JK600GCH2190P4微型探针冷热台
JK-600GCH2190P4微型探针冷热台 产品特点：结构紧凑，适用于各种变温测试温度范围-190~600℃（选型) 气密腔室设计，可通保护气体多探针测试上位机软件控制支持改动或定制温控特性1. 温度范围：下限温度(℃)（选型）：A. -100 B. -120 C. -150 D. -190上限温度(℃)（选型）：A. 100 B. 200 C. 400 D. 6002. 控温速度：0~10℃/min3. 温度分辨率：0.1℃4. 温度稳定性：±0.1℃（>-120℃），±0.3℃（<-120℃）< span="">5. 温度控制：高精度PID控制（液氮致冷，电热丝加热）6. 载样台材质：银质7. 温度传感器：PT100光学特性1. 光路：反射光路......阅读全文
JK600GCH2190P4微型探针冷热台
JK-600GCH2190P4微型探针冷热台 产品特点：结构紧凑，适用于各种变温测试温度范围-190~600℃（选型) 气密腔室设计，可通保护气体多探针测试上位机软件控制支持改动或定制温控特性1. 温度范围：下限温度(℃)（选型）：A. -100 B. -120 C. -150 D. -190
JKPB4冷热探针台
JK-PB4冷热探针台 JK-PB4是一种多功能仪器，它可以作为高压工作的变体提供，或使用于垂直方向（在光谱仪中）。 当在显微镜上使用加热和冷冻台时，需要使用长工作距离的物镜。如果使用透射光观察样品，你还需要一个长工作距离聚光透镜。物镜通过与加热/冷却元件保持固定距离的热台盖窗与样品隔离。在HFS
JKLS500原位拉伸冷热台/高低温探针台
JK-LS500原位拉伸冷热台/高低温探针台原位拉伸冷热台是一款研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。原位拉伸冷热台 JK-LS500采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃温度下材料的动态应力应变特性测试，可与显微分析、电学分析相结合。原位拉伸冷热台 FS500需要与温度控制器、
探针台的高精度探针台
目前世界出货量第一的型号吸收了最新的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。特性1：OTS-最近的位置对正系统（光学目标对准） OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其绝对位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密的度量技
JK600CH190P4D型外部调节探针冷热台
JK-600CH190P4D型外部调节探针冷热台 详细参数一览表：外部调节探针冷热台JK-600CH190P4D温控模块冷热方式液氮致冷，电阻加热温控范围-190～600℃ *温度稳定性±0.1℃ *温度分辨率0.1℃升降温速率0~30℃/min（可定点 / 程序段控温）温控方式PID温度传感器
探针台分类
探针台从操作上来区分有：手动，半自动，全自动 从功能上来区分有：温控探针台，真空探针台（超低温探针台），RF探针台，LCD平板探针台，霍尔效应探针台，表面电阻率探针台 经济手动型 根据客户需求定制 chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选） X-Y移动
什么是探针台，探针台的分类有哪些？
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 探针台分类 探针台从操作上来区分有：手动，半自动，全自动 从功能上来区分有：温控探针台，真空探针台（超低温探针台），RF
－JKLR420冷热台
JKLR-420冷热台高低温冷热台的结构和工作原理高低温冷热台主要由制冷系统、加热系统、温度控制系统和测试腔室等组成。制冷系统通常采用液氮或机械制冷，加热系统采用电加热，温度控制系统采用高精度的温度传感器和控制算法进行控制。测试腔室是一个密闭的空间，可以放置需要进行温度控制的样品。高低温冷热台的工
THMSG600冷热台
THMSG600冷热台 测量地质流体包裹体的均一化温度和冰点温度是地质流体包裹体研究中一项重要的内容。电动地质流体包裹体冷热台是专门为此目的而设计的。高导热的银质加热台、高精度测温铂电阻和特殊的光孔设计，确保小于1um的包裹体也可以精确观测。THMSG600地质专用台是基于设计非常成功的
JKTHMS600冷热台
JKTHMS-600冷热台 冷热台作为一种能够精确控制样品温度的实验设备，为半导体材料研究提供了有力支持。通过冷热台，科研人员可以在不同的温度条件下对材料进行性能测试，了解材料的热稳定性、导电性、光学性能等关键参数。此外，冷热台还能模拟材料在极端温度环境下的表现，为材料的应用提供重要的参考数据。
探针台如何工作？
探针台可以固定晶圆或芯片，并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针尖端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针尖端都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆，使用者可以抬起压盘，压盘将探针头与芯片分开，然后将工作台移到下一个芯片
探针台如何工作
探针台可以固定晶圆或芯片，并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针尖端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针尖端都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆，使用者可以抬起压盘，压盘将探针头与芯片分开，然后将工作台移到下一个芯片上，
手动探针台用途
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测
探针台的分类
探针台可以按照使用类型与功能来划分，也可以按照操作方式来划分成：手动探针台、半自动探针台、全自动探针台。 手动探针台系统顾名思义是手动控制的，这意味着晶圆载物台、显微镜以及定位器/操纵器都是由使用者手动移动的。因此一般是在没有很多待测器件需要测量或数据需要收集的情况下使用手动探针台。该类探针台
高精度探针台
