X荧光光谱仪分类及比较

一、X-射线荧光光谱仪(XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF),是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行定性和定量分析。该仪器产生于50年代,由于可以对复杂体系进行多组分同时测定,受到观注,特别在地质部门,先后配置了这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。 随着科学技术的进步,在60年代初发明了半导体探测器以后,对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪(ED-XRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X......阅读全文

关于X射线荧光光谱仪应用领域具备的特点介绍

  X射线荧光光谱仪(XRF)是用于元素定量分析的仪器,广泛应用于钢铁、水泥、石油化工、环境保护、有色冶炼、材料、科研等各个领域,其在制样方便、无损、快速等方面优于其它分析方法,但其在定量精度和样品适应范围等方面一直存在挑战。  当前XRF广泛应用的领域往往具备三个特点:一是样品基体相对稳定;二是分

分析X射线荧光光谱仪峰形不光滑的原因

  晶体是仪器内最脆弱的部件,尽量不要用手接触衍射面,如果手或其他东西碰到了晶体的衍射面,就会污染晶体,手上的汗或其他物质渗到晶体的表面,使晶体表面的晶格间距发生变化,而X射线荧光的衍射主要发生在晶体的表面,因此造成2θ扫描的峰形不光滑。这种故障一时很难消除,文献介绍了晶体的表面处理方法,但一般清洗

波长色散X射线荧光光谱仪的三大组成结构分析

1、X射线光管X射线光管由阴极灯丝和阳极靶组成,灯丝通电流后会放出热电子,在阴极灯丝和阳极靶之间加一个20~60kV的高压,电子在高压作用下加速撞击阳极靶。阳极靶由金属组成,常用的材料有Rh、Mo、Cr。加速电子撞击阳极靶,与靶金属中的电子相互作用并以X射线光子的形式释放部分能量,这些X射线光子就是

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 无论是工业生产控制还是深入的材料研究,均可根据单独的带药求进行定制。进口X射线荧光光谱仪从未知物相鉴定和混合物定量,到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定,系统的应用不受任何限制,在所有领域都体现出高性能。采用第二代陶瓷X光管技术,通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位,用户在更换X光管

便携式X射线荧光光谱仪应用条件试验及效果

利用IED2000P型便携式X射线荧光光谱仪,选择安徽绩溪荆州银多金属矿矿区进行找矿条件试验。试验中分别就不同测点密度、基岩与土壤测量、不同湿度条件、基岩与岩石粉末样测量进行了对比研究,确定了最佳的应用条件。即:确定测点密度应综合考虑异常体规模和实际工作量因素;基岩X荧光光谱测量较之土壤测量更能客观

X射线荧光光谱仪在ROHS检测中的优劣势

 许多ROHS仪器用户大概都不太清楚这款仪器是基于怎样的应用原理来完成作业的,这就是今天我们要在这里为大家介绍的XRF-X射线荧光光谱仪的优缺点。X射线荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。  X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二

x荧光光谱仪发出的x射线对人体有危害吗

x射线荧光分析仪目前主要有两种,一种是能量色散型,一种是波长色散型。第一:能量色散型的x射线有低功率x射线管或者放射源产生,现在一般不会有什么问题的,特别是x光管产生x射线的,不会有问题,但是用放射源的要注意防护第二:波长色散x荧光光谱仪,特别是现在几千瓦的仪器,在安装、维修中要注意点,平时使用中不

顺序式X射线荧光光谱仪常见故障的诊断方法

  顺序式X射线荧光光谱仪是扫描型的仪器,当仪器运行时,许多部件在动作,如测角仪、晶体转换器、准直器等,经常动作的部件容易出现问题,另外控制和探测各个部件动作的电子线路板也可能出现问题。   新型的X射线荧光光谱仪都装有故障诊断软件,分布于仪器各个部位的传感器将仪器的状态信号传输到计算机,

简述X射线荧光光谱仪的注意事项和严禁事项

  一、注意事项  1 观察室温是否为18~28℃,湿度是否为75%或更低。  2 注意外部、内部冷却循环水的参数。  3 注意各制样设备是否运转正常,样品制作出来后是否稳定分析。  二、严禁事项  1 严禁点击仪器操作软件PCMXF中的紧急停止按钮“STOP”  2 严禁样盒不旋紧进样,造成样品卡

波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的区别

  多数人到现在还不清楚如何的区分波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的之间的区别到底有哪一些不一样的,本文中使用表格的形式简单的介绍两者之间的原理结构,一分钟快速掌握其中的奥秘。   日本理学大功率台式波长色散X射线荧光光谱仪   新型Supermini200拥有改良的软件功能和更

波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的区别

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波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的区别

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荧光硫测定仪LJLH1080型能量色散型X射线荧光光谱仪

技术参数分析量程:0.0007%-0.1%(7ppm-1000ppm)0.1%-50%(1000ppm-500000ppm)分析精度:高于国内同类产品,具体参数如下:样品浓度50ppm时,<士10ppm样品浓度100ppm时,<士8ppm样品浓度1000ppm时,<士5%样品浓度1%时,<士0.5%

X射线荧光光谱仪在同类产品中的优异表现

 X射线荧光光谱仪是一个用于矿业矿物质分析的全套的分析工具,为从锑至锌的应用领域,提供的高灵敏度、多功能、稳定和快速的矿产勘查,矿山管理,选矿和质量控制。  X射线荧光光谱仪优异表现:  -  的SuperQ软件搭配“分析精灵"专家帮助系统,为您提供24/7的专家级帮助;  -  THETA游离氧化

