简述低温荧光光谱法
低温荧光光谱法（low temperature fluorescence spectrometry）是2016年全国科学技术名词审定委员会公布的化学名词。即，利用低温条件下测得的荧光光谱特性(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)建立的荧光分析法。 室温时，化合物的荧光光谱多宽频谱带状。多种荧光体，特 别是化学结构相近，或其同分异构休和衍生物共存时，谱带严 重重叠，很难鉴别和测定。但在低温和一定条件下，发光体可以给出尖锐的荧光谱线。从而可能对荧光体进行指纹识别或 对混合物中某些组分定量测定。 现已提出多种低温荧光法: 冷冻溶液史坡勒斯纂荧光法，蒸气相基体隔离荧光法，基休隔 离史坡勒斯基荧光法，有机玻璃体中荧光狭线法，超声喷气法和超声喷气同步荧光法等。低温荧光法选择性高，但灵敏度较低.故多采用激光光源。......阅读全文
简述低温荧光光谱法
低温荧光光谱法（low temperature fluorescence spectrometry）是2016年全国科学技术名词审定委员会公布的化学名词。即，利用低温条件下测得的荧光光谱特性(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)建立的荧光分析法。 室温时，化合物的荧光光谱多宽频谱带状。多种荧光
简述原子荧光光谱法的发展历史
1964年，Winefordner等首先提出用原子荧光光谱(AFS) 作为分析方法的概念。1969年，Holak研究出氢化物气体分离技术并用于原子吸收光谱法测定砷。1974年，Tsujiu等将原子荧光光谱和氢化物气体分离技术相结合，提出了气体分离－非色散原子荧光光谱测定砷的方法，这种联合技术也是
低温荧光分析
通常荧光分析都在室温下进行，荧光光谱为带光谱，由于各种变宽因素，谱带往往较宽。自然界有许多有机化合物，其化学结构颇为接近，而且各存在着多种同分异构体和衍生物，它们的光谱往往相互重叠，难以鉴别表征以及定量测定。环境因素对分子荧光会产生显著的影响，温度是其中一个主要因素。随着温度的降低，介质黏度增大，荧
荧光光谱法fluorography
荧光光谱法 fluorography 在用凝胶电泳分离以放射性同位素标记的蛋白或核酸时，使闪烁剂渗在凝胶中，闪烁剂由放射性辐射所激发出光，通过 x光胶片进行检查，此方法称为荧光光谱法。此方法对检查 3 H、 14 C、 35 S等β射线能量低，不易使 x光胶片感光剂直接感光的放射性同位素是有效的。也
第十章－光谱分析概论思考题
一、学习要求 学习要求 掌握：光学分析法的分类和基本原理；波数、波长、频率和光子能量间的换算；光谱分析仪器的基本构造 熟悉：电磁波谱的分区，电磁辐射与物质相互作用的相关术语；各种光学仪器的主要部件 了解：光谱分析法的发展概况 二、单选题 1．频率可用下列哪种方式表示（ ） A、σ/
荧光光谱法的应用
直接测定法应用于测定许多有机芳族化合物和生物物质具有内在的荧光性质。间接测定法用于测定本身不发荧光或者因荧光量子产率很低而无法进行直接测定的物质的荧光性质。同步荧光分析法是提高分析选择性，解决多组分荧光物质同时测定的良好手段之一[17,33]。最早发展起来的恒波长同步荧光法在一般的荧光光谱仪上均可方
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
原子荧光光谱法
方法提要在一定酸度下，溴酸钾与溴化钾反应生成溴，可将试样消解，使所含汞全部转化为二价无机汞，用盐酸羟胺还原过剩的氧化剂，再用氯化亚锡将二价汞还原为单质汞，用氩气作载气，将其引入原子荧光光谱仪测量荧光强度。方法最低检测质量为0.5ng。取5mL水样测定，检测下限为0.1μg/L。仪器和装置无色散原子荧
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
原子发射光谱法与原子荧光、分子荧光、分子磷光光谱法...
