“佳”品推荐，精准检测|佳谱科技亮相原子光谱应用与技术学术研讨会
2025年8月21日，由中国检验检测学会测试装备分会、中国仪器仪表学会分析仪器分会、分析测试百科网联合主办的第五届原子光谱应用与技术学术研讨会在常州纺织服装职业技术学院召开。分析测试百科网采访了苏州佳谱科技有限公司总经理宋硙，他分享了佳谱科技的高精度X射线荧光技术、E-max 系列重金属分析仪的特点、优势以及多领域应用。苏州佳谱科技有限公司总经理 宋硙高级工程师E-max 系列重金属分析仪佳谱科技E-max 系列重金属分析仪，是专为环保、农业部、监察执法、环境修复、第三⽅检测机构等相关部⻔开发的⼀款产品，采⽤单波⻓X射线荧光分析技术，其对环境⼟壤中的多种重⾦属有出⾊的分析性能，尤其是对镉元素有极为出⾊的灵敏度。满⾜GB15618-2018中对⼟壤中重⾦属的筛查及管控要求，其中对镉的合规要求是0.3mg/kg, ⽽ E-max系列检测极限可以达到0.05mg/kg。土壤样品部分元素测试定量准确度（分析时间：≤600s）：检出限至 ......阅读全文
X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响
利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低
XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪
X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品
XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪
产品介绍 X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、
X射线能谱法与X射线光谱法最小浓度检测极限的对比
自从1968年Fitzgerald等人把x射线能谱法[EDX]引用于电子光学仪器以来,不少专家就着手评价这两种系统的优劣了。Servant等人在普通扫描电镜[SEM]上加装束流调节器和防污染装置,用能谱仪[EDX]对浓度大于2(wt)%的二元合金。
衰减透射法测量高能X射线能谱
研究了基于衰减透射原理的高能X射线能谱测量与重建。利用蒙特卡罗方法对神龙一号直线感应加速器的X射线源穿过不同厚度铝时的衰减透射过程进行模拟实验。解谱方法采用迭代扰动法,对不同的初始能谱估计和测量噪声水平条件下的能谱重建进行计算分析。结果表明:实验测量不包含噪声时,选择合适的初始能谱可以获得比较准确的
软X射线能谱仪数据采集系统
在 线 存 储 软X射线能谱仪的结构框图见图1。不同能量的软X射线被Johann弯晶衍射分光,分光后的能量分布转化成在探测器上对应的位置分布。位置灵敏、时间分辨好的MWPC和MCP都可做为这种探测器。软X射线区适用的MWPC采用逐丝阳极读出法以允许高计数率,同时也是为了满足将可测能区延伸到更低能区时
衰减透射法测量高能X射线能谱
研究了基于衰减透射原理的高能X射线能谱测量与重建。利用蒙特卡罗方法对神龙一号直线感应加速器的X射线源穿过不同厚度铝时的衰减透射过程进行模拟实验。解谱方法采用迭代扰动法,对不同的初始能谱估计和测量噪声水平条件下的能谱重建进行计算分析。结果表明:实验测量不包含噪声时,选择合适的初始能谱可以获得比较准确的
应用X射线能谱仪检验原子印油
原子印章是一种新型的印章。原子印章携带和使用极为方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊结构,其印油的成份不同于普通的印台油及印泥。早期的原子印油多为国外进口,目前国内亦有一些厂家生产。我们应用扫描电子显微镜和 X 射线能谱仪对原子印油进行检验,获得一些有用的信息。
X射线能谱过滤的MC模拟研究
能量低于300 keV且能谱简单的稳定放射性核素较少,作为替代,利用X射线机产生X射线,并经过不同厚度的材料的过滤,可以得到用于对辐射防护仪器进行校准和确定其能量响应和角响应的一系列规定辐射质的参考辐射。由于材料的质量衰减系数与X射线在物质中各种作用过程有关,并强烈的依赖于光子的能量,基于这一物理现
