2016北京光谱技术交流会召开探讨布鲁克X射线新产品新技术
分析测试百科网讯 2016年2月26日，北京理化分析测试技术学会、布鲁克（北京）科技有限公司组织召开北京光谱技术交流会。布鲁克德国专家及国内的应用工程师，全面介绍了布鲁克光谱的X射线衍射/荧光新产品，新技术。来自科研院所、实验室的70余人参与了此次会议。光谱技术交流会现场首钢北京冶金研究院 郑国经教授 首钢北京冶金研究院的郑国经教授出席会议并致辞。布鲁克公司 杨宁 布鲁克公司杨宁主持会议并介绍了布鲁克公司及相关产品。 会议现场，布鲁克德国专家及国内的应用工程师，全面介绍了布鲁克光谱的X射线衍射/荧光新产品，新技术。布鲁克德国专家Lutz Bruegemann（左）和Arnt Kern（右） 布鲁克公司AXS公司XRD市场经理Lutz Bruegemann博士和Arnt Kern博士两位德国专家分别做了题为《D8 ADVANCE X-Ray Diffration Solutions......阅读全文
X射线光谱技术(XRF)
X射线光谱技术因其是一种环保型、非破坏性、分析精度高的分析技术[33], 特别是在贵金属产品、饰品无损检测方面有其独特的优势。用XRFA互标法无损检测黄金饰品,对金饰品[w(Au)>96%]的测定绝对误差
2016北京光谱技术交流会召开－探讨布鲁克X射线新产品新技术
分析测试百科网讯 2016年2月26日，北京理化分析测试技术学会、布鲁克（北京）科技有限公司组织召开北京光谱技术交流会。布鲁克德国专家及国内的应用工程师，全面介绍了布鲁克光谱的X射线衍射/荧光新产品，新技术。来自科研院所、实验室的70余人参与了此次会议。光谱技术交流
X射线光谱
1914年，英国物理学家莫塞莱（Henry Moseley,1887-1915）用布拉格X射线光谱仪研究不同元素的X射线，取得了重大成果。莫塞莱发现，以不同元素作为产生X射线的靶时，所产生的特征X射线的波长不同。他把各种元素按所产生的特征X射线的波长排列后，发现其次序与元素周期表中的次序一致，他称这
设备更新指南丨布鲁克X射线荧光光谱仪系列
多种应用场景：未知样品成分分析、材料研究、地质环境、艺术考古、生命科学高分辨率微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO超轻元素X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS高性能开放式X射线荧光光谱仪M6 JETSTREAM紧凑型便携台式X射线荧光光谱仪CTX高性能全反射X射线荧光光谱仪S4
X射线荧光光谱技术的原理
所有XRF仪器都拥有两个主要成分，一个是X射线源，一般采用X射线管，另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时，会产生次级X射线，这些次级X射线会被探头收集并处理。 比较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层级
能量色散X射线荧光光谱技术
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
x射线衍射、x荧光、直读光谱区别
1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业. 基
布鲁克Pittcon－2015推出S2－PUMA™台式X射线荧光光谱仪
2015年3月9日，布鲁克在Pittcon 2015上自豪地推出了S2 PUMATM台式多元素分析仪。S2 PUMA是一种能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF），可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。在布鲁克的台式XRF产品系列中，S2 PU
X射线荧光光谱仪的技术原理
X射线荧光光谱仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元
能量色散X射线荧光光谱技术简介
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
X射线衍射光谱仪的技术指标
初级准直器：3位以上程序控制, 适合重轻元素。 晶体选择：≥5块晶体, 必须含有2块弯晶及人工多层膜晶体。 多道分析器：总道数≥500道 从光管阳极到样品的距离≤16mm，以充分利用光管的X射线发射强度，保证测量灵敏度。 位置面罩转换器，适合做不同尺寸的样品，电脑控制自动转换。 充氦液体测量系统
概述X射线荧光光谱仪X射线的产生
根据经典电磁理论，运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的：利用被高压加速的电子轰击金属靶，电子被金属靶所减速，便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线，也包括了特征谱线。 1、连续谱线 连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受
X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍
除光电吸收外，入射光子还可与原子碰撞，在各个方向上发生散射。散射作用分为两种，即相干散射和非相干散射。 相干散射：当X射线照射到样品上时，X射线便与样品中的原子相互作用，带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多，原子核的振动可忽略不计，主要是原
X射线荧光光谱仪X射线光管结构
常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成，并利用高压电缆与高压发生器相接，同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。 当电流流经X射线光管灯丝线圈时，引起阴极灯丝发热发光，并向四周发射电子
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体
X射线荧光光谱原理
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。 X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线），从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能
布鲁克发布S2－PUMA能量色散型X射线荧光光谱仪
S2 PUMA ——新一代适应性强大的光谱仪 布鲁克公司于2015年3月9日，发布了一款可分析多元素的能量色散型X射线荧光光谱仪S2 PUMA。S2 PUMA用于检测各种类型样品中的元素含量，测试的元素范围广泛，可从非常轻的碳（C）元素直到重元素铀（U）。 特点： 高灵敏度TM技术使EDX
能量色散X射线荧光光谱技术基本介绍
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
x射线荧光光谱测厚仪的技术指标介绍
1、同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 2、分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 3、任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。 4、多变量非线性回收程序 适应范围为15℃至30℃。 5、电源: 交流220V±5V, 建
x射线荧光光谱的微区分析技术介绍
铜矿物在自然界存在形式多样，有原生带次生富集带和氧化带等，共生矿物和伴生矿物众多，各类矿物均存在类质同象或者镜下光学特征相似的现象，传统的岩矿鉴定方法利用偏光、反光显微镜或实体显微镜等设备难以鉴别，对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。 微区分析技术（电子探针、同步辐射、全反射
X射线衍射技术简介
物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法，但是X射线衍射是最有效的、应用最广泛的手段，而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分析手
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
多道X射线光谱仪简介
中文名称多道X射线光谱仪英文名称multichannel X-ray spectrometer定 义能对多种不同波长或能量同时进行测量的X射线光谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X－射线荧光光谱仪
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。图
X射线吸收光谱的光源
X光吸收光谱可借由调变X光光子能量，于目标原子束缚电子之激发能量范围内进行扫描而得。通常需使用同步辐射设施以提供高强度并可调变波长之X光光束。
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
什么是X射线荧光光谱
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按
X射线荧光光谱的概念
X射线荧光光谱(XRF)：X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按
X射线光谱仪的简介
中文名称X射线光谱仪英文名称X-ray spectrometer定 义X射线波谱仪和X射线能谱仪的总称。用于获得试样X射线光谱，并测量谱线的位置和强度。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）