郑小宏课题组在二维二氧化锡材料研究中取得进展
近日，中国科学院合肥物质科学研究院固体物理研究所计算物理与量子材料研究部研究员郑小宏课题组在二维二氧化锡（SnO2）材料研究中取得进展。研究人员基于第一性原理计算方法理论预测SnO2的二维单层δ相（P-4m2）可以稳定存在，并发现δ相的二维SnO2材料具有平面内负泊松比特性。此外，通过空穴载流子掺杂，可诱导体系从非磁态向铁磁序转变，并实现完全自旋极化的半金属性。相关研究成果以Computational Prediction of a Two-dimensional Semiconductor SnO2 with Negative Poisson's Ratio and Tunable Magnetism by Doping为题，发表在Physical Review B上。 SnO2块体是一种n型宽带隙的半导体材料，常见的结构为金红石结构。由于具有较好的化学稳定性、高透光率、低电阻率以及耐酸碱等特点，SnO2在电极材......阅读全文
郑小宏课题组在二维二氧化锡材料研究中取得进展
近日，中国科学院合肥物质科学研究院固体物理研究所计算物理与量子材料研究部研究员郑小宏课题组在二维二氧化锡（SnO2）材料研究中取得进展。研究人员基于第一性原理计算方法理论预测SnO2的二维单层δ相（P-4m2）可以稳定存在，并发现δ相的二维SnO2材料具有平面内负泊松比特性。此外，通过空穴载流子
实验室反应釜使用的光催化剂介绍
实验室用光化学反应仪进行光化学反应的时候往往会借助各种各样的光催化剂来辅助加速光化学反应进行实验，那么实验室常用的光催化剂有哪些？能作为光催化剂的材料有很多，使用频率高，应用广泛得就是包括二氧化钛(TiO2),。其他纳米光催化剂还有如：氧化锌(ZnO),氧化锡(SnO2),二氧化锆(ZrO2)，硫化
碘化铯锡半导体热电性能独特
美国研究人员发现，一种名为碘化铯锡（CsSnI3）的晶体半导体材料具有独特的热电性能，能在保持高电导率的同时，隔绝大部分热量传递。他们在日前出版的美国《国家科学院学报》上发表文章指出，这种材料的热电性质独特，应用前景十分广阔。 碘化铯锡是一种半导体材料，几十年前就被发现，但直到最近几年才受到一
二维锡烯拓扑材料研究取得进展
近日，中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家研究中心教授王兵和副教授赵爱迪研究团队与清华大学助理教授徐勇、教授段文晖以及美国斯坦福大学教授张首晟合作，成功制备出具有纯平蜂窝结构的单层锡烯，并结合第一性原理计算证实了其存在拓扑能带反转及拓扑边界态。相关研究成果11月5日在线发表在《自然-材料》（Nat
二维锡烯拓扑材料研究取得进展
近日，中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家研究中心教授王兵和副教授赵爱迪研究团队与清华大学助理教授徐勇、教授段文晖以及美国斯坦福大学教授张首晟合作，成功制备出具有纯平蜂窝结构的单层锡烯，并结合第一性原理计算证实了其存在拓扑能带反转及拓扑边界态。相关研究成果11月5日在线发表在《自然-材料》（N
半导体所二维半导体磁性掺杂研究取得进展
近年来，二维范德华材料如石墨烯、二硫化钼等由于其独特的结构、物理特性和光电性能而被广泛研究。在二维材料的研究领域中，磁性二维材料具有更丰富的物理图像，并在未来的自旋电子学中有重要的潜在应用，越来越受到人们的关注。掺杂是实现二维半导体能带工程的重要手段，如果在二维半导体材料中掺杂磁性原子，则这些材
高分散超细铂/二氧化锡/还原石墨烯复合催化材料获进展
近期，固体所梁长浩研究员课题组在高分散超细铂/二氧化锡/还原石墨烯复合材料（Pt/SnO2/rGO）研究方面取得新的进展，相关工作已在Nano Energy上发表（Nano Energy, 2016, 26, 699-707）。 燃料电池作为一种高效、安全、清洁的化学能源而受到众多研究者的广泛
美国发现新型二维半导体材料
近日，美国犹他大学发现一种新型二维半导体材料一氧化锡。据了解，该材料可用于制备计算机处理器和图形处理器等电子设备内的晶体管，有助于研制出运行速度更快、更加节约能源的智能手机和计算机等电子设备。 当前，电子设备内晶体管的玻璃基板由许多层三维材料构成，如硅材料。其弊端在于当电子通过时，会在所有层内
二维半导体材料家族又有“小鲜肉”
据美国犹他大学官网消息，该校工程师最新发现一种新型二维半导体材料一氧化锡（SnO），这种单层材料的厚度仅为一个原子大小，可用于制备电子设备内不可或缺的晶体管。研究人员表示，最新研究有助于科学家们研制出运行速度更快且能耗更低的计算机和包括智能手机在内的移动设备。 一氧化锡这个“小鲜肉”由犹他大学
X荧光光谱法测定锡酸铅TDI还原型催化剂中锡和铅含量
报道了一种准确度高、分析步骤简单的锡酸铅TDI还原型催化剂中锡和铅含量的X射线荧光光谱方法(XRF).设计制备了标准样品,研究了仪器测试条件下元素峰位的选择和背景扣除方法.结果表明:X荧光光谱法在不破坏样品的前提下完成对二氧化锡和铅含量的同时测定,重复实验10次,Pb实验相对标准偏差为0.37%;S