X射线荧光光谱仪对硫化铜矿的样品分析应用

  X射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作

新型X射线荧光光谱仪对微量元素的分析研究

X射线荧光光谱法适用于对物质成分分析,可直接对固体(块状或粉末状)和液体样品中主量元素、微量元素进行多元素同时分析。当结合薄样技术时,具有高灵敏度,用样量少等优点。随着分析技术的发展和科研水平的提高,分析领域愈发关注待测成分复杂和含量低等特点课题,对仪器本身提出更高要求。本课题组由田宇纮教授带领下在

X射线荧光光谱仪对硫化铜矿的样品分析应用

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当波长色散型X射线荧光光谱仪探测器出现故障

  ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理,广州仪德精密科学仪器股份有限公司工程师教你一招,自己也可以进行故障排除。   ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题   故障现象:   进行P

实验应用波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析

  X射线荧光光谱仪对矿石领域的金属元素分析有着丰富的经验及完整的配套方案,下面分享通过日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析。   俗称御影石的花岗岩属于酸性深成岩,是由石英,斜长石,云母,角闪石等构成的矿物质。在此介绍如何使用ZSX新功能---CCD相机和样品台驱动装置组合,对花岗

X射线荧光光谱仪MIDEX对贵金属和珠宝的检测应用

  各地区各级质量技术监督局下属事业单位质量计量监督检测所有设置珠宝首饰检验室或贵金属检验室等,主要职责是对企业或个人送检及质量执法抽检样品的检测和评级认证。针对贵金属(金、铂、钯、银等)饰品、钻石分级、珠宝玉石(红宝石、蓝宝石、祖母绿、珍珠、翡翠等国家标准规定的所有珠宝玉石品种)及饰品和观赏石(岩

新型X射线荧光光谱仪对微量元素的分析研究

X射线荧光光谱法适用于对物质成分分析,可直接对固体(块状或粉末状)和液体样品中主量元素、微量元素进行多元素同时分析。当结合薄样技术时,具有高灵敏度,用样量少等优点。随着分析技术的发展和科研水平的提高,分析领域愈发关注待测成分复杂和含量低等特点课题,对仪器本身提出更高要求。本课题组由田宇纮教授带领下在

新型X射线荧光光谱仪对微量元素的分析研究

X射线荧光光谱法适用于对物质成分分析,可直接对固体(块状或粉末状)和液体样品中主量元素、微量元素进行多元素同时分析。当结合薄样技术时,具有高灵敏度,用样量少等优点。随着分析技术的发展和科研水平的提高,分析领域愈发关注待测成分复杂和含量低等特点课题,对仪器本身提出更高要求。本课题组由田宇纮教授带领下在

X射线荧光光谱仪的六大优点你知道吗?

 X射线荧光光谱仪的应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域的检测设备,大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,X射线荧光光谱仪 具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。  在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生

能量色散X射线荧光光谱仪信号处理系统研究

近几十年来,X射线荧光光谱仪不断的发展和完善,并且X射线荧光分析技术的应用领域越来越广泛,不仅在地质、矿物、石油等领域被广泛应用,在化工、医疗等领域也大放异彩。现代能量色散X射线荧光(EDXRF)光谱仪的主要组成部分有:X射线发生器(X射线管、高压电源)、检测系统(准直器、探测器)、信号处理电路(放

X射线荧光光谱仪对硫化铜矿的样品分析应用

X射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作为国

《波长色散-X-射线荧光光谱仪》等校准规范(征求意见稿)

  各有关单位、各位专家、各位委员:  现将市场监管总局《2020年国家计量技术规范制定、修订及宣贯计划》中的两份计量技术规范:《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范》和《环境空气挥发性有机物采样器校准规范》(征求意见稿)发给你们,请你们在百忙之中抽出时间对征求意见稿提出宝贵意见和建议。征求意见截止时间

开放式微区X射线荧光光谱仪在颜料中的应用

  铂悦仪器X射线荧光分析技术由于其分析速度快,可测元素范围广,无损检测等优点被广泛应用于科技考古领域。而微区X射线荧光分析技术将光学图像与元素分布成像相结合,为科研工作者提供了新的分析手段。Bruker开放式微区X射线荧光光谱仪M6 Jetstream能够对大尺寸文物进行原位、无损扫描分析,尤其适

波长色散X射线荧光光谱仪的原理和应用领域分析

X射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为相关生产企业提供了一种检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法,XRF具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。 日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪(W

分析X射线荧光光谱仪计数率不稳定的原因

  X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个:流气计数器和闪烁计数器。闪烁计数器很稳定,问题常出现在流气计数器上。  流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜镀上一层很薄(约30nm)的铝膜所构成,由于窗膜承受大气压力,一段时间后随着基体材料的延展,铝膜可能产生裂纹,从而减弱导电性能

X射线荧光光谱仪内部水循环冷却系统故障分析

  高压发生器的输出功率一般为3kW或4kW,将高压加至X射线光管后,除小部分用于产生X射线外,大部分转化为热能,由内部水循环冷却系统带走。  内循环水用于冷却阳极靶附近的光管头部分,因此要求内循环水为电导率很低的去离子水,以防高压击穿。内循环水通过仪器内部的去离子树脂柱降低电导率,去离子树脂柱中的