精微重磅发布Nexus系列原位物理吸附XRD联用系统，解锁材料表征“1+1＞2”新高度！
在催化、储能、气体分离等前沿领域，材料的晶体结构与孔道特性共同决定了宏观性能。然而，传统表征手段往往“各自为政”——物理吸附给出孔参数，XRD给出物相与晶格信息，却难以揭示吸附过程中材料结构如何动态演变。 精微高博Nexus系列高性能原位物理吸附与XRD联用分析系统由此而生，在气体/蒸气物理吸附过程中实时采集X射线衍射数据，深度关联材料结构变化与吸附行为，同步获取材料的结构（晶体结构、晶格参数、物相组成等）和吸附行为（吸附等温线、吸附量、孔分布、孔径等）信息，实现了“晶体结构 -微观孔道 -宏观性能”的全链条解析，让材料性能的“因果关系”不再模糊，科研结论更具说服力，为催化剂、储能材料、多孔吸附剂等领域的科研突破按下加速键！Nexus系列高性能原位物理吸附XRD联用分析系统 核心功能 · 物相检索与识别 · 物相定量分析 · 结晶度 · Rietveld 精修 · 吸附动力学 · 等量......阅读全文
精微高博申报ANTOP材料科学微观表征创新奖进入专家评审阶段
蝉鸣盛夏，清风逐光；万物繁茂，盛景如约。经过行业同仁的广泛关注与热情投票，北京精微高博仪器有限公司申报的ANTOP “材料科学微观表征创新奖”在2026年度第一期 ANTOP奖大众评审中脱颖而出，现已正式进入专家评审阶段！我们期待专家团的权威评审，也相信“材料科学微观表征创新奖”的价值将得到更深刻的
精微高博申报ANTOP材料科学微观表征创新奖进入大众评审，诚邀您投票！
2026年度ANTOP奖申报正如火如荼进行中！由北京精微高博仪器有限公司申报的“材料科学微观表征创新奖”进入大众评审阶段。在此诚邀业界各位老师，为北京精微高博仪器有限公司投上宝贵一票！您的每一票，都是对行业的鼓励，更是对行业未来的投票。 奖项名称：材料科学微观表征创新奖 奖项主体：Matri
精微收购德国百年X射线衍射仪（XRD）制造企业STOE－－全面拓展单晶和粉晶XRD产品线
近日，北京精微高博仪器有限公司（简称精微）宣布收购德国百年企业STOE & Cie GmbH公司（简称STOE）。借此，精微在原有的吸附、热分析、反应装置、质谱等高端科学仪器产品线基础上增加了高端单晶和粉晶XRD产品线，成为材料表征领域比较完整产品覆盖的全球性企业。 精微总经理马志远表示：“我
北京精微高博公司喜获创新基金资助
北京精微高博科学技术有限公司的“高性能氮吸附比表面及孔径分析仪”项目 喜获2011年国家中小企业创新基金的资助 北京精微高博科学技术有限公司的“高性能氮吸附比表面及孔径分析仪”项目，喜获2011年国家中小企业创新基金的资助，这是精微高博公司产品在2010年4月获国家级技术鉴定之
小角xrd表征什么，大角xrd又表征什么
小角XRD应该是指小角X射线散射吧（SAXS）一般的2θ
精微重磅发布Nexus系列原位物理吸附XRD联用系统，解锁材料表征“1+1＞2”新高度！
在催化、储能、气体分离等前沿领域，材料的晶体结构与孔道特性共同决定了宏观性能。然而，传统表征手段往往“各自为政”——物理吸附给出孔参数，XRD给出物相与晶格信息，却难以揭示吸附过程中材料结构如何动态演变。 精微高博Nexus系列高性能原位物理吸附与XRD联用分析系统由此而生，在气体/蒸气物理吸
精微高博顺利通过质量管理体系监督审核
2011年11月11日，中国质量认证中心对精微高博进行年度监督审核，审核依据：ISO9001：2008，GB/T19001-2008质量管理体系标准条款及比表面及孔径分析仪行业体系文件，审核范围：比表面及孔隙度分析仪的研制、开发、应用和技术服务。2011年12月20日，精微高博收到认证公司颁发的
小角xrd表征什么
小角XRD应该是指小角X射线散射吧（SAXS）一般的2θ
XRD和TEM主要是用来表征材料什么性能
用来表征材料内部分子结构和形态。XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写TE
精微高博钟家湘：加速企业发展－代替进口仪器
