我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
近日，由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。 该标准规定了通过扫描电子显微镜（SEM）检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法，适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。 这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施，对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。......阅读全文
NanoCalc光学薄膜厚度测量系统
NanoCalc 光学薄膜厚度测量系统NanoCalc是一种用户可配置的膜厚测量系统，它利用分光光谱反射仪来精确地测量光学或非光学薄膜厚度，可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中。利用白光干涉测量法的原理，NanoCalc用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随膜厚的不同而变化，
NanoCalc光学薄膜厚度测量系统产品主要优势和特点
产品主要优势和特点UV/VIS/NIR高分辨率的配置测量准确度在1nm，精度在0.1nm可测量最大10层薄膜膜厚测量最小可至1nm，最大可至1mm可测量最小1nm厚的透明金属层提供试验台及附件用于复杂外形材料的测量对表面缺陷和光滑度不敏感庞大的材质数据库，保证各种材料的精确测量快 速：每次
光电所在光学薄膜厚度均匀性控制技术方面取得进展
中国科学院光电技术研究所深紫外镀膜课题组在光刻机镜头镀膜技术上取得一系列进展，提出并实现了数种提高光学薄膜厚度均匀性的办法，克服了大口径大曲面镜头上薄膜厚度均匀性控制的难题。 光刻机镜头中包含大量的曲面光学镜头，随着光刻机数值孔径增大，部分光学镜面的口径增大且形状逐步接近于半球，镜面上镀膜后的
涂层厚度测试仪
EXTECH CG104简介：基睿仪器JUOVI代理的美国Extech CG104型膜厚测试仪。CG104型膜厚测试仪是一款便携式非侵入性涂 （镀）层厚度测量仪表，该仪表可自动识别待测材料。该仪表采用两种测量方法：磁感应（铁磁性金属基材）与涡流（非铁磁性金属基材）。 该仪表在交付前均经过全面测试及校
什么是厚度测试仪
超声波测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。
厚度测试仪的配置
标准配置：主机、标准量块一件 选 购 件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码
厚度测试仪的特征
1. 微电脑控制、液晶显示 2. 菜单式界面、PVC操作面板 3. 接触式测量 4. 测头自动升降 5. 自动进样 6. 手动、自动双重测量模式 7. 数据实时显示、自动统计 8. 显示最大值、最小值、平均值和统计偏差 9. 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数 10.标准接
涂膜的厚度测试方法
涂膜的厚度是如何测定的？下面我们详细了解下涂膜厚度的测定方法：涂膜的厚度, 可以接国家标准 «漆膜厚度测定法» (GB/T 1761-89)中的方法测定。采用杠杆千分尺或磁性测厚仪测定,以µn表示 。(1)仪器设备①杠杆千分尺 度为2µm。②磁性测厚仪 度为2µm。(2)测定方法①甲法 杠杆千
防腐层测厚仪如何测试厚度
防腐层测厚仪如何测试厚度磁性测厚法 （防腐层测厚仪）适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。涡流测厚法 （防腐层测厚仪）适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。超声波测厚法 目前国内还没有用此种方法测量涂镀
光学薄膜概论
光学薄膜概论光学工业除了镜片的研磨，系统之设计以外，有一项科技是发展高级光学仪器所不可缺的，就是光学薄膜的蒸镀技术。何谓光学薄膜，就是在镜片上镶上一层或多层非常薄的特殊材料，使镜片能达到某种特定的光学效果。我们所常见的太阳眼镜，抗反射镜片就是一个光学薄膜在日常生活上zui简单的应用 。其他如各种反射
纸张厚度测定仪测试要素
纸张厚度测定仪测试步骤 调好测厚仪零点，将试样放入张开的测量面间。测试时慢慢地以低于3㎜/s的速度将另一测量面轻轻地移到试样上，注意应避免产生任何冲击作用。等指示值稳定后读取示值，通常在2—5s内完成读数，应避免人为地对厚度仪施加任何压力。纸张厚度测定仪测定原理 （1） 单层厚度的测定 将五张
厚度测试仪的符合标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、 TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、 JIS K6328、JIS K
纸张厚度测定仪测试相关
试样制备 按GB/T450的规定取样，平均样品的张数不少于5张。再从整张纸页上切取一个样品，样品长为卷筒的全幅，宽不小于450mm。并按GB/T10739进行温湿处理。 测试操作 厚度仪装有两个相互平行的圆形测量面，将纸放入两测量面间进行测量。测量过程中测量面间的压力为（100±10）kP
厚度测试仪的相关介绍
超声波测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。 超声波测试仪 可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。 按超声波脉
纺织品的厚度测试方法
