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等离子体原子/离子荧光光谱是独具特色的痕量、超痕量元素分析工具。作为一种简单、实用的光谱分析技术，尽管在多年的发展历史上远远没有达到理论上应有的研究和应用水平，在仪器结构中还有很多需要改进和完善之处，如发展新型大功率激发光源、研 究新型原子化器/离子化器以及使用新型检测器件等。结合电子学、计算机、激光技术的发展，以及其他仪器分析技术的进步，原子/ 离子荧光光谱分析技术在以下几个方面将得到发展。(1)激发光源 对已经研究多年并取得成功的大电流短脉冲供电(high current microsecond pulsed， HCMP)空心阴极灯的进一 步研究，尤其是对该种供电的空心阴极灯结构的优化设计，以使其能在商品化原子荧光、离子荧光光谱分析仪器中得以推广、使用。 由于染料激光器操作复杂，在商品分析仪器上使用有较多困难，半导体激光器的发展已经使其在原子吸收光谱和分子光谱分析中得到应用，半导体激光器体积小、质量轻、调谐简单的......阅读全文
等离子体原子/离子荧光光谱是独具特色的痕量、超痕量元素分析工具。作为一种简单、实用的光谱分析技术，尽管在多年的发展历史上远远没有达到理论上应有的研究和应用水平，在仪器结构中还有很多需要改进和完善之处，如发展新型大功率激发光源、研 究新型原子化器/离子化器以及使用新型检测器件等。结合电子学、计算机、激
痕量、超痕量金属元素的检测是实验室日常工作中经常遇到的问题。金属元素最常用的测定方法主要有 ICP-AES、石墨炉原子吸收光谱（GFAAS）、火焰原子吸收光谱（FAAS）和原子荧光光谱分析技术。ICP-MS 是最近一些年快速发展起来的一种痕量、超痕量元素分析技术，其优异的分析性能，如灵敏度高、动态线
无论使用 HCL 或 Xe 弧灯、Ar 或 He， MIP 都可以用作原子荧光光谱的原子化器，开展对碱金属、碱土金属以及过渡金属元素的原子荧光光谱研究；普通 HCL 与 Xe 弧 灯作激发源的 Ar MIP-AFS 对所研究元素的原子荧光光谱的检出限基本相当，都表现为碱金属、碱土金属元素的检出限比其
对 ICP-AFS/IFS 研究工作的主要方向是追求被测元素，尤其是难熔金属元素的检出限，使该技术能满足痕量、超痕 量金属元素分析的要求。由于 ICP 优异的高温性能，增加 ICP 的入射功率，可增大待测元素原子的电离度，增加待测元素粒子数密度，因此，ICP-IFS 是解决难熔元素原子荧光光谱测定灵
1、 空心阴极灯的强短脉冲供电电源与 DC-HCL 或 CP-HCL 供电电源相比，HCMP-HCL 供电电源需要进行特殊设计，电源要提供微秒宽度的脉冲，峰值工作电流 一般为几安培，最大可到十几安培。下图所示为强短脉冲电源示意图。强短脉冲供电时，HCL 工作在大电流状态，电流一般为几安培，对个别元素
使用短炬管的 ICP 原子化器、离子化器进行原子/离子荧光信号观测时，观测区域一般也是在等离子体的尾焰部分，使用的入射功率也要比 ICP-AES 分析时的等离子体功率低，一般为800W 左右。对 HCMP-HCL 激发的短炬管 ICP-AFS/IFS 的研究表明，由于荧光信号观测区域的等离子体温度较
激光辐射的强度非常高，是普通光辐射强度的106〜1016倍。 激光技术的出现为光谱技术的发展开辟了一片崭新的天地。激光以多种方式被应用于原子光谱分析中，并由此产生了许多新的分析方法，如激光原子吸收光谱分析法（LAAS）、激光增强离子光谱分析法（LEIS）、共振离子化质谱分析法（RIMS）等。用激光作
加长炬管ICP原子/离子荧光光谱利用 Plasa/AFS 2000系统中加长炬管 ICP 为原子化器/离子化器进行等离子体原子/离子荧光光谱研究，原因之一是充分利用已有的硬件设备，尤其是系统本身的等离子体光源以及元素组件，二 是建立的等离子体原子/离子荧光光谱检测系统可直接与 Plasa/ AFS
当紫外线照射到某些物质的时候，这些物质会发射出各种颜色和不同强度的可见光，而当紫外线停止照射时，所发射的光线也随之很快地消失，这种光线被称为荧光。 西班牙的内科医生和植物学家N.Monardes于1575年第一次记录了荧光现象。17世纪，Boyle和Newton等著名科学家再次观察到荧光现象。17
分子荧光光谱分析编辑molecular fluorescence analysis当物质分子吸收了特征频率的光子，就由原来的基态能级跃迁至电子激发态的各个不同振动能级。激发态分子经与周围分子撞击而消耗了部分能量，迅速下降至第一电子激发态的最低振动能级，并停留约10－9秒（10的负9次方秒）之后，直接