【分享】XRF筛选方法若干问题
1．方法的范围、应用及概述 这个方法是用来对电子电气产品基本材料中铅、镉、汞、铬、溴的筛选分析，一般来说XRF的测试结果是上述元素的总含量，而不能分辨元素的不同价态及不同化合物形态。因此六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚的实际含量需要用详细化学分析方法来进行确认。 XRF是一种通过比较来进行定量的仪器，因此它的表现依赖于校准方法（校准曲线）的质量，即依赖于选择的校准物质和选择的仪器响应模式。XRF分析易受基体干扰（吸收和加强）和光谱干扰。并不是所有类型的XRF都能够适用于各种大小及形状的样品。 有一种通用的校准方法，即基本参数校准法（FP）。FP法是指用纯的元素、纯的化合物或极少数的具有一定基体组成的校准物质来进行校准的方法。对于所有的XRF校准方法，如果校准物质的组成越接近样品，测试的准确度就越高。 有一种经验校准方法，即使用校准物质，并通过运算方法来校正基体及光谱产生的干扰（校正系数）。但是这种方法要求校准物质的元素组......阅读全文
XRF的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型： 波长色
XRF技术讲解
X射线荧光光谱（XRF）技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。 X射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧，使用千电子伏特表示能量高低，纳米表示波长。 XRF一般可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围最低至
XRF的优点
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
XRF是什么
XRF是什么??XRF测试及XRF原理,本内容深入探讨了XRF的相关内容，并做了整体的讲解分析。1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线
什么是XRF
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
XRF的分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。 c) 根据各元素的特征X射线的强
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
WD－XRF与ED－XRF的优缺点
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
谷物筛选原理以及筛选仪器
筛选是指根据物料粒度的不同，利用一层或数层静止的或运动的筛面对物料进行分选的方法。由于筛选和重力分选的主要对象是谷物，就其性质而言，介于固体和液体之间而被称为散粒体。散粒体具有流动性和自动分级性能。谷物筛选器检验颗粒粮食、油料试样的含杂率及大米中、糠粉含量，确定其品质等级的一种检验仪器，确定其害虫密
铜、铬、镍、锰矿，采、选矿石元素含量检测
一、 应用概述 矿石是矿产冶炼的原材料，其元素含量的测定对于选矿以及冶炼加工至关重要。各类矿石中主量元素以及微量元素的测定通常采用化学滴定、AA、ICP、ICP-MS等多种分析方法，操作过程繁琐，耗时耗力。单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪与快速基本参数法正在改变这一现状，针对各类矿石样品，
铁合金X荧光分析技术的研究
铁合金是钢铁冶炼过程中重要的添加剂,其组分直接影响着钢铁产品的质量,因此对铁合金化学成分进行快速、准确分析是非常重要的。采用X射线荧光分析方法对于铁合金分析具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠等优点,受到了科研和生产人员重视。本文采用便携式XRF分析仪开展铁合金主元素的快速分析研究,重点讨论了铬
铁合金X荧光分析技术的研究
铁合金是钢铁冶炼过程中重要的添加剂,其组分直接影响着钢铁产品的质量,因此对铁合金化学成分进行快速、准确分析是非常重要的。采用X射线荧光分析方法对于铁合金分析具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠等优点,受到了科研和生产人员重视。本文采用便携式XRF分析仪开展铁合金主元素的快速分析研究,重点讨论了铬
基本参数法于X射线荧光光谱分析中的应用
基本参数法是XRF定量分析的有效算法，其将X射线荧光物理学明确的原理基本参数和数学模型化，在没有或少标准样品的情况下实现对未知样品的定量分析，通常的XRF仅考虑了谱线分数、荧光产额以及部分探测器效应，而对于入射射线的强度分布、谱线重叠、背景扣除等考虑不足，因此达不到精确定量分析的目的。 快速基
