SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性更强。 SDD探测器的突出特点有： 1.高计数率。 由于收集阳极的电容极低，相比通常的硅PIN器件，SDD具有更短的上升时间，因而特别适合在高计数率的情况下工作。 2.高能量分辨率。 SDD的阳极面积小于通常硅PIN器件，由于电容的减小，在收集等量电荷的情况下具有更高的电压，提高了其能量分辨率。 3.可在常温下工作。 SDD的电容和漏电流要比一般探测器小两个数量级以上，通常把场效应管（FET）和Peltier效应器件都整合到一起； 这样仪器在常温下就能满足SDD的制冷需求......阅读全文
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
基于SDD探测器X荧光仪的应用探讨
本文分析不锈钢样品并进行主成分Cr、Ni、Fe含量研究,通过Pu-238同位素源和微功耗X光管激发对比,以及SDD和Si-PIN探测器探测对比,评价SDD探测器在不锈钢主成分X射线荧光分析中的应用效果。实验中Pu-238同位素源采用双源对称布置,总活度为1.48×109Bq；X光管为Rh靶端窗结构,
X射线荧光光谱仪探测器简介
X射线荧光光谱仪常用的探测器有流气正比计数器和闪烁计数器，流气正比计数器用于轻元素检测，闪烁计数器用于重元素检测。 流气正比计数器由金属圆筒（阴极）、金属丝（阳极）、窗口及探测气体（惰性气体）构成。阳极都制成均匀光滑的细丝线，一般由钨、钼、铂、金等稳定的金属丝制成。 流气正比计数器中一般选用
X荧光光谱仪三种X射线探测器的比较及应用
X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。主要包括光源、激发单色器、样品池、荧光单色器及探测器等主要部件。而探测器是很重要的一环，它的重要作用是接受和分辨信号，由于探测器性能的不同，在选用探测器时，就需要综合考虑多种因素。 好的探测器不仅需要具有高分辨率和高计数率，还需要有较宽的元素分析范围
硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断
采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1～20keV)辐射的能谱,获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷却的特点,并采用高速ADC和海量缓
X射线荧光光谱仪在翡翠鉴定中的应用
X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱仪是一种用于材料分析的科学仪器，它可以快速、准确地分析材料的化学成分和结构。 它的工作原理是利用高能X射线的能量激发物质分子中的电子，使之处于激发态，当电子回到基态时会放出特定波长的荧光光线。不同元素的荧光光线具有一定的特征性，通过检测这些特征荧光光线，可以确
以色列X荧光光谱仪XRFCaliburSDD
仪器介绍： XRF-Calibur SDD非常适合于传统的实验室操作，它有完全整合的电脑控制系统。重型设计及制造使得该仪器成为移动实验室的理想选择。 主要特点： 1. 真正实现了快速，准确的检测，直接显示元素的ppm含量或者百分比。 2. 矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。
X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
简述X射线荧光光谱仪的应用
X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在
X射线荧光光谱仪的探测器应该如何选择
X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。对于不同的应用用途，X射线荧光光谱仪体系中探测器的选择也不尽相同。对于定性分析往往需要用到硅漂移探测器。硅漂移探测器（SDDs）能够提高低能量敏感度，使得X射线荧光光谱技术可以对一些低原子序数元素进行
X射线荧光光谱仪特点及应用
1.优点: 设备相对简单。 可以在大气中工作，灵敏度高。 2.缺点: X射线入射深度较大，因而当薄膜厚度在微米级以下时，常规射线技术在测定薄膜结构和成分信息时没有优势。 如:实验使用Cu靶X射线的波长约为0.15 nm，其在固体中的穿透厚度一般在100~10000 m之间，然而一般薄膜
x射线荧光光谱仪在不同方面的应用介绍
x射线荧光光谱仪具有广泛的应用，包括火成岩，沉积岩和变质岩学研究土壤调查采矿（例如，测量矿石品位） 水泥生产 陶瓷和玻璃制造 冶金（例如质量控制） 环境研究（例如，对空气过滤器上的颗粒物进行分析） 石油工业（例如，原油和石油产品的硫含量） 地质和环境研究中的现场分析（使用便携式手持式
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
概述X射线荧光光谱仪X射线的产生
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。 1、连续谱线 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪的广泛应用
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等，在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。 X射线荧光光谱仪主要性能优势： 1.集合
X射线荧光光谱仪的广泛应用
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等，在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。 X射线荧光光谱仪主要性能优势： 1.集合了多年
简述X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
x射线荧光光谱仪的应用领域
荧光光谱仪被广泛应用于化学、环境和生物化学领域。 是研究小分子与核酸相互作用的主要手段。通过药物与核酸相互作用，使DNA与探针键合的程度减小，反映在探针荧光光谱的改变，从而可以了解药物和核酸的作用机理。 荧光光谱仪是研究药物与蛋白质相互作用的常用仪器。药物与蛋白质相互作用后可能引起药物自身荧
X射线荧光光谱仪的应用领域
X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X射线荧光分析技术已被广泛用于冶金，地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分
高灵敏度X射线荧光光谱仪的特点
高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。 1、单色化聚集激发技术 高灵敏度X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射
X－射线荧光光谱仪
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。图
关于X－射线荧光仪探测器的介绍
流（充）气正比计数器和闪烁计数器用于探测不同的元素，其中充气正比计数器一般是填充 Ar、Kr 等惰性气体；一定要注意此类计数器头部玻璃很容易破碎，不能碰撞；长期使用后，充气正比计数器头部容易吸附灰尘影响计数，应该定期清理。流气正比计数器是让探测器气体流动，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
X射线荧光光谱仪分类中波长和能量有什么区别
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍
X射线荧光光谱仪X射线光管结构
常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成，并利用高压电缆与高压发生器相接，同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。 当电流流经X射线光管灯丝线圈时，引起阴极灯丝发热发光，并向四周发射电子
开放式微区X射线荧光光谱仪在颜料中的应用
铂悦仪器X射线荧光分析技术由于其分析速度快，可测元素范围广，无损检测等优点被广泛应用于科技考古领域。而微区X射线荧光分析技术将光学图像与元素分布成像相结合，为科研工作者提供了新的分析手段。Bruker开放式微区X射线荧光光谱仪M6 Jetstream能够对大尺寸文物进行原位、无损扫描分析，尤其适
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。