实验室光谱仪器离子荧光光谱分析的发展前景
等离子体原子/离子荧光光谱是独具特色的痕量、超痕量元素分析工具。作为一种简单、实用的光谱分析技术，尽管在多年的发展历史上远远没有达到理论上应有的研究和应用水平，在仪器结构中还有很多需要改进和完善之处，如发展新型大功率激发光源、研 究新型原子化器/离子化器以及使用新型检测器件等。结合电子学、计算机、激光技术的发展，以及其他仪器分析技术的进步，原子/ 离子荧光光谱分析技术在以下几个方面将得到发展。(1)激发光源 对已经研究多年并取得成功的大电流短脉冲供电(high current microsecond pulsed， HCMP)空心阴极灯的进一 步研究，尤其是对该种供电的空心阴极灯结构的优化设计，以使其能在商品化原子荧光、离子荧光光谱分析仪器中得以推广、使用。 由于染料激光器操作复杂，在商品分析仪器上使用有较多困难，半导体激光器的发展已经使其在原子吸收光谱和分子光谱分析中得到应用，半导体激光器体积小、质量轻、调谐简单的......阅读全文
实验室光谱仪器离子荧光光谱分析的发展前景
等离子体原子/离子荧光光谱是独具特色的痕量、超痕量元素分析工具。作为一种简单、实用的光谱分析技术，尽管在多年的发展历史上远远没有达到理论上应有的研究和应用水平，在仪器结构中还有很多需要改进和完善之处，如发展新型大功率激发光源、研 究新型原子化器/离子化器以及使用新型检测器件等。结合电子学、计算机、激
实验室光谱仪器等离子体原子/离子荧光光谱分析应用
痕量、超痕量金属元素的检测是实验室日常工作中经常遇到的问题。金属元素最常用的测定方法主要有 ICP-AES、石墨炉原子吸收光谱（GFAAS）、火焰原子吸收光谱（FAAS）和原子荧光光谱分析技术。ICP-MS 是最近一些年快速发展起来的一种痕量、超痕量元素分析技术，其优异的分析性能，如灵敏度高、动态线
实验室光谱仪器MPT－原子/离子荧光光谱
无论使用 HCL 或 Xe 弧灯、Ar 或 He， MIP 都可以用作原子荧光光谱的原子化器，开展对碱金属、碱土金属以及过渡金属元素的原子荧光光谱研究；普通 HCL 与 Xe 弧 灯作激发源的 Ar MIP-AFS 对所研究元素的原子荧光光谱的检出限基本相当，都表现为碱金属、碱土金属元素的检出限比其
实验室光谱仪器电感耦合等离子体原子/离子荧光光谱
对 ICP-AFS/IFS 研究工作的主要方向是追求被测元素，尤其是难熔金属元素的检出限，使该技术能满足痕量、超痕 量金属元素分析的要求。由于 ICP 优异的高温性能，增加 ICP 的入射功率，可增大待测元素原子的电离度，增加待测元素粒子数密度，因此，ICP-IFS 是解决难熔元素原子荧光光谱测定灵
实验室光谱仪器电感耦合等离子体原子/离子荧光光谱
1、 空心阴极灯的强短脉冲供电电源与 DC-HCL 或 CP-HCL 供电电源相比，HCMP-HCL 供电电源需要进行特殊设计，电源要提供微秒宽度的脉冲，峰值工作电流 一般为几安培，最大可到十几安培。下图所示为强短脉冲电源示意图。强短脉冲供电时，HCL 工作在大电流状态，电流一般为几安培，对个别元素
实验室光谱仪器短炬管－ICP－原子/离子荧光光谱
使用短炬管的 ICP 原子化器、离子化器进行原子/离子荧光信号观测时，观测区域一般也是在等离子体的尾焰部分，使用的入射功率也要比 ICP-AES 分析时的等离子体功率低，一般为800W 左右。对 HCMP-HCL 激发的短炬管 ICP-AFS/IFS 的研究表明，由于荧光信号观测区域的等离子体温度较
实验室光谱仪器激光激发原子荧光光谱分析法概述
激光辐射的强度非常高，是普通光辐射强度的106〜1016倍。 激光技术的出现为光谱技术的发展开辟了一片崭新的天地。激光以多种方式被应用于原子光谱分析中，并由此产生了许多新的分析方法，如激光原子吸收光谱分析法（LAAS）、激光增强离子光谱分析法（LEIS）、共振离子化质谱分析法（RIMS）等。用激光作
实验室光谱仪器短加长炬管－ICP－原子/离子荧光光谱
加长炬管ICP原子/离子荧光光谱利用 Plasa/AFS 2000系统中加长炬管 ICP 为原子化器/离子化器进行等离子体原子/离子荧光光谱研究，原因之一是充分利用已有的硬件设备，尤其是系统本身的等离子体光源以及元素组件，二 是建立的等离子体原子/离子荧光光谱检测系统可直接与 Plasa/ AFS
荧光光谱分析
当紫外线照射到某些物质的时候，这些物质会发射出各种颜色和不同强度的可见光，而当紫外线停止照射时，所发射的光线也随之很快地消失，这种光线被称为荧光。 西班牙的内科医生和植物学家N.Monardes于1575年第一次记录了荧光现象。17世纪，Boyle和Newton等著名科学家再次观察到荧光现象。17
分子荧光光谱分析
分子荧光光谱分析编辑molecular fluorescence analysis当物质分子吸收了特征频率的光子，就由原来的基态能级跃迁至电子激发态的各个不同振动能级。激发态分子经与周围分子撞击而消耗了部分能量，迅速下降至第一电子激发态的最低振动能级，并停留约10－9秒（10的负9次方秒）之后，直接
同步荧光光谱分析
同步荧光分析根据激发单色器和发射单色器在扫描过程中彼此间保持的关系，同步扫描荧光技术可分为固定波长差， 固定能量差，和可变角同步扫描三类。固定波长差方法将激发和发射单色器波长维持一定的差值，得到同步荧光光谱。这时如果 相当于或者大于斯托克额斯位移，能够获得尖而窄的荧光峰。荧光物质分子浓度与
实验室分析仪器光谱分析中的等离子体概念
