表面分析的分析方法
表面分析方法有数十种，常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术，以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析，又称离子探针显微分析。它是利用电子光学方法将某些惰性气体或氧的离子加速并聚焦成细小的高能离子束来轰击试样表面，使之激发和溅射出二次离子，用质谱仪对具有不同质荷比(质量/电荷)的离子进行分离，以检测在几个原子深度、数微米范围内的微区的全部元素，并可确定同位素。它的检测灵敏度高于电子探针（见电子探针分析），对超轻元素特别灵敏，可检测10(克的痕量元素,其相对灵敏度达 10(～10(。分析速度快，可方便地获得元素的平面分布图像。还可利用离子溅射效应分析表面下数微米深度内的元素分布。但离子探针定量分析方法尚不成熟。1938年就有人进行过离子与固体相互作用方面的研究，但直到60年代才开始生产实用的离子探针分析仪。离子探针分析仪的......阅读全文
表面分析（一）
表面分析是对固体表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分、结构和能态等分析的材料物理试验。也是一种利用分析手段，揭示材料及其制品的表面形貌、成分、结构或状态的技术。中文名：表面分析外文名：surface analysis分析内容：表面化学组成、表面原子态等方 法：离子探针、AES、XPS等特
表面分析（四）
表面分析方法表面分析方法有数十种，常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析，其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术，以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析，又称离子探针显微分析。它是利用电子光学方法将某些惰性气体或氧的离子加速并聚
表面分析技术
固体表面附近的几个原子层内具有许多与体内不同的性质（如化学组成、原子排列、电子状态等等）。 在表面附近，由于垂直于表面方向的晶体周期性发生中断，相应的电子密度分布也将发生变化，从而形成一空间突变的二维区域。材料的许多重要物理化学过程首先发生在这一区域，材料的许多破坏和失效也起源于表面和界面，例
表面分析（二）
表面分析的主要内容表面科学研究的是表面和与表面有关的宏观和微观过程，从原子水平认识和说明表面原子的化学、几何排列、运动状态、电子态等性质及其与表面宏观性质的联系。表面分析的主要内容有：（1）表面化学组成：表面元素组成，表面元素的分布，表面元素的化学态，表面化学键，化学反应等；可用技术：XPS（X-
表面分析（三）
表面分析系统表面分析系统包括x射线光电子能谱（XPS）仪和紫外光电子能谱（UPS）仪，利用表面分析系统，可从原子层面上分析阴极材料的净化效果，分析激活前后阴极表面原子的构成和排列，进而可较深入地研究阴极的激活机制和NEA特性的形成机制。下面简单介绍激活评估实验系统中的表面分析子系统：x射线光电子能潜
表面分析的分析方法
表面分析方法有数十种，常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术，以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析，又称离子探针显微分析。它是利用电子光学方法将某些惰性气体或氧的离子加速并聚焦成细小的高
表面分析仪
特点：• 快速接触角测量，在2秒内可产生合格/不合格读数• 简便安卓系统支持在任何表面上，从任意方向，轻松进行手持式检测• 准确定量测量是准确的和非主观的• 非破坏性使用HPLC高纯水进行接触角测量，避免材料损坏
表面元素分布分析
俄歇电子能谱表面元素分布分析 , 也称为俄歇电子能谱元素分布图像分析。它可以把某个元素在某一区域内的分布以图像方式表示出来 , 就象电镜照片一样。只不过电镜照片提供的是样品表面形貌 , 而俄歇电子能谱提供的是元素的分布图像。结合俄歇化学位移分析 , 还可以获得特定化学价态元素的化学分布图像。俄歇电子
表面元素定性分析
