X荧光光谱仪分类及比较
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF），是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行定性和定量分析。该仪器产生于50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定，受到观注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。 随着科学技术的进步，在60年代初发明了半导体探测器以后，对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X......阅读全文
X射线荧光光谱仪分类的相关介绍
按照色散方式的不同，X射线荧光光谱仪可以分为2类：波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）和能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）。 能量色散型x射线光谱仪 现代应用X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手
X射线荧光光谱仪常见故障分析
1、故障现象：X射线发生器的高压开不起来。 故障分析： 这是X射线荧光光谱仪较常见的故障，一般发生在开机时，偶尔也发生在仪器运行中。故障的产生原因可以从三个方面去分析：1、X射线防护系统;2、内部水循环冷却系统;3、高压发生器及X射线光管。2、故障现象：光谱室和样品室的真空抽不到规定值。
X射线荧光光谱仪的广泛应用
X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等，在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。 X射线荧光光谱仪主要性能优势： 1.集合了多年
X射线荧光光谱仪的物理原理介绍
当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质
分析X射线荧光光谱仪的产品特点
X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干； 2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm； 3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm 4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，请提前说明
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪探测器简介
X射线荧光光谱仪常用的探测器有流气正比计数器和闪烁计数器，流气正比计数器用于轻元素检测，闪烁计数器用于重元素检测。 流气正比计数器由金属圆筒（阴极）、金属丝（阳极）、窗口及探测气体（惰性气体）构成。阳极都制成均匀光滑的细丝线，一般由钨、钼、铂、金等稳定的金属丝制成。 流气正比计数器中一般选用
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪分析误差的来源
X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1． 采样误差：非均质材料样品的代表性2． 样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3． 不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4． 仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5． 不适当的
X射线荧光光谱仪的维护与保养
X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器，对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿，避免酸性气体存在；要保持清洁，避免震动；要保证电源稳定，并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分，如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养，保证仪器处于最佳的运行状态。
X射线荧光光谱仪准直器介绍
准直器是由许多间距精密的平滑的薄金属片叠积而成，它分为初级准直器和次级准直器。初级准直器安装在样品和晶体之间，次级准直器安装在探测器的前面，初级准直器使样品发射出的X射线荧光通过准直器变成平行光束照射到晶体上，经晶体分光后再通过次级准直器准直后进入探测器，初级准直器对光谱仪分辨率起着重要作用。
X射线荧光光谱仪的应用领域
X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X射线荧光分析技术已被广泛用于冶金，地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干；2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm；3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，需提前说明。
X射线荧光光谱仪更智能的未来前景
X射线荧光光谱仪对很多实验操作人来说并不陌生知道它有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）；以X荧光的波粒二象性中波长特征为原理的称为波长色散以能量特征为原理的称为能量色散型1、是一种快速的、非破坏式的物质测量方法；2、是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X
X射线荧光光谱仪的构成与分析原理
X射线荧光光谱仪 (XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生发射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测
x射线荧光光谱仪的主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品
X射线荧光光谱仪样品室的故障分析
光谱室和样品室的真空抽不到规定值，样品室最常见的漏气部位是样品自转装置上的密封圈，样品测量时通常以0.5转/秒的速度自转，仪器几年运行下来，样品自转处的密封圈磨损，密封效果变差。
X射线荧光光谱仪的构成与分析原理
X射线荧光光谱仪 (XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生发射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将
波长色散X射线荧光光谱仪利用原级
X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源，分光系统，探测器系统，真空系统和气流系统等部分组成。根据分析晶体的
X射线荧光光谱仪的构造和测试步骤
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。 X射线荧光光谱仪的构
波长色散X射线荧光光谱仪应用领域
理学波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。应用领域
X射线荧光光谱仪的组成与维护使用
X射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为相关部门提供了一种可行的、低成本的并且及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。 相对于其他分析方法，XRF具有无需对样品进行特别的化学处理，快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关部门作为过程控制和检测使用。
每日一学:x射线荧光光谱仪工作原理
多道X射线荧光光谱仪MXF-2400是升级型的多道型X射线荧光光谱仪。MXF-2400采用根据X射线荧光分析原理新设计的硬件以及配备丰富软件数据处理装置，全自动进行分析数据的管理，可同时分析36种元素，再加上单道扫描型分光器可同时处理48种元素，实现了传统X射线荧光装置难以做到的数ppm级的高灵敏
X射线荧光光谱仪的原理和应用介绍
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是
波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述
波长色散X射线荧光光谱仪的优点阐述波长色散X射线荧光光谱仪，采用了新技术设计的固态发生器、新技术设计的高电流低温X射线光管、当前电子技术新设计的电路板、新开发的高强度晶体等，使X射线荧光光谱仪对元素的分析产生了突破，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、操作简便性、可靠性、分析速度、功能完备的分析软件等
X射线荧光光谱仪（XRF）基本原理
X射线荧光光谱仪简称：XRF，适用于简单的元素识别和定量以及更加复杂的分析，X射线荧光光谱分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光，它是利用一定波长的X射线照射材料，元素处于激发状态，从而激发出光子，形成一种荧光射线，由于不同元素的激发态的能量大
x射线荧光光谱仪的主要用途
仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品
能量色散X射线荧光光谱仪的开发
X射线荧光分析方法因其具有对试样无损坏、多元素快速分析、准确性高、分析速度快、不污染环境等特点，适合直接用于生产的过程控制和检测中，具有广阔的市场前景和相当的研究意义。本文针对RoHS检测的需求，分析了X射线荧光分析技术的理论基础，明确了能量色散X射线荧光光谱仪的工作原理及相应光谱分析软件设计方法。