目前世界出货量第一的型号吸收了最新的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。 特性1：OTS-最近的位置对正系统（光学目标对准） OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其绝对位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密
磁场低温探针台
磁场低温探针台是一种用于物理学领域的计量仪器，于2017年3月6日启用。 技术指标 1、 ±2.5T垂直磁场 2、 10K基础温度，温度范围：10K-500K 3、 制冷方式：闭循环制冷，不需要消耗液氦 4、 控温稳定性：优于±200mK 5、 探针臂X方向可移动距离不小于51mm
探针台如何工作
探针台可以固定晶圆或芯片，并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针尖端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针尖端都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆，使用者可以抬起压盘，压盘将探针头与芯片分开，然后将工作台移到下一个芯片上，
低温探针台用途
高低温真空探针台可以对器件进行非破坏性的测试。可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、highZ测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。优测国芯的高低温真空探台该设备已经成为测量纳米电子材料（碳纳米管、晶体管、单个电子晶体管、分子电子材料、纳米线），量子线、点、量子隧
低温探针台用途
高低温真空探针台可以对器件进行非破坏性的测试。可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、highZ测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。优测国芯的高低温真空探台该设备已经成为测量纳米电子材料（碳纳米管、晶体管、单个电子晶体管、分子电子材料、纳米线），量子线、点、量子隧
高精度探针台
目前世界出货量第一的型号吸收了最新的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。 特性1：OTS-最近的位置对正系统（光学目标对准） OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其绝对位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密
探针台的功能
1.集成电路失效分析 2.晶圆可靠性认证 3.元器件特性量测 4.塑性过程测试(材料特性分析) 5.制程监控 6.IC封装阶段打线品质测试 7.液晶面板的特性测试 8.印刷线路板的电性测试 9.低噪音/低电流测试 10.微波量测(高频) 11.太阳能电池领域检测分析 12.
JK600CH190P2BPE型电控位移探针冷热台（纳米级）
JK-600CH190P2BPE型电控位移探针冷热台（纳米级） 产品特点：-190~400℃纳米级控制精度探针电动控制结构紧凑 适用真空环境详细参数一览表：电控探针冷热台JK-600CH190P2BPE温控模块冷热方式液氮致冷，电阻加热温控范围-190～600℃ *温度稳定性±0.1℃ *温度分辨率
JKMDS600型冷热台
JKMDS-600型冷热台冷热台作为一种能够精确控制样品温度的实验设备，为半导体材料研究提供了有力支持。通过冷热台，科研人员可以在不同的温度条件下对材料进行性能测试，了解材料的热稳定性、导电性、光学性能等关键参数。此外，冷热台还能模拟材料在极端温度环境下的表现，为材料的应用提供重要的参考数据。 J
JKMDSG600型冷热台
JKMDSG-600型冷热台 冷热台的主要用途： （1）脉石矿物（如：石英、萤石、方解石）和矿石矿物（如：闪锌矿、黑钨矿、黄铁矿）中流体包裹体均一温度、低温相变温度的精确测定，进而利用包裹体低温相变温度确定包裹体成分； （2）岩浆系统矿物中熔融包裹体均一化过程及均一化温度的精确测定。冷热台是专业
自动探针台saber认证
自动探针台SABER认证 自动探针台X12半自动探针台是一款专业应对各类先进芯片性能测试的综合型高效半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、多功能的设备 自动探针台要出口沙特阿拉伯国家需要办理SABER认证，saber认证是2020年的新规。很多出口商不知道这个saber认证怎么做，下面详细描述
自动探针台的维护
探针测试台x-y工作台的分类 纵观国内外的自动探针测试台在功能及组成上大同小异，即主要由x-y向工作台，可编程承片台、探卡/探卡支架、打点器、探边器、操作手柄等组成，并配有与测试仪（TESTER）相连的通讯接口。但如果按其x-y工作台结构的不同可为两大类，即：以美国EG公司为代表的平面电机型x
简介手动探针台用途
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配
自动探针台的维护
探针测试台x-y工作台的分类 纵观国内外的自动探针测试台在功能及组成上大同小异，即主要由x-y向工作台，可编程承片台、探卡/探卡支架、打点器、探边器、操作手柄等组成，并配有与测试仪（TESTER）相连的通讯接口。但如果按其x-y工作台结构的不同可为两大类，即：以美国EG公司为代表的平面电机型x
探针台的使用方式
1.将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。 2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。 3.显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。 4.待测
手动探针台规格描述
手动探针台规格描述 （以实验室常见的仪准ADVANCED八寸，六寸探针台为例）： 探针台载物台平整度：5μm探针台右侧标配显微镜升降机构，可抬高显微镜，便于更换镜头和换待测物探针台左侧标配升降器,可快速升降台面8mm，并具备锁定功能探针台右下方标配精调旋转轮，可微调控制台面升降范围25mm（客