我国学者在萤石铁电薄膜中发现一维带电畴壁新物态

我国学者在萤石铁电薄膜中发现一维带电畴壁新物态

　　在国家自然科学基金项目（批准号: 12222414、52322212、12174437、52025025、52421001、52250402、12304123）等资助下，中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心金奎娟院士、葛琛研究员、张庆华副研究员及其合作者，在铁电畴壁研究领域取得新进展

摩氏硬度计介绍

　　图示　　摩氏硬度计如下所示：　　1.滑石2.石膏指甲（与矿物同样硬的东西）3.方解石铜币 4.萤石铁钉5.磷灰石玻璃6.长石铅笔刀片7.石英钢制小刀 8.黄玉砂纸9.刚玉10.金刚石　　记忆口诀　　便于记忆的顺口溜：　　一滑二膏三方解，四萤五磷六长石。　　七英八黄九刚玉，唯有金刚把十冠。　　还有

胖丁丁：《萤之光》观后感之雨宫萤职场分析（上）

胖丁丁：《萤之光》观后感之雨宫萤职场分析（下）

有机铁电薄膜材料的介绍

　　有机铁电薄膜的制备方法包括溶胶－凝胶法、旋涂法(Spin-Coating)、分子束外延技术及Langmuir-Blod-get膜技术等。与传统的无机材料相比，有机聚合物材料具有易弯曲、柔韧性好、易加工、成本低等优点而备受关注。作为一种新型的铁电体，铁电高分子聚合物的研究主要以聚偏氟乙烯(Poly

薄膜电弱点测试仪的研制

电气用塑料薄膜的生产过程中，会出现薄膜穿孔、导电颗粒积聚、划伤等影响电气性能的电弱点。根据国家标准《GB/T 13541-92 电气用塑料薄膜试验方法》，电气用塑料薄膜要求进行电弱点测试，在给定直流电压下每平方米的击穿点（电弱点）数成为衡量薄膜质量的重要指标。设计的薄膜电弱点测试仪，无须将膜卷分切成

薄膜电弱点测试仪的研制

　　电气用塑料薄膜的生产过程中，会出现薄膜穿孔、导电颗粒积聚、 　　划伤等影响电气性能的电弱点。根据国家标准《GB/T 13541-92 电气 　　用塑料薄膜试验方法》，电气用塑料薄膜要求进行电弱点测试，在给 　　定直流电压下每平方米的击穿点（电弱点）数成为衡量薄膜质量的重 　　要指标。设计

铁电和反铁电薄膜热开关领域获得重要进展

原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/12/514756.shtm

铪基薄膜铁电变体研究获重要进展

在国家自然科学基金等项目的资助下，松山湖材料实验室大湾区显微科学与技术研究中心团队在铪基薄膜铁电变体的调控研究中取得重要进展。该团队在单晶外延Hf0.5Zr0.5O2薄膜中成功稳定具有铁电性的新型单斜相，使材料呈现出卓越的抗铁电疲劳性能，为铪基薄膜中铁电性的稳定与增强开辟了新路径。相关成果10月3日

萤虫黄指示剂的功能介绍

中文名称萤虫黄英文名称lucifer yellow定　　义一种在紫外线激发下显浅绿色的荧光物质。具有膜不透性，可被内吞入胞内，常用于植物胞间连丝和动物间隙连接研究的荧光指示剂。应用学科细胞生物学（一级学科），细胞生物学技术（二级学科）

研究人员在铁电材料中发现一维带电畴壁

近日，中国科学院物理研究所团队通过激光法，创制了自支撑萤石结构铁电薄膜，并利用电子显微镜技术对薄膜中的一维带电畴壁进行了原子尺度的观测和操控。物质世界存在一类特殊的晶体材料——铁电材料。其内部由许多微小的电学“指南针”组成，这些“指南针”不指示南北，而指示正负电荷中心分离的方向，即自发极化的方向。即

