布鲁克发布基于原子力显微镜平台的扫描电化学显微镜

导电性原子力显微镜(CAFM)

导电性原子力显微镜(C-AFM)导电式原子力显微镜是外加一组电流放大器于显微镜,然后利用导电探针接触模式扫描样品,在取得高度讯号的同时,若是样品表面有电流产生,探针也会取得此电流讯号,因此我们可以利用Conductive AFM的扫描,同时得到扫描区域得高度形貌图及电流分布图像, 更可进一步的于特定

原子力显微镜（AFM）仪器结构及优缺点

优缺点优点原子力显微镜观察到的图像相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液

原子力显微镜（AFM）的几种成像模式研究

原子力显微镜（AFM）有有三种基本成像模式，它们分别是接触式(Contact mode)、非接触式(non-contact mode)、轻敲式(tapping mode)。想了解更详细的信息，可以咨询Park原子力显微镜。Park NX-Wafer全自动AFM解决了缺陷成像和分析问题，提高缺陷检测生

原子力显微镜(AFM)探针技术简介和展望

一.  原子力显微镜(AFM)简介二.  AFM探针分类三．AFM探针生产、销售资讯四．展望 一.  原子力显微镜(AFM)简介      原子力显微镜(atomic force microscope, AFM)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。1981年，STM（scan

原子力显微镜（AFM）的主要应用领域

在材料科学领域，AFM不但可以获得材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息，而且可以获得材料表面物理性质分布的差异，例如摩擦力、阻抗分布、电势分布、介电常数，压电特性、磁学性质等。在聚合物科学领域，AFM可以获得表面的结构以及材料表面物理性质。对样品进行加热，可以研究聚合物的相变过程；结合环境腔，

原子力显微镜（atomic－force－microscope,－AFM）工作原理

原子力显微镜是利用检测样品表面与细微的探针尖端之间的相互作用力（原子力）测出表面的形貌。探针尖端在小的轫性的悬臂上，当探针接触到样品表面时，产生的相互作用，以悬臂偏转形式检测。样品表面与探针之间的距离小于3－4nm，以及在它们之间检测到的作用力，小于10－8N。激光二极管的光线聚焦在悬臂的背面上。当

电化学应变原子力显微镜

2010年，美国橡树岭国家实验室发展了一个所谓电化学应变原子力显微镜，如上图所示。其原理相当简单：运用一个纳米尺度的导电探针对电极材料施加交变电场，诱导电极局部离子扰动，进而引发材料表面局部应变引起的探针振动，可以通过激光予以精确测量。该电化学应变原子力显微技术具有瞬时、局部两大优点，而且灵敏度极高

原子力显微镜与扫描力显微术摩擦力

      摩擦力显微镜（LFM）是在原子力显微镜（AFM）表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来，而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。图1 摩擦力显微镜扫描及力检测示意图

扫描隧道显微镜怎样操纵原子

      用STM进行单原子操纵主要包括三个部分，即单原子的移动，提取和放置。使用STM进行单原子操纵的较为普遍的方法是在STM针尖和样品表面之间施加一适当幅值和宽度的电压脉冲，一般为数伏电压和数十毫秒宽度。由于针尖和样品表面之间的距离非常接近，仅为0.3－1.0nm。因此在电压脉冲的作用下，将会

布鲁克发布世界最快的原子力显微镜新品

　　美国加利福尼亚州当地时间2011年5月2日，布鲁克（Bruker）发布了一款具有创新性和独特外形的原子力显微镜新品――Dimension FastScanTM，该产品在不牺牲纳米级分辨率的前提下提高显微镜成像速度方面取得了重大突破。Dimension FastScanTM比其他AFM扫

快速扫描原子力显微镜共享

仪器名称：快速扫描原子力显微镜仪器编号：17034320产地：美国生产厂家：牛津仪器公司型号：CYPHER出厂日期：购置日期：2017-12-25所属单位：材料学院>新型陶瓷国家重点实验室>显微结构与成分表征>显微结构与成分放置地点：清华大学逸夫科技楼2212室固定电话：刘老师，010-627876

原子力显微镜（AFM）在生物领域中的应用

　　原子力显微镜（AFM）在生物领域有着广泛的应用，生物分子能够在原子力显微镜的检测下，看到物质超微结构的变化，这些变化包含表面结构的缺陷、表面吸附的形态等。对生物分子的研究有着重要的作用。AFM在生物领域中的应用是比较广泛的。 　　AFM在生物领域的应用中，能够用以研究细胞的动态行为。所研究的细胞

原子力显微镜（AFM）的原理和技术指标

　　原理　　将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，

布鲁克推出全新AFM系统－可实现原子级生命科学成像功能

　　分析测试百科网讯 近日，布鲁克宣布推出JPK NanoWizard® ULTRA Speed 2先进AFM系统，据悉，该系统将AFM的高速和高分辨率成像系统与先进生物成像功能相结合，并且该系统是布鲁克JPK BioAFM业务的第一个新产品。凭借AFM每秒10帧的扫描速度，这套系统可以实现真正的原

AFM的力检测部分

力检测部分在原子力显微镜/AFM的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（）来检测原子之间力的变化量。微悬臂通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。这微小悬臂有

