2974万！湖南工学院先进材料开发制备与检测创新平台采购LCMS、XRD、AAS等

关于AAS、AES、AFS的异同点

基本概念 AAS(原子吸收光谱)：是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光的吸收为基础的分析方法。(基于物质所产生的原子蒸气对特征谱线(通常是待测元素的特征谱线)的吸收作用来进行元素定量分析的一种方法。 AES(原子发射光谱)：原子发射光谱分析是根据原子所发射的光谱来测定物质的化学

ICP与AAS的比较与选择

20世纪90年代以来，随着ICP技术的不断发展，它的优势越来越突出，大有取代AAS之势，而ICP—MS的问世，不但具有优于GFAAS的检出限，而且还能测量同位素，更显示了其强大的优势。ICP是否会完全取代AAS，它们各有什么优缺点，下面对ICP—MS（等离子体质谱）、ICP—AES（全谱直读等离子体

AAS、AES、AFS三者对比

　　AAS(原子吸收光谱)、AES(原子发射光谱)、AFS(原子荧光光谱)是三种常见的光谱分析技术，在食品、化工、环境等领域具有广泛的用途，由于其原理相近，结构类似，很多初学者对于这三种技术难以参透，本文就带大家辨一辨这“光谱三兄弟”。　　“光谱三兄弟”简介　　AAS(原子吸收光谱)：　　基于气态的

光谱分析

主要包括火焰和电热原子吸收光谱AAS， 电感耦合等离子体原子发射光谱ICP-OES， X-射线荧光光谱XFS和X-射线衍射光谱分析法XRD；（1） 原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 又称原子吸收分光光度分析。原子吸收光谱分析是基于试样蒸气相中被测

材料光谱分析

主要包括火焰和电热原子吸收光谱AAS， 电感耦合等离子体原子发射光谱ICP-OES， X-射线荧光光谱XFS和X-射线衍射光谱分析法XRD；（1） 原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 又称原子吸收分光光度分析。原子吸收光谱分析是基于试样蒸气相中被测

fsciq：食品检测实验室LCMS的选型（上）

fsciq：食品检测实验室LCMS的选型（下）

北京疾控中心采购千万元LCMS、GCMS等仪器

　　2013年2月21日，中国政府采购网公布了北京市疾病预防控制中心食品安全风险监测体系2012年建设项目的招标公告，采购仪器包括超液相色谱-四级杆-飞行时间质谱仪、气相色谱-四级杆串联质谱仪、超高效液相色谱仪等，采购金额为965万元。详情如下所示： 　　项目名称：北京市疾病预防控制中心食品安全风

TLC为何与LCMS、MS、1HNMR结合应用？

（1）TLC-LCMS联用，可以确认纯度；（2）TLC-Ms联用，一般情况下，可以确认目标产物，适用于得到标样点；（3）TLC-NMR联用，可以确认点的结构。以上就是本次乐研化学高效薄层层析硅胶板的问答精选,你都了解了吗？

BCEIA上岛津新品LCMS8050倍受关注

　　 在第十五届BCEIA展会上，岛津公司展出了最新推出的LCMS-8050，受到参观者的高度关注。岛津公司是质谱类产品的主要供应商之一，2010年岛津首次推出了三重四极杆液质联用仪LCMS-8030，成为三重四极杆液质联用仪市场的强有力竞争者。2012年，岛津公司推了其升级版LCMS-8040，同

关于举办“GC、LC、GCMS、LCMS“等培训班通知

　　根据国家专业技术人才知识更新工程指导协调小组印发的《专业技术人才知识更新工程任务计划的通知》，中国仪器仪表学会承接了中国机械工业联合会培训部关于“实验室分析检测仪器维护保养、常见故障与应用技术”的培训项目，北京中仪普众技术咨询有限公司为本项目承办单位。为此，北京中仪普众技术咨询有限公司

EDS及XRD的性能区别

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析

XRD分析，峰高越高代表什么

峰越高代表晶体发育良好，该物相含量多，峰强比是每个峰的高度与最强峰的比值，与峰高同样含义。

xrd图中的峰代表什么

XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A／C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择

XRD分析，峰高越高代表什么

峰越高代表晶体发育良好，该物相含量多，峰强比是每个峰的高度与最强峰的比值，与峰高同样含义。

XRD、EDX图坐标名称

XRD中横坐标是x射线的入射角度的两倍，纵坐标就是衍射后的强度；EDX中横坐标是能量（KeV），纵坐标X射线的强度。

XRD分析峰高越高代表什么

峰越高代表晶体发育良好，该物相含量多，峰强比是每个峰的高度与最强峰的比值，与峰高同样含义。

XRD峰的偏移影响因素

haguruma材料内部存在的残余应力会导致衍射峰偏移，而晶粒细化，位错密度增加会造成衍射峰的宽化mygod8220XRD是晶面与反射角的关系XRD峰的偏移只可能与晶格指数的变化有关系引起晶格指数变化的因素可以有位错引起的滑移、攀移等溶质元素相互的置换，第三溶质进入间隙位置，等引起的晶格畸变pete

快速了解纸状xrd样品制备

　　对于样品的准备工作，必须有足够的重视。常常由于急于要看到衍射图，或舍不得花必要的功夫而马虎地准备样品，这样常会给实验数据带入显著的误差甚至无法解释，造成混乱。　　准备衍射仪用的样品试片一般包括两个步骤：　　首先，需把样品研磨成适合衍射实验用的粉末；　　然后，把样品粉末制成有一个十分平整平面的试片

xrd峰强度高低说明什么

xrd峰强度高低说明相对背地强度高低，表示晶相含量，跟面积表示晶相含量一致。峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。峰的强度低是XRD图谱的性质，就是峰不是很尖锐，峰很钝，学名叫做宽化，这样反应的样品性质就是粒径很小，结晶度低是样品的性质，反映在图谱上

XRD图谱强度要达到多少

XRD图谱强度要达到强度2000多的峰。经常做XRD，这次奇怪的是图谱中几乎只有一个强度2000多的峰。而这个峰找不到对应的三强线。唯一接近的物质可能性不大。将jade图谱及原始数据上传，希望向高人请教、交流。样品为无机物，肯定含铁元素。基本信息第一章至第五章重点阐述X射线衍射的基本理论，第六章至第

XRD是测什么的

主要用于物相分析，另外结晶度，全谱拟合，晶粒大小，晶胞参数，应力应变等也可以用它来分析。

EDS及XRD的性能区别

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：

EDS及XRD的性能区别

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析

xrd图中的峰代表什么

XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A／C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择

EDS及XRD的性能区别

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：

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XRD图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多，两峰的高度比“A／C”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是A方向择

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XRD分析，峰高越高代表什么

峰越高代表晶体发育良好，该物相含量多，峰强比是每个峰的高度与最强峰的比值，与峰高同样含义。

EDS及XRD的性能区别

1、EDS是针对一些元素的含量进行测试，XRD是测试晶体结构的。2、EDS(EnergyDispersiveSpectrometer）能谱分析，能谱仪是与扫描电子显微镜或透射电镜相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的X射线的能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围：