基于SDD探测器X荧光仪的应用探讨
本文分析不锈钢样品并进行主成分Cr、Ni、Fe含量研究,通过Pu-238同位素源和微功耗X光管激发对比,以及SDD和Si-PIN探测器探测对比,评价SDD探测器在不锈钢主成分X射线荧光分析中的应用效果。实验中Pu-238同位素源采用双源对称布置,总活度为1.48×109Bq；X光管为Rh靶端窗结构,功率为18kV/10μA; SDD和Si-PIN探测器的FWHM分别为136eV和185eV(对MnKa的5.9keVX射线)。采用权因子影响系数法校正基体效应。研究结果表明：(1)SDD探测器的分析精度优于Si-PIN,其最大分析误差、平均分析误差都小于Si-PIN。说明FWHM更窄的探测器克服谱峰干扰和解决基体效应的效果更好。(2)单色(多色)光源比连续X射线谱激发源在不锈钢主成分分析精度方面有更大的优势。X光管的光子输出率高,可以提高分析速度,但同时会产生连续谱本底,增加了特征峰的测量误差,导致分析精度降低。(3)对SDD探......阅读全文
基于SDD探测器X荧光仪的应用探讨
本文分析不锈钢样品并进行主成分Cr、Ni、Fe含量研究,通过Pu-238同位素源和微功耗X光管激发对比,以及SDD和Si-PIN探测器探测对比,评价SDD探测器在不锈钢主成分X射线荧光分析中的应用效果。实验中Pu-238同位素源采用双源对称布置,总活度为1.48×109Bq；X光管为Rh靶端窗结构,
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用
硅漂移探测器（SiliconDriftDetector，简称SDD）是半导体探测器的一种； 用来探测X射线，广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪（XRF）或者X射线能谱仪（EDS）上。 XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析数据的稳定性
以色列X荧光光谱仪XRFCaliburSDD
仪器介绍： XRF-Calibur SDD非常适合于传统的实验室操作，它有完全整合的电脑控制系统。重型设计及制造使得该仪器成为移动实验室的理想选择。 主要特点： 1. 真正实现了快速，准确的检测，直接显示元素的ppm含量或者百分比。 2. 矿石、岩石、矿渣、碎片、土壤、泥土、泥浆等固体和液体物质。
硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断
采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1～20keV)辐射的能谱,获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷却的特点,并采用高速ADC和海量缓
关于X－射线荧光仪探测器的介绍
流（充）气正比计数器和闪烁计数器用于探测不同的元素，其中充气正比计数器一般是填充 Ar、Kr 等惰性气体；一定要注意此类计数器头部玻璃很容易破碎，不能碰撞；长期使用后，充气正比计数器头部容易吸附灰尘影响计数，应该定期清理。流气正比计数器是让探测器气体流动，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
X射线荧光光谱仪探测器简介
X射线荧光光谱仪常用的探测器有流气正比计数器和闪烁计数器，流气正比计数器用于轻元素检测，闪烁计数器用于重元素检测。 流气正比计数器由金属圆筒（阴极）、金属丝（阳极）、窗口及探测气体（惰性气体）构成。阳极都制成均匀光滑的细丝线，一般由钨、钼、铂、金等稳定的金属丝制成。 流气正比计数器中一般选用
如何选择X射线荧光分析仪的探测器？
真正评估一款分析仪是否合适，是了解它可以为您想要检测的元素提供怎样的分析结果。首先要从探测器上进行选择： X射线荧光分析仪的探测器类型：PIN还是SDD 手持式XRF分析仪有两种类型的探测器：PIN和SDD。PIN探测器是一种较为落后的技术，与SDD(硅漂移探测器)相比，价格更便宜，不过，其
了解XRF中的常用“密语”，为检测加速
查看X射线荧光（XRF）相关的内容时，您可能会留意到文章里面经常会出现很多的英文略缩术语。您可以利用这份快速指南，来了解这些您经常会在网站上看到或者在工作中听到的略缩术语。 XRF XRF = X射线荧光。一种快速的无损检测方法。用来测量材料的化学元素组成。类似的略缩术语有: EDXRF
高灵敏度X射线荧光光谱仪的特点
高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。 1、单色化聚集激发技术 高灵敏度X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射
X射线荧光光谱仪的探测器应该如何选择
X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。对于不同的应用用途，X射线荧光光谱仪体系中探测器的选择也不尽相同。对于定性分析往往需要用到硅漂移探测器。硅漂移探测器（SDDs）能够提高低能量敏感度，使得X射线荧光光谱技术可以对一些低原子序数元素进行
X荧光光谱仪三种X射线探测器的比较及应用
X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。主要包括光源、激发单色器、样品池、荧光单色器及探测器等主要部件。而探测器是很重要的一环，它的重要作用是接受和分辨信号，由于探测器性能的不同，在选用探测器时，就需要综合考虑多种因素。 好的探测器不仅需要具有高分辨率和高计数率，还需要有较宽的元素分析范围
