【分享】XRF筛选方法若干问题
1．方法的范围、应用及概述 这个方法是用来对电子电气产品基本材料中铅、镉、汞、铬、溴的筛选分析，一般来说XRF的测试结果是上述元素的总含量，而不能分辨元素的不同价态及不同化合物形态。因此六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚的实际含量需要用详细化学分析方法来进行确认。 XRF是一种通过比较来进行定量的仪器，因此它的表现依赖于校准方法（校准曲线）的质量，即依赖于选择的校准物质和选择的仪器响应模式。XRF分析易受基体干扰（吸收和加强）和光谱干扰。并不是所有类型的XRF都能够适用于各种大小及形状的样品。 有一种通用的校准方法，即基本参数校准法（FP）。FP法是指用纯的元素、纯的化合物或极少数的具有一定基体组成的校准物质来进行校准的方法。对于所有的XRF校准方法，如果校准物质的组成越接近样品，测试的准确度就越高。 有一种经验校准方法，即使用校准物质，并通过运算方法来校正基体及光谱产生的干扰（校正系数）。但是这种方法要求校准物质的元素组......阅读全文
XRF筛选方法若干问题
1、方法的范围、应用及概述这个方法是用来对电子电气产品基本材料中铅、镉、汞、铬、溴的筛选分析，一般来说XRF的测试结果是上述元素的总含量，而不能分辨元素的不同价态及不同化合物形态。因此六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚的实际含量需要用详细化学分析方法来进行确认。XRF是一种通过比较来进行定量的仪器，因此它
XRF荧光光谱仪基体效应校正方式
在XRF荧光光谱仪分析中, 基体效应往往是引起分析误差的主要来源之一。基体效应是元素间的吸收一增强效应和物理一化学效应, 通常, 基体效应是指被测样品中元素间的吸收-增强效应。为了保证分析结果的准确性, 必须对基体效应进行校正。目前对基体效应的校正已发展为两大分支, 其一是通过实验的手段, 称之为实
【分享】XRF筛选方法若干问题
1．方法的范围、应用及概述 这个方法是用来对电子电气产品基本材料中铅、镉、汞、铬、溴的筛选分析，一般来说XRF的测试结果是上述元素的总含量，而不能分辨元素的不同价态及不同化合物形态。因此六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚的实际含量需要用详细化学分析方法来进行确认。 XRF是一种通过比较来进行定量的
XRF中白云鄂博矿元素间基体效应及影响系数的研究
白云鄂博矿在我国稀土产业的发展过程中具有十分重要的地位。因此，以不破坏白云鄂博矿的形态为前提条件下，对其进行快速、准确的分析是非常重要的。X射线荧光光谱分析技术具有可直接对块状、粉末状样品进行分析的特点，同时其还具有分析准确度高、分析元素范围广（Na-U）、分析速度快、操作简便等优点，正好能满足快速
X荧光光谱仪器XRF筛选方法若干问题
1．取样 1.1对于非破坏方式：操作者应该将样品放在仪器合适的位置上，即要保证待测试部分位置准确，又要保证其它非测试部分不会被检测。操作者必须保证待测试部分和仪器之间距离和几何位置的可重现性。操作者必须考虑待测试部分尽可能具有规则外形，如面积、表面粗糙度、已知的物理结构等。如果需要从大的物体中获
XRF土壤分析仪的应用特点
XRF土壤分析仪方法可以用最少的样品制备 即可对土壤进行有效的定量元素分析。对大面积土地进行详细的环境筛选是许多项目不可少的第一步。 然而，等待实验室结果进行原位土壤筛选、异地土壤分析或修复可以有效地使工作停止。 在现场使用便携式 XRF（X 射线荧光）土壤分析仪使您能够进行大量土壤分析并快速完成
关于基体效应的简介
实际工作中被测量的样品，往往其成份是由多种元素组成，除待测元素以外的元素统称为基体。由于被测量的样品中，其基体成份是变化的（这个变化一是指元素的变化，二是指含量的变化），它直接影响待测元素特征X射线强度的测量。换句话说，待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征X射线强度是不同的
液质联用基体效应
液质联用基体效应1 基体效应的来源LC-MS中的基质效应现象最初在1993年被发现，当改变样品基质的种类和浓度时，待测物电喷雾化质谱的响应值降低了。美国FDA2001年出版的《生物分析方法验证准则》明确提出：在LC-MS分析方法开发和验证过程中需要对基质效应进行评价。基质效应是指样品中除了待测物以外
瞄准亿级市场－苏州浪声XRF分析仪器助力快速筛选
分析测试百科网讯 在第十九届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2021）上，苏州浪声科学仪器有限公司（以下简称“苏州浪声”）销售总监胡苏宝在分析测试百科网直播间接受了采访，详细介绍了本次展出的多款光谱仪器的性能特点和应用领域。苏州浪声科学仪器有限公司销售总监 胡苏宝 Antpedia
XRF在矿物加工领域中的应用
5.1 XRF在矿物加工领域中的应用 X射线荧光（XRF)分析技术主要用于元素成份分析，具有现场快速、无损和多元素同时分析的特点。目前，该技术已广泛应用于地质、环境、工业产品、半成品及原料的质量检测，特别是在矿冶领域中，对矿石品位的检测有着良好的经济和社会效益。 近年来，随着新一代基于高分辨率电致冷
液质联用的基体效应
1基体效应的来源LC-MS中的基质效应现象最初在1993年被发现，当改变样品基质的种类和浓度时，待测物电喷雾化质谱的响应值降低了。美国FDA2001年出版的《生物分析方法验证准则》明确提出：在LC-MS分析方法开发和验证过程中需要对基质效应进行评价。基质效应是指样品中除了待测物以外的其他基质成分对待
分析基体效应产生的原因
一、吸收-增强效应 为了叙述方便，假设样品中存在待测元素A，相邻元素B、C和轻元素。B元素的原子序数比A元素的原子序数大一些，B元素能被放射源放出的射线所激发，产生B元素的特征X射线BK,BKX射线又能激发A元素；C元素的原子序数小于待测元素A的原子序数，且能被A元素特征X射线所激发产生C元素