在物理学中，等离子体状态是指物质已全部离解为电子及原子核的状态，而光谱分析中的等离子体概念则不是十分严格，光谱分析中的等离子体仅在一定程度上被电离（电离度在0.1％以上），是包含分子、原子、离子、电子等各种粒子的集合体。原子光谱分析中的等离子体通常采用气体放电的方法获得，作为原子和离子发射光谱的激发
光谱分析——荧光分析法
荧光分析法：利用荧光强度进行分析的方法，称为荧光法。在荧光分析中，待测物质分子成为激发态时所吸收的光称为激发光，处于激发态的分子回到基态时所产生的荧光称为发射光。医学教|育网搜集整理荧光分析法测定的是受光激发后所发射的荧光强弱
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X－射线荧光光谱分析
本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。 更多还原
X射线荧光光谱分析
XRF的原理：X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照
荧光光谱分析仪
和大多数光谱分析方法一样，荧光光谱分析仪主要由光源、单色器或波长选择系统，样品池和检测器。和其他光谱仪器的一个重要区别在于，荧光光谱需要两个独立的波长选择系统，一个用于激发，另一个用于发射（王镇浦等, 1989; 赵藻藩等, 1990）。 （1） 光源 在紫外－可见区范围内，常用的光源是氙弧灯和高
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
分子荧光光谱分析作用
作用编辑对于稀溶液（ 吸光度A=εcl≤0.05 ）而言，其荧光强度F=2.3jI0εcl。式中j是荧光物质的荧光效率；I0为入射光强度；ε为荧光物质的摩尔吸光系数，c为荧光物质的浓度 ，l为样品池的厚度。该式表明，在稀溶液（A≤0.05）和I0及l不变的条件下，荧光强度与该物质的浓度成正比
X荧光光谱分析特点
由于X射线荧光的能量比较大，样品被激发后，产生的特征X射线极易被吸收，而从样品中发射出来的荧光很少，也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素，不是特长，因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。同理，对于轻元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的检出限；但对于高含量的轻元素分析，却有
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
光谱分析仪器
光谱分析仪器是进行光谱分析的仪器设备，主要由光源、分光系（光谱仪）及观测系统三部分组成。光源光源的作用：首先，把试样中的组分蒸发离解为气态原子，然后使这些气态原子激发，使之产生特征光谱。因此光源的主要作用是提供试样蒸发、原子化和激发所需的能量。常用光源类型：目前常用的光源有直流电弧、交流电弧、电火花
实验室光谱仪器MIP－原子荧光光谱
Perkins 等采用 TM010 腔获得的低功率 MIP 为原子化 器，通过使用普通 HCL 或 Xe 弧灯为激发光源、Ar 或 He 为 工作气体研究了多种元素的原子荧光光谱，证明 MIP 也可用作原子荧光光谱的原子化器。在 Perkins 等此建立的研究系统中，样品经气动雾化后不 经去溶直接进
实验室分析仪器色谱与原子荧光光谱分析联用介绍
原子荧光光谱（AFS）分折具有高度的元素专一性和高的灵敏度。但它没有价态或形态的分辨能力。今天的分析化学已经超出了元素分析的水平，而要对元素的不同价态、形态给出一个全面的分析结果，这就要求将AFS与各种分离技术联用来实现。冷阱分离和色谱分离是其中主要的两类联用分离技术。冷阱的分离能力相对较低，且使用
射线荧光光谱分析技术的应用
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
荧光光谱分析的原理及方法
荧光分析法是指利用某些物质被紫外光照射后处于激发态，激发态分子经历一个碰撞及发射的去激发过程所发生的能反映出该物质特性的荧光，可以进行定性或定量分析的方法。由于有些物质本身不发射荧光（或荧光很弱），这就需要把不发射荧光的物质转化成能发射荧光的物质。例如用某些试剂（如荧光染料），使其与不发射荧光的
X射线荧光光谱分析的简介
利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。 根据色散方式不同，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪（波长色散）和X射线荧光能谱仪
光谱分析仪器的种类
基于光谱分析方法原理而设计的仪器即为光谱分析仪器。参考光谱分析方法的分类，光谱分析仪器也可按同样的方法进行分类。表1为常用光谱分析仪器及其应用。注：电感耦合等离子体质谱仪不属于光谱分析仪器，但由于其操作、使用、维护和保等均与光谱分析仪器类似。
分子荧光光谱分析检测设置
进行分子荧光光谱分析的仪器称荧光分光光度计。它由5 部分组成：光源；单色器；样品池；检测器；显示装置 。荧光激发光谱和发射光谱，可用来鉴定有机化合物。冷却至 77K ，可获得高度分辨的低温荧光光谱，有利于鉴别 。还可采用同步扫描荧光法，及1～4阶的导数荧光光谱和三维光谱等，来鉴别多组分荧光物质。
X射线荧光光谱分析简介
一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。 然后，仪器