平直度检查仪的光路原理

光路原理平直度检查仪1-光源;2-滤光片;3-分划板;4-立方直角棱镜;5、6-反射镜;7-物镜;8-体外反射镜;9-固定分划板;10-活动分划板; 11-目镜; 12-测微螺杆;13-测微鼓轮......阅读全文

平直度检查仪的光路原理

光路原理平直度检查仪1-光源;2-滤光片;3-分划板;4-立方直角棱镜;5、6-反射镜;7-物镜;8-体外反射镜;9-固定分划板;10-活动分划板; 11-目镜; 12-测微螺杆;13-测微鼓轮

平直度检查仪的测微原理

仪器的f物为400mm,测微螺杆12的螺距和固定分划板9上刻线的分度间隔都是0.4mm,即测微螺杆每转一圈,活动分划板10上的长刻线在固定分划板9的刻度上移动一格,其对应的反射镜的倾角α为1/2000。和测微螺杆12同轴相连的测微鼓轮13上有100格圆周刻度,每格代表反射镜的倾角α为0.005/10

平直度检查仪的应用

常用于测量导轨的直线度、平板的平面度(这时称为平面度测量仪)等,也可借助于转向棱镜附件测量垂直度等。光电自准直仪多应用于航空航天、船舶、军工等要求精密度极高的行业,例如机械加工工业的质量保证(平直度、平面度、垂直度、平行度等)、计量检定行业中角度测试标准 、棱镜角度定位及监控、光学元件的测试及安装精

平直度检查仪的偏差来源

①测角公式的近似所带来的原理误差、出射光非严格平行光线所引起的误差以及光学系统的畸变 [7]  ;②人眼瞄准和读数会产生瞄准误差及估读误差;③光电探测器灵敏度非均匀性以及响应非线性误差。

平直度检查仪的仪器基本结构

仪器基本结构平直度检查仪结构如图《平直度检查仪结构》所示1~4组成了测微目镜部件,测量前可松开定位螺钉5,由于两锥孔在圆周上互成90o ,可使整个目镜头就可精确地转过90度。

平直度检查仪的主要技术参数

仪器的主要技术参数1、分度值 0.005/1000≈1角/秒2、物镜焦距 400mm3、目镜放大倍数 20倍4、示值范围 ±500格5、最大测距 5000mm6、示值误差当测微鼓轮不超过一圈时 ±(0.5+0.01n)格当刻度鼓超过一圈时 ±(1.5+0.01n)格n----为测量时测微鼓轮转过的格

平直度检查仪的仪器的操作与使用

仪器的操作与使用1、将仪器主体放置在被测件的一端或被测件以外稳固的基础上,反射镜座放在被测件上,并且要与仪器主体在同一水平面内;2、接通电源后,将反射镜座靠近自准直仪的主体,使反射镜正对物镜,使十字线像出现在目镜视场的正中或附近;3、仔细地沿测量方向移动反射镜座,在各预定测量位置上读数,并进行数据处

自准直光路的实验原理

当发光点(物)处在凸透镜的焦平面时,它发出的光线通过透镜后将为一束平行光,若与光轴垂直的平面镜将此平行光反射回去,反射光再次通过透镜后仍会聚于透镜的焦平面上,其会聚点将在发光点相对于光轴的对称位置上。

高斯型自准直仪的光路原理

如果反射镜严格与光轴垂直,则十字线在分划板上所成的像与原来的十字线完全重合。若反射镜有一微小转角α ,则十字线 的像将偏离原来的十字线,其偏离量的大小可 从测微目镜6中读出。高斯型1-反射镜;2-物镜;3-分划板; 4-光源;5-分光镜;6-目镜

相称显微镜的光路原理

  相差光路比普通光学显微镜多了两个元件:环形光阑(annular diaphragm)和相位板 (annular phaseplate )  环形光阑:位于光源和聚光器之间。不同的环状孔形成的光阑,它们的直径和孔宽是与不同的物镜相匹配的。由于透明圆环所成的像恰好落在物镜后焦点平面和相板上的共轭面重

阿贝型自准直仪的光路原理

阿贝型自准直仪1-物镜;2-分划板;3-棱镜;4-光源;5-反射镜若平面反射镜对光轴产生微小转角α ,则十字线像将发生偏离,偏离量可从刻度尺上读出。

设定光路

设定光路 (1)  点击按钮,启动Optical path画面。 (2)  点击[DU4]按钮,选择标准探测器(检测器)。 (3)  点击[Auto]按钮,以自动模式设定Optical Path。 (4)  勾选要使用的通道。 选择染料名,点击各ch按钮,进行模拟色彩的设定。 *如仅拍摄

杂光检查仪的功能介绍

中文名称杂光检查仪英文名称stray light testing equipment定  义测定光学系统杂光的仪器。应用学科机械工程(一级学科),光学仪器(二级学科),光学测试仪器(三级学科)

杂光检查仪的功能介绍

中文名称杂光检查仪英文名称stray light testing equipment定  义测定光学系统杂光的仪器。应用学科机械工程(一级学科),光学仪器(二级学科),光学测试仪器(三级学科)

自准直光路的概念

光线通过位于物镜焦平面的分划板后,经物镜形成平行光。平行光被垂直于光轴的反射镜反射回来,再通过物镜后在焦平面上形成分划板标线像与标线重合。当反射镜倾斜一个微小角度α角时,反射回来的光束就倾斜2α角。在测角仪上也可采用自准直法测量材料的折射率,光线在棱镜前表面的入射角为i,如果折射光线OC刚好垂直于棱