分析测试百科网讯 2016年5月22日，第十四届中国国际科学仪器及实验室装备展览会（CISILE 2016）于北京国家会议中心隆重开幕。分析测试百科网有幸在展会上采访了五个”自主创新金奖”得主之一，北京精微高博科学技术有限公司董事长钟家湘教授，钟教授为我们介绍了此次参展获奖的比表面分析
XRD和TEM主要是用来表征材料什么性能的
用来表征材料内部分子结构和形态。XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写TE
原位变温XRD表征
Bruker的Advanced D8上配备了变温台，而且是能通入反应气体，在基本模拟反应条件下观察一些催化反应的变化，其中XRD对应于催化剂结构的变化，而出来的气体通过GC等分析手段来分析温度变化对于催化性能的影响。 高温下催化剂通常有多种变化，我就我了解说几个，一个是非晶态催化剂在高温下会有相变化
精微高博：继AMI后再收购Rubolab－强势进军全球市场
北京精微高博仪器有限公司（以下简称精微高博）是一家以比表面积及孔径分析仪器为主攻方向的国家级高新技术企业，被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”。从2年前收购美国AMI仪器公司到今年收购德国Rubolab公司，“中国氮吸附仪的开拓者”为何能够频频收购国外企业？分析测试百科网采访到精微高博总经理马志远先生
“第三代麒麟电池”狂奔背后：精微守护电池安全的“关键防线”
近日，新能源圈被宁德时代的“第三代麒麟电池”引爆。第三代麒麟电池以280Wh/kg的能量密度，不仅让续航突破1000公里大关，更将10C超充变为现实——6分钟闪充，补能效率直逼燃油车。然而，在这场关于“里程焦虑”与“补能速度”的狂欢中，一个更深层的拷问随之而来：当电池在6分钟内涌入海量电能，当能
北京精微高博获“2010科学仪器优秀新产品”奖
北京精微高博高性能比表面及孔径分析仪获“2010科学仪器优秀新产品”奖 2011年4月26日，由中国仪器仪表行业协会、中国仪器仪表学会分析仪器分会、仪器信息网联合主办，中国分析测试协会协办的中国科学仪器行业峰会——“2011中国科学仪器发展年会(ACCSI 2011) ” 在北京京仪大
北京精微高博2010年年会在三亚召开
2011年1月19日-1月25日，北京精微高博科学技术有限公司2010年年会在碧海蓝天的旅游城市海南省三亚市圆满召开，全体员工欢聚一堂，庆祝2010年的骄人业绩，展望美好的未来。 年会由古经理主持，全体员工参加了此次会议。会上回顾了公司的发展历程，2010年是精微高博发展不平凡
精微高博隆重祝贺董事长钟家湘教授72岁华诞
钟家湘教授容光焕发，在大家的祝福声中步入会场。来自中国仪器仪表界的同仁，钟家湘教授的朋友、同事、学生欢聚一堂，随着“生日快乐”歌声的响起，共同举杯向钟老师表达最诚挚的问候，共祝精微高博董事长钟家湘教授72岁华诞。生日蛋糕 精微高博是专业生产比表面及孔径分析仪的厂家，每一步成长都
精微高博申报ANTOP－“国产热分析技术领航奖”进入专家评审阶段
蝉鸣盛夏，清风逐光；万物繁茂，盛景如约。经过行业同仁的广泛关注与热情投票，北京精微高博仪器有限公司申报的ANTOP “国产热分析技术领航奖”在2026年度第一期 ANTOP奖大众评审中脱颖而出，现已正式进入专家评审阶段！我们期待专家团的权威评审，也相信“国产热分析技术领航奖”的价值将得到更深刻的诠释
精微品牌焕新－|－AMI－(Advanced－Measurement－Instruments)
精微已完成品牌整合，全面开启品牌焕新升级！ 近日，北京精微高博仪器有限公司（以下简称精微）正式启用全新品牌形象。未来，公司将聚焦产品多元化布局，深耕市场全球化战略，以更专业、更国际化、更开放的姿态，携手全球用户共赴新程。 品牌焕新·战略升级 从深耕国内到布局全球，从单一的吸附类仪器扩展到热
精微高博双产品斩获ANTOP奖项，以技术创新加速国产仪器升级
