Bruker两个产品获得了Pittcon2008撰稿人金奖和铜奖
Bruker宣布它的两个新的突破性产品获得了Pittcon 2008撰稿人金奖和铜奖 新奥尔良（美国商业新闻） 2008年3月6日 在2008年匹兹堡会议上，Bruker公司（ NASDAQ：BRKR）推出了许多创新的高效能系统和突破性的解决方案，应用于：生命科学和材料研究、分子影像学研究、国土安全和环境监测，以及应用性和工业分析。 Pittcon撰稿人金奖，授予了Bruker AXS公司突破性的台式SMART X2S Crystal-to-Structure™ 小分子X射线单晶衍射仪，第一次允许没有接受过晶体培训的化学家们，全自动地获得常规的小分子三维结构。 Pittcon撰稿人铜奖，授予了Bruker AXS公司新型台式便携S2 PICOFOX™ TXRF全反射X射线荧光分析系统，它易于使用，可进行稳健的超痕量元素分析，并直接节省样品制备的成本。在药物、地质、矿业、环境和食品检测中，便携的S2 PICO......阅读全文
XRD与XRF的区别
XRD与XRF的区别： 1，用途：XRD：测定晶体的结构，XRF：元素的定性、定量分析。 2，原理：XRD的基础是X射线的相干散射，布拉格公式、晶体理论；XRF基于莫斯莱定律，特征X射线为基础的。 3，仪器：单色X射线光源，不需要分光晶体。
Bruker在Pittcon－2012上成功发布CryoProbe™－Prodigy
CryoProbe™ Prodigy改变了常规NMR的游戏规则，成功将灵敏度提高了3倍，通量提高了10倍 CryoProbe Prodigy采用性价比高的宽带、多核探头，其300MHz的灵敏度相当于400、500或600MHZ高分辨率NMR的灵敏度。 佛罗里达州奥兰多，20
XRD分析与XRF分析的异同
1，用途不同。XRD是x射线衍射光谱，（X－ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量、
XRD分析与XRF分析的异同
1，用途不同。XRD是x射线衍射光谱，（X－ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量、
XRD分析与XRF分析的异同
1，用途不同。XRD是x射线衍射光谱，（X－ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量、
布鲁克Pittcon2009推出多款新型高性能科学仪器和分析方法
2009年3月9日 在Pittcon2009年展会上，布鲁克公司推出多款新型科学仪器和分析方法。这些新产品和解决方案，主要是为常规分析提供更高效率和专一性，同时为先进的研究领域打开新的视野。 布鲁克在X射线、红外、核磁共振以及质谱仪器上，推出了几款方案导向的、单键操作(turn-ke
日本理学将在2016匹兹堡会议发布最新XRD和XRF
分析测试百科讯 2016年2月24日，日本理学公司宣布将出席2016年3月6日-3月10日的美国第66届年度匹兹堡会议（Pittcon 2016）。 日本理学公司是全球级的研制和生产X射线科学分析仪器的制造商，本次Pittcon 2016上，理学将在展位＃1318上展出最新
Bruker公司SCION－TQ系统荣获Pittcon－2012－撰稿人银奖
2012年3月11~15日，在佛罗里达州奥兰多举行的Pittcon 2012 展会上， Bruker最新的GC-MS 平台——SCION TQ三重四极杆气质联用系统(GC-MS TQ)拿到双奖。 之前，SCION TQ三重四极杆气质联用系统(GC-MS TQ)获得了第四届实验室
Bruker在Pittcon－2013上展出不使用氦气的SCION－GC系统
新型SCION 436和SCION 456 GC平台配置让用户可以安全、可靠的使用氢气，来替代氦气 宾夕法尼亚州费城， 2013年3月18日—今天在2013年匹兹堡会议上，布鲁克宣布了SCION™ 436 和SCION 456气相色谱仪的新配置，该配置支持使用氢气作为载气。氦气的持续不稳定
Bruker在Pittcon－2013展会上推出多款新品及解决方案