太阳耀斑硬X射线能谱演变特征
太阳硬Ｘ射线是耀斑高能电子束流与太阳大气相互作用产生的韧致辐射，根据简单的太阳耀斑环物理模型，假定具有流量与能谱同步变化的高能电子束流从耀斑环顶部注入，计算了硬Ｘ射线辐射在不同的靶物质密度区的能谱演变特征．结果表明：硬Ｘ射线辐射在低大气密度靶区呈现软一硬一硬的能谱演变特征，在高密度靶区硬Ｘ射线能谱则
X射线光电子能谱（－XPS）
XPS：X射线光电子能谱分析(XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)测试的是物体表面10纳米左右的物质的价态和元素含量，而EDS不能测价态，且测试的深度为几十纳米到几微米，基本上只能定性分析，不好做定量分析表面的元素含量。 原理：用X射线去辐射样品，使原子或分子
扫描电镜/X射线能谱仪/X射线波谱仪组合检测射击残留物
在司法物证检验中,通常采用扫描电镜/X射线能谱仪自动检测枪击案件中的射击残留物。但在检出的可疑颗粒物中,经常遇到硫(S)、锑(Sb)元素含量偏低的情况,用X射线能谱仪很难认定该颗粒物就是射击残留物。本文采用了扫描电镜/X射线能谱仪/X射线波谱仪组合方法,能检测出射击残留物中的S和Sb元素,弥补了X射
X射线荧光光谱分析（XRF）技术的基本理论
众所周知，X射线在医疗诊断领域得到了广泛应用，其实，它同时也奠定了诸多功能强大的分析测试技术的基础，包括X射线荧光（XRF）光谱分析技术。 XRF光谱分析技术可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元
用改进的透射光栅谱仪定量测量X射线能谱
利用最新研制的小型化透射光栅谱仪在"神光Ⅲ"原型实验装置上测量了激光注入金腔靶时激光注入口的X射线能谱,首次实现了在上极点附近对柱腔注入口辐射的测量,且实现对X射线的二维空间分辨和谱分辨的测量。改进后的透射光栅谱仪成像系统首次使用一种错位排布的狭缝阵列结构来解决因谱仪尺寸减小带来的能谱分辨问题,并同
HPGe测量连续硬X射线能谱的解谱方法研究
结合数值模拟得到的单能光子在HPGe探测器上能量响应函数,用改进的剥谱法对测量得到的连续硬X射线能谱进行解谱。扣除测量谱中康普顿、反散射等效应产生的计数对测量能谱的影响,得到了仅反映探测器对光电效应的能量响应的能谱。最后,通过效率修正,完成了测量谱到实际能谱的还原,为连续硬X射线能谱解析提供了可靠方
NaI晶体谱仪采集X射线能谱测量方法研究
为准确测量轫致辐射X射线能谱,利用NaI晶体谱仪对于测量光子的能谱展宽效应,结合理论模拟分析,提出了采用变能量矩阵求解法实现X射线能谱的重建。该方法通过合理选择能量区间,可有效消除能谱响应矩阵中各矢量的相关性,从而实现能谱的准确重建。并分别以均匀能谱分布和实际轫致辐射X射线能谱为例,进行了X射线的能
用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱
在星光激光装置上利用波长为 0 3 5 μm的激光辐照金箔靶 ,在金箔靶背侧用透射光栅配X射线chargecoupleddevice系统测量了其发射的软X射线能谱 ,并与用亚千能谱仪测量的结果进行了比较 ,获得了比较一致的结果 .测量结果表明 ,0 17μm厚度的金箔靶背侧的X射线能谱偏离平衡辐射谱
X射线光电子能谱仪原理
X射线光子的能量在1000～1500ev之间，不仅可使分子的价电子电离而且也可以把内层电子激发出来，内层电子的能级受分子环境的影响很小。 同一原子的内层电子结合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固体表面激发出光电子，利用能量分析器对光电子进行分析的实验技术称为光电子能谱。 XPS的原理
用于高能X射线能谱测量的MLS法
为满足高能X射线能谱测量的需要,提出采用MLS法进行能谱测量的方案。MLS法克服了其他测量方法散射不易控制、光场不均匀性影响较大的缺点,还具有对不同角度能谱进行测量的优势。对MLS法的测量原理以及测量过程中的注意事项进行了明确,并利用蒙特卡罗方法针对一特定的X射线能谱设计了两种不同介质的测量装置,并
12MVX射线能谱的实验测定