2026年5月29日，第二十三届中国国际科学仪器及实验室装备展览会（CISILE 2026）现场，分析测试百科网举办了2026年度ANTOP奖颁奖盛典。北京精微高博仪器有限公司凭借两款产品获双奖。Matrix系列比表面积及孔径分析仪荣获“材料科学微观表征创新奖”，TGA系列热重分析仪荣获“国产热分析
精微高博比表面及孔径测试仪荣获中国计量院测试证书
2009年7月1日，北京精微高博JW-BK型静态容量法比表面积及孔径分析仪，荣获了中国计量科学研究院的测试证书。中国计量科学研究院测试依据是国家标准GB/T21650.2 第二部分 气体吸附法分析介孔和大孔以及GB/T19587 气体吸附BET法测定固体物质比表面积，用国产JW-BK型仪器测定美
精微高博申报ANTOP国产热分析技术领航奖进入大众评审，诚邀您投票！
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XRD、TEM、AFM表征粒径的方式及异同
晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下纳米粒子是由多个完美排列的晶粒组成的）的晶相和大小，虽然也可通过更强的场发射透镜（HRTEM）得到，但是机器昂贵、操作复杂，所以实验室一般使用X射线粉末衍射仪。 XRD、TEM、AFM在表征粒径大小方面各有优势，我们将分别从原理和应用来
XRD和TEM在样品物象上表征的区别
样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用 X－射线粉末衍射仪（XRD）和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域，可能产生较大的统计误差。晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下
单晶可以用粉末XRD衍射仪来表征么
xhtangxh(站内联系TA)把单晶研磨到微米级再用粉末XRD衍射仪扫谱，出来的结果才有意义，其衍射峰包括所有衍射晶面，不仅仅是平行于样品平面存在的晶面。如果不研磨细，一方面可能有的晶面衍射信号可能收集不到，另一方面，更大的可能是存在各衍射峰的强度随取向变化的问题，更有甚者，如果晶粒粗大会影响测量
纳米材料的表征是什么
从尺寸大小来说，通常产生物理化学性质显著变化的细小微粒的尺寸在0.1微米以下(注1米＝100厘米，1厘米＝10000微米，1微米＝1000纳米，1纳米＝10埃)。即100纳米以下，因此定义：颗粒尺寸在1～100纳米的微粒称为超微粒材料，也是一种纳米材料。纳米金属材料是20世纪80年代中期研制成功的，
纳米材料的表征与测试技术
虽然许多研究人员已经涉足纳米技术这个领域的工作,但还有很多研究人员以及相关产业的从业人员对纳米材料还不是很熟悉,尤其是如何分析和表征纳米材料,如何获得纳米材料的一些特征信息。该文对纳米材料的一些常用分析和表征技术做了概括。主要从纳米材料的成分分析、形貌分析、粒度分析、结构分析以及表面界面分析等几个方
xps和xrd材料分析方法的区别
差别太大了。。X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过
xps和xrd材料分析方法的区别
差别太大了。。X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量XRD 即X-ray diffraction 的缩写，X射线衍射，通过
高分子领域常用的表征方法之X射线衍射分析（XRD）
当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子有规则排列成的晶胞所组成的，而这些有规则排列成的原子间距离与入射X射线波长具有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉叠加，可在某些特殊方向上产生强的X射线衍射。衍射方向与晶胞的形状及大小有关。衍射强度则与原子在晶胞中的排列方式有关。X射线衍射在高分