光电所在光学薄膜厚度均匀性控制技术方面取得进展
中国科学院光电技术研究所深紫外镀膜课题组在光刻机镜头镀膜技术上取得一系列进展，提出并实现了数种提高光学薄膜厚度均匀性的办法，克服了大口径大曲面镜头上薄膜厚度均匀性控制的难题。 光刻机镜头中包含大量的曲面光学镜头，随着光刻机数值孔径增大，部分光学镜面的口径增大且形状逐步接近于半球，镜面上镀膜后的薄膜厚度均匀性显著变差，影响了光刻机的最终性能。提高曲面镜片上的薄膜厚度均匀性是保证光刻机性能的关键，传统上，通过实验反复修正挡板的形状可提高曲面镜片上薄膜厚度均匀性，该方法明显降低了镀膜效率。 研究人员通过发展计算机辅助方法，提出了利用理论模拟镀膜过程并设计挡板的方法，快速提高镜片上镀膜厚度的均匀性，研究人员首次找出了厚度均匀性修正挡板的形状和无挡板时薄膜厚度的分布存在的关联规律，通过该联系可以基本确定挡板形状，并将挡板尺寸和单个参数相关联，最后通过简单的局域优化算法可以设计出最终的薄膜厚度均匀性修正挡板形状。利用该方法，研究人员......阅读全文
薄膜测厚仪－塑料薄片厚度测量仪－薄膜厚度仪
薄膜测厚仪 塑料薄片厚度测量仪 薄膜厚度仪型号：LT/CHY-C2薄膜测厚仪/薄膜厚度仪特 征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计、打印显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差标准接触面积、测量压力（非标可选）标准量块
高精薄膜厚度测厚仪薄膜企业必备仪器
薄膜测厚仪中的高精薄膜厚度测厚仪的适用范围很广，可以测量的塑料、金属、涂层材料等多种材料的厚度，是我们设计制作物品的测量工具，帮助我们判断物体的质量是否合格，而且还能帮助我们节约物体设计制作成本，可以说购买了高精度薄膜厚度测厚仪就是提高了物体设计制作的质量。 高精薄膜厚度测厚仪 济南辰驰
薄膜厚度检测仪器如何选择？
薄膜厚度检测仪器，顾名思义是是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。厚度的大小影响着产品整体的拉伸强度、抗冲击性、阻隔性等综合的物理特性，因此是生产厂家不可忽视的重点监测指标。企业如何选
薄膜应力大小与厚度有关吗
薄膜引力大小，一个电视和后头有相关的越厚的薄膜应力应该越大，这是一个基本的常识。
涂层测厚仪可进行薄膜厚度测量
涂层测厚仪是便携式涂（镀）层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂层（如油漆、防腐层）、镀层厚度的测量，也可进行薄膜厚度测量。 可应用于 电镀层 ，油漆层，搪瓷层，铝瓦，铜瓦，巴氏合金瓦，磷化层，纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构的附着物的厚度测量。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化
薄膜应力大小与厚度有关吗
薄膜引力大小，一个电视和后头有相关的越厚的薄膜应力应该越大，这是一个基本的常识。
NanoCalc光学薄膜厚度测量系统
NanoCalc 光学薄膜厚度测量系统NanoCalc是一种用户可配置的膜厚测量系统，它利用分光光谱反射仪来精确地测量光学或非光学薄膜厚度，可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中。利用白光干涉测量法的原理，NanoCalc用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据，由于反射率n和k随膜厚的不同而变化，
GB/T6672－薄膜测厚仪－薄膜厚度测量仪
Labthink兰光CHY-C2 薄膜测厚仪 薄膜厚度测量仪满足多项国家和国际标准：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、
采购薄膜厚度检测仪器如何选择？
薄膜厚度检测仪器，顾名思义是是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。厚度的大小影响着产品整体的拉伸强度、抗冲击性、阻隔性等综合的物理特性，因此是生产厂家不可忽视的重点监测指标。企业如何选
