双分划板型自准直仪的光路原理和系统特点
（一）光路原理双分划板型自准直仪1-物镜；2-指示分划板；3-立方直角棱镜；4-刻度分划板若平面反射镜对光轴有偏转，将引起自准直像偏离十字线，由测微机构测出其偏离量，即可得出反射镜对光轴的偏转角。（二）双分划板型系统特点优 点: 是视场不被遮挡，刻线可位于视场中央；目镜焦距短，可获得较大的放大倍率。另外目镜和光源可互换位置，给使用带来方便。缺 点: 是结构比较复杂，亮度损失较大（介于前两者之间）。......阅读全文
双分划板型自准直仪的光路原理和系统特点
（一）光路原理双分划板型自准直仪1-物镜；2-指示分划板；3-立方直角棱镜；4-刻度分划板若平面反射镜对光轴有偏转，将引起自准直像偏离十字线，由测微机构测出其偏离量，即可得出反射镜对光轴的偏转角。（二）双分划板型系统特点优 点: 是视场不被遮挡，刻线可位于视场中央；目镜焦距短，可获得较大的放大倍率。
双分划板型自准直仪光路原理
双分划板型自准直仪光路原理双分划板型自准直仪1-物镜；2-指示分划板；3-立方直角棱镜；4-刻度分划板若平面反射镜对光轴有偏转，将引起自准直像偏离十字线，由测微机构测出其偏离量，即可得出反射镜对光轴的偏转角。
关于双分划板型自准直仪的光路原理和特点介绍
（一）于双分划板型自准直仪的光路原理 1-物镜；2-指示分划板；3-立方直角棱镜；4-刻度分划板 若平面反射镜对光轴有偏转，将引起自准直像偏离十字线，由测微机构测出其偏离量，即可得出反射镜对光轴的偏转角。 （二）于双分划板型自准直仪的双分划板型系统特点 优 点: 是视场不被遮挡，刻线可位
双分划板型自准直仪的系统特点
优 点: 是视场不被遮挡，刻线可位于视场中央；目镜焦距短，可获得较大的放大倍率。另外目镜和光源可互换位置，给使用带来方便。缺 点: 是结构比较复杂，亮度损失较大（介于前两者之间）。
高斯型自准直仪的光路原理和系统特点
（一）光路原理如果反射镜严格与光轴垂直，则十字线在分划板上所成的像与原来的十字线完全重合。若反射镜有一微小转角α ，则十字线 的像将偏离原来的十字线，其偏离量的大小可 从测微目镜6中读出。高斯型1-反射镜；2-物镜；3-分划板； 4-光源；5-分光镜；6-目镜（二）高斯型系统特点优 点：高斯型系统是
阿贝型自准直仪的光路原理和系统特点
（一）光路原理阿贝型自准直仪1-物镜；2-分划板；3-棱镜；4-光源；5-反射镜若平面反射镜对光轴产生微小转角α ，则十字线像将发生偏离，偏离量可从刻度尺上读出。（二）阿贝型系统特点优 点：是光强度大，亮度损失只有10-15%缺 点：是它的视场被胶合棱镜遮挡了一半，又因光管出射光和反射光的方向不同，
高斯型自准直仪的光路原理
如果反射镜严格与光轴垂直，则十字线在分划板上所成的像与原来的十字线完全重合。若反射镜有一微小转角α ，则十字线 的像将偏离原来的十字线，其偏离量的大小可 从测微目镜6中读出。高斯型1-反射镜；2-物镜；3-分划板； 4-光源；5-分光镜；6-目镜
阿贝型自准直仪的光路原理
阿贝型自准直仪1-物镜；2-分划板；3-棱镜；4-光源；5-反射镜若平面反射镜对光轴产生微小转角α ，则十字线像将发生偏离，偏离量可从刻度尺上读出。
自准直光路的实验原理
当发光点（物）处在凸透镜的焦平面时，它发出的光线通过透镜后将为一束平行光，若与光轴垂直的平面镜将此平行光反射回去，反射光再次通过透镜后仍会聚于透镜的焦平面上，其会聚点将在发光点相对于光轴的对称位置上。
