JK600CH190P4D型外部调节探针冷热台
JK-600CH190P4D型外部调节探针冷热台 详细参数一览表：外部调节探针冷热台JK-600CH190P4D温控模块冷热方式液氮致冷，电阻加热温控范围-190～600℃ *温度稳定性±0.1℃ *温度分辨率0.1℃升降温速率0~30℃/min（可定点 / 程序段控温）温控方式PID温度传感器P100光学特性光路反射光路 *可升级为透射光路视窗材质石英玻璃 *视窗尺寸Φ25mm *物镜工作距离16.5mm *透光孔默认无透光孔 *可升级透光孔视窗除霜负温下吹气除霜电学特性探针可调节探针x4，手动定位 *探针接口BNC接口x4 *样品台面电位默认电悬空 *可选电接地结构特性样品台尺寸23×23mm *样品台材质银质 *......阅读全文
JK600CH190P4D型外部调节探针冷热台
JK-600CH190P4D型外部调节探针冷热台 详细参数一览表：外部调节探针冷热台JK-600CH190P4D温控模块冷热方式液氮致冷，电阻加热温控范围-190～600℃ *温度稳定性±0.1℃ *温度分辨率0.1℃升降温速率0~30℃/min（可定点 / 程序段控温）温控方式PID温度传感器
JKPB4冷热探针台
JK-PB4冷热探针台 JK-PB4是一种多功能仪器，它可以作为高压工作的变体提供，或使用于垂直方向（在光谱仪中）。 当在显微镜上使用加热和冷冻台时，需要使用长工作距离的物镜。如果使用透射光观察样品，你还需要一个长工作距离聚光透镜。物镜通过与加热/冷却元件保持固定距离的热台盖窗与样品隔离。在HFS
JKMDS600型冷热台
JKMDS-600型冷热台冷热台作为一种能够精确控制样品温度的实验设备，为半导体材料研究提供了有力支持。通过冷热台，科研人员可以在不同的温度条件下对材料进行性能测试，了解材料的热稳定性、导电性、光学性能等关键参数。此外，冷热台还能模拟材料在极端温度环境下的表现，为材料的应用提供重要的参考数据。 J
JKMDSG600型冷热台
JKMDSG-600型冷热台 冷热台的主要用途： （1）脉石矿物（如：石英、萤石、方解石）和矿石矿物（如：闪锌矿、黑钨矿、黄铁矿）中流体包裹体均一温度、低温相变温度的精确测定，进而利用包裹体低温相变温度确定包裹体成分； （2）岩浆系统矿物中熔融包裹体均一化过程及均一化温度的精确测定。冷热台是专业
JKLS500原位拉伸冷热台/高低温探针台
JK-LS500原位拉伸冷热台/高低温探针台原位拉伸冷热台是一款研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。原位拉伸冷热台 JK-LS500采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃温度下材料的动态应力应变特性测试，可与显微分析、电学分析相结合。原位拉伸冷热台 FS500需要与温度控制器、
JKGX190型光学测试冷热台
JKGX-190型光学测试冷热台JKGX-190型光学测试冷热台采用液氮制冷和电热丝加热方式，可以在-190℃~600℃范围内进行温度和环境控制，搭配其他仪表进行电学、光学等测试。结构紧凑，适用于各种变温测试温度范围-190~600℃（选型）气密腔室设计，可通保护气体上位机软件控制支持改动或定制温控
JKSEM1900型原位冷热台
JK-SEM1900型原位冷热台 JK-SEM1900型原位冷热台是一种在扫描电子显微镜（SEM）标准样品台上（无需改造电镜内部），提供样品原位变温测试的电镜附件。通过外接法兰装置实现对冷热台上的样品进行控温，稳定后温控精度可达±0.1℃ 可实现样品变温测试的温度范围：-185~50℃
JK600CH190P2BPE型电控位移探针冷热台（纳米级）
JK-600CH190P2BPE型电控位移探针冷热台（纳米级） 产品特点：-190~400℃纳米级控制精度探针电动控制结构紧凑 适用真空环境详细参数一览表：电控探针冷热台JK-600CH190P2BPE温控模块冷热方式液氮致冷，电阻加热温控范围-190～600℃ *温度稳定性±0.1℃ *温度分辨率
JK600GCH2190P4微型探针冷热台
JK-600GCH2190P4微型探针冷热台 产品特点：结构紧凑，适用于各种变温测试温度范围-190~600℃（选型) 气密腔室设计，可通保护气体多探针测试上位机软件控制支持改动或定制温控特性1. 温度范围：下限温度(℃)（选型）：A. -100 B. -120 C. -150 D. -190
JKSEM1900A型原位拉伸冷热台
JK-SEM1900A型原位拉伸冷热台JK-SEM1900A原位拉伸冷热台是在SEM(扫描电子显微镜)下的一款研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度下材料的动态应力应变特性测试，可与显微分析、电学分析
探针台的高精度探针台
目前世界出货量第一的型号吸收了最新的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。特性1：OTS-最近的位置对正系统（光学目标对准） OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其绝对位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密的度量技
JKLSJ1900T型拉伸机冷热台
JK-LSJ1900T型拉伸机冷热台JK-LSJ1900T拉伸机冷热台是一种安装在试验机上研究样品在变温条件下进行应力应变测试的产品。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度下材料的动态应力应变特性测试，可选配DIC、视频引伸计实现应变数据的高精
探针台分类
探针台从操作上来区分有：手动，半自动，全自动 从功能上来区分有：温控探针台，真空探针台（超低温探针台），RF探针台，LCD平板探针台，霍尔效应探针台，表面电阻率探针台 经济手动型 根据客户需求定制 chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可选） X-Y移动
什么是探针台，探针台的分类有哪些？
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 探针台分类 探针台从操作上来区分有：手动，半自动，全自动 从功能上来区分有：温控探针台，真空探针台（超低温探针台），RF