表面电阻与薄膜厚度的关系
一般来说，本身这个薄膜什么电阻都是固定的，和厚度无关。 但是当薄膜表面有水分子时，表面电阻会下降，通常为了降低薄膜的表面电阻，都是采用加入抗静电剂，薄膜厚度大，析出慢，因而电阻值会大点，但是也是在11次方这个样子，好的话，能达到8次方。 如果是加导电，3-7次方。 外涂的7-10次方
塑料薄膜厚度测量简要操作步骤
试验样品：普通PE塑料膜试验仪器：济南兰光自主研发的测厚仪型号C640，厚度测试采用接触式测试方法试验开始：1.首先仪器需通电预热30分钟，清洁测量头和下砧铁。2.取宽100mm、无褶皱和其他缺陷的试样放在测试台上。3.设置试测量参数，开始试验。4.仪器自动计算试样结果。
薄膜厚度对氧气透过量的影响研究
摘要：薄膜的厚度是影响氧气透过量的重要因素。本文分别测试了厚度为10 μm、12 μm、15 μm、25 μm的同种材质的薄膜材料的氧气透过量，对比了该材质薄膜的氧气透过量随相应厚度变化情况，并介绍了试验原理、相关压差气体渗透仪的参数及适用范围、试验过程等内容，为材料氧气透过量的研究及测试提
薄膜厚度测量仪原理和薄膜测厚测量仪应用介绍
国际标准分类中，薄膜厚度的测量涉及到分析化学、长度和角度测量、罐、听、管、无损检测、涂料和清漆、非金属矿。 在中国标准分类中，薄膜厚度的测量涉及到工业技术玻璃、材料防护、包装材料与容器、金属理化性能试验方法综合、金属无损检验方法、长度计量、涂料、建材原料矿。薄膜厚度测量仪 济南三泉中石实验仪器有限
薄膜厚度测量仪和纸张测厚仪型号
一、测厚仪概述测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。 二、测试应用基础应用薄膜、薄片、隔膜纸张、纸板箔片、硅片金属片纺织材料固体电绝缘体无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等扩展应
测量镀层或薄膜厚度的几种常见方法
无论是天纵鉴定（SKYLABS）在质量争议案件的调查中或是天纵检测同事在日常的检测工作中，对镀层或薄膜厚度的测量都是一种比较常见的需求。一般说来，镀层厚度的测试方法按照测试方法的基本原理类型可以分为化学法、电化学法和物理法三大类。 其中： 化学法包括化学溶解分析法、化学溶解称重法和化学溶解液
薄膜厚度仪的测量原理和操作规程
薄膜厚度仪的测量原理只要是使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软
OLED中ITO薄膜的透过率、厚度应用方案
应用背景有机发光二极管（organic light-emitting diode，简称OLED）又称为有机发光半导体，具有自发光、广视角、几乎无穷高的对比度、较低能耗、极高反应速度等显著的优点。OLED通常由多层功能材料成膜镀在基底上所构成，这些功能膜层包括阴阳电极，以及两极间的导电和光发射有机
用X射线能谱同时测定薄膜成分及厚度
本文提出一个直接利用薄膜和衬底的X射线能谱来同时测定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜发出的各元素的标识X射线强度比确定其成分,利用NaCl衬底的Nak_α和Clk_α标识X射线的强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚,本方法不需要纯元素的块状标样,对在NaCl衬底上沉积的Cu-Si合金薄膜的成分和
美开发厚度为单原子直径的半导体薄膜
美国北卡州立大学研究人员22日表示，他们开发出制造高质量原子量级半导体薄膜(薄膜厚度仅为单原子直径)的新技术。材料科学和工程助理教授曹林友(音译)说，新技术能将现有半导体技术的规模缩小到原子量级，包括激光器、发光二极管和计算机芯片等。 研究人员研究的材料是硫化钼，它是一种价格低廉的半导体材
光电所在光学薄膜厚度均匀性控制技术方面取得进展
