扫描电子显微镜的结构原理

扫描电子显微镜电子枪发射出的电子束经过聚焦后汇聚成点光源;点光源在加速电压下形成高能电子束;高能电子束经由两个电磁透镜被聚焦成直径微小的光点,在透过最后一级带有扫描线圈的电磁透镜后,电子束以光栅状扫描的方式逐点轰击到样品表面,同时激发出不同深度的电子信号。此时,电子信号会被样品上方不同信号接收器的探头接收,通过放大器同步传送到电脑显示屏,形成实时成像记录(图a)。由入射电子轰击样品表面激发出来的电子信号有:俄歇电子(Au E)、二次电子(SE)、背散射电子(BSE)、X射线(特征X射线、连续X射线)、阴极荧光(CL)、吸收电子(AE)和透射电子(图b)。每种电子信号的用途因作用深度而异。 图 a.扫描电子显微镜原理图;b.扫描电子显微镜电子信号示意图。 ......阅读全文

扫描电子显微镜的原理结构

扫描电子显微镜具有由三极电子枪发出的电子束经栅极静电聚焦后成为直径为50mm的电光源。在2-30KV的加速电压下,经过2-3个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成孔径角较小,束斑为5-10m m的电子束,并在试样表面聚焦。 末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下,电子束在试样表面扫描。高能电子

扫描电子显微镜的原理结构

扫描电子显微镜具有由三极电子枪发出的电子束经栅极静电聚焦后成为直径为50mm的电光源。在2-30KV的加速电压下,经过2-3个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成孔径角较小,束斑为5-10m m的电子束,并在试样表面聚焦。 末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下,电子束在试样表面扫描。高能电子

扫描电子显微镜的结构原理

扫描电子显微镜电子枪发射出的电子束经过聚焦后汇聚成点光源;点光源在加速电压下形成高能电子束;高能电子束经由两个电磁透镜被聚焦成直径微小的光点,在透过最后一级带有扫描线圈的电磁透镜后,电子束以光栅状扫描的方式逐点轰击到样品表面,同时激发出不同深度的电子信号。此时,电子信号会被样品上方不同信号接收器的探

扫描电子显微镜的原理结构

   扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。    扫描电子显微镜具有由三极电子枪发出的电子束经栅极静电聚焦后成为直径为50mm的电光源。在2-30KV的加速电压下,经过2-3个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成

扫描电子显微镜的原理结构

扫描电子显微镜具有由三极电子枪发出的电子束经栅极静电聚焦后成为直径为50mm的电光源。在2-30KV的加速电压下,经过2-3个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成孔径角较小,束斑为5-10m m的电子束,并在试样表面聚焦。 末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下,电子束在试样表面扫描。高能电子

扫描电子显微镜的原理及结构

扫描电子显微镜,全称为扫描电子显微镜,英文为scanning electron microscope(SEM ),是一种用于观察物体表面结构的电子光学仪器。  1、扫描电子显微镜的原理  扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的人射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、

扫描电子显微镜的结构原理图

扫描电子显微镜电子枪发射出的电子束经过聚焦后汇聚成点光源;点光源在加速电压下形成高能电子束;高能电子束经由两个电磁透镜被聚焦成直径微小的光点,在透过最后一级带有扫描线圈的电磁透镜后,电子束以光栅状扫描的方式逐点轰击到样品表面,同时激发出不同深度的电子信号。此时,电子信号会被样品上方不同信号接收器的探

关于台式扫描电子显微镜的原理结构

   台式扫描电子显微镜具有由三极电子枪发出的电子束经栅极静电聚焦后成为直径为50mm的电光源。    在2-30KV的加速电压下,经过2-3个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成孔径角较小,束斑为5-10 nm的电子束,并在试样表面聚焦。    末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下,电

扫描电子显微镜SEM的结构及原理

扫描电镜主要由电子光学系统,显示系统,真空及电源系统组成。一、电子光学系统包括电子枪,聚光镜(*、第二聚光镜和物镜),物镜光阑和扫描系统。其作用是产生直径为几十埃的扫描电子束,即电子探针,使其在样品表面作光栅状扫描电子枪与透射电镜的电子枪基本相同,只是加速电压较低,一般在40kV以下。磁透镜有*、二

扫描电子显微镜SEM的结构及原理

一、电子光学系统包括电子枪,聚光镜(*、第二聚光镜和物镜),物镜光阑和扫描系统。其作用是产生直径为几十埃的扫描电子束,即电子探针,使其在样品表面作光栅状扫描电子枪与透射电镜的电子枪基本相同,只是加速电压较低,一般在40kV以下。磁透镜有*、二聚光镜和物镜,其作用与透射电镜的聚光镜相同:缩小电子束的直

扫描电子显微镜的工作原理及主要结构

一、扫描电子显微镜SEM工作原理扫描电子显微镜SEM是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒,成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的能量为5-35KeV的电子,以其交叉斑作为电子源,经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定

扫描电子显微镜的扫描原理介绍

  在扫描电镜中, 入射电子束在样品上的扫描和显像管中电子束在荧光屏上的扫描是用一个共同的扫描发生器控制的。这样就保证了入射电子束的扫描和显像管中电子束的扫描完全同步, 保证了样品上的“物点”与荧光屏上的“象点”在时间和空间上一一对应, 称其为“同步扫描”。一般扫描图象是由近100万个与物点一一对应