WD－XRF与ED－XRF有什么区别
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
重组质粒的筛选（抗生素平板筛选和α互补筛选）
重组DNA转化受体细胞后，须在不同水平上进行筛选，以区别转化子与非转化子、重组子与非重组子以及鉴定所需的特异性重组子。在转化过程中，并非每个受体细胞都被转化；即使获得转化细胞，也并非都含有目的基因，所以需采用有效方法进行筛选。筛选的方法包括根据遗传表型筛选、限制性内切酶分析筛选、核酸探针筛选、PCR
激光诱导击穿光谱基体效应研究获进展
近日，中国科学院沈阳自动化研究所在激光诱导击穿光谱基体效应方面的研究中取得进展。相关研究成果发表在Journal of Analytical Atomic Spectrometry上。 激光诱导击穿光谱（LIBS）具有样品分析速度快、操作方便、在线监测等优点。然而，基体效应对光谱产生的
激光诱导击穿光谱基体效应研究获进展
近日，中国科学院沈阳自动化研究所在激光诱导击穿光谱基体效应方面的研究中取得进展。相关研究成果发表在Journal of Analytical Atomic Spectrometry上。 激光诱导击穿光谱（LIBS）具有样品分析速度快、操作方便、在线监测等优点。然而，基体效应对光谱产生的
激光诱导击穿光谱基体效应新进展
近日，中国科学院沈阳自动化研究所在激光诱导击穿光谱基体效应方面的研究取得新进展。相关结果发表在Journal of Analytical Atomic Spectrometry上。 激光诱导击穿光谱（LIBS）具有样品分析速度快、操作方便、在线监测等优点，受到了众多研究人员的青睐。然而，阻碍L
用电脑筛选器筛选粮食杂质
在农业育种工作中，对粮食、油料等进行筛理分级是其中十分重要的内容，主要作用是通过筛选来检验粮食油料的杂质、不完善粒等。而随着科技的发展和育种技术的进步，现代粮食杂质筛选已经告别了繁琐复杂的手筛法，广泛采用的是电脑筛选器法。使用仪器来进行粮食杂质的筛选，不仅更加轻松，而且效率更高，检验效果更好，能够更
DSX电脑筛选器筛选粮食杂质
在粮食品质检测中，粮食筛选，容重测定等是其中重要的检测项目，容重测定一般使用容重器就可以完成，而粮食筛选也可以使用仪器完成，我们推荐是使用DSX电脑筛选器。该仪器是专为粮食杂质筛选而研制开发的专用仪器，其标准符合GB5494-85《粮食油料检验杂质、不完善粒检验法》国家标准，属于新标准仪器产品，使用
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
什么是xrf测试？
XRF指的是X射线荧光光谱仪，可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。从不同的角度来观察描述X射线，可将XRF分为能量散射型X射线荧光光谱仪，缩写为EDXRF或EDX和波长散射型X射线荧光光谱仪，可缩写为WDXRF或WD
什么是XRF测试
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。
XRF问题汇总（五）
41.我们公司最近刚购一台ARL9800X荧光议，长期稳定性一直都不能达到指标。测角仪和固定道的强度变化都很大。这都和那些因素有关呢？存在空间干扰吗？ (1) 稳定住室内温度，不要关闭仪器自身的恒温机构（即使关机），每次分析样品前作PHA调整以及阿尔法校正，采取上述措施后，情况可能会有所改善。 (2
XRF问题汇总（十）
我以ＥＤＸ７２０测定铁基镀Ｎi层（层厚５um左右），保证同材质同镀槽的前提下，测出的结果有的在３０００ＰＰＭ有的却在３００～５００ＰＰＭ 甚至没有检出，问题出在哪?基材为ＳＵＭ２４Ｌ快削钢（Ｐb＜３５００ＰＰＭ） (1) FP法测定镀层 通常我的做法是 1. FP镀层法 先做定性，根据经验分析镀层成
XRF问题汇总（三）
21.X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用？ (1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。 (2) 铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。 22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？ (1) 原子序数较低
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X
什么是XRF测试
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。
XRF的优缺点
优点 a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化