关于高斯型自准直仪的基本介绍
（一）高斯型自准直仪的光路原理 如果反射镜严格与光轴垂直 [3]，则十字线在分划板上所成的像与原来的十字线完全重合。若反射镜有一微小转角α ，则十字线 的像将偏离原来的十字线，其偏离量的大小可 从测微目镜6中读出。 1-反射镜；2-物镜；3-分划板； 4-光源；5-分光镜；6-目镜 （二）
高斯型自准直仪的系统特点
优 点：高斯型系统是目镜视场不受遮挡，且分划板上的刻划位于视场正中，观察方便。缺 点：是亮度损失大，因而自准直像较暗；另外，为安置分光镜，目镜焦距较长，因而无法获得较大的放大倍数高斯型主要应用于普通光学自准直仪的光学系统。
目镜分划板的功能特点
中文名称目镜分划板英文名称ocular graticule定 义放在目镜里的光学零件，用于度量、标定或瞄准。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜一般名词（三级学科）
自准直光路的概念
光线通过位于物镜焦平面的分划板后，经物镜形成平行光。平行光被垂直于光轴的反射镜反射回来，再通过物镜后在焦平面上形成分划板标线像与标线重合。当反射镜倾斜一个微小角度α角时，反射回来的光束就倾斜2α角。在测角仪上也可采用自准直法测量材料的折射率，光线在棱镜前表面的入射角为i,如果折射光线OC刚好垂直于棱
阿贝型自准直仪的系统特点
优 点：是光强度大，亮度损失只有10-15%缺 点：是它的视场被胶合棱镜遮挡了一半，又因光管出射光和反射光的方向不同，当反射镜和物镜间的距离超过一定数值后，反射光线就不能进入物镜成像，所以仪器工作距离较短。阿贝型应用于光学计的光学系统。
关于HYQ03型自准直仪的基本信息介绍
HYQ—03型自准直仪常称平直度检查仪 [6]，是国产自准直仪中应用较多的一种（以下称平直度检查仪）。 仪器光学系统 （一）光路原理 1-光源；2-滤光片；3-分划板；4-立方直角棱镜；5、6-反射镜；7-物镜；8-体外反射镜；9-固定分划板；10-活动分划板； 11-目镜； 12-测微螺
关于阿贝型自准直仪的原理和特点介绍
（一）阿贝型自准直仪的光路原理 1-物镜；2-分划板；3-棱镜；4-光源；5-反射镜 若平面反射镜对光轴产生微小转角α ，则十字线像将发生偏离，偏离量可从刻度尺上读出。 （二）阿贝型自准直仪的阿贝型系统特点 优 点：是光强度大，亮度损失只有10-15% 缺 点：是它的视场被胶合棱镜遮挡
自准直光路的试验仪器
带有毛玻璃的白炽灯光源S物屏P：SZ-14凸透镜L：f=190mm（f=150mm）二维调整架：SZ-07（或透镜架SZ-08）平面反射镜M通用底座：SZ-04二维底座：SZ-02
目镜分划板的功能
中文名称目镜分划板英文名称ocular graticule定 义放在目镜里的光学零件，用于度量、标定或瞄准。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜一般名词（三级学科）
关于平行光管及自准望远镜的类型介绍
自准望远镜有两主要类型:高斯型和阿贝型，高斯型自准望远镜的特点是，分划板中心在光轴上，能严格的自准，视场内瞄准的目标是亮视场上的暗标记（例如十字叉线或标尺），亮度稍低；而阿贝型自准望远镜的特点是，分划板中心不在光轴上，不能严格自准，瞄准的目标是暗视场上的亮标记,亮度较高。两者各有优劣。另外还有双
自准直仪的组成结构
