分析测试协会发布XRF、AFS两项稻米镉测定方法
分析测试百科网讯 近日，中国分析测试协会发布两项分析测试协会标准，分别为“稻米 镉的测定 X射线荧光光谱法”（CAIA/SH001-2015）和“稻米 镉的测定 固体进样电热蒸发原子荧光光谱法”（CAIA/SH002-2015）。 其中，“稻米 镉的测定 X射线荧光光谱法”标准起草单位为钢研纳克检测技术有限公司和湖南省粮油科学研究设计院(湖南省粮油产品质量监测中心)；该标准适用于稻米及制品（含糙米、精米和米粉）中镉含量的筛检。本标准包含初筛和复筛：初筛用于对稻米镉含量是否超标的初步判断，检出限0.068mg/kg，定量限0.230mg/kg；复筛用于疑似超标样品的进一步判定，检出限0.046mg/kg，定量限0.150mg/kg。该标准也可用于稻米中镉含量的定量测定，定量测定范围0.066 mg/kg ~2.0 mg/kg。 “稻米 镉的测定 固体进样电热蒸发原子荧光光谱法”标准起草单位是北京吉天仪器有限公司和......阅读全文
荧光光谱法fluorography
荧光光谱法 fluorography 在用凝胶电泳分离以放射性同位素标记的蛋白或核酸时，使闪烁剂渗在凝胶中，闪烁剂由放射性辐射所激发出光，通过 x光胶片进行检查，此方法称为荧光光谱法。此方法对检查 3 H、 14 C、 35 S等β射线能量低，不易使 x光胶片感光剂直接感光的放射性同位素是有效的。也
简述低温荧光光谱法
低温荧光光谱法（low temperature fluorescence spectrometry）是2016年全国科学技术名词审定委员会公布的化学名词。即，利用低温条件下测得的荧光光谱特性(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)建立的荧光分析法。 室温时，化合物的荧光光谱多宽频谱带状。多种荧光
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
原子荧光光谱法
方法提要在一定酸度下，溴酸钾与溴化钾反应生成溴，可将试样消解，使所含汞全部转化为二价无机汞，用盐酸羟胺还原过剩的氧化剂，再用氯化亚锡将二价汞还原为单质汞，用氩气作载气，将其引入原子荧光光谱仪测量荧光强度。方法最低检测质量为0.5ng。取5mL水样测定，检测下限为0.1μg/L。仪器和装置无色散原子荧
荧光光谱法的应用
直接测定法应用于测定许多有机芳族化合物和生物物质具有内在的荧光性质。间接测定法用于测定本身不发荧光或者因荧光量子产率很低而无法进行直接测定的物质的荧光性质。同步荧光分析法是提高分析选择性，解决多组分荧光物质同时测定的良好手段之一[17,33]。最早发展起来的恒波长同步荧光法在一般的荧光光谱仪上均可方
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
原子发射光谱法与原子荧光、分子荧光、分子磷光光谱法...
原子发射光谱法与原子荧光、分子荧光、分子磷光光谱法的差别 原子发射是利用高温等产生气态原子并将它们激发，收集测量回到基态时所发出的光，原子发射光谱的特点是复杂，一个原子可能有好多条谱线，可定性，也可定量。原子荧光，可分为两种，一种是x-ray荧光，是对于内层电子的激发，导致外层电子向内层跃迁，
原子荧光光谱法介绍
原子荧光光谱法( AFS) 因化学蒸气分离、非色散光学系统等特性，是测定微量砷、锑、铋、汞、硒、碲、锗等元素最成功的分析方法之一。
X荧光光谱法测ROHS
使用荧光光谱分析法（XRF）进行RoHS验证-X荧光光谱测ROHS随着欧盟RoHSzui后期限的临近，很多公司都开始采用无铅化工艺，但要确保工艺的一致性，有效的检测方法是必不可缺的，荧光光谱分析法（XRF）就是其中之一。许多晶圆制造厂已开始用XRF法在薄镀层上进行无危害性成分测量，而且还用它探测扩散
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
原子荧光光谱法简介
原子荧光光谱法( AFS) 因化学蒸气分离、非色散光学系统等特性，是测定微量砷、锑、铋、汞、硒、碲、锗等元素最成功的分析方法之一。
原子发射光谱法和原子荧光光谱法的区别
原子在受到热或电的激发时，由基态跃迁到激发态，返回到基态时，发射出特征光谱叫做原子发射光谱，而根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法称为原子发射光谱。ICP-AES的特点是可以进行多元素检测，选择性高，检出限低，准确度高。原子荧光光谱是基于基态原子吸收特定波长光
X射线荧光光谱法的应用
质成分分析 ①定性和半定量分析具有谱线简单、不破坏样品、基体的吸收和增强效应较易克服、操作简便、测定迅速等优点，较适合于作野外和现场分析,而且一般使用便携式X射线荧光分析仪，即可达到目的。如在室内使用X射线能谱仪,则可一次在荧光屏上显示出全谱，对物质的主次成分一目了然，有其独到之处。 ② 定量
原子荧光光谱法发展历史
1964年，Winefordner等首先提出用原子荧光光谱(AFS) 作为分析方法的概念。1969年，Holak研究出氢化物气体分离技术并用于原子吸收光谱法测定砷。1974年，Tsujiu等将原子荧光光谱和氢化物气体分离技术相结合，提出了气体分离－非色散原子荧光光谱测定砷的方法，这种联合技术也是现代
原子荧光光谱法的简介