关于基体效应种类的介绍
基体效应主要包括颗粒效应、矿物效应和元素效应。 1．颗粒效应。是指样品粉末颗粒度、颗粒分布、颗粒形状，以及颗粒内部不均匀性引起的物理效应。 2．矿物效应。是指因为物质化学成分虽然相同但结晶条件不同而造成晶体结构的差异所引起的一种物理一化学效应。 3．元素效应。是指某元素的荧光x射线不仅依赖
XRF
能量色散X荧光光谱仪，简称XRF，是一种物理的元素分析方法，具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势，在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。可应用于：1、欧盟RoHS指令限定有害元素检测： 铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬
光谱仪光源的基体效应
HK-8100ICP光谱仪分析技术有许多优点，已成为zui通用的无机多元素的分析仪工具，同某些化学分析比较，ICP光谱仪光源的干扰效应比较低的，在某些情况下甚至可以忽略不计，但在测定低含量及微量元素时其基体干扰效应还存在，有时还很严重。 所谓基体效应是指试样主要成分变化对分析线强度和有关光谱背景
X射线荧光分析的基体效应
试样内部产生的X荧光射线，在到达试样表面前，走位的共存元素会产生吸收（吸收效应）。同事还会产生X荧光射线并对共存元素二次激发（二次激发效应）。因此即使含量一样，由于共存元素的不同，荧光射线强度也会有所差别，这就是基体效应。在定量分析时，尤其要注意基体效应的影响。
简述基体效应的校正方法
长期以来，许多学者从各个不同的角度出发，对基体效应及其校正做厂专门研究，提出了很多行之有效的校正方法。这些校正方法，可以划分为实验校正方法和数学校正方法两大类。实验校正法主要以实验曲线进行定量测定为特征的。如稀释法、薄试样法、增量法、列线图法、补偿法、辐射体法(又称透射校正法、发射吸收法)、内标
ICPMS的干扰——基体效应
基体效应 试液与标准溶液粘度的差别将改变各个溶液产生气溶胶的效率，采用基体匹配法或内标法可有效地消除。
简介液质联用的基体效应
1 基体效应的来源 LC-MS中的 基质效应现象最初在1993年被发现，当改变样品基质的种类和浓度时，待测物 电喷雾化质谱的 响应值降低了。美国FDA2001年出版的《生物分析方法验证准则》明确提出：在LC-MS分析方法开发和验证过程中需要对基质效应进行评价。基质效应是指样品中除了待测物以外的
药用胶囊中铬元素的检测
方案优势 现在市面上的药用胶囊中有很大一部分是使用工业明胶制作的，工业明胶中的Cr元素会对人身体造成很大的伤害。因此使用XRF方法对药用胶囊进行快速检测是势在必行的。 采用标准 根据国家标准GB6783-94规定，明胶中铬元
XRF测试
XRF测试若干问题： XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。目前市场上使用较多的是EDXRF。无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是
ICP光谱仪光源的基体效应
基体效应是指试样主要成分变化对分析线强度和有关光谱背景的影响，它是ICP光谱干扰效应的一种。基体效应的产生实际上是各种干扰效应的总和。基体效应的特点：1 基体效应的存在可造成分析线强度的增加或降低，增加谱线强度的基体干扰称曾敏效应，降低者称为抑制效应。2 基体与干扰元素（基体）种类有关，也与基体含量
关于基体效应的基本信息介绍
所谓基体效应，是指样品的化学组成和物理、化学状态的变化对待测元素的特征X荧光强度所造成的影响，大致可分为元素间吸收增强效应和物理、化学效应。元素间吸收增强效应与样品组成和仪器参数有关；物理效应主要表现在样品颗粒度、不均匀性造成的影响；化学效应主要表现在样品的矿物效应，即不同矿物形态对特征X荧光强
质谱分析法术语基体效应
基体效应（matrix effects）试样的基本化学组成和物理化学状态的变化对待测元素定量分析结果所造成的影响。基体效应包括改变被测元素的蒸发特性，元素分子的不完全解离，已原子化的原子重新复合，被测元素以分子形式逃逸测量区，以及大量基体分子存在造成的散射及对分析谱线的吸收等影响。
X荧光光谱仪在水泥质量控制应用中存在的问题
目前随着分析技术的不断发展，X荧光光谱仪分析的应用越来越普遍。X射线荧光光谱仪可以对从Be-U的元素进行定性和定量的分析。 尽管x射线荧光光谱分析压片方法因操作简单、分析速度快、度高、成本低等优点在水泥生产中广泛应用，但由于水泥原料矿物的成分及结构复杂，样片的制作因人而异及X射线荧光光谱仪
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)原理及结构简述
X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时，受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X射线的能量及强度可被探测，与样品内待测元素的含量相关，此为XRF光谱仪的理论依据。 根据分光系统的不同，XRF光谱仪主要有波长色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)两种，二者结构示
谷物筛选器筛选原理
谷物筛选是指根据粮食颗粒大小的不同，利用一层或数层静止的或运动的筛面对物料进行分选的方法。因为筛选和重力分选的主要对象是谷物，其介于固体和液体之间而被称为散粒体。散粒体具有流动性和自动分级性能。谷物筛选器就是一款专门检验颗粒粮食、油料试样的含杂率及大米中、糠粉含量，确定其品质等级的仪器。
波散XRF与能散XRF的区别
一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
什么是XRF
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探