影响基线平直度的主要因素

摘要: 滤光片或光学元件上有灰尘,会产生散射,而引起基线平直度变坏。 (l)滤光片或光学元件上有灰尘    滤光片或光学元件上有灰尘,会产生散射,而引起基线平直度变坏。(2)滤光片未安装好  因为不同波段要采用不同的滤光片,所以滤光片切换时会产生噪声,使基线平直度变坏。(3)光源(氘灯、钨灯)切

高斯型自准直仪的光路原理和系统特点

(一)光路原理如果反射镜严格与光轴垂直,则十字线在分划板上所成的像与原来的十字线完全重合。若反射镜有一微小转角α ,则十字线 的像将偏离原来的十字线,其偏离量的大小可 从测微目镜6中读出。高斯型1-反射镜;2-物镜;3-分划板; 4-光源;5-分光镜;6-目镜(二)高斯型系统特点优 点:高斯型系统是

双分划板型自准直仪光路原理

双分划板型自准直仪光路原理双分划板型自准直仪1-物镜;2-指示分划板;3-立方直角棱镜;4-刻度分划板若平面反射镜对光轴有偏转,将引起自准直像偏离十字线,由测微机构测出其偏离量,即可得出反射镜对光轴的偏转角。

度盘检查仪的功能介绍

中文名称度盘检查仪英文名称circle tester定  义测量度盘分划误差的仪器。应用学科机械工程(一级学科),光学仪器(二级学科),光学测试仪器(三级学科)

度盘检查仪的功能介绍

中文名称度盘检查仪英文名称circle tester定  义测量度盘分划误差的仪器。应用学科机械工程(一级学科),光学仪器(二级学科),光学测试仪器(三级学科)

音频光端机的光路问题

  安防监控工程中,光缆大多数都由用户自行敷设,一般为G652单模光纤。由于系统覆盖范围一般都不大,用标配(≤20KM)设备光链路损耗都很富裕,因此,光端机对光路损耗没有过高的要求,但是用户常会遇到无图像、图像跳动、图像质量差等问题,这时多数问题都出在光路两端的尾纤、跳线或适配器上,而极少与主干光

自准直光路的试验仪器

带有毛玻璃的白炽灯光源S物屏P:SZ-14凸透镜L:f=190mm(f=150mm)二维调整架:SZ-07(或透镜架SZ-08)平面反射镜M通用底座:SZ-04二维底座:SZ-02

自准直仪的功能介绍

自准直仪,亦称“自准直光管”、“光学平直度检查仪”,是一种利用光的自准直原理将角度测量转换为线性测量的一种计量仪器。它广泛用于小角度测量、平板的平面度测量、导轨的平直度与平行度测量等方面。主要包括光学自准直仪、光电自准直仪、激光准直仪等。

保证或提高基线平直度指标的措施

①紫外可见分光光度计设计者  要从理论上搞清基线平直度的概念,要把基线平直度与整机的光度噪声真正区分开来,并在设计和使用时都要严格控制影响基线平直度的因素。②制造者  要重视基线平直度对整机的影响!生产中要重视对基线平直度的测试,要研究基线平直度的测试方法,保证科学、准确地测出基线平直度!并要在仪器

检查基线平直度超差怎么办

  当出现基线平直度超差时,首先要检查滤光片的散射情况,当滤光片被灰尘、霉斑、水珠等杂质污染后极易发生此类现象。光源电压不稳、光源切换问题等造成误差和噪声的潜在因素。

阿贝型自准直仪的光路原理和系统特点

(一)光路原理阿贝型自准直仪1-物镜;2-分划板;3-棱镜;4-光源;5-反射镜若平面反射镜对光轴产生微小转角α ,则十字线像将发生偏离,偏离量可从刻度尺上读出。(二)阿贝型系统特点优 点:是光强度大,亮度损失只有10-15%缺 点:是它的视场被胶合棱镜遮挡了一半,又因光管出射光和反射光的方向不同,

自准直仪的功能及分类

自准直仪,亦称“自准直光管”、“光学平直度检查仪”,是一种利用光的自准直原理将角度测量转换为线性测量的一种计量仪器。它广泛用于小角度测量、平板的平面度测量、导轨的平直度与平行度测量等方面。主要包括光学自准直仪、光电自准直仪、激光准直仪等。词条介绍了光学自准直仪、光电自准直仪、激光准直仪,并重点详细介

对基线平直度的认识与运用方面的错误

摘要:目前对紫外可见分光光度计的基线平直度的重要性尚未引起足够重视,在基线平直度的运用方面还有许多错误,其具体本表现如下。 目前对紫外可见分光光度计的基线平直度的重要性尚未引起足够重视,在基线平直度的运用方面还有许多错误,其具体本表现如下。①制造商不给仪器的基线平直度指标。②盲目给基线平直度,如

基线平直度与基线漂移的主要区别

①物理概念不同  基线平直度:全波长范围内,各个波长上的噪声,与滤光片和光源切换有关;基线漂移:与时间有关的光度值的变化量,主要影响因素是仪器的电子学部分和仪器周围的环境。②测试条件不同基线平直度:在A=O、SBW-2nm的条件下,进行全波长慢速扫描;基线漂移:在A=O. SB、Ⅳ=2nm、波长固定

带参考光路的反射探头

FCR-14xx200-2-REF是一种用于获取被测材料的漫反射或镜面反射的光谱信息的特殊反射探头。 它增加了一根参考光纤,这样可以通过光谱仪的第2个通道来校正光源本身的波动。它由12根光纤组成,通过标准的SMA905接头可以把照射光源的光耦合到 光纤束中。这12根光纤分成2×6根,其中6根光纤一直