中国科学院光电技术研究所深紫外镀膜课题组在光刻机镜头镀膜技术上取得一系列进展，提出并实现了数种提高光学薄膜厚度均匀性的办法，克服了大口径大曲面镜头上薄膜厚度均匀性控制的难题。 光刻机镜头中包含大量的曲面光学镜头，随着光刻机数值孔径增大，部分光学镜面的口径增大且形状逐步接近于半球，镜面上镀膜后的
我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
近日，由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。 该标准规定了通过扫描电子显微镜（SEM）检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法，适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。 这是我国首个覆盖光学
NanoCalc光学薄膜厚度测量系统产品主要优势和特点
产品主要优势和特点UV/VIS/NIR高分辨率的配置测量准确度在1nm，精度在0.1nm可测量最大10层薄膜膜厚测量最小可至1nm，最大可至1mm可测量最小1nm厚的透明金属层提供试验台及附件用于复杂外形材料的测量对表面缺陷和光滑度不敏感庞大的材质数据库，保证各种材料的精确测量快 速：每次
塑料薄膜与薄片厚度检测仪器及测定方法
塑料薄膜厚度均匀与否会给薄膜印刷工序造成重要影响。以凹版印刷塑料膜材料为例，张力的控制与薄膜的材质、厚度、以及厚度的均匀性都有关系，控制不好能直接引起材料的套印不准。此外，薄膜厚度均匀性差还可能导致薄膜印刷后出现收卷错位的现象。 同时，使用这种厚度不均匀的薄膜作外包装，在使用时包装物易出现
用X射线能谱仪测定衬底材料上的薄膜厚度
本文利用薄膜对入射电子束流的衰减作用和薄膜对衬底的x射线的吸收,提出了一种直接利用衬底的x射线的强度比来测量薄膜厚度的方法。并在各种实验条件下,对Cu薄膜的厚度进行了测量,得到了较为满意的结果。
光纤光谱仪在发射光谱、LED、薄膜厚度测量应用
光纤光谱仪是光学仪器的主要构成部分。由于其检测精度高、速度快等优点，已成为光谱测量学中使用的重要测量仪器被广泛应用于农业、生物、化学、地质、食品安全、色度计算、环境检测、医药卫生、LED检测、半导体工业、石油化工等领域。 1、发射光谱测量 发射光谱测量可以用不同的实验布局和波长范围来实现
镀铝层厚度对镀铝薄膜水蒸气透过率的影响分析
摘要：镀铝层厚度对镀铝薄膜的阻隔性具有重要影响。本文通过对镀铝层厚度不同的两种VMBOPP样品水蒸气透过率的测试，研究了镀层厚度对镀铝膜阻湿性能的影响，并介绍了试验原理、设备C330H水蒸气透过率测试系统的参数及适用范围、试验过程等内容，为镀铝薄膜水蒸气透过率的研究及质量监控提供参考。 关
镀膜过程监控
光谱仪 AvaSpec-ULS2048（200-1100nm）软件 AvaSoft-Full软件和XLS或PROC应用软件光源 AvaLight-DH-S-BAL均衡光谱型氘-卤素灯光纤探头 1根FCR-7UV200-2-ME反射型光纤探头，1根FC-UV600-2光纤和1根FC-UV200-2光纤
光学镀膜简介
光学镀膜由薄膜层组合制作而成，它产生干扰效应来提高光学系统内的透射率或反射性能。光学镀膜的性能取决于层数、个别层的厚度和不同的层接口折射率。用于精密光学的zui常见镀膜类型：增透膜(AR)、高反射（镜）膜、 分光镜膜和过滤光片膜。增透膜包括在高折射率的光学中并用于zui大化光
Labthink薄膜厚度测量仪CHYC2A使用注意事项
Labthink兰光CHY-C2A薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料厚度的高精度测量。本文主要为大家简单介绍一下CHY-C2A薄膜厚度测量仪的使用注意事项！CHY-C2A使用注
高精薄膜厚度测厚仪具备了现代化电子信息功能
薄膜测厚仪中的高精薄膜厚度测厚仪的适用范围很广，可以测量的塑料、金属、涂层材料等多种材料的厚度，是我们设计制作物品的测量工具，帮助我们判断物体的质量是否合格，而且还能帮助我们节约物体设计制作成本，可以说购买了高精度薄膜厚度测厚仪就是提高了物体设计制作的质量。 高精薄膜厚度测厚仪 济南三泉