原子发射光谱法与原子荧光、分子荧光、分子磷光光谱法的差别 原子发射是利用高温等产生气态原子并将它们激发，收集测量回到基态时所发出的光，原子发射光谱的特点是复杂，一个原子可能有好多条谱线，可定性，也可定量。原子荧光，可分为两种，一种是x-ray荧光，是对于内层电子的激发，导致外层电子向内层跃迁，
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
原子荧光光谱法介绍
原子荧光光谱法( AFS) 因化学蒸气分离、非色散光学系统等特性，是测定微量砷、锑、铋、汞、硒、碲、锗等元素最成功的分析方法之一。
原子荧光光谱法简介
原子荧光光谱法( AFS) 因化学蒸气分离、非色散光学系统等特性，是测定微量砷、锑、铋、汞、硒、碲、锗等元素最成功的分析方法之一。
X荧光光谱法测ROHS
使用荧光光谱分析法（XRF）进行RoHS验证-X荧光光谱测ROHS随着欧盟RoHSzui后期限的临近，很多公司都开始采用无铅化工艺，但要确保工艺的一致性，有效的检测方法是必不可缺的，荧光光谱分析法（XRF）就是其中之一。许多晶圆制造厂已开始用XRF法在薄镀层上进行无危害性成分测量，而且还用它探测扩散
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
X射线荧光光谱法的荧光产额介绍
当一束能量足够大的X射线光子与一种物质的原子相互作用时，逐出一个轨道电子而出现一个空穴，所产生的的空穴并非均能产生特征X射线，还会产生俄歇电子。产生特征X射线跃迁的概率就是荧光产额，俄歇跃迁的概率成俄歇产额。
简述低温冰箱保养
超低温冰箱类设备因制冷工质稀缺、价格昂贵，设备结构复杂，维修费用较高。近期超低温冰箱屡有损坏，原因多为使用、维护不当造成。夏季来临，进入设备故障高发期，为了保证超低温冰箱的正常运行，防止设备损坏，建议注意如下几点： 1、保证环境温度。超低温冰箱工作环境温度一定要在30°C以下、周围通风良好。温
低温循环水槽简述
新一代恒温水浴系统，集公司多年设计和生产经验，引进消化德国技术，主要零部件均采用进口产品，具有高质、可靠、稳定等特点，广泛地适用于石油、化工、医药、生命科学、计量、轻工和科研等领域。 ● 智能化微电脑温度液晶控制器，控温精度高，环保型制冷剂，压缩机、 循环泵和加热器等关键零部件均采用进口产品。● 超
X射线荧光光谱法的简介
X射线荧光光谱法正是基于以上物理学原理而产生的，从X射线管产生X射线，X射线经过滤或单色化处理入射样品，入射样品X射线与物质相互作用，产生的元素特征X射线荧光，进入探测器记录其强度，能量色散型探测器的各种效应。都有可以遵循的X射线荧光的物理学理论，而这些明确的物理学理论，有大量的规律可循，进而可
X射线荧光光谱法的定义
X射线荧光光谱法是照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，而在内层电子轨道上留下一个空穴，处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳层电
原子荧光光谱法的原理
原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度，来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后，原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s，又跃迁至基态或低能级，同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射，称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、
原子荧光光谱法的优点
原子荧光光谱法的优点：（1）有较低的检出限，灵敏度高。特别对Cd、Zn等元素有相当低的检出限，Cd可达0．001ng/cm、Zn为0.04ng/cm现已有2O多种元素低于原子吸收光谱法的检出限。由于原子荧光的辐射强度与激发光源成比例，采用新的高强度光源可进一步降低其检出限。（2）干扰较少，谱线比较简
荧光光谱法的原理和应用
荧光光谱法具有灵敏度高、选择性强、用样量少、方法简便、工作曲线线形范围宽等优点，可以广泛应用于生命科学、医学、药学和药理学、有机和无机化学等领域。荧光分光光度计的发展经历了手控式荧光分光光度计，自动记录式荧光分光光度计，计算机控制式荧光分光光度计三个阶段；荧光分光光度计还可分为单光束式荧光分光光度计
原子荧光光谱法的优点
原子荧光光谱法的优点：（1）有较低的检出限，灵敏度高。特别对Cd、Zn等元素有相当低的检出限，Cd可达0．001ng/cm、Zn为0.04ng/cm现已有2O多种元素低于原子吸收光谱法的检出限。由于原子荧光的辐射强度与激发光源成比例，采用新的高强度光源可进一步降低其检出限。（2）干扰较少，谱线比较简
原子荧光光谱法的简介
原子荧光光谱法（AFS）是介于原子发射光谱（AES）和原子吸收光谱（AAS）之间的光谱分析技术。它的基本原理是基态原子（一般蒸汽状态）吸收合适的特定频率的辐射而被激发至高能态，而后激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光。
X射线荧光光谱法的分析
X射线荧光光谱法---能量色散 利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发
X射线荧光光谱法的优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法 首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，
X射线荧光光谱法的应用
质成分分析 ①定性和半定量分析具有谱线简单、不破坏样品、基体的吸收和增强效应较易克服、操作简便、测定迅速等优点，较适合于作野外和现场分析,而且一般使用便携式X射线荧光分析仪，即可达到目的。如在室内使用X射线能谱仪,则可一次在荧光屏上显示出全谱，对物质的主次成分一目了然，有其独到之处。 ② 定量
X射线荧光光谱法的展望
X射线荧光光谱法 X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（
原子荧光光谱法发展历史
1964年，Winefordner等首先提出用原子荧光光谱(AFS) 作为分析方法的概念。1969年，Holak研究出氢化物气体分离技术并用于原子吸收光谱法测定砷。1974年，Tsujiu等将原子荧光光谱和氢化物气体分离技术相结合，提出了气体分离－非色散原子荧光光谱测定砷的方法，这种联合技术也是现代