材料研究与分析 3D光学显微镜 ContourGT-K 3D光学显微镜 ContourGT-K ContourGT-K 3D光学显微镜提供最宽范围表面的成像与测量，并设立了表面量测性能设计与成本的新行业标准。凭借独特的表面粗糙度和2D/3D测量能力、高分辨成像和业界领先的用
Bruker在Pittcon－2012上推出ionBooster™高灵敏度离子源
新型ionBooster离子源显著提高了UHR-TOF系统分析各种化合物的定量限(LOQ)和检测限(LOD)，以及amaZon离子阱质谱的分析能力。 奥兰多，弗洛里达-2012年3月12日， 在Pittcon 2011展会期间，布鲁克宣布推出其高灵敏度的ionBooster离子源，新的
Bruker在Pittcon－2012上推出创新的NMR软件工具CMCassist™
Bruker推出CMC-assist™，是首款实现常规工作流程从数据采集到报告生成的完全无缝集成的NMR软件工具。 佛罗里达州奥兰多，2012年3月12日——在Pittcon 2012上，Bruker 展出了新的软件工具CMC-assist™，这是一款为N
矿物分析能用XRD或者XRF测量各个元素含量吗
XRD可以用来半定量分析，XRF经过标样校正后可以定量测元素含量
布鲁克推出三款新型ECO™系列XRD和XRF系统
2013年7月16日——布鲁克公司今天宣布推出其新型ECO™系列分析仪器，包括X射线荧光仪、X射线衍射仪和X射线晶体分析仪等，分别为S8 TIGER ECO™、D8 ADVANCE ECO™和D8 QUEST ECO™仪器。 最新的ECO系列产品的创新设计使其不但具有成本低(
Bruker收购艺术品与保护市场的XRF生产商XGLab
分析测试百科网讯 近日，Bruker宣布，已经收购了XGLab S.r.l.公司，该公司为X射线光谱和成像领域的应用开发和制造分析仪器，以及用于X射线和伽马辐射检测的先进电子设备。本次交易的财务细节尚未披露。 总部位于意大利米兰的XGLab公司成立于2009年，是意大利领先技术大学之一的米兰理
Bruker公司在Pittcon－2011上推出其高性能分析仪器新品
Bruker在Pittcon 2011上推出其应用于生命科学、工业和应用市场的新型高性能分析仪器 ATLANTA, Georgia –-2011年3月14日——布鲁克公司在Pittcon 2011展会上推出其最新的分析仪器并展示了其扩展的分析技术。新系统凭借高灵敏度、高
Bruker在Pittcon－2008上的生命科学和分析的解决方案
Bruker在Pittcon 2008上介绍了范围广泛的、新的生命科学和分析的高性能系统和创新解决方案[ 2008年3月3日Bruker公司] 新奥尔良， 2008年3月3日（美国商业新闻） 在2008年匹兹堡会议上，Bruker公司今天推出了许多创新的高效能系统和突破性的解决方案，应用于：
帕纳科在Pittcon－2017发布新型台式XRD系统Aeris
分析测试百科网讯 帕纳科是全球领先的分析型X射线仪器和软件供应商，在伊利诺伊州•芝加哥的Pittcon 2017展会上展示他们的新型台式XRD系统Aeris。与会者可以亲身体验这种新开发的系统的易用性和高性能。 目前为止，Aeris在全功率系统中的数据质量和数据采集速度将令人印象深刻。每个人都
XRD、XPS、XRF、红外、核磁样品制备及注意事项！
红外光谱样品制备 红外光谱是未知化合物结构鉴定的一种强有力的工具，尤其近几年来各种取样技术和联用技术的迅速发展，使得它成为分析化学应用中最广泛的仪器之一。 样品要求： 1、气体、液体（透明，糊状）、固体（粉末、粒状、片状…）。 气体样品：采用气体吸收池进行测试，吸收峰的强度可以通过调整气
Bruker两个产品获得了Pittcon－2008撰稿人金奖和铜奖
Bruker宣布它的两个新的突破性产品获得了Pittcon 2008撰稿人金奖和铜奖 新奥尔良（美国商业新闻） 2008年3月6日 在2008年匹兹堡会议上，Bruker公司（ NASDAQ：BRKR）推出了许多创新的高效能系统和突破性的解决方案，应用于：生命科学和材料研究、分子影像学研究、国土