电致变色氢键有机框架薄膜研究新进展

　　电致变色材料被广泛应用于智能窗户、信息存储和防眩晕后视镜等领域。研究较多的电致变色材料主要有金属氧化物、紫精类化合物、共轭聚合物等。目前，尚无氢键有机框架化合物（HOFs）应用于电致变色的研究报道。然而，HOFs应用于该领域具有独特优势：HOFs材料无需引入额外的基团（如引入官能团进行配位、聚合

拟花萤科甲虫研究获新进展

近日，广东省科学院动物研究所昆虫生态与害虫控制研究团队在国家自然科学基金和广东省科学院发展专项资金等项目的资助下，在拟花萤科甲虫研究方面取得新进展。相关成果分别发表于《动物之谜》（Zookeys）。据介绍，研究人员在拟花萤科Melyridae囊花萤亚科Malachiinae中发现了新属种中山扁角囊花

中国科大研发可闭环生物回收的介电薄膜

　　中国科学技术大学俞书宏院士团队成功开发出一种可闭环生物回收的纤维素基介电薄膜，能够提高电子器件的循环利用率，从而减少电子废弃物。7月28日，相关研究成果发表于《自然-可持续性》。　　可闭环生物回收的纤维素基介电薄膜。中国科大供图　　电子废弃物正以惊人的速度增长，其对环境和人类健康的负面影响已引发

研究新进展，水书写和电擦除的可重写PEDOT薄膜

　　纸张的出现极大地促进了人类文明的发展，同时也导致了严重的资源浪费和环境污染。聚（3,4-乙烯二氧噻吩）（PEDOT）由于其具有环境友好、生物相容和溶剂诱导变色等特点，在可重写纸方面具有潜在应用。在PEDOT膜上进行信息传递可基于多种刺激条件，例如光、热、电、压力和水。其中，水是最理想的触发条件，

日盲镁锌氧单晶薄膜的电性调控研制获进展

　　ZnO基光电子学及透明电子学是近年来信息和材料科学领域的研究热点。理论上通过Mg、Be等元素的掺杂，ZnO基合金的禁带宽度能在很宽波段范围内进行调谐，如通过调整MgxZn1-xO中的Mg组分，其带隙可在3.37~7.8eV（368~159nm）范围内调控，从而可覆盖280~220nm日盲波段，成

金属所铁电薄膜异质界面及畴组态研究取得系列进展

　　中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家（联合）实验室固体原子像研究部研究员马秀良、朱银莲，博士刘颖、博士生李爽近来在铁电薄膜异质界面和同质界面的可控生长、调控以及微观结构性能方面获得系列新进展。　　铁电材料由于丰富的物理性能和在铁电器件领域广泛的应用前景得到研究人员的广泛关注。由于电子器件小型化的

科学家研发出可闭环生物回收的介电薄膜

中国科学院院士、中国科学技术大学教授俞书宏团队开发出可闭环生物回收的纤维素基介电薄膜，能够提高电子器件的循环利用率，从而减少电子废弃物。电子废弃物正以惊人的速度增长，对环境和人类健康的负面影响已引发广泛关注。为塑造电子产品的可持续未来，可回收电子器件因更低的环境足迹而吸引了研究人员的兴趣。然而，由于

科学家研发出可闭环生物回收的介电薄膜

中国科学院院士、中国科学技术大学教授俞书宏团队开发出可闭环生物回收的纤维素基介电薄膜，能够提高电子器件的循环利用率，从而减少电子废弃物。电子废弃物正以惊人的速度增长，对环境和人类健康的负面影响已引发广泛关注。为塑造电子产品的可持续未来，可回收电子器件因更低的环境足迹而吸引了研究人员的兴趣。然而，由于

双电四探针测试仪如何测试导电橡胶及薄膜材料

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。标准要求：该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方