俄歇电子的能量仅与原子的轨道能级有关 , 与入射电子能量无关 , 也就是说与激发源无关。对于特定的元素及特定的俄歇跃迁过程 ,俄歇电子的能量是特征性的。因此可以根据俄歇电子的动能 , 定性分析样品表面的元素种类。由于每个元素会有多个俄歇峰 , 定性分析的准确度很高。 AES 技术可以对除 H 和 H
材料表面分析技术综述
材料表面分析技术是通过分析探束或探针与材料表面发生作用产生的许多信息而研究表面的。主要分为表面形貌分析、表面组分分析和表面结构分析等几大部分,其中表面形貌分析技术有扫描电镜、透射电镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜等;表面组分分析技术主要有俄歇电子能谱、光电子能谱、二次离子质谱、电子探针显微分析、离子
俄歇表面分析（4）
俄歇表面分析俄歇电子在固体中运行也同样要经历频繁的非弹性散射，能逸出固体表面的仅仅是表面几层原子所产生的俄歇电子，这些电子的能量大体上处于 10～500电子伏，它们的平均自由程很短，大约为5～20埃,因此俄歇电子能谱所考察的只是固体的表面层。俄歇电子能谱通常用电子束作辐射源，电子束可以聚焦、
表面元素价态分析
虽然俄歇电子的动能主要由元素的种类和跃迁轨道所决定 , 但由于原子外层电子的屏蔽效应 , 芯能级轨道和次外层轨道上电子的结合能 , 在不同化学环境中是不一样的 , 而是有一些微小的差异。轨道结合能的微小差异可以导致俄歇电子能量的变化 , 称为俄歇化学位移。一般来说 , 俄歇电子涉及到三个原子轨道能级
古代瓷器表面元素分析之我见
当下物理检测在古玩领域有点热。物理检测顾名思义就是机器检测，它脱离了原始的眼学目测，而是用一串数据来比对瓷杂类古玩的新老真伪。但是对于物理检测，本人也想发表点谬论，弄出点响动，活跃一下年尾的气氛。第一、坦承的说，我们要用一种敬畏的态度看待物理检测的科学进步，能把一件古物的表里成分通过复杂的数据分析展
表面分析技术的特征比较
表面分析方法有数十种，常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术，以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析，又称离子探针显微分析。它是利用电子光学方法将某些惰性气体或氧的离子加速并聚焦成细小的高
表面分析的基本内容
biaomian fenxi 表面分析 surface analysis 对固体表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分、结构和能态等分析的 材料物理试验。表面分析方法有数十种，常用的有离子 探针、 俄歇电子能谱分析和 X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能 电子衍射
固体表面分析仪概述
固体表面分析仪是科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），仪器给出了ZETA电位这样一个重要的信息。固体表面分析仪是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术
热裂解仪表面异物分析方法
异物分析从分析方法上主要涉及以下步骤： 1、表面观察：主要采用光学显微镜观察（OM）观察异物在表面还是嵌入在基体材料内。 2、异物物质种类判断：主要采用傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）、显微红外（M）判断异物主要是有机物还是无机物。 3、有机物分析手段：可能涉及Py-GCMS、萃取GC-M
表面成分分析仪简介
表面成分分析仪是一种用于数学领域的计量仪器，于2016年12月1日启用。 技术指标 分辨率：（二次电子、高真空）15kV时1.2nm、 1kV时2.2nm加速电压：0.02～30KV放大倍数：10～2,000,000x。 主要功能 有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、背散
表面张力仪的故障分析
第一、取值偏低： 1、白金环没有清洗干净(最有可能)； 2、归零没有完全完成； 3、玻璃器皿未冲洗干净，例如含有上次测试残留物质； 4、手上油污沾染了被测样品； 5、被测液体本身为活性剂或混合物，它的特性本来就是随时间变化而变化。故而应确保搅拌均匀及匹配的相同，同时最好在静止相同时间后
