涉场中亮暗条纹的光强差异。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜一般名词（三级学科）......阅读全文
激光干涉仪的应用特点
（1）几何精度检测 可用于检测直线度、垂直度、俯仰与偏摆、平面度、平行度等。（2）位置精度的检测及其自动补偿 可检测数控机床定位精度、重复定位精度、微量位移精度等。利用雷尼绍ML10激光干涉仪不仅能自动测量机器的误差，而且还能通过RS232接口自动对其线性误差进行补偿，比通常的补偿方法节省了大量时间
干涉成像光谱仪的应用
最初成像光谱仪的发展，主要是用于植被遥感和地质矿物识别研究之用(Goetz等，1985)。但是随着成像光谱技术的深入研究，它己被广泛应用在大气科学、生态、地质、水文和海洋等学科中(Vanes&Goetz，1993)。 它在军事和民用领域，都有广泛的应用前景。在军事上，与可见光照相侦察技术相比，
干涉显微镜的应用
相差显微镜具有两个其他显微镜所不具有的功能:将直射的光(视野中背景光)与经物体衍射的光分开；将大约一半的波长从相位中除去，使之不能发生相互作用，从而引起强度的变化。因此可以应用于：1.观察未经染色的标本和活细胞。2.试样表面粗糙度的测定如图1所示．若被测试样表面粗糙不平，干涉带即成弯曲状。由测微目镜
干涉显微镜的应用
1.观察未经染色的标本和活细胞。2.试样表面粗糙度的测定如图1所示．若被测试样表面粗糙不平，干涉带即成弯曲状。由测微目镜读出相邻量干涉带距离口及干涉带弯曲度b。因光程差每增加半个波长，即形成一条干涉带，故被测试样表面微观的不平度的实际高度为式中，τ为光波的波长。3.材料塑性变形和相变浮凸的测量因材料
干涉成像光谱仪的概述
干涉成像光谱仪是利用干涉原理获得一系列随光程差变化的干涉图样，通过反演可以得到目标物体的二维空间图像和一维光谱信息的仪器。干涉成像光谱仪有时间调制型和空间调制型两种。 由于物质的光谱与它的属性密切相关，太阳光照射到月表后被漫反射，不同的物质将呈现不同的反射光谱，成像光谱仪就利用了这个原理，通过
量块干涉仪的功能介绍
中文名称量块干涉仪英文名称gauge interferometer定 义以光波波长为长度基准，用干涉法精确测定量块的中心长度、工作面的平面度及平行度等的仪器。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
干涉成像光谱仪的分类
成像光谱技术从原理上讲分为色散型和干涉型两大类：色散型成像光谱仪是利用色散元件(光栅或棱镜等)将复色光色散分成序列谱线，然后再用探测器测量每一谱线元的强度。而干涉型成像光谱仪是同时测量所有谱线元的干涉强度，对干涉图进行逆傅里叶变换将得到目标的光谱图。 因色散型成像光谱仪中均含有人射狭缝，狭缝越
激光干涉仪的功能介绍
激光干涉仪，以激光波长为已知长度，利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量。
干涉成像光谱仪的简介
1880年，迈克耳逊(iMhcelson)发明了以他的名字命名的干涉仪。后来瑞利首先认识到干涉仪所产生的干涉图(干涉条纹)，可以通过傅里叶变换而得出其光谱，即干涉图与光谱之间存在着一种对应的傅里叶变换的数学运算关系，从而通过傅里叶积分变换的数学运算把干涉图(干涉条纹)与辐射光谱直接联系了起来，这
激光干涉仪的工作原理
激光干涉仪，以激光波长为已知长度，利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量。
激光干涉仪的应用特点