原子荧光光谱法（AFS）是介于原子发射光谱（AES）和原子吸收光谱（AAS）之间的光谱分析技术。它的基本原理是基态原子（一般蒸汽状态）吸收合适的特定频率的辐射而被激发至高能态，而后激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光。
X射线荧光光谱法的简介
X射线荧光光谱法正是基于以上物理学原理而产生的，从X射线管产生X射线，X射线经过滤或单色化处理入射样品，入射样品X射线与物质相互作用，产生的元素特征X射线荧光，进入探测器记录其强度，能量色散型探测器的各种效应。都有可以遵循的X射线荧光的物理学理论，而这些明确的物理学理论，有大量的规律可循，进而可
什么是原子荧光光谱法？
原子荧光光谱法（AFS）是介于原子发射光谱（AES）和原子吸收光谱（AAS）之间的光谱分析技术。原子荧光光谱法( AFS) 因化学蒸气分离、非色散光学系统等特性，是测定微量砷、锑、铋、汞、硒、碲、锗等元素最成功的分析方法之一。它的基本原理是基态原子（一般蒸汽状态）吸收合适的特定频率的辐射而被激发
X射线荧光光谱法的分析
X射线荧光光谱法---能量色散 利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发
原子荧光光谱法的原理
原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度，来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后，原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s，又跃迁至基态或低能级，同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射，称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、
X射线荧光光谱法的展望
X射线荧光光谱法 X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（
荧光光谱法的原理和应用
荧光光谱法具有灵敏度高、选择性强、用样量少、方法简便、工作曲线线形范围宽等优点，可以广泛应用于生命科学、医学、药学和药理学、有机和无机化学等领域。荧光分光光度计的发展经历了手控式荧光分光光度计，自动记录式荧光分光光度计，计算机控制式荧光分光光度计三个阶段；荧光分光光度计还可分为单光束式荧光分光光度计
X射线荧光光谱法的优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法 首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，
原子荧光光谱法的优点
原子荧光光谱法的优点：（1）有较低的检出限，灵敏度高。特别对Cd、Zn等元素有相当低的检出限，Cd可达0．001ng/cm、Zn为0.04ng/cm现已有2O多种元素低于原子吸收光谱法的检出限。由于原子荧光的辐射强度与激发光源成比例，采用新的高强度光源可进一步降低其检出限。（2）干扰较少，谱线比较简
X射线荧光光谱法的定义
X射线荧光光谱法是照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，而在内层电子轨道上留下一个空穴，处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳层电
原子荧光光谱法的优点
原子荧光光谱法的优点：（1）有较低的检出限，灵敏度高。特别对Cd、Zn等元素有相当低的检出限，Cd可达0．001ng/cm、Zn为0.04ng/cm现已有2O多种元素低于原子吸收光谱法的检出限。由于原子荧光的辐射强度与激发光源成比例，采用新的高强度光源可进一步降低其检出限。（2）干扰较少，谱线比较简
X射线荧光光谱法的荧光产额介绍
当一束能量足够大的X射线光子与一种物质的原子相互作用时，逐出一个轨道电子而出现一个空穴，所产生的的空穴并非均能产生特征X射线，还会产生俄歇电子。产生特征X射线跃迁的概率就是荧光产额，俄歇跃迁的概率成俄歇产额。
原子发射光谱法和原子荧光光谱法的区别是什么
原子在受到热或电的激发时，由基态跃迁到激发态，返回到基态时，发射出特征光谱叫做原子发射光谱，而根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法称为原子发射光谱。ICP-AES的特点是可以进行多元素检测，选择性高，检出限低，准确度高。原子荧光光谱是基于基态原子吸收特定波长光
原子荧光光谱法原理简要分析
原子荧光光谱分析法是20世纪六十年代中期以后发展起来的一种新的痕量分析方法。原子蒸气受到具有特征波长的光源照射后，其中一些自由原子被激发跃迁到较高能态，然后活回到某一较低能态（常常是基态）而发射出的特征光谱叫做原子荧光。各种元素都有其特定的原子荧光光谱，根据原子荧光强度的高低可测得试样中待测元素的含
原子荧光光谱法的应用介绍
测量待测元素的原子蒸气在一定波长的辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的方法。原子荧光的波长在紫外、可见光区。气态自由原子吸收特征波长的辐射后，原子的外层电子从基态或低能态跃迁到高能态，约经10-8秒，又跃迁至基态或低能态，同时发射出荧光。若原子荧光的波长与吸收线波长相同，称为共振荧光；若不同，则