新型SEA表面能分析仪
新品详情上市时间：2012年1月创新点:表面能分析仪（SEA）代表了iGC（反气相色谱法）技术的巨大进步。SEA创新的核心是其独特的多面注射系统。这个系统生成了具有最大精度和范围的溶剂脉冲－精确的产生样品空前的高和极低的表面覆盖范围的等温线。这决定了对非均匀分布的表面量的测量精准性。*ZL待定详细信
表面张力仪的说明分析
到底什么是表面张力，下面总结了3大点，为大家做一个说明：1、表面张力的方向和液面相切，并和两部分的分界线垂直，如果液面是平面，表面张力就在这个平面上。如果液面是曲面，表面张力就在这个曲面的切面上。2、表面张力是分子力的一种表现。它发生在液体和气体接触时的边界部分。是由于表面层的液体分子处于特殊情况决
表面元素半定量分析
样品表面出射俄歇电子强度与样品中该原子的浓度有线性关系 , 利用这种关系可以进行元素的半定量分析。俄歇电子强度不仅与原子多少有关 , 还与俄歇电子的逃逸深度、样品的表面光洁度、元素存在的化学状态有关。因此 , AES 技术一般不能给出所分析元素的绝对含量 , 仅能提供元素的相对含量。必须注意的是 ,
比表面分析仪的简介
SPECTester比表面分析仪实验仪使用最先进的光谱技术，可分析多达六种组分组成的样品，并提供简明分析报告显示样品分离的量和分离原因。SPECTester比表面分析仪自动提供成分浓度、粒度区别，产品的差异性数据。SPECTester实验仪通过测定粒度、筛选、液化、静止角度、化学成分和空气夹带来
表面张力的几个说明分析
到底什么是表面张力，下面总结了3大点，为大家做一个说明： 1、表面张力的方向和液面相切，并和两部分的分界线垂直，如果液面是平面，就在这个平面上。如果液面是曲面，就在这个曲面的切面上。 2、表面张力是分子力的一种表现。它发生在液体和气体接触时的边界部分。是由于表面层的液体分子处于特殊情况决定的
表面成分分析和微区成分分析
1.电子探针谱仪分为能谱仪和波谱仪原理：利用聚焦电子束（电子探测针）照射试样表面待测的微小区域，从而激发试样中元素产生不同波长（或能量）的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线，得到X射线谱。根据特征X射线的波长（或能量）进行元素定性分析；根据特征X射线的强度进行元素的定量分析。适合分析材料:金属及
比表面和孔隙度分析仪
由于没有工具对比表面进行直接测量，人们就根据物理吸附的特点，以已知分子截面积的气体 分子作为探针，创造一定条件，使气体分子覆盖于被测样品的整个表面（吸附），通过被吸附的分 子数目乘以分子截面积即认为是样品的比表面积。比表面积的测量包括能够到达表面的全部气体， 无论外部还是内部。物理吸附一般是
全自动表面张力仪特点分析
全自动表面张力仪在自动操作模式下，测量低浓度样品液需3－5秒，全自动表面张力仪由高精度、高稳定性力值测量系统、微机控制系统、白金板法（白金环法）测量装置所组成。仪器设计先进、结构合理、全自动测量、操作方便易维护；样品台自动升降、可全量程去皮重（一键清零）、全量程自动校正；仪器重复性非常好，测试结
表面分析仪的广泛应用
比表面分析仪广泛应用于粉末、颗粒、纤维及片状材料及其他材料的比表面测定，特别适用于磷酸铁锂、钴酸锂、锰酸锂、石墨、氢氧化镍等电极材料。是生产、科研和教学工作中不可或缺的仪器设备。 SPECTester比表面分析仪实验仪使用最先进的光谱技术，可分析多达六种组分组成的样品，并提供简明分析报告显示样
比表面及空隙分析仪简介
比表面及空隙分析仪是一种用于化学、地球科学、工程与技术科学基础学科、矿山工程技术领域的物理性能测试仪器，于2005年12月10日启用。 技术指标 最小可测比表面0.2m2/g，如加装分子泵可测0.005m2/g ，可测孔体积0.0001cm3/g 可测孔径从3.5—1000Angstron(
岩芯比表面分析仪简介
岩芯比表面分析仪主要采用静态容量法来测试岩芯。岩芯样品是用特殊钻机从地下取出供测试用的，大致呈圆柱形的地下物质试块。油、气田勘探和开发过程中，按地质设计的地层层位和深度，向井内下入取心工具,钻取出的岩石样品,是了解地下油层及所含流体特征最直观、最实际的资料。有井壁取心和钻井取心两种方式，通常以后