关于骨桥蛋白的外部调节方式介绍
OPN表达受激素生长因子，OPN在各种组织中均有表达,如骨,肾,肺,肝,膀胱,乳腺,睾丸,脑,胰腺等 [15] 。不同的细胞类型可能有不同的调节机制，种因素能调控OPN的表达: (1)感染和损伤能使T细胞和MФ的OPN上调表达。 (2)骨激素:VitD3通过OPN启动子的VDRE应答元件刺激
－JKLR420冷热台
JKLR-420冷热台高低温冷热台的结构和工作原理高低温冷热台主要由制冷系统、加热系统、温度控制系统和测试腔室等组成。制冷系统通常采用液氮或机械制冷，加热系统采用电加热，温度控制系统采用高精度的温度传感器和控制算法进行控制。测试腔室是一个密闭的空间，可以放置需要进行温度控制的样品。高低温冷热台的工
THMSG600冷热台
THMSG600冷热台 测量地质流体包裹体的均一化温度和冰点温度是地质流体包裹体研究中一项重要的内容。电动地质流体包裹体冷热台是专门为此目的而设计的。高导热的银质加热台、高精度测温铂电阻和特殊的光孔设计，确保小于1um的包裹体也可以精确观测。THMSG600地质专用台是基于设计非常成功的
JKTHMS600冷热台
JKTHMS-600冷热台 冷热台作为一种能够精确控制样品温度的实验设备，为半导体材料研究提供了有力支持。通过冷热台，科研人员可以在不同的温度条件下对材料进行性能测试，了解材料的热稳定性、导电性、光学性能等关键参数。此外，冷热台还能模拟材料在极端温度环境下的表现，为材料的应用提供重要的参考数据。
探针台如何工作？
探针台可以固定晶圆或芯片，并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针尖端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针尖端都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆，使用者可以抬起压盘，压盘将探针头与芯片分开，然后将工作台移到下一个芯片
探针台的功能
1.集成电路失效分析 2.晶圆可靠性认证 3.元器件特性量测 4.塑性过程测试(材料特性分析) 5.制程监控 6.IC封装阶段打线品质测试 7.液晶面板的特性测试 8.印刷线路板的电性测试 9.低噪音/低电流测试 10.微波量测(高频) 11.太阳能电池领域检测分析 12.
探针台如何工作
探针台可以固定晶圆或芯片，并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针尖端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针尖端都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆，使用者可以抬起压盘，压盘将探针头与芯片分开，然后将工作台移到下一个芯片上，
探针台的分类
探针台可以按照使用类型与功能来划分，也可以按照操作方式来划分成：手动探针台、半自动探针台、全自动探针台。 手动探针台系统顾名思义是手动控制的，这意味着晶圆载物台、显微镜以及定位器/操纵器都是由使用者手动移动的。因此一般是在没有很多待测器件需要测量或数据需要收集的情况下使用手动探针台。该类探针台
手动探针台用途
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测
低温探针台用途
高低温真空探针台可以对器件进行非破坏性的测试。可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、highZ测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。优测国芯的高低温真空探台该设备已经成为测量纳米电子材料（碳纳米管、晶体管、单个电子晶体管、分子电子材料、纳米线），量子线、点、量子隧
磁场低温探针台
磁场低温探针台是一种用于物理学领域的计量仪器，于2017年3月6日启用。 技术指标 1、 ±2.5T垂直磁场 2、 10K基础温度，温度范围：10K-500K 3、 制冷方式：闭循环制冷，不需要消耗液氦 4、 控温稳定性：优于±200mK 5、 探针臂X方向可移动距离不小于51mm
高精度探针台
目前世界出货量第一的型号吸收了最新的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。 特性1：OTS-最近的位置对正系统（光学目标对准） OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其绝对位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密
探针台如何工作
探针台可以固定晶圆或芯片，并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针尖端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针尖端都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆，使用者可以抬起压盘，压盘将探针头与芯片分开，然后将工作台移到下一个芯片上，
高精度探针台
目前世界出货量第一的型号吸收了最新的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。 特性1：OTS-最近的位置对正系统（光学目标对准） OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其绝对位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密
低温探针台用途
高低温真空探针台可以对器件进行非破坏性的测试。可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、highZ测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。优测国芯的高低温真空探台该设备已经成为测量纳米电子材料（碳纳米管、晶体管、单个电子晶体管、分子电子材料、纳米线），量子线、点、量子隧
简介手动探针台用途
探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配