X荧光光谱法测ROHS
使用荧光光谱分析法（XRF）进行RoHS验证-X荧光光谱测ROHS随着欧盟RoHSzui后期限的临近，很多公司都开始采用无铅化工艺，但要确保工艺的一致性，有效的检测方法是必不可缺的，荧光光谱分析法（XRF）就是其中之一。许多晶圆制造厂已开始用XRF法在薄镀层上进行无危害性成分测量，而且还用它探测扩散阻挡层裂口。RoHS禁令简介 ：RoHS是⟪电气、电子设备中限制使用某些有害物质指令⟫（the Restriction ofthe use of certain hazardous substances in electrical andelectronicequipment）的英文缩写，主要限制电子产品中的铅Pb、镉Cd、汞Hg、六价铬Cr(VI)、多溴联苯PBBs、多溴联苯醚PBDEs六种有害物质含量。产品中各物质的zui大容许含量（阈值）分别为：Cd为100×10-6，Pb、Hg、Cr(VI)......阅读全文
X荧光光谱法测ROHS
使用荧光光谱分析法（XRF）进行RoHS验证-X荧光光谱测ROHS随着欧盟RoHSzui后期限的临近，很多公司都开始采用无铅化工艺，但要确保工艺的一致性，有效的检测方法是必不可缺的，荧光光谱分析法（XRF）就是其中之一。许多晶圆制造厂已开始用XRF法在薄镀层上进行无危害性成分测量，而且还用它探测扩散
X荧光测硫仪
X荧光测硫仪是用于石油、煤、建材、冶金、采矿等工业的定量分析仪器，主要用于测量石油及其制品、煤、水泥、碳黑等材料中的全硫（S）的含量。由于它采用物理分析方法，具有分析速度快、无需复杂的样品预处理、精度高、人为误差小、操作工劳动强度低、无污染等特点，故已在上广泛应用并基本取代化学分析 方法。由于国外的
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
基于RoHS认证的X荧光分析技术实验研究
RoHS指令(《电气、电子设备中限制使用某些有害物质指令》)规定输往欧洲的电子产品及其组件均需对六种有毒成份:铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBBs)、多溴二苯醚(PBDEs)等有害物质加以限制。近几年该指令已在电子电器、质量检测、环保等相关行业广泛实施应用。在多
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
X荧光测硫仪产品特色
①检测范围广：石油和各种石油产品中硫含量的测定。②测量速度快：短只需30——60秒即可准确测定硫含量。③操作简捷： 软件运行于安装Windows 2000/Windows xp/Windows 7的pc上，只需1次单击即可完成全部测量工作；也可根据用户需要自行设定各种测量，校正参数。④历史记录完备：
X荧光光谱仪（RoHS检测仪器）的保养
一、仪器工作的外部环境1、周围强磁场干扰设备合理的工作环境，要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装，否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。2、环境温度，湿度的影响应保持室温20～25℃为宜，气温过高或过低都会影响设备的正常运作，所以需要配有空调；空气中相对湿度应保
X射线荧光光谱法的简介
X射线荧光光谱法正是基于以上物理学原理而产生的，从X射线管产生X射线，X射线经过滤或单色化处理入射样品，入射样品X射线与物质相互作用，产生的元素特征X射线荧光，进入探测器记录其强度，能量色散型探测器的各种效应。都有可以遵循的X射线荧光的物理学理论，而这些明确的物理学理论，有大量的规律可循，进而可
X射线荧光光谱法的展望
X射线荧光光谱法 X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（
X射线荧光光谱法的定义
X射线荧光光谱法是照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，而在内层电子轨道上留下一个空穴，处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳层电
X射线荧光光谱法的应用
质成分分析 ①定性和半定量分析具有谱线简单、不破坏样品、基体的吸收和增强效应较易克服、操作简便、测定迅速等优点，较适合于作野外和现场分析,而且一般使用便携式X射线荧光分析仪，即可达到目的。如在室内使用X射线能谱仪,则可一次在荧光屏上显示出全谱，对物质的主次成分一目了然，有其独到之处。 ② 定量
X射线荧光光谱法的优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法 首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，
X射线荧光光谱法的分析