（1）几何精度检测 可用于检测直线度、垂直度、俯仰与偏摆、平面度、平行度等。（2）位置精度的检测及其自动补偿 可检测数控机床定位精度、重复定位精度、微量位移精度等。利用雷尼绍ML10激光干涉仪不仅能自动测量机器的误差，而且还能通过RS232接口自动对其线性误差进行补偿，比通常的补偿方法节省了大量时间
干涉显微镜的应用
相差显微镜具有两个其他显微镜所不具有的功能:将直射的光(视野中背景光)与经物体衍射的光分开；将大约一半的波长从相位中除去，使之不能发生相互作用，从而引起强度的变化。因此可以应用于：1.观察未经染色的标本和活细胞。2.试样表面粗糙度的测定如图1所示．若被测试样表面粗糙不平，干涉带即成弯曲状。由测微目镜
激光干涉仪的技术特点
1. 同时测量线性定位误差、直线度误差（双轴）、偏摆角、俯仰角和滚动角2. 设计用于安装在机床主轴上的5D/6D传感器3. 可选的无线遥控传感器最长的控制距离可到25米4. 可测量速度、加速度、振动等参数，并评估机床动态特性5. 全套系统重量仅15公斤，设计紧凑、体积小，测量机床时不需三角架6. 集
孔径干涉仪的功能介绍
中文名称孔径干涉仪英文名称bore interferometer定 义利用光干涉原理，将量块(或环规)与内孔尺寸相比较，测出其微差尺寸的测量仪器。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
激光干涉仪的发展历史
1604年开普勒（J．Kepler）写出光学著作，指出光的强度和到达光源距离的平方成反比。并于1611年出版《折射光学》。 1801年托马斯•杨（Thomas Young）用双狭缝实验演示了光的干涉现象，即著名的杨氏双缝实验。 1881年迈克尔逊（Albert．A．Michelson）设计了
马曾干涉仪的概述
马曾干涉仪的内部设置可以很容易更改。与迈克耳孙干涉仪明显不同，两道被分裂的光束只会分别行经一次马曾干涉仪的两条严格分隔的路径。 由于白光的相干长度很有限，数量级为微米，必须非常仔细的将白光的所有波长的光程都调整为一样，才能通过马曾干涉仪将白光制成黑白相间的干涉条纹，否则无法观察到干涉条纹。如首
激光干涉仪的工作原理
激光器发射单一频率光束射入线性干涉镜，然后分成两道光束，一道光束（参考光束）射向连接分光镜的反射镜，而第二道透射光束（测量光束）则通过分光镜射入第二个反射镜，这两道光束再反射回到分光镜，重新汇聚之后返回激光器，其中会有一个探测器监控两道光束之间的干涉（见图）。若光程差没有变化时，探测器会在相长性
干涉条纹的产生原理和特点
干涉现象为简谐波传导过程中的基本现象之一，光波、水波及声波等都会发生干涉。当两束光波发生干涉时，会使有些区域变亮而有些区域变暗，即出现干涉条纹。干涉条纹的出现对于光学测量微小变形具有重要意义，同时也广泛存在于生活中，如半透膜，彩色的肥皂泡等。
量块干涉仪的功能介绍
中文名称量块干涉仪英文名称gauge interferometer定 义以光波波长为长度基准，用干涉法精确测定量块的中心长度、工作面的平面度及平行度等的仪器。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），光学计量仪器（三级学科）
干涉显微镜的应用
将直射的光(视野中背景光)与经物体衍射的光分开；将大约一半的波长从相位中除去，使之不能发生相互作用，从而引起强度的变化。因此可以应用于：1.观察未经染色的标本和活细胞。2.试样表面粗糙度的测定如图1所示．若被测试样表面粗糙不平，干涉带即成弯曲状。由测微目镜读出相邻量干涉带距离口及干涉带弯曲度b。因光
动力电池的对比电池与动力电池的对比