AFM的侧向力模式

侧向力模式　　横向力显微镜（LFM）工作原理与接触模式的原子力显微镜相似。当微悬臂在样品上方扫描时，由于针尖与样品表面的相互作用，导致悬臂摆动，其形变的方向大致有两个：垂直与水平方向。一般来说，激光位置探测器所探测到的垂直方向的变化，反映的是样品表面的形态，而在水平方向上所探测到的信号的变化，由于物

AFM的峰值力模式

原子力显微镜与扫描力显微术斥力模式

斥力模式原子力显微镜（AFM）      微悬臂是原子力显微镜（AFM）关键组成部分之一，通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像，探针尖连续（接触模式）或间断（轻敲模式）与样品接

原子力显微镜与光学显微镜和电子显微镜等的区别

　　原子力显微镜与光学显微镜和电子显微镜等竞争技术的主要区别在于原子力显微镜不使用透镜或光束照射。 因此，它不会因衍射和像差而受到空间分辨率的限制，并且不需要准备用于引导光束(通过产生真空)和对样品染色的空间。　　扫描显微镜有几种类型，包括扫描探针显微镜(包括AFM、扫描隧道显微镜(STM)和近场扫

原子力显微镜（AFM）的工作模式及对样品要求

p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}工作模式原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact

原子力显微镜（AFM）之三种工作模式比较

接触模式（Contact Mode）：优点：扫描速度快，是唯一能够获得“原子分辨率”图像的AFM垂直方向上有明显变化的质硬样品，有时更适于用Contact Mode扫描成像。缺点：横向力影响图像质量。在空气中，因为样品表面吸附液层的毛细作用，使针尖与样品之间的粘着力很大。横向力与粘着力的合力导致图像

AFM扫描和探针扫描各有什么不同？

AFM扫描式：因为其结构相对简单，所以也就更加稳定，其分辨率自然也就比针尖扫描式的更高一些。其缺点就是由于样品腔的限制，只能容纳一定尺寸的样品，另外样品扫描器负载的限制，不能扫描太重的样品，所以对于一些大样品也就无能为力了。样品扫描式的扫描器一般都可以更换，可以根据不同的需要选择不同的扫描器。针尖扫

布鲁克推出纳米级研究工具MultiMode－8HR－AFM

　　分析测试百科网讯 近日，布鲁克纳米表面事业部宣布推出MultiMode 8-HR原子力显微镜（AFM），它能为纳米力学带来了新的功能，也为拥有世界上最高分辨率，经过现场验证的，使用最广泛的扫描探针显微镜（SPM）带来了更快的成像速度。新的纳米力学功能可以使科学家获得更广的粘连弹性研究中的斜坡频率

363万－布鲁克中标该省实验室原子力显微镜

济南微生态生物医学省实验室关于原子力显微镜的仪器设备采购中标公告发布，布鲁克中标，中标（成交）金额为363.5万元。一、项目编号：BHGJ20240819001（招标文件编号：BHGJ20240819001）二、项目名称：仪器设备采购（十四）三、中标（成交）信息供应商名称：瑞科和利（北京）科技有限公

原子力显微镜afm－样品制备过程需要考虑哪些因素

原子力显微镜/afm的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学

AFM原子力显微镜可适用于哪些物质结构分析

原子力显微镜可适用于各种的物品，如金属材料、高分子聚合物、生物细胞等，并可以操作在大气、真空、电性及液相等环境，进行不同物性分析，所以AFM 最大的特点是其在空气中或液体环境中都可以操作， 因此，AFM 在生物材料、晶体生长、作用力的研究等方面有广泛的应用。根据针尖与样品材料的不同及针尖－样品距离的

原子力显微镜afm－样品制备过程需要考虑哪些因素

原子力显微镜/afm的基本原理原子力显微镜/afm的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样

原子力显微镜（AFM）主要使用在哪些地方？

在材料科学领域，AFM不但可以获得材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息，而且可以获得材料表面物理性质分布的差异，例如摩擦力、阻抗分布、电势分布、介电常数，压电特性、磁学性质等。在聚合物科学领域，AFM可以获得表面的结构以及材料表面物理性质。对样品进行加热，可以研究聚合物的相变过程；结合环境腔，

原子力显微镜（AFM）拼接缝合技术分析大尺寸表面

摘要本篇应用文章介绍了Nanosurf Nanite AFM脚本文件界面与Nanosurf报告专家分析软件结合的全自动拼接缝合技术特点。LCD面板上的AFM测量作为一个例子，演示如何拼接能够简单高效的得到大尺寸表面区域的高分辨率形貌图像。 介绍高分辨率成像技术例如AFM常常会受制于他们的zui大扫描

原子力显微镜(AFM－)揭开细胞膜内隐藏的秘密

　　日本研究者结合AFM和无顶技术，在含水条件下为细胞内骨架成像。 　　利用超声波，NagoyaUniversityEcoTopiaScienceInstitute的JiroUsukura教授和他的团队将细胞的细胞膜去掉，暴露出细胞质膜及其内侧结构。 　　暴露了细胞质表面之后，研究者利用Park