研究发现：一种发光鱼靠进食海萤“点亮”自己

　　日本一项新研究发现，海洋中一种身体会发光的拟单鳍鱼自身并没有发光基因，而是通过进食发光浮游生物来获取能发光的蛋白质。这是科研人员首次发现这种“偷盗蛋白质”现象。　　日本中部大学等机构研究人员在新一期美国《科学进展》杂志上发表论文说，他们分析了拟单鳍鱼这种会发光的海鱼，发现它发的光来自一种名为荧光

豚草天敌广聚萤叶甲能快速适应寒冷的气候环境

广聚萤叶甲       中国农科院供图 广聚萤叶甲低温适应性快速进化机制示意图       中国农科院供图    近日，中国农业科学院植物保护研究所农业入侵生物预防与监控创新团队研究发现，豚草天敌昆虫广聚萤叶甲北京种群比广西种群具有更强的耐寒能力，揭示了豚草天敌广聚萤叶甲耐寒性快速适应的生理与分

尖晶石铁酸盐提升锂硫电池的体积能量密度和循环稳定性

　　相比各种碳材料，过渡金属氧化物不仅对多硫化物具有强的化学吸附能力，可有效抑制多硫化物的穿梭效应，改善硫电极循环性能。同时，过渡金属氧化物本身高的密度有利于提高硫基复合正极材料的振实密度，有望实现硫电极的高质量比容量和高体积比容量。相比于一维碳纳米管(CNTs)，极性铁酸镍一维纳米纤维复合材料具有

我国学者与海外合作者实现铁电薄膜带电畴壁精确操控

图 具有量化忆阻特性的面内带电畴壁的构建与原子级调控　　在国家自然科学基金项目（批准号：12125407、52272129、U21A2067）等资助下，浙江大学材料科学与工程学院张泽院士、田鹤教授团队与新加坡国立大学陈景升教授团队、美国内布拉斯加大学林肯分校Tsymbal教授团队合作，在纳米级厚度的

金属所铁电超薄薄膜中强极化可持续性研究获进展

　　近日，中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家（联合）实验室固体原子像研究部研究员马秀良、朱银莲等，在超薄铁电薄膜中发现强极化的可持续性现象。　　超薄铁电体在超级电容器等微纳电子领域有着广泛的应用前景。早在上世纪70年代人们认识到铁电薄膜中存在着一个临界尺寸，当薄膜厚度小于这个临界尺寸时，退极化场的

薄膜测量

薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi

薄膜测厚仪

薄膜测厚仪 型号：CHY-CACHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。   ◆ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持用户的各种非标定制   ◆ 测试过程

薄膜测量

薄膜测量薄膜测量系统是基于白光干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。白光干涉图样通过数学函数被计算出薄膜厚度。对于单层膜来说，如果已知薄膜介质的n和k值就可以计算出它的物理厚度。 AvaSoft-Thinfilm应用软件内包含有一个大部分常用材料和膜层n和k值的内置数据库。 AvaSoft-Thi

xrd薄膜法能够测定薄膜什么性质

不知道你所说的薄膜法指什么.一般对于薄膜材料,XRD能够做:掠入射(GIXRD):    分析晶态薄膜物相,残余应力反射率测量(XRR):    对膜质量要求较高,晶态非晶皆可.一般分析纳米级别薄膜的厚度,深入一点可通过拟合的方法来分析密度,表面界面的粗糙度掠入射小角散射(GISAXS):    分

薄膜拉力试验薄膜拉伸测试仪

薄膜拉力试验薄膜拉伸测试仪拉伸、撕裂、剥离等力学性能，当使用反向器时，可进行材料的压缩试验。 本机是一种新型经济性电子拉力试验机，配备力传感器,在试验过程中，微机不断采集力传感器的信号，并根据试验要求，进行格式化数据处理，其特点是使用简单，性能稳定，技术先进，自动化水平高，测试精度高。 2 主要技术