扫描电子显微镜工作原理及主要结构(二)

一.图像显示和记录系统高能电子束与样品相互作用产生各种信息,如图24-3所示,在扫描电镜中采用不同的探测器接收这些信号。图24-3    高能电子束与样品作用产生信号电子示意图二次电子的探测系统如图24-4所示,它包括静电聚焦电极(收集极或栅极)、闪烁体探头、光导管、光电倍增管和前置放大器。二次电子

扫描电子显微镜工作原理及主要结构(一)

扫描电子显微镜(简称扫描电镜)是一种大型精密仪器,它是机械学、光学、电子学、热学、材料学、真空技术等多门学科的综合应用。1.工作原理扫描电镜由电子枪发射出电子束(直径约50um),在加速电压的作用下经过磁透镜系统汇聚,形成直径为5 nm的电子束,聚焦在样品表面上,在第二聚光镜和物镜之间偏转线圈的作用

扫描电子显微镜原理

1.扫描电子显微镜原理--简介  扫描电子显微镜,英文名称为SEM,是scanningelectronmicroscope的简写。扫描电子显微镜主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。  2.

环境扫描电子显微镜的结构

  环境扫描电子显微镜在普通扫描电镜的基础上环扫实现较高的低真空,其核心技术就是采用两级压差光栅和气体二次电子探测器,还有一些其它相关技术也相继得到完善。  环境扫描电子显微镜是使用1个分子泵和2个机械泵,2个压差(压力限制)光栅将主体分成3个抽气区,镜筒处于高真空,样品周围为环境状态,样品室、光路

扫描电子显微镜的主要结构

扫描电子显微镜的主要结构1.电子光学系统:电子枪;聚光镜(*、第二聚光镜和物镜);物镜光阑。2.扫描系统:扫描信号发生器;扫描放大控制器;扫描偏转线圈。3.信号探测放大系统:探测二次电子、背散射电子等电子信号。4.图象显示和记录系统:早期SEM采用显象管、照相机等。数字式SEM采用电脑系统进行图象显

扫描电子显微镜的组成结构

电子枪电子枪用来提供高能电子束,可以说是整台电镜最重要的部件之一。电子枪的质量决定着扫描电镜成像的质量。目前常用的电子枪包括:钨阴极、氧化钇阴极、硼化物(LaB6、CeB6等)阴极等钨阴极:是扫描电镜最常用的发射阴极。采用直径0.2mm左右的钨丝,弯曲成发夹型或“V”字型。当电流流过钨阴极时,钨灯丝

扫描电子显微镜的基本结构

基本结构结构示意图1-镜筒;2-样品室;3-EDS探测器;4-监控器;5-EBSD探测器;6-计算机主机;7-开机/待机/关机按钮;8-底座;9-WDS探测器。

扫描电子显微镜的基本结构

基本结构结构示意图 1-镜筒;2-样品室;3-EDS探测器;4-监控器;5-EBSD探测器;6-计算机主机;7-开机/待机/关机按钮;8-底座;9-WDS探测器。

扫描电子显微镜基本结构

1-镜筒;2-样品室;3-EDS探测器;4-监控器;5-EBSD探测器;6-计算机主机;7-开机/待机/关机按钮;8-底座;9-WDS探测器。

电子显微镜原理-扫描电子显微镜成像原理

1、扫描电子显微镜通过用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面的图像。2、电子与样品中的原子相互作用,产生包含关于样品的表面测绘学形貌和组成的信息的各种信号。电子束通常以光栅扫描图案扫描,并且光束的位置与检测到的信号组合以产生图像。3、扫描电子显微镜可以实现分辨率优于1纳米。样品可以在高真空,低真空

扫描电子显微镜的工作原理

扫描电子显微镜的工作原理:扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇

扫描电子显微镜的工作原理

扫描电子显微镜的工作原理:扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇

扫描电子显微镜的工作原理

扫描电子显微镜的工作原理:扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇

扫描电子显微镜的工作原理

扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗 粒,成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要 的成像信号。由电子枪发射的能量为 5 ~ 35keV 的电子,以其交 叉斑作为电子源,经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度 和束斑直径的微细电子

扫描电子显微镜的工作原理

扫描电子显微镜的工作原理:扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇

扫描电子显微镜的工作原理

扫描电子显微镜的工作原理:扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇

扫描电子显微镜的工作原理

扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope, SEM)的工作原理是利用极细的聚焦电子束在样品表面作光栅扫描,电子束与样品表面相互作用产生各种信号,包括:二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线等,这些信号被探测器接收放大显示在显示屏上,可用于分析样品的微观形貌、晶体特

扫描电子显微镜的工作原理

扫描电子显微镜是一种大型分析仪器,它广泛应用于观察各种固态物质的表面超微结构的形态和组成。 所谓扫描是指在图象上从左到右、从上到下依次对图象象元扫掠的工作过程。它与电视一样是由控制电子束偏转的电子系统来完成的,只是在结构和部件上稍有差异而已。在电子扫描中,把电子束从左到右方向的扫描运动叫做行扫描或称