自准直仪通常由三部分组成 :1.体外反射镜2.物镜光管部件3.测微目镜部件由于分划板和各个光学元件的位置、结构不同，自准直仪有以下三种基本光路。
自准直仪的结构组成
自准直仪通常由三部分组成 :1.体外反射镜2.物镜光管部件3.测微目镜部件由于分划板和各个光学元件的位置、结构不同，自准直仪有以下三种基本光路。
关于准直仪的类型介绍
1、自准直仪： 自准直仪也称为测微自准平行光管，实质上就是将准直仪的望远镜和平行光管合为一体。其光学系统从物镜至分划板的光路中经反射镜两次反射，使仪器长度大为缩短，同时物镜光轴与目镜光轴互成90°，使用方便。 [1] 2、激光准直仪： 自激光问世以来，由于它具有能量集中、方向性好、相干性好
自准直仪和激光准直仪的简介
自准直仪 自准直仪也称为测微自准平行光管，实质上就是将准直仪的望远镜和平行光管合为一体。其光学系统从物镜至分划板的光路中经反射镜两次反射，使仪器长度大为缩短，同时物镜光轴与目镜光轴互成90°，使用方便。 激光准直仪 自激光问世以来，由于它具有能量集中、方向性好、相干性好等优点，从而使得激光
介质的折射率的测量方法介绍
介质的折射率通常由实验测定，有多种测量方法。对固体介质，常用最小偏向角法或自准直法，或通过迈克尔逊干涉仪利用等厚干涉的原理测出；液体介质常用临界角法（阿贝折射仪）；气体介质则用精密度更高的干涉法（瑞利干涉仪）。测量方法如下：偏向角法(2)对于一个顶角为θ、折射率为n待测的棱镜，将它放在空气中( =
KUBLER编码器分单路输出和双路输出
库伯勒KUBLER编码器输出电气接口。常见的有推拉输出型、电压输出、集电极开路、线驱动输出型。其输出方式应和其控制系统的接口电路相匹配。直接利用光电转换原理输出三组方波脉冲A、B和Z相。A、B两组脉冲相位差90o，可方便地判断出旋转方向；Z相每转一个脉冲，用于基准点定位。其优点：原理构造简单，库伯勒
立式光学比较仪的简介
又称立式光学计,[光学测微仪的光学系统]为光学测微仪的光学系统。它是按自准直原理（见自准直仪）设计的。分划板位于物镜焦平面上，平面反射镜按杠杆原理设置。当测杆上下移动时，平面反射镜绕支点转动一个很小角度，由平面反射镜反射回去的光线，经直角棱镜后成象在分划板上的刻度尺象发生偏移。偏移量的大小与测杆
分划尺测微器的结构和功能特点
分划尺测微器（简称测微尺）。是J6级光学经纬仪之一， 其原理是采用刻有一定刻度的测微尺来测量，先用绝对长度的物镜测微尺来校正不表示绝对长度的目镜测微尺，计算后者每格所代表的实际长度，然后放上待测的标本，用目镜测微尺测定标本上的结构占目镜测微尺的格数，就可计算该细胞的大小。
介质的折射率的测定方法
介质的折射率通常由实验测定，有多种测量方法。对固体介质，常用最小偏向角法或自准直法，或通过迈克尔逊干涉仪利用等厚干涉的原理测出；液体介质常用临界角法（阿贝折射仪）；气体介质则用精密度更高的干涉法（瑞利干涉仪）。测量方法如下：偏向角法(2)对于一个顶角为θ、折射率为n待测的棱镜，将它放在空气中( =
自准直仪的工作原理
由光源 发出的光经分划板、半透反射镜和物镜后射到反射镜上。光线通过位于物镜焦平面的分划板后，经物镜形成平行光。平行光被垂直于光轴的反射镜反射回来，再通过物镜后在焦平面上形成分划板标线像与标线重合。当反射镜倾斜一个微小角度α角时，反射回来的光束就倾斜2α角。
光电自准直仪的原理
光电自准直仪，ELP光电自准直仪是依据光学自准直成像原理。