X射线荧光光谱法---能量色散 利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发
X射线荧光光谱法的荧光产额介绍
当一束能量足够大的X射线光子与一种物质的原子相互作用时，逐出一个轨道电子而出现一个空穴，所产生的的空穴并非均能产生特征X射线，还会产生俄歇电子。产生特征X射线跃迁的概率就是荧光产额，俄歇跃迁的概率成俄歇产额。
触摸屏X荧光测硫仪和按键X荧光定硫仪
触摸屏X荧光测硫仪RC-9000XS型X荧光测硫仪：优点：仪器改进后外形美观大方，nei部结构紧凑。RC-9000XS型X荧光测硫仪可以当老款5台使用。RC-9000XS型X荧光测硫仪从低含量到高含量wu需选择曲线，放样60秒出结果，适用多油种，存储空间大。做样一条曲线。可存储19条曲线按键X荧光测
ROHS检测仪的选择
随着国外技术在我国的推广，越来越多的企业开始通过利用国外的Rohs检测仪、Rohs分析仪等仪器来检测产品的重金属含量，诸如岛津Rohs检测仪之类的仪器也在国内得到了广泛的推广。 据了解，目前我国的中小企业除了选择Rohs检测仪检测重金属含量以外，还会通过选用能量色散型X射线荧光光谱仪来
X射线荧光光谱法痕量元素测定
在物质成分的分析方面主要包括克服基体效应的基础研究和扩大分析应用范围两方面。现在，基体效应的数学校正法正在通过校正模型的更深入研究和计算机软件的进一步开发，向更高水平的方向发展。而且,随着制样技术的逐步自动化,各种物理化学前处理方法的改进，对于扩大分析含量范围，包括进一步开展痕量元素测定等工作，
X射线荧光光谱法的详细介绍
利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子
X射线荧光光谱法的未来展望
X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（例如选矿流程中的自动
波长X荧光测硫仪仪器特点介绍
波长X荧光测硫仪主要特点1、MWD XRF （单波长色散） X 荧光总硫分析2、有效分析范围：0.15到 3000 ppm 及3000 ppm到10%3、检测时间： 30 秒到 5 分钟，由用户设置4、没有消耗件，无需载气或高温部件5、超低维护量6、模块化设计用于即插即用的维护7、开始可进行实验室分
X荧光光谱仪的优势及在RoHS检测上的应用
X荧光光谱仪的优势 1、 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可
X射线荧光光谱法基本信息介绍
X射线荧光光谱法是照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，而在内层电子轨道上留下一个空穴，处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳
X射线荧光光谱法的重要作用
随着大功率 X射线管和同步辐射源的应用、各种高分辨率X射线分光计的出现、计算机在数据处理方面的广泛应用，以及固体物理和量子化学理论计算方法的进步,通过X射线光谱的精细结构（包括谱线的位移、宽度和形状的变化等）来研究物质中原子的种类及基的本质、氧化数、配位数、化合价、离子电荷、电负性和化学键等，已
X射线荧光光谱法的优点有哪些？
与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于进行无损分析等。其次，与原子发射光谱法相比,除轻
波长色散x射线荧光光谱法的简介
波长色散x射线荧光光谱法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射线照射试样激发产生各种波长的光，通过晶体衍射进行空间色散，分别测量不同波长的x射线分析线峰值强度，进行定性和定量分析的方法。适用于原子序数4(铍)以上所有化学元素
X射线荧光光谱法XRF样品的要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干； 2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm； 3.检测单元表面尽量平整，且尺寸为4-4.5cm。
x荧光光谱仪与ROHS检测仪有什么区别
rohs1.0只要求4种重金属和含溴含氯的2中有机物。测试rohs 的仪器有很多，x荧光光谱仪是其中的一种。x荧光光谱仪不单单可以测这几种物质，型号不同所测的物质范围有所不同。一般精度较差，误差和误测比较大。
X射线荧光光谱仪在ROHS检测中的优劣势
许多ROHS仪器用户大概都不太清楚这款仪器是基于怎样的应用原理来完成作业的，这就是今天我们要在这里为大家介绍的XRF-X射线荧光光谱仪的优缺点。X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。 X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二