1.序言本标准规定了纺织玻璃纤维机织物厚度的测定方法。本标准等效采用国际标准ISO 4603-1978《纺织玻璃纤维---机织物---厚度的测定》。2.定义纺织玻璃纤维机织物的厚度：在规定的测试条件下，测得的织物表面之间以毫米表示的垂直距离。3.原理试样置放在厚度仪测座上，测柱匀速度下降对试样施加规
光学薄膜的定义
由薄的分层介质构成的，通过界面传播光束的一类光学介质材料。
光学薄膜的应用
光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代，光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器。
光学薄膜的分类
光学薄膜的分类 光学薄膜是由膜的分层介质构成，通过界面传播光束的一类光学介质材料，它的应用始于20世纪30年代，现在已广泛应用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器。 传统光学薄膜 传统的光学薄膜是以光的干涉为基础。光波是一种电磁波，根据其波长的不同可分成红外线、可见光和
厚度测试仪的技术指标
测量范围：0～2mm； 0～6mm；12mm（可选） 分 辨 率：0.1μm 测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） 接触面积：50mm（薄膜）；200mm（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 进样步距：0～1000mm 进样速度：0.1～99.9mm/
请问厚度测试仪有哪些特征？
1. 微电脑控制、液晶显示 2. 菜单式界面、PVC操作面板 3. 接触式测量 4. 测头自动升降 5. 自动进样 6. 手动、自动双重测量模式 7. 数据实时显示、自动统计 8. 显示最大值、最小值、平均值和统计偏差 9. 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数 10.标准接
纸样厚度测试仪的产品特点
通用表座采用空气阴尼装置，测量稳定可靠集光、机、电、算于一体，体积小，使用方便备有精密可调的多功能测量工作台选购备有RS232通讯接口可与计算机进行通讯，采用计量光栅作长度长基准，测量精度高，响应速度快。 技术参数 1. 测量范围：0.001～12.5 mm 2. 最小示值：0.001mm
楼板厚度测试仪ZT601
楼板厚度测试仪ZT601产品介绍楼板厚度测试仪ZT601主要用于混凝土非金属材料（墙、梁、柱、木材、陶瓷等）的厚度测试仪器.本仪器主要利用电磁场的分布特性对非金属板厚度进行间接测量，具有厚度测量、数据分析、数据存储与输出等功能，是一种便携式、使用方便、测量的智能化厚度测量仪。 楼板厚度测试仪ZT60
涡流检测试件形变、厚度的原理
同样电导率的试件，由于几何形状的变化，如厚薄不一，出现凹坑，或者检测线圈位于试件的边缘处等，原来涡流场将受到影响而发生畸变，这样便产生涡流信号矢量点的变化。根据几何形状不同会引起涡流信号变化的原理，可将涡流仪应用于测厚等，在蒸发器传热管道涡流检查中发明了“蒸发器胀管区轮廓曲线软件”（Profilom
涂层测厚仪－涂镀层厚度测试仪
涂层测厚仪 涂镀层厚度测试仪型号：LT/MiniTest600B-FN德国EPK公司（Elektrophysik)一直致力于开发和生产各种用于表面处理行业的精密测量的涂层测厚仪。作为无损涂层厚度测量领域的先驱，EPK公司与各标准化组织和研究院一道，成功地推进了涂层厚度检测在世界范围内的标准化进程。
大口径瓶壁厚度如何测试？
大口径瓶壁厚度如何测试？很多用户面对这样的疑问，普通的塑料包装瓶。高度不是太高的瓶子，食品包装方面类似我们平常用的矿泉水瓶，饮料瓶之类的壁厚，再或者医用包装，药包材用的安瓿瓶壁厚，输液瓶壁厚都可以使用机械式的壁厚测量仪 CHY-B型，并且度高。性价比高。但是有些形状比较特别的，或者说口径比较大，瓶身
厚度测试仪的技术指标
测量范围：0～2mm； 0～6mm；12mm（可选） 分 辨 率：0.1μm 测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） 接触面积：50mm（薄膜）；200mm（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 进样步距：0～1000mm 进样速度：0.1～99.9mm/
光学薄膜技术介绍
薄膜应力研究的重要性 光学多层膜系统已经广泛的应用于微电子系统，光学系统等，而由于薄膜应力的存在，对系统的功能与可*性产生很大的影响，它不仅会直接导致薄膜的龟裂、脱落，使薄膜损坏，而且会作用基体，使基体发生形变，从而使通过薄膜组件的光波前发生畸变，影响传输特性。更重要的是，薄膜在激光辐照下，由于
光学薄膜的应用特点
光学薄膜的特点是：表面光滑，膜层之间的界面呈几何分割；膜层的折射率在界面上可以发生跃变，但在膜层内是连续的；可以是透明介质，也可以是吸收介质；可以是法向均匀的，也可以是法向不均匀的。实际应用的薄膜要比理想薄膜复杂得多。这是因为：制备时，薄膜的光学性质和物理性质偏离大块材料，其表面和界面是粗糙的，从而
光学薄膜缺陷的特点
光学薄膜缺陷的特点 薄膜缺陷的研究大约从1970开始，刚开始薄膜缺陷被表征为薄膜表面特征，认为是一种典型的粗糙度，在一些文献中薄膜缺陷被描述为节瘤。 Guenther首先对光学薄膜缺陷进行研究，他指出节瘤是在镀膜过程中对外部干扰颗粒形状相似复制而形成的；现在薄膜缺陷越来越引起人们的重视，很多文献建
软塑包装材料厚度的测试方法
摘要：厚度是软塑包装材料的重要性能指标，是影响材料其他性能的重要因素。本文利用C640测厚仪对塑料复合膜样品的厚度进行测试，并介绍了试验原理、设备参数及适用范围、试验过程等内容，为企业监控包装材料的厚度提供参考。关键词：软塑包装材料、厚度、测厚仪、塑料复合膜、接触式测厚 1、意义厚度是软塑包装材料质