目前最有希望应用于动力型锂离子电池的正极材料主要有改性锰酸锂（LiMn2O4）、磷酸铁锂（LiFePO4）和镍钴锰酸锂（Li(Ni,Co,Mn)O2）三元材料。镍钴锰酸锂三元材料由于钴的资源缺乏与镍、钴成高和价格波动大等原因，普遍认为很难成为电动汽车用动力型锂离子电池的主流，但可以与尖晶石锰酸锂在一
白光干涉仪白光干涉条纹不对称是什么原因？
白光干涉条纹不对称。 原 因： （1）受运输冲击或使用过程中碰过分光板和补偿板两板平行 度已被破坏。 检修方法：调整分光板与补偿板的平行性，在没有自准直仪时，可通过两板同时观察室内目标物。如日光灯，调节两板上的宽头螺钉，使双象基本重合，这时调出的白光彩色条纹可达到基本对称，如仍有不对称现象
AFM微分干涉衬度DIC
微分干涉衬度DICDIC利用的是偏振光原理，如图1-6，透射式DIC显微镜主要有四个特殊的光学组件：起偏振镜、DIC棱镜Ⅰ、DIC棱镜Ⅱ和检偏振镜。起偏振镜直接装在聚光系统的前面，使光线发生线性偏振。在聚光器中安装DIC棱镜，此棱镜可将一束光分解成偏振方向不同的两束光（x和y），二者成一小夹角。聚光
双光束干涉仪简介
双光束干涉仪是利用分振幅法产生双光束以实现干涉。通过调整该干涉仪，可以产生等厚干涉条纹，也可以产生等倾干涉条纹。主要用于长度和折射率的测量，若观察到干涉条纹移动一条，便是M2的动臂移动量为λ/2，等效于M1与M2之间的空气膜厚度改变λ/2。在近代物理和近代计量技术中，如在光谱线精细结构的研究和用
接触式干涉仪相关
接触干涉仪包括 1：支架及底座并附有五筋平台，辅助平台 2：干涉管并附有照明管，测杆提升器，隔热瓶 3：拔棒，仪器防尘罩，调压变压器（220V/6V，5W），平面工作台（可调式），玛瑙工作台，平行平晶，高量块移动框，低量块移动框，小球面测帽，平面测帽（Φ8），小平面测帽（Φ2），备用灯泡（
双光束干涉仪概述
干涉仪是很广泛的一类实验技术的总称， 其思想在于利用波的叠加性来获取波的相位信息， 从而获得实验所关心的物理量。干涉仪并不仅仅局限于光干涉仪。 干涉仪在天文学， 光学， 工程测量， 海洋学， 地震学， 波谱分析， 量子物理实验， 遥感， 雷达等等精密测量领域都有广泛应用。 双光束干涉仪是利用分
怎么维护白光干涉仪？
1、仪器应妥善地放在干燥、清洁的房间内，防止振动，仪器搬动 时，应托住底座，以防导轨变形。 2、光学零件不用时，应存放在清洁的干燥盆内，以防止发霉。反光镜、分光镜一般不允许擦拭，必要擦拭时，须先用备件毛刷小心掸去灰尘，再用脱脂清洁棉花球滴上酒精和乙醚混合液轻拭。 3、传动部件应有良好的润滑。
雅满干涉仪简介
这种干涉仪是J.雅满于1856年发明的。雅满用他的干涉仪研究了水的折射率随压力的变化关系，并用它来测定水蒸气的折射率。后人多用它来测量气体的折射率。 雅满干涉仪基本上由两块折射率和厚度都完全相同的平行平面玻璃板组成，每一块板都有一个镀银面，其结构如图1所示。 自扩展光源发出的一束光,以45°
斐索干涉仪简介
斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波长。 干涉仪的一种类型。由斐索(H．Fi zeau1819—1896)研究而得名。光路见图1，点光源S的光线经准直后，近乎正入射地照射
双频激光干涉仪原理
干涉仪是以激光波长为已知长度、利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量工具。 激光干涉仪有单频的和双频的两种。单频的是在20世纪60年代中期出现的，最初用于检定基准线纹尺，后又用于在计量室中精密测长。双频激光干涉仪是1970年出现的，它适宜在车间中使用。激光干涉仪在极接近标准状态(温度为20℃、大