X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响
利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低角度下,特别是在特征X射线全反射临界角附近,实际测得的低能量特征谱线的相对强度比预期要小,这是因为这些低能量谱线的波长较长,相对于这些谱线的全反射临界角较大,由膜内产生的低能量谱线,探测器无法探测到而引起。此项研究为X射线薄膜微区分析的定量计算提供依据。 ......阅读全文
X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响
利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低
微区成分的X射线能谱无标样定量分析简化模型
本文对作者建立的微区成分无标样定量分析法进行了简化,使原有的计算量大为减少。用简化模型对Cu-Si,FeS2,NaCl,GaAs试样和多元钢样原实验数据进行了定量计算,并与原模型多元程序计算结果进行比较。结果表明,这种简化是合理的。
X 射线能谱
X 射线能谱（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微区成分分析最为常用的一种方法，其物理基础是基于样品的特征 X 射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时，会在内层电子处产生一个空缺，原子处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补
电子探针X射线微区分析能谱仪分析特点
具有以下优点（与波谱仪相比） 能谱仪探测X射线的效率高。 在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。 结构简单，稳定性和重现性都很好（因为无机械传动），不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
微区X射线衍射仪
微区X射线衍射仪是一种用于物理学、化学、材料科学、考古学领域的分析仪器，于2015年1月12日启用。 技术指标 采用新一代的陶瓷X光管技术，焦斑位置稳定，衰减小，寿命长 ； 全自动可变狭缝，可以自由选择固定狭缝大小或固定测量面积模式；高精度立式测角仪，样品水平放置，最小步长及角度重复性皆为0
PVC/PP共混体系的X射线能谱微区分析
用Ｘ射线能谱微区分析方法对ＰＶＣ／ＰＰ共混物进行了研究，得到了共混物断面氯元素的面分布图，并对面分布图像进行了相分析，从亚微观层次揭示了ＰＶＣ／ ＰＰ共混物的相结构．将面分布图像与扫描电镜（ＳＥＭ） 对ＰＶＣ／ＰＰ共混物的形态照片进行了比较．结果表明，元素面分布图像比形态照片具有更清晰、直观的特点，
X射线能谱定量分析
随着探头制造技术水平的提高、电子学技术的发展,以及对脉冲处理技术和重叠峰处理方法的改进,能谱定量分析的精度得到不断提高。目前,对原子序数在11～30之间的常用元素,其分析精度大体上可以达到波长谱仪的水平。由于能谱定量分析的方法简单、操作方便,它既能进行大试样的平均成份分析,也能进行微粒、薄板、镀层、
X射线能谱分析对口腔种植界面微区元素的动态检测
观察种植界面微区元素在种植界面形成中的作用。用电子探针X射线能谱分析方法对界面进行百分含量测定。结果表明,钛合金种植体植入后,12周内,钙元素与磷元素逐渐增加并达到峰值,以后趋于平稳,钛元素含量植入后2周较高,以后逐渐减少。种植体与机体组织之间只有极薄的一层纤维膜,已达到骨结合标准。钙元素与磷元素
软X射线能谱仪
本文描述了一个用于托卡马克杂质谱线精细测量的高分辨软X射线谱仪。谱仪采用Johann型弯晶衍射结构,以多丝正比室作探测器件。其测量范围为2—8keV(1—6),能量分辨为4.1eV(在6.4keV处)。多丝正比室采用阳极丝逐丝读出法,位置读出精度2mm。谱仪配有自动数据记录系统。
X射线能谱仪简介
能谱仪是利用X射线能谱分析法来对材料微区成分元素种类与含量分析的仪器，常常配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。