Bruker两个产品获得了Pittcon－2008撰稿人金奖和铜奖
Bruker宣布它的两个新的突破性产品获得了Pittcon 2008撰稿人金奖和铜奖 新奥尔良（美国商业新闻） 2008年3月6日 在2008年匹兹堡会议上，Bruker公司（ NASDAQ：BRKR）推出了许多创新的高效能系统和突破性的解决方案，应用于：生命科学和材料研究、分子影像学
布鲁克Pittcon－2015推出S2－PUMA™台式X射线荧光光谱仪
2015年3月9日，布鲁克在Pittcon 2015上自豪地推出了S2 PUMATM台式多元素分析仪。S2 PUMA是一种能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF），可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。在布鲁克的台式XRF产品系列中，S2 PU
MilliporeSigma将在Pittcon2016推出分光光度计等新品
2016年2月24日，日本理学公司宣布将出席2016年3月6日-3月10日的美国第66届年度匹兹堡会议（Pittcon 2016）。 日本理学公司是全球级的研制和生产Ｘ射线科学分析仪器的制造商，本次Pittcon 2016上，理学将在展位＃1318上展出最新多样化的X射线衍
Bruker在Pittcon－2012上推出最新高性能分析仪器和解决方案
2012年3月12日—在Pittcon 2012展会上，Bruker公司宣布推出几款用于研究、工业生产和应用市场的新产品，灵敏度、专一性和生产率大幅提高，为研究分析带来了信心，同时推动乐高分子领域和材料的研究应用。在Pittcon 2012展会期间Bruker公司推出的新产品包括：io
波谱+能谱二合一的Zetium：让仪器更懂用户
——访帕纳科XRF产品经理 Christos Tsouris 分析测试百科网讯 在2015年举行的PITTCON上，帕纳科发布一款突破性新产品 ——Zetium 多功能X射线荧光光谱仪（XRF）（详见：帕纳科PITTCON2015新品发布：Zetium多
Pittcon－2011：撰稿人奖
2011年3月14~17日，在美国亚特兰大佐治亚世界会议中心隆重举行的Pittcon 2011展览会上，共有两家仪器厂商荣获今年撰稿人奖的金奖产品殊荣。一家小型的英国厂商首席亮相Pittcon展会，却能够力压众多大型知名仪器公司，荣获奖项。 Pittcon编辑选择奖评选委员会正
赛默飞世尔科技在Pittcon－2011推出新型ARL－PERFORMX－XRF
美国佐治亚州，亚特兰大，2011年3月17日 全球服务科学的领导者赛默飞世尔科技公司，在Pittcon 2011展会期间推出一款针对高端材料表征的ARL PERFORM'X XRF分析仪。ARL PERFORM'X即可以进行面扫描，也可以进行非常小的点分析，为分析各种固体和液体样品提
日本理学将携带旗下新品出席pittcon－2019
分析测试百科网讯 近日，Rigaku公司宣布将出席在美国宾夕法尼亚州费城会议中心举行的第70届匹兹堡分析化学和应用光谱学年度会议(Pittcon 2019)。 Pittcon是世界领先的实验室科学年会和博览会，吸引了来自全球90多个国家的工业界、学术界和政府等与会者的目光，加强了科学界人士与科
简介膜厚测试仪X射线衍射装置
简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。 具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠
布鲁克携新款X射线衍射仪D8－ENDEAVOR™参展Pittcon－2015
——布鲁克衍射荧光事业部推出最新款用于过程和质量控制的高性能X射线衍射系统D8 ENDEAVOR™ 2015年3月9日，在美国新奥尔良Pittcon 2015会议上，X射线衍射（XRD）仪器全球市场领导者布鲁克衍射荧光事业部介绍了一种以X射线粉末衍射技术对多晶材料进行分析研究的解决方案，