日立发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪－XStrata920
英国牛津：日立分析仪器公司（日立分析仪器），是日立高新技术公司（TSE：8036）旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日，日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。 日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子
【专利】一种基于XRF的盐湖卤水在线测量装置及测量方法
一种基于XRF的盐湖卤水在线测量装置及测量方法 申请号：CN202310715601.X 申请日：20230616 公开（公告）日：20230922 申请（专利权）人：南京航空航天大学 发明人：贾文宝； 单卿； 罗阳雪； 张新磊； 张纪伟 摘要：本发明公开了一种基于XRF的盐湖卤水在
X射线荧光光谱仪分类中波长和能量有什么区别
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍
当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障
ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。 ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题 故障现象： 进行P
当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障
ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。 ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题 故障现象： 进行P
当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障
ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。 ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题 故障现象： 进行P
XRF分析在锂电池回收利用行业的应用
废旧锂离子电池回收是缓解资源短缺的重要手段。X射线荧光（XRF）分析为有价值材料的评估和回收带来了一种经济有效的方法。 在锂离子电池回收利用过程中，准确分析各种各样的黑粉样品具有很大的挑战性。日立的X-MET8000手持式XRF分析仪，如果用于快速筛选和测定Mn、Ni和Co的百分比含量，10-
关于荧光光谱仪的选型指南介绍
早期的台式荧光光谱仪使用液氮（LN）致冷探测器Si（Li）LN，每次使用要消耗液氮，也不方便。电致冷硅漂探测器SiPIN出现后，就成为侧RoHS光谱仪探测器的主流。液氮致冷灵敏度较容易达到要求，成本比电致冷的稍微低点，所以现在个别品牌还有液氮的。但现有的电致型都能达到RoHS要求，且有的品牌用S
RoHS指令的检测方法
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式(手持式)ROHS检测仪检测，能通过的就算合格
RoHS指令的检测方法
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式(手持式)ROHS检测仪检测，能通过的就算合
X射线荧光光谱仪(XRF)－简介
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的
X射线荧光分析技术分类
X射线荧光分析技术可以分为两大类型：波长色散X射线荧光分析(WDXRF)和能量色散X射线荧光分析(EDXRF)；而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。目前，X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一
布鲁克发布S2－PUMA能量色散型X射线荧光光谱仪
S2 PUMA ——新一代适应性强大的光谱仪 布鲁克公司于2015年3月9日，发布了一款可分析多元素的能量色散型X射线荧光光谱仪S2 PUMA。S2 PUMA用于检测各种类型样品中的元素含量，测试的元素范围广泛，可从非常轻的碳（C）元素直到重元素铀（U）。 特点： 高灵敏度TM技术使EDX
EDX－3600K－X荧光光谱仪性能优势体现在哪些方面
X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以
EDX－4500H－X荧光光谱仪性能优势体现在哪些方面
X荧光光谱仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以
X射线荧光分析技术的应用
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；
X射线荧光分析技术的应用
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其他分析方法