对于流体物理研究所的12MV脉冲X射线装置,其光子能谱是一个重要的物理参量。当用12MV脉冲射线作为相关实验研究的辐射源时,得到的实验结果的物理解释也需要足够的谱的数据。但由于高能高注量轫致辐射的光子谱难以用通常的在线式γ谱仪测量,所以用透射系数数值分析的方法对12MV-X射线谱作了初步的实验测定。
快脉冲硬X射线能谱测量实验研究
研究设计了以解析吸收片后的透射率来测量快脉冲硬X射线辐射场能谱的实验方法。对实验方案进行了理论模拟设计,并获得了解谱必要的理论数据,通过测量不同吸收片后光强的实验方法获得了透射系数,用微扰的数学方法完成了测量谱的解析,复现了测量位置处快脉冲硬X射线辐射场能谱,最后对该方法的可靠性进行了验证。
X射线能谱测量的蒙特卡罗成像模拟
针对高能强流电子束轰击高Z靶产生的X射线的能谱测量问题,采用蒙特卡罗方法进行成像模拟研究。高能X射线能谱通常由对X射线经过衰减体的直穿透射率曲线进行解谱获得。设计了带多准直孔的截锥体模型,在单次模拟成像中获得完整的衰减透射率曲线,有效避免了散射光子对透射率曲线以及X射线能谱重建的影响。成像面采用非均
软X射线能谱定量测量技术研究
采用每毫米 10 0 0线的自支撑透射光栅配上背照射软X射线CCD(charge coupleddevice)组成了透射光栅谱仪 ,利用北京同步辐射装置 (BSRF) 3W1B光束线软X射线实验站上X射线源分别对透射光栅的衍射效率和软X射线CCD的响应灵敏度进行了准确的实验标定 ,获得了 15 0e
氚钛靶的X射线能谱初步研究
采用超低能锗探测X射线技术和βIXS方法,研究了在Ar气、空气介质中钼材料中氚和氚钛靶中氚产生的X射线能谱。Ar气介质与空气介质相比,钼材料中氚产生的X射线能谱除了与空气介质在同样的峰位能量2.2keV位置产生谱峰外,还增加了一个峰位能量为3.0keV的谱峰。
美国KEVEX公司8000型x射线能谱仪
8000型X射线能谱仪主要做能量分散X射线分析,可用于冶金、电子、地球化学勘探、化工、石油、生物医学等许多领域。仪器由X射线探测器,分析仪,小型计算机、大容量存贮器,显示器,键盘和软件构成。
X射线能谱仪的使用原理及应用
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线能谱仪的简介 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法是在
电子探针分析的X射线能谱法
本文介绍了使用硅(锂)检测器进行定量电子探针分析的一种方法,这种方法使用了背景模拟技术及其它技术中的电荷收集不完全和电子噪声的校正。轻元素分析的改进对硅酸盐样品是特别有利的,使之尽可能采用纯金属作分析标样。这种方法已被用于各种地球化学样品的分析中(包括用JG—1和JB—1岩石做成的玻璃)。与湿式化学
Z箍缩软X射线连续能谱测量
诊断Z箍缩等离子体不同时刻的空间分布及状态是认识等离子体运动规律进而控制其箍缩过程以便加以利用的必经环节。在箍缩过程中,离子、电子和光子发生强烈的相互作用,探测出射的X光可不破坏等离子体原有状态而获取三者运动信息。通过测量X光能谱可以探知辐射场温度、离子密度、辐射冲击过程等等。受现有装置驱动能力的限
X射线能谱分析中谱线重叠问题
扫描电子显微镜上配接Si(Li)探测器X射线能谱仪,进行地质样品分析时,由于它的峰,背比值较低和谱线分辨率不如X射线波谱仪,尽管探测效率很高,仍然存在谱线的干扰或重叠现象。谱线的干扰或重叠现象主要划分为三个类型:相邻或相近元素同一线系(K、L、M)的谱线之间重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数较
X射线能谱仪和波谱仪的优缺点
能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪，其关键部件是Si(Li)检测器，即锂漂移硅固态检测器，它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。Si(Li)能谱仪的优点 分析速